专利名称：光驱控制印刷电路板的测试方法与相关装置的制作方法
技术领域：
本发明提供一种测试系统，尤指一种用于光驱的光驱控制印刷电路板后段生产线的测试系统。
背景技术：
光驱已成为个人计算机的标准配备之一，而一般来说，光驱是用来读取光盘片中的数据。光驱的类型，如CD-ROM、DVD-ROM。另外，一些光驱具有可烧录数据至光盘片的功能，如CD-RW、DVD-RW。光驱可执行数字媒体的播放以及烧录，包括音乐、影像、数据文件、软件以及游戏等。
请参阅图1，图1为现有光驱10的示意图。光驱10的制造过程需要高精密度的制造、封装以及测试，于下条列出光驱的各模块与组件11一光盘片乘载组111一光学读取头112一主轴马达113一升降机械结构12一光盘片乘载托盘13一控制印刷电路板14一壳体在组装过程中，某些组件的组装需要特别的小心，举例来说，控制印刷电路板13不仅负责光学读取头的运作，控制印刷电路板13的运作效能亦会影响光盘片乘载组11的运作效能。光学读取头利用光线读取光盘片数据或烧录数据至光盘片中，一般来说，光源是为半导体的激光二极管，在任何模式下的运作都需要精确地控制激光二极管的输出功率。因此，控制印刷电路板13的驱动与控制电路需适当地控制激光功率于限定范围之内。
在现有技术中，通常利用一参考激光、光仪表器以及其它各式的测试仪器来测试控制印刷电路板，当量测到激光输出功率与输出至激光的光驱控制印刷电路板的输出信号时，利用光驱控制印刷电路板来驱动参考激光。通过由改变光驱控制印刷电路板控制激光的输出信号，可得知激光输出功率的特性，而当要调整激光输出功率时，可根据激光输出功率的特性来作调整。
请参阅图2，图2为传统光驱控制印刷电路板的特性曲线图20。由特性曲线图20可得知提供于激光的驱动电流22越大，激光的输出功率21也跟着增大，驱动电流22一般以毫安为单位，而输出功率21一般以毫瓦特为单位。激光输出功率21和驱动电流22的比例23在各种测试中有其上限25与下限24的规定，可通过由一已知特性的参考激光来判断测试印刷电路板控制驱动电流的状况。
现有技术中仅测试光驱控制印刷电路板的开回路特性，同样地，测试印刷电路板的封闭回路特性也很重要，尤其印刷电路板13与光盘片乘载组11组装后的测试，其可确保印刷电路板13控制光驱10的运作正常。在现有技术中这些测试是很常见的，然而在制造光驱时却受限于以下的因素。
一般来说，如前所述的各�？橛υ谕怀Х恐兄圃欤孀胖圃斐绦虻母谋洌突Щ嶙孕醒≡袼璧哪？橛胱芭洌虼苏庑┳榧肽？榭赡芟虿煌某趟┕夯蛟送煌某Х炕蚩突�。在此情况下，控制印刷电路板13便无法与光盘片乘载组11组装后再一起测试，而改由分别制造与测试后再组装于光驱10中。
当上述的情形发生时，在制造光驱时，各�？橛胱榧窃诓煌Х恐蟹直鹬圃煊氩馐裕虼诵枰煽康牟馐苑椒ɡ慈繁８髂？榈男阅埽绕涫强刂朴∷⒌缏钒�。
请参阅图3，图3为传统光学读取头的示意图，激光301所投射出的光线经由透镜302成为平行光，光线的一部分经由极化分光器(polarizingbeam splitter，PBS)303的偏振平面反射至一光检测器304，而光线的剩余部分经由镜面307反射并透过一物镜308聚焦于一光盘片309。经由光盘片309所反射光的路径为上述光束的反方向，直到光束到达极化分光器303，经由极化分光器303的偏振平面反射至透镜305与光检测器306。光检测器304用以检测激光能量，而光检测器306主要用于读取光盘片的数据。此两光检测器的激光输出可作为功率的检测，因此在现有技术中，利用激光的控制驱动电流或信号来量测激光。
发明内容
本发明目的是提供一种测试控制印刷电路板的方法，以解决上述的问题。
本发明是揭露一种测试控制印刷电路板的方法，其利用一参考光学读写头来测试光驱控制印刷电路板，该方法包含通过由比较一受测试的光驱控制印刷电路板的一输出与一参考光学读取头激光的一输出，以得到一数值，以及比较该数值与一默认值，以确认该受测试的光驱控制印刷电路板是否合格。
图1为现有光驱的示意图；图2为传统光驱控制印刷电路板的特性曲线图；图3为传统光学读取头的示意图；图4至图6为本发明实施例的示意图；图7为本发明测试程序的流程图。
具体实施例方式
请参考图4，图4为本发明实施例的示意图。光驱控制印刷电路板测试机40包含一参考光学读取头组111(其读/写激光的驱动与控制的相关参数已知)，一启动测试的装置以及一显示测试结果的装置。测试机40具有电子连接线403与连接头409，以使受测试的光驱控制印刷电路板13可与测试机40相电连接。在图4中，控制印刷电路板13包含至少一激光控制集成电路404以及一比较系统407。在此实施例中，比较系统407为控制印刷电路板13的一部分，于不同的实施例有不同的设计方式。
此实施例中，启动测试的装置为连接头409至受测的控制印刷电路板13，当供应电源之后，激光控制集成电路404立刻进行激光功率测试程序，因此实施例中亦包含电源开关401。连接线403与连接头409包含插座/插头形式的接头，也可以为其它形式的接头，只要能快速地连接起或断开受测的控制印刷电路板13至参考光学读取头组111以及电源开关401的连结即可。
在测试中，比较系统407会同时检测一激光控制信号405与一激光功率信号406，激光控制信号405是为控制印刷电路板13所产生的信号，用来驱动参考光学读取头111的读/写激光，而激光功率信号406是为光学读取头111的光检测器304或306所回传的信号当供应电源后，激光控制集成电路404会自动启动功率校准测试(power calibration test)以做些微的调整，其用以补偿光驱10运作时的组件耗损。然而，当第一次使用时，即测试时，控制印刷电路板13需要一参考范围，以在读/写激光的运作范围的内增加或减少激光控制信号405，而控制印刷电路板13接收与储存激光控制信号405的校正，其中激光控制信号405的校正信号是为比较系统407中的比较校正信号411。
比较系统407通过由检测激光控制信号405与激光功率信号406得到比较校正信号411，因此比较系统407可得知激光控制集成电路404的响应信号以及将此响应信号与默认值作比较。在此实施例中，激光控制信号405与激光功率信号406的比例与比较系统407中的一预设比例作比较。另一种方式为，将激光功率信号406与储存于比较系统407中的一查询表内的数值作比较，而所比较的查询表内的数值是根据激光控制信号405的大小来决定。
在完成测试的最后步骤之后，假如激光控制集成电路404的响应信号是符合要求的，比较系统407将发出「合格」的结果，若此响应信号不符合要求，则发出「不合格」的结果，比较系统407会通过由显示灯将以上的结果表示出。在此实施例中，比较系统407控制两个发光二极管(light emitting diode，LED)408，其中一个LED为红色的代表「不合格」；另一个LED为绿色的代表「合格」。其它显示合格与不合格的方式如，仅用一个发光组件用来表示「合格」，若此发光组件没有发亮，则表示「不合格」，反的亦然。或者可利用单一或复数个有多种颜色的LED、灯泡或发声器等来显示合格与不合格的结果，也可使用液晶显示器(liquidcrystal display，LCD)来呈现最后的结果。
请参阅图5，图5为本发明另一实施例的示意图。比较系统407是整合于测试机40上，此实施例的测试机40必须较高阶，因此需要一测试接口501以及一内部电子连接器502，以使比较系统407能检测到来回光学读取头组111的相关信号，以及传输比较校正信号411到激光控制集成电路404。测试的程序与前述的实施例相同，其包含激光控制集成电路404与光学读取头组111的测试。如同前述的实施例，比较系统407通过由显示灯来呈现最后的结果(合格或不合格)，由于实施例中的比较系统407与测试接口501较精密，因此可增加一状态输出，如一个简单的视觉显示，或增加一个测试参数的特性图表，如果要显示出一特性图表，则需要一个显示装置。此显示装置可为一个液晶显示器、CRT显示器、图表记录器(chart recorder)、绘图机(plotter)、计算机或打印机。
请参阅图6，图6为本发明另一实施例的示意图，比较系统407的功能、测试接口501以及测试结果皆透过计算机测试接口602，由计算机601来执行。测试的程序与前述的实施例相同，其包含激光控制集成电路404与光学读取头组111的测试。此实施例不但可与前述的实施例一样提供结果的显示，此实施例亦可记录测试数据、简易地归档以及自动地再测试，但如果实施例中所使用的软件较简易，其可提供的功能也就越少。
请参阅图7，图7为本发明测试程序的流程图，步骤如下步骤701开始测试控制印刷电路板13。
步骤702将受测的控制印刷电路板13固定于测试机40上，并将相关的连接线接至电源，如光学读取头组111、接口501、602等。
步骤703供应电源。
步骤704激光控制集成电路404将自动启动功率校正测试程序，一般来说，增加激光驱动电流时使用最小的功率设定，或依据前一步骤来增加激光驱动电流(激光控制信号405)，如根据步骤711的输出。
步骤705比较系统407将激光功率输出21(激光功率信号406)与激光驱动电流(激光控制信号405)的比例23与预设范围的上限25与下限24作比较。
步骤706比较系统407检测步骤705中的比例23是否符合预设的标准范围，若在范围的内，则进入步骤710；反之，进入步骤707。
步骤707比较系统407传送一比较校正信号411至激光控制集成电路404，比较校正信号411为提供于激光控制信号405的校正信号。
步骤708激光控制集成电路404储存比较校正信号411的数值。
步骤709激光控制集成电路404根据校正信号411的数值调整激光控制信号405，并跳回步骤705。
步骤710检测是否已完成最后的测试步骤，如果已完成，则进入步骤712；反的，进入步骤711。
步骤711激光控制集成电路404增加或减少激光控制信号405。
步骤712移除电源。
步骤713将控制印刷电路板13自测试机40上移除。
步骤714若需要测试其它控制印刷电路板13，则跳回步骤702。
步骤715结束测试。
图7中的部分步骤可由技术员来操作或由生产在线的机器来执行。举例来说，步骤702，受测的印刷电路板13可由技术员将其固定于测试机40上。在较大的测试生产在线，印刷电路板13可利用生产在线的机器将其固定于测试机40上。另外，步骤703与712，电源的供应与移除可由技术员按下电源开关，或透过组装线的组件自动供应电源。此外，根据不同的实施例，以上的步骤可有所调整，并不限定于以上的顺序，或可删除某些步骤。
相较于现有技术，本发明提供一种较精密的控制印刷电路板13测试方法，若制造光驱时，各模块与组件是在不同厂房中分别制造与测试，利用本发明的测试方法来测试控制印刷电路板13时，不但可正确地校正控制印刷电路板13，其测试结果亦可储存于控制印刷电路板13的激光控制集成电路404中。当各�？橛胱榧樽巴瓿珊螅刂朴∷⒌缏钒�13无须再重新测试，即可正确地控制光驱的运作。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种利用参考光学读写头来测试光驱控制印刷电路板的方法，其特征在于，该方法包含通过由比较一受测试的光驱控制印刷电路板的一输出与一参考光学读取头激光的一输出，以得到一数值；以及比较该数值与一默认值，以确认该受测试的光驱控制印刷电路板是否合格。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，包含调整该光驱控制印刷电路板的输出。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述该参考光学读取头激光的输出是利用入射至一光盘片表面而反射的光线所量测出来的。
4.如权利要求所述的方法，其特征在于，包含根据该受测试的光驱控制印刷电路板的测试结果输出一合格/不合格的结果。
5.如权利要求所述的方法，其特征在于，包含产生该数值与该默认值的一特性图表。
6.如权利要求所述的方法，其特征在于，包含连结该受测试的光驱控制印刷电路板至该参考光学读取头；以及于测试结束时，切断该受测试的光驱控制印刷电路板与该参考光学读取头的连结。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，其中当一批的光驱控制印刷电路板受测试时，重复所有步骤。
8.一种光驱控制印刷电路板测试设备，其特征在于，包含一读取头，用以投射与接收激光光；一第一装置，用以检测激光功率；一第二装置，用以比较激光功率与一默认值；以及一第三装置，是电连结一光驱控制印刷电路板至该光驱控制印刷电路板测试设备，其中该光驱控制印刷电路板测试设备可连续测试复数个光驱控制印刷电路板。
9.如权利要求8所述的测试设备，其特征在于，包含一显示装置，用以显示一合格/不合格的结果。
10.如权利要求8所述的测试设备，其特征在于，包含一显示装置，用以显示一特性图表。
11.如权利要求8所述的测试设备，其特征在于，包含一显示装置，用以显示操作选择画面，以调整该受测的光驱控制印刷电路板。
全文摘要
一种利用参考光学读写头来测试光驱控制印刷电路板的方法，该方法包含量测该参考光学读写头激光的一输出，比较该参考光学读写头的输出与一受测的光驱控制印刷电路板的一输出，以及比较该量测的数值与一预设范围的数值，以确认该受测试的光驱控制印刷电路板是否合格。
文档编号G01R31/00GK1801336SQ20041010462
公开日2006年7月12日 申请日期2004年12月31日 优先权日2004年12月31日
发明者黄耀德, 蒋碧正 申请人:建兴电子科技股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
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