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一种漆包线粒检器的制作方法

时间:2025-05-09    作者: 管理员

专利名称:一种漆包线粒检器的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及漆包线线粒度检查领域,特别涉及一种漆包线粒检器。
背景技术:
随着社会的不断发展,对漆包线的加工精度要求越来越高,线粒度是漆包线的ー个重要指标,因此常常需要进行检測,目前在生产过程中没有很好的检测设备,只能采用人エ方式进行检测,这样即浪费时间,又降低生产效率。

实用新型内容本实用新型通过设计一种漆包线粒检器,利用漆包线上如果有粒子直径不一样来进行检测,从而可很快知道该漆包线是否合格,为达到此目的,本实用新型提供ー种漆包线粒检器,包括下L型支架、上支架、连接铰链和弹簧,所述上支架通过连接铰链安装在下L型支架上方,所述下L型支架上内侧设置有下触点,所述上支架下内侧设置有上触点,所述下L型支架下触点与上支架下上触点位置相对应,所述弹簧上端与上支架下内侧相连,弹簧下端与L型支架上内侧相连,所述上支架有凸部,凸部内有直径与待测漆包线所允许的最大直径相同的通孔,所述下L型支架有通孔,所述通孔大于待测漆包线所允许的最大直径。作为本实用新型的另ー种改进,所述连接铰链有1-2个,本专利下L型支架与上支架可采用ー个大连接铰链进行连接,也可采用两个连接铰链对L型支架与上支架进行连接厂家可根据需要进行选择。作为本实用新型的另ー种改进,所述弹簧为1-3个,若弹簧为I个,弹簧套装在上触点和下触点上,若弹簧为2个,弹簧设置在上触点和下触点两侧,若弹簧为3个,其中ー个弹簧套装在上触点和下触点上,另两个弹簧设置在上触点和下触点两侧,本专利可根据粒检器大小选择设置相应的弹簧,具体采用几个弹簧厂家可根据实际需要进行选择。本实用新型通过设计一种漆包线粒检器,利用漆包线上粒子直径过大会带动上支架上触点与下L型支架上触点相接触,上下触点相接触后与漆包线粒检器相连的计数器数字会发生变化,操作工人根据计数器上数字即可知道该漆包线上超过指定半径的粒子数,从而可知道该漆包线是否合格。

图I为本实用新型的示意图;图中的构件为I、待测漆包线; 2、下L型支架;2-1、通孔;2-2、下触点; 3、上支架;3-1、凸部;3-2、上触点; 4、连接铰链;5、弹簧;
具体实施方式
、[0012]
以下结合附图和实施例对实用新型做详细的说明本实用新型通过设计一种漆包线粒检器,利用漆包线上如果有粒子直径不一样来进行检测,从而可很快知道该漆包线是否合格。作为本专利ー种具体实施例本实用新型提供结构示意图如图I所示ー种漆包线粒检器,包括下L型支架2、上支架3、连接铰链4和弹簧5,所述上支架3通过连接铰链4安装在下L型支架2上方,所述连接铰链4有2个,本专利下L型支架4与上支架3可采用ー个大连接铰链4进行连接,也可采用两个连接铰链4对L型支架4与上支架3进行连接厂家可根据需要进行选择,所述下L型支架2上内侧设置有下触点2-2,所述上支架3下内侧设置有上触点3-2,所述下L型支架2下触点2-2与上支架3下上触点3_2位置相对应,所述弹簧5上端与上支架3下内侧相连,弹簧5下端与L型支架2上内侧相连,所述弹簧5为 2个,弹簧5设置在上触点3-2和下触点2-2两侧,本专利可根据粒检器大小选择设置相应的弹簧5,具体采用几个弹簧5厂家可根据实际需要进行选择,所述上支架3有凸部3-1,凸部3-1内有直径与待测漆包线I所允许的最大直径相同的通孔,所述下L型支架2有通孔
2-1,所述通孔2-1大于待测漆包线I所允许的最大直径,本实用新型利用漆包线上粒子直径过大会带动上支架3上触点3-2与下L型支架2上触点2-2相接触,上下触点相接触后与漆包线粒检器相连的计数器数字会发生变化,操作工人根据计数器上数字即可知道该漆包线上超过指定半径的粒子数,从而可知道该漆包线是否合格。作为本专利另ー种具体实施例本实用新型提供一种漆包线粒检器,包括下L型支架2、上支架3、连接铰链4和弹簧5,所述上支架3通过连接铰链4安装在下L型支架2上方,所述连接铰链4有I个,本专利下L型支架4与上支架3可采用ー个大连接铰链4进行连接,也可采用两个连接铰链4对L型支架4与上支架3进行连接厂家可根据需要进行选择,所述下L型支架2上内侧设置有下触点2-2,所述上支架3下内侧设置有上触点3-2,所述弹簧5上端与上支架3下内侧相连,弹簧5下端与L型支架2上内侧相连,所述弹簧5为3个,其中一个弹簧5套装在上触点3-2和下触点2-2上,另两个弹簧5设置在上触点3_2和下触点2-2两侧,具体采用几个弹簧5厂家可根据实际需要进行选择,所述上支架3有凸部3-1,凸部3-1内有直径与待测漆包线I所允许的最大直径相同的通孔,所述下L型支架2有通孔2-1,所述通孔2-1大于待测漆包线I所允许的最大直径,本实用新型利用漆包线上粒子直径过大会带动上支架3上触点3-2与下L型支架2上触点2-2相接触,上下触点相接触后与漆包线粒检器相连的计数器数字会发生变化,操作工人根据计数器上数字即可知道该漆包线上超过指定半径的粒子数,从而可知道该漆包线是否合格。作为本专利另ー种具体实施例本实用新型提供一种漆包线粒检器,包括下L型支架2、上支架3、连接铰链4和弹簧5,所述上支架3通过连接铰链4安装在下L型支架2上方,所述连接铰链4有I个,本专利下L型支架4与上支架3可采用ー个大连接铰链4进行连接,也可采用两个连接铰链4对L型支架4与上支架3进行连接厂家可根据需要进行选择,所述下L型支架2上内侧设置有下触点2-2,所述上支架3下内侧设置有上触点3-2,所述弹簧5上端与上支架3下内侧相连,弹簧5下端与L型支架2上内侧相连,所述弹簧5为I个,弹簧5套装在上触点3-2和下触点2-2上,具体采用几个弹簧5厂家可根据实际需要进行选择,所述上支架3有凸部3-1,凸部3-1内有直径与待测漆包线I所允许的最大直径相同的通孔,所述下L型支架2有通孔2-1,所述通孔2-1大于待测漆包线I所允许的最大直径,本实用新型利用漆包线上粒子直径过大会带动上支架3上触点3-2与下L型支架2上触点2-2相接触,上下触点相接触后与漆包线粒检器相连的计数器数字会发生变化,操作工人根据计数器上数字即可知道该漆包线上超过指定半径的粒子数,从而可知道该漆包线是否合格。以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非是对本实用新型作任何其他形式的限制,而依 据本实用新型的技术实质所作的任何修改或等同变化,仍属于本实用新型所要求保护的范围。
权利要求1.一种漆包线粒检器,包括下L型支架(2)、上支架(3)、连接铰链(4)和弹簧(5),其特征在于所述上支架(3)通过连接铰链(4)安装在下L型支架(2)上方,所述下L型支架(2 )上内侧设置有下触点(2-2 ),所述上支架(3 )下内侧设置有上触点(3-2 ),所述下L型支架(2 )下触点(2-2 )与上支架(3 )下上触点(3-2 )位置相对应,所述弹簧(5 )上端与上支架(3)下内侧相连,弹簧(5)下端与L型支架(2)上内侧相连,所述上支架(3)有凸部(3-1),凸部(3-1)内有直径与待测漆包线(I)所允许的最大直径相同的通孔,所述下L型支架(2 )有通孔(2-1 ),所述通孔(2-1)大于待测漆包线(I)所允许的最大直径。
2.根据权利要求I所述的ー种漆包线粒检器,其特征在于所述连接铰链(4)有1-2个。
3.根据权利要求2所述的ー种漆包线粒检器,其特征在于所述弹簧(5)为1-3个。
4.根据权利要求3所述的ー种漆包线粒检器,其特征在于若弹簧(5)为I个,弹簧(5)套装在上触点(3-2)和下触点(2-2)上。
5.根据权利要求3所述的ー种漆包线粒检器,其特征在于若弹簧(5)为2个,弹簧(5)设置在上触点(3-2)和下触点(2-2)两侧。
6.根据权利要求3所述的ー种漆包线粒检器,其特征在于若弹簧(5)为3个,其中一个弹簧(5)套装在上触点(3-2)和下触点(2-2)上,另两个弹簧(5)设置在上触点(3-2)和下触点(2-2)两侧。
专利摘要本实用新型提供一种漆包线粒检器,包括下L型支架、上支架、连接铰链和弹簧,所述上支架通过连接铰链安装在下L型支架上方,所述下L型支架上内侧设置有下触点,所述上支架下内侧设置有上触点,所述下L型支架下触点与上支架下上触点位置相对应,所述弹簧上端与上支架下内侧相连,弹簧下端与L型支架上内侧相连,所述上支架有凸部,凸部内有直径与待测漆包线所允许的最大直径相同的通孔,所述下L型支架有通孔,所述通孔大于待测漆包线所允许的最大直径。本实用新型通过设计一种漆包线粒检器,利用漆包线上如果有粒子直径不一样来进行检测,从而可很快知道该漆包线是否合格。
文档编号G01N15/10GK202362231SQ20112046992
公开日2012年8月1日 申请日期2011年11月23日 优先权日2011年11月23日
发明者顾坤楠 申请人:苏州市新的电工有限公司

  • 专利名称:近场太赫兹THz时域光谱表征方法及其测试装置的制作方法技术领域:本发明涉及一种应用于准一维纳米结构半导体或金属材料的近场太赫兹THz时域光谱表征方法及其测试装置。背景技术:通常情况下,大部分的太赫兹时域光谱系统THz-TDS系统都
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