专利名称:太阳能电池晶硅硅片检验装置的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及太阳能电池领域,尤其是一种太阳能电池晶硅硅片检验设计装 置,适用于硅片的尺寸质量检验。
背景技术:
全球太阳能背景,当电力、煤炭、石油等不可再生能源频频告急,能源问题日益成 为制约国际社会经济发展的瓶颈时,越来越多的国家开始实行"阳光计划",开发太阳能 资源,寻求经济发展的新动力。太阳能作为一种可再生的新能源,越来越引起人们的关注。 预计到2030年,可再生能源在总能源结构中将占到30%以上,而太阳能光伏发电在世界总 电力供应中的占比也将达到10%以上;到2040年,可再生能源将占总能耗的50%以上,太 阳能光伏发电将占总电力的20%以上;到21世纪末,可再生能源在能源结构中将占到80% 以上,太阳能发电将占到60%以上。这些数字足以显示出太阳能光伏产业的发展前景及其 在能源领域重要的战略地位。由此可以看出,太阳能电池市场前景广阔。而生产太阳能产 品最关键的硅片,硅片的质量直接决定了太阳能电池片的效率。目前各电池片厂家对于硅片质量检验用尺子或卡尺测量硅片外形尺寸,虽然检 验原理和方法都符合标准规定,但是作为检验太阳能硅晶硅片的专用检测设备具有以下 缺点(1)由于硅片薄、易碎,传统方法用尺子或卡尺测量硅片,测量时不敢贴近,不易获得 准确数据;( 传统尺子或卡尺是由金属或塑料制成,金属材质的尺子或卡尺在测量硅片 过程中易对硅片产生金属污染,对后道制作产生影响;而塑料材质的尺子又存在测量精度 无法满足硅片的尺寸精度要求;(3)传统测量硅片对操作技巧要求很高,极易导致碎片、缺 角、脱晶、隐裂等问题,而且用尺子或卡尺测量硅片较费时,影响硅片检验速度。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种检验操作简单,易于操作、造价成本 低,并且不易损伤硅片的太阳能电池晶硅硅片检验设计装置。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种太阳能电池晶硅硅片检验 装置,具有透明载体,所述的透明载体表面打印有测量硅片尺寸大小的刻度线,所述的刻度 线由长、短线段间隔分布而成。进一步具体的说,本实用新型所述的刻度线中的长线段的长度为10 15mm,短线 段的长度为5 8mm,所述的长、短间隔0. 1 1. Omm分布,所述的长、短线段的线宽均为 0. Imm0更进一步的说,为了能对各种形态的硅片进行精确的检验,本实用新型所述的透 明载体上的刻度线包括倒角刻度线和四边刻度线,所述的四边刻度线呈十字状设置在透明 载体的中心。本实用新型所述的透明载体由不易变形、老化的材料制成。本实用新型的有益效果是,解决了背景技术中存在的缺陷,利用不易变形、老化的材料制成透明载体,将具体尺寸精确的打印在透明载体上,检验时只需将硅片放在该透明 载体上对准标准尺寸测量,就可获得数据,检验是否合格,从而提高了硅片检验的精准度与 速度,而且硅片是盛放在透明塑料板上的,不易导致碎片、缺角、脱晶、隐裂等问题,这样也 提高了硅片检验的质量。以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的优选实施例的结构示意图;图中1、透明载体;21、倒角刻度线;22、四边刻度线。
具体实施方式
现在结合附图和优选实施例对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简 化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关 的构成。如图1所示的一种太阳能电池晶硅硅片检验装置,具有透明载体1,所述的透明 载体1表面打印有测量硅片尺寸大小的刻度线,刻度线包括倒角刻度线21和四边刻度线 22,所述的刻度线由长、短线段间隔分布而成。其中长线段的长度为10mm,短线段的长度为 6mm,所述的长、短间隔0. 5mm分布,所述的长、短线段的线宽均为0. 1mm。检验时只需将硅片放在该透明载体1上对准标准尺寸测量,就可获得数据,检验 是否合格,从而提高了硅片检验的精准度。以上说明书中描述的只是本实用新型的具体实施方式
,各种举例说明不对本实用 新型的实质内容构成限制,所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所 述的具体实施方式
做修改或变形,而不背离实用新型的实质和范围。
权利要求1.一种太阳能电池晶硅硅片检验装置,其特征在于具有透明载体(1),所述的透明载 体(1)表面打印有测量硅片尺寸大小的刻度线,所述的刻度线由长、短线段间隔分布而成。
2.如权利要求1所述的太阳能电池晶硅硅片检验装置,其特征在于所述的刻度线中 的长线段的长度为10 15mm,短线段的长度为5 8mm,所述的长、短间隔0. 1 1. Omm分布。
3.如权利要求1所述的太阳能电池晶硅硅片检验装置,其特征在于所述的透明载体 (1)上的刻度线包括倒角刻度线和四边刻度线(22),所述的四边刻度线02)呈十字 状设置在透明载体(1)的中心。
专利摘要本实用新型涉及一种太阳能电池晶硅硅片检验装置,所述的太阳能电池晶硅硅片检验设计装置是将硅片标准尺寸以打印的方式呈现在透明载体上。检验时只需将硅片放在该透明载体上对准标准尺寸测量,就可获得数据,检验是否合格,从而实现硅片尺寸的检验,也提高了硅片检验的精准度。本实用新型结构简单,操作方便,制作成本低,大大地节约了硅片尺寸的检验时间,提高了硅片检验质量。
文档编号G01B5/20GK201837331SQ20102058503
公开日2011年5月18日 申请日期2010年10月30日 优先权日2010年10月30日
发明者童彩霞 申请人:江苏顺风光电科技有限公司