专利名称：一种创建集成电路测试程序包的快速方法
技术领域：
本发明涉及集成电路测试技术，尤其涉及一种创建集成电路测试程序包的快速方法。
背景技术：
测试是集成电路(Integrated Circuit,简称IC)产业中必不可少的重要环节,它贯穿在IC设计、制造、封装、测试全过程。测试程序开发是测试的先决条件，任何一款IC设计完成之后，必先开发测试程序进行测试、验证，根据测试结果不断优化设计，最后进行批量生产与应用。集成电路的测试程序开发过程实际上是一个创建测试程序包的过程，它是一个将设计方仿真生成的仿真向量转换成自动测试设备(Automatic Test Equipment,简称ATE)专用格式的测试向量的过程。仿真向量可以有多种格式，如V⑶、EV⑶、WGL、TDL、 STIL,目前最常采用的是VCD格式的仿真向量。随着现代电子信息技术的飞速发展，IC设计水平日新月异，IC规模、集成度、复杂度不断提高，测试程序开发面临越来越大的困难。一款大规模集成电路特别是片上系统(System-on-Chip，简称SoC)的测试，一般需要几十甚至几百个的测试向量，测试程序开发过程困难重重。集成电路测试程序包的创建，需要根据测试时使用的ATE平台，对测试向量进行转换、编译。若一次转换不成功，则需要进行第二次转换，再不成功，进行第三次，直到成功或找到其它解决途径。因此，创建测试程序包是一个费时费力的过程，可能影响测试开发周期，进而影响IC的上市时间。集成电路的测试程序包，一般至少包括以下四大部分。第一部分是通道设置(configuration),用于定义被测器件(Device Under Test,简称DUT)各输入/输出信号的序号、名称、输入/输出属性、通道号等；第二部分是电平设置(level)， 用于定义DUT输入信号的高/低电平、输出信号的高/低电平、输出信号的负载模式等； 第三部分是时序设置(timing)，用于定义DUT各信号的时序和波形；第四部分是向量设置 (vector),与时序设置映射,组合生成测试图形(Test Pattern)。现有的实现方案，是采用手工方法创建测试程序包，具体是首先采用手工输入方式在ATE测试系统的专用软件内进行通道设置和电平设置，然后利用转换工具做时序和向量的转换，再手工调用编译工具，根据编译过程中实时提示的信息修改时序和向量，根据仿真文件的数量，重复该转换过程直至所有编译通过，最后形成一个完整的测试程序包。采用手工方法创建集成电路测试程序包，存在许多缺点。第一，采用手工输入方式设置通道和电平时，由于DUT信号管脚众多，少则几十个多则三、四百个，手工方式极易出错，需要不断检查、调试，费时费力。第二，对仿真文件进行时序和向量转换时，只能逐个进行，并且需要在最后对生成的过程文件(DVC格式)进行手工合并。第三，对转换生成的过程文件(DVC和 AVC格式)进行编译时，由于仿真文件的时间分辨率很高且时序复杂,而ATE测试系统的定时沿数量和波形数量有限，如在业内属于高端的Verigy V93000 SOC Series (简称V93000) 测试系统最多只能有8个驱动沿、6个比较沿、256个波形，因此，转换后常常会面临定时沿数量和波形数量超出ATE硬件限制的问题，这就要求工程师具有丰富的测试开发和调试经验，在不影响DUT时序特性的前提下，不断对DVC文件进行沿合并，直到所有时序和向量编译通过。第四，测试程序包中每个信号的时序复杂且各不相同，相应的建立时间、保持时间也不同，上ATE在线调试时无法对定时沿进行统一调节或处理，测试程序调试极其困难。第五，测试程序运行时所有信号频率都是单一固定的，不能根据需要适当改变DUT工作频率， 无法直接用于DUT的降频调试或超频测试。因此，采用手工方法创建测试程序包费时费力， 测试开发效率低，很难满足现代IC研发周期短、测试程序开发难度大的客观需求。
发明内容
针对现有技术的缺点，本发明的目的是提供一种创建集成电路测试程序包的快速方法，解决传统方法需要测试工程师不断进行手工干预、测试开发效率低和测试程序调试困难的问题。为了实现上述目的，本发明的技术方案为一种创建集成电路测试程序包的快速方法，它包括(I)配置文件生成的步骤；(2)测试时序修剪的步骤；(3)向量转换的步骤；
(4)测试文件编译的步骤。配置文件生成的步骤包括从VCD仿真向量中抽取信号名称创建配置文件模板， 根据管脚序号或坐标号、输入/输出属性以及测试接口板设计时使用的ATE硬件通道，在模板中编写形成列表形式的配置文件，最后利用配置文件生成ATE测试软件可以直接调用的 config文件和level文件。测试时序修剪的步骤包括根据输入的测试周期对VCD仿真向量进行修剪，采用就近原则自动合并沿，修剪后的文件保持为VCD格式。向量转换的步骤包括向量转换顶层设计时采用批量处理方法，将每个VCD仿真向量逐一转换为DVC和AVC文件并在最后合并，识别与处理双向信号和总线形式信号，并且以变量表征方式对时序信息进行提取。测试文件编译的步骤包括编译前根据调试需要采用REPEAT-Mode对AVC文件进行压缩与反压缩，编译时首先将向量转换后的DVC文件编译为ATE可以直接调用的timing 文件，通过后再将向量转换后的AVC文件编译为ATE可以直接调用的vector文件，形成完整的测试程序包。与现有技术相比，本发明可以从VCD仿真向量中抽取信号名称，避免手工输入引入差错，通过转换前的时序修剪，减少编译和调试的工作量，通过采取批量转换方式，避免人工干预，节省转换过程的中断时间，本发明以变量表征方式对时序信息进行提�。梢灾苯佑糜贒UT的降频调试或超频测试。
下面结合附图对本发明作进一步的详细说明。图I是本发明的流程框图。图2是本发明的配置文件格式示意图。
具体实施例方式请参阅图1，本发明创建集成电路测试程序包的快速方法的步骤包括以下四个部
4分第一部分是配置文件生成。配置文件生成首先从V⑶仿真向量中抽取信号名称， 创建配置文件模板，根据DUT产品手册(Specification)中管脚序号或坐标号、输入/输出属性，以及测试接口板设计时使用的ATE硬件通道，在模板中编写形成配置文件，格式为列表形式，如错误！未找到引用源。所示。最后，利用配置文件生成ATE测试软件可以直接调用的config文件和level文件。第二部分是测试时序的修剪。测试时序修剪主要是根据输入的测试周期，采用四种可选修剪方式，对VCD仿真向量进行修剪。测试时序修剪采用就近原则合并沿，但不妨碍 DUT保持足够的建立时间、保持时间和传输延迟时间。修剪后的文件仍然保持为VCD格式， 方便使用电子设计自动化(Electronic Design Automatic,简称EDA)工具查看测试图形。第三部分是向量转换。向量转换顶层设计时采用批量处理方法，将每个VCD仿真向量逐一转换为DVC和AVC文件，并在最后自动合并。向量转换时能自动识别与处理双向信号和总线形式信号，并且以变量表征方式对时序信息进行提�。繁Ｗ煌瓿珊蟛馐猿绦虻钠德适强傻鞯�。第四部分是测试文件编译。测试文件编译前，根据调试需要，采用REPEAT-Mode对 AVC文件进行压缩与反压缩。编译时可选用6种X-Modes模式调用ATE的编译程序，首先将向量转换后的DVC文件编译为ATE可以直接调用的timing文件，通过后再将向量转换后的 AVC文件编译为ATE可以直接调用的vector文件，形成完整的测试程序包。本发明针对集成电路测试程序开发过程中的测试向量转换环节，运用�？榛杓疲ü渲梦募�、测试时序修剪、向量转换、测试文件编译等4个步骤，实现VCD格式仿真向量到测试向量的自动转换，并自动创建测试程序包。通过使用本发明的方法，可以有效降低集成电路测试开发技术门槛，提高测试程序开发效率，为测试公司节省人力资源成本和ATE机时成本，同时也可以为芯片设计公司加快测试开发速度，缩短产品上市时间。本发明的方法可以通过开发脚本工具实现。本发明可以使用图形化方式，同时应用于HP-UNIX 和LINUX两种操作系统平台。下面以开发某型号ASIC电路的测试程序为例，说明本发明带来的有益效果。该电路属于纯数字电路，规模约20万门，采用QFPlOO封装，有效数字管脚80个。该电路采用6 个VCD格式的仿真向量进行测试，测试程序开发过程每个步骤耗费的时间统计结果如表I 所示。表I耗费时间统计
权利要求
1.一种创建集成电路测试程序包的快速方法，其特征在于，它包括(I)配置文件生成的步骤；(2)测试时序修剪的步骤；(3)向量转换的步骤；(4)测试文件编译的步骤。
2.根据权利要求I所述的创建集成电路测试程序包的快速方法，其特征在于，配置文件生成的步骤包括从VCD仿真向量中抽取信号名称创建配置文件模板，根据管脚序号或坐标号、输入/输出属性以及测试接口板设计时使用的ATE硬件通道，在模板中编写形成列表形式的配置文件，最后利用配置文件生成ATE测试软件可以直接调用的config文件和 level文件。
3.根据权利要求I所述的创建集成电路测试程序包的快速方法，其特征在于，测试时序修剪的步骤包括根据输入的测试周期对VCD仿真向量进行修剪，采用就近原则自动合并沿，修剪后的文件保持为VCD格式。
4.根据权利要求I所述的创建集成电路测试程序包的快速方法，其特征在于，向量转换的步骤包括向量转换顶层设计时采用批量处理方法，将每个VCD仿真向量逐一转换为 DVC和AVC文件并在最后合并，识别与处理双向信号和总线形式信号，并且以变量表征方式对时序彳目息进行提取。
5.根据权利要求I所述的创建集成电路测试程序包的快速方法，其特征在于，测试文件编译的步骤包括编译前根据调试需要采用REPEAT-Mode对AVC文件进行压缩与反压缩， 编译时首先将向量转换后的DVC文件编译为ATE可以直接调用的timing文件，通过后再将向量转换后的AVC文件编译为ATE可以直接调用的vector文件，形成完整的测试程序包。
全文摘要
本发明公开了一种创建集成电路测试程序包的快速方法，它包括(1)配置文件生成的步骤；(2)测试时序修剪的步骤；(3)向量转换的步骤；(4)测试文件编译的步骤。本发明可以从VCD仿真向量中抽取信号名称，避免手工输入引入差错，通过转换前的时序修剪，减少编译和调试的工作量，通过采取批量转换方式，避免人工干预，节省转换过程的中断时间，本发明以变量表征方式对时序信息进行提取，可以直接用于DUT的降频调试或超频测试。
文档编号G01R31/3183GK102608517SQ20121003596
公开日2012年7月25日 申请日期2012年2月16日 优先权日2012年2月16日
发明者恩云飞, 王晓晗, 罗宏伟, 陈辉, 黄云 申请人:工业和信息化部电子第五研究所
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