专利名称：测量断路器开闭时间的测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电性能测试技术领域，尤其涉及一种测量断路器开闭时间的测量
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背景技术：
断路器主触头的开闭时间是其一项非常重要的性能指标。开闭时间不合格的会引起燃弧时间增长或缩短其使用寿命。目前涌现出许多对断路器的开闭时间的测试的方法， 常见的有利用DSP芯片为主控单元来测试的、以单片机为主控单元测试的等。但是这些测试系统的开发调试都比较复杂，限制了其应用范围。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种精度高的测量断路器开闭时间的测量装置。为达到上述目的及其他目的，本实用新型提供的测量断路器开闭时间的测量装置，包括用于发送开闭信号的主控装置，其具有用于显示测试时间及断路器触头开闭波形的显示单元；与所述主控装置连接且用于传送所述开闭信号的ZT-PCI8335信号采集卡，其包括第一计时单元与由所述开闭信号控制的模数转换单元；与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接且用于根据所述开闭信号来控制断路器开闭的控制电路；信号反馈电路，与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，其根据所述开闭信号及断路器的状态输出门控信号至所述第一计时单元，并将所采集的所述断路器触头信号送入所述模数转换单元以进行模数转换；由所述开闭信号控制的第二计时单元，其输出停止信号至所述模数转换单元以停止模数转换。综上所述，本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置以ZT-PCI8335信号采集卡作为主控装置与控制断路器的控制电路之间的连接器件，由此方便对断路器的控制及触头信号的采集，本测量装置简单，性能可靠。
图1是本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置的基本架构示意图；图2是本实用新型的测量断路器开闭时间的主控装置提供的显示界面示意图；图3是本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置的控制电路的电路示意图；图4是本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置的信号反馈电路的电路示意图。
具体实施方式
请参阅图1，本实用新型的测量断路器开闭时间的测量装置包括主控装置、 ZT-PCI8335信号采集卡、控制电路、信号反馈电路及第二计时单元。所述主控装置用于发送开闭信号，其具有用于显示测试时间及断路器触头开闭波形的显示单元。在本实施例中，所述主控装置内置有LABVIEW软件，能提供图2所示的显示界面，该显示界面包含显示断路器开闭时间的显示栏、显示断路器触头开闭波形的显示栏、 指示计数状态的指示信号、以及发出开闭信号的开闭按钮等。所述ZT-PCI8335信号采集卡与所述主控装置连接，用于传送所述开闭信号，其包括第一计时单元与由所述开闭信号控制的模数转换单元。所述控制电路与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，用于根据所述开闭信号来控制断路器开闭。作为一种优选方式，所述控制电路包括光耦及对对断路器的线圈进行控制的 12V直流继电器。如图3所示，其为所述控制电路的电路示意图。当开闭信号使晶体管Q8 导通，光耦U2随之导通，晶体管Q9基极变为高电平，从而晶体管Q9导通，继电器Kl回路导通，继电器Kl�？サ鉕lK和OlC闭合。OlK和OlC连接断路器的线圈，从而控制断路器的触点闭合；当开闭信号使晶体管Q8截止，光耦U2随之截止，晶体管Q9基极变为低电平，从而晶体管Q9截止，继电器Kl回路没有电流，继电器Kl�？サ鉕lK和OlC断开，从而控制断路器的触点断开。所述信号反馈电路与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，其根据所述开闭信号及断路器的状态输出门控信号至所述第一计时单元，并将所采集的所述断路器触头信号送入所述模数转换单元以进行模数转换。作为一种优选方式，如图3所示，其为信号反馈电路的电路示意图。当继电器Kl 的常开触点OlK和OlC闭合，使得断路器K2的触点闭合，从而光耦Ul所在回路闭合，电流流经光耦U1，光耦Ul输出的信号经过两个非门Q5与Q6反相后，非门Q5输出的信号输入至所述ZT-PCI8335信号采集卡的模数转换电路进行模数转换后，再送入主控装置进行处理后显示在图2所示的触头开闭波形显示栏；非门Q6输出断路器状态信号B，断路器状态信号B与开闭信号A经过反相器Q7、Q8、与非门Q2、与门Q3，及或门Ql后形成门控信号
GATE=XB+Αδ，当GATE信号为高电平时，ZT-PCI83;35信号采集卡的第一计时单元开始计
时，当GATE信号转为低电平时，第一计时单元计数停止，其所计时间即为测试时间，该测试时间送入主控装置后，在图2所示的显示界面的开闭时间的显示栏予以显示。下表一为门控信号的GATE的真值表，其中，A为主控装置发出的开闭信号，0表示打开，1表示闭合，B为断路器状态信号，0表示断开状态，1表示闭合状态，由此可见，当主控装置发出的开闭信号为1时，由于断路器还未闭合，故B = 0，此时，门控信号GATE = 1，第一计时单元计数开始计时，当信号反馈电路检测到断路器闭合后，则B = 1，此时，GATE = 0，由此，第一计时单元计数结束。而主控装检测断路器断开的情形与检测断路器闭合的情形类似，故在此不再详述。表一
权利要求1.一种测量断路器开闭时间的测量装置，其特征在于包括用于发送开闭信号的主控装置，其具有用于显示测试时间及断路器触头开闭波形的显示单元；与所述主控装置连接且用于传送所述开闭信号的ZT-PCI8335信号采集卡，其包括第一计时单元与由所述开闭信号控制的模数转换单元；与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接且用于根据所述开闭信号来控制断路器开闭的控制电路；信号反馈电路，与所述ZT-PCI8335信号采集卡及断路器相连接，其根据所述开闭号及断路器的状态输出门控信号至所述第一计时单元，并将所采集的所述断路器触头信号送入所述模数转换单元以进行模数转换；由所述开闭信号控制的第二计时单元，其输出停止信号至所述模数转换单元以停止模数转换。
2.如权利要求1所述的测量断路器开闭时间的测量装置，其特征在于所述信号反馈单路还包括指示断路器开闭的指示灯。
3.如权利要求1所述的测量断路器开闭时间的测量装置，其特征在于所述控制电路包括光耦及对对断路器的线圈进行控制的12V直流继电器。
专利摘要本实用新型提供一种测量断路器开闭时间的测量装置，包括主控装置、ZT-PCI8335信号采集卡、控制电路、信号反馈电路及第二计时单元。当主控装置发出开闭信号后，ZT-PCI8335信号采集卡的模数转换单元与第二计时单元开始工作，同时，控制电路根据该开闭信号控制断路器执行相应操作，信号反馈电路根据该开闭信号及断路器的触头状态输出相应门控信号使ZT-PCI8335信号采集卡的第一计时单元计时，并当门控信号转为低电平时停止计时，随后，第一计时单元所计时间由主控装置予以显示，此外，信号反馈电路根据还将所采集的断路器的触头波形送入模数转换单元予以转换后显示在主控装置的显示单元。该测量装置结构简单，且性能可靠。
文档编号G01R31/327GK202110253SQ201120165028
公开日2012年1月11日 申请日期2011年5月20日 优先权日2011年5月20日
发明者万利科, 倪凯峰, 寇树人, 杨文焕, 闫爱文 申请人:上海理工大学
专业数控铣床产品供应商
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