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专利名称：一种非完整圆精密测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种测量装置，特别是一种用于測量非完整圆的精密測量装置。
背景技术：
目前，由于对非完整的、短浅的外圆精密測量，并没有通用的量具可以使用，一般是采用三座标测量或万能工具显微镜測量。采用三座标测量不能实现在生产线上直接线测量，当被测外圆的长度小于0.5毫米时，三座标受测量球头直径的限制不能測量。当被测非完整圆的公差较小时，万能工具显微镜測量受计量人员的操作水平的影响，得到的数据不稳定，并且不能在生产线上直接測量
实用新型内容
本实用新型的发明目的在于针对上述存在的问题，提供ー种专用于精密測量非完整圆的精密測量装置。本实用新型采用的技术方案是这样的ー种非完整圆精密測量装置，包括圆环形量具体、固定测量头、活动测量头、固表板和千分表，所述固定测量头通过拉紧螺钉固定在量具体中下部并指向圆心，所述固表板通过压紧螺钉固定设置于量具体顶部，所述千分表从上到下穿过固表板并通过小压紧螺钉固定，千分表底部螺纹连接指向圆心的活动测量头并用压紧螺母将活动测量头固定。作为优选方式，所述固定测量头有两个，与活动测量头均匀分布在量具体的圆环上。综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是结构简单，使用方便，能够确保在线准确的测出浅短的非完整圆或完整圆的精密測量，通过与标准件的直接对比，減少了长度量值传递的误差。

图I是本实用新型的主视图。图2是图I实施例的左视图。图3是标准轴主件的主视图。图中标记1为量具体,2为固定测量头,3为拉紧螺钉,4为活动测量头,5为固表板，6为小压紧螺钉，7为千分表，8为压紧螺钉，9为压紧螺母，10为夹持套，11为标准轴套，12为调节螺钉。
具体实施方式
以下结合附图，对本实用新型作详细的说明。如图1-2所示，ー种非完整圆精密測量装置，包括圆环形量具体I、固定测量头2、活动测量头4、固表板5和千分表7，所述固定测量头2通过拉紧螺钉3固定在量具体I中下部并指向圆心，所述固表板5通过压紧螺钉8固定设置于量具体I顶部，所述千分表7从上到下穿过固表板5并通过小压紧螺钉6固定，千分表7底部螺纹连接指向圆心的活动测量头4并用压紧螺母9将活动测量头4固定。本实施例中，所述固定测量头2有两个，与活动测量头4均匀分布在量具体I的圆环上。如图3所示,使用时还会用到ー个夹持套10和标准轴套11的组合件。夹持套10与标准轴套11之间用调节螺钉12紧固。使用之前先将夹持套9和标准轴套10的组合放入量具体I内，分别用A、B端(直径分别为c^A、CtB)的外圆校对千分表7，并用压紧螺钉6将千分表7位置固定。然后将图3所示组件取出，放入待测エ件，读取数据，通过与标准轴的数据进行比较得出待测エ件的实际数值。经过实践，该种精密測量装置，可在生产线上直接测量长度大于0. 1_，外径直径在IOmm以上，精度等级达到IT5级的非完整圆柱，也能测量完整圆柱。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.ー种非完整圆精密測量装置，其特征在于包括圆环形量具体(I)、固定测量头(2)、活动测量头(4)、固表板(5)和千分表(7)，所述固定测量头(2)通过拉紧螺钉(3)固定在量具体(I)中下部并指向圆心，所述固表板(5)通过压紧螺钉(8)固定设置于量具体(I)顶部，所述千分表(7)从上到下穿过固表板(5)并通过小压紧螺钉(6)固定，千分表(7)底部螺纹连接指向圆心的活动测量头(4)并用压紧螺母(9)将活动测量头(4)固定。
2.根据权利要求I所述的ー种非完整圆精密測量装置，其特征在于所述固定测量头(2)有两个，与活动测量头(4)均匀分布在量具体(I)的圆环上。
专利摘要本实用新型公开了一种非完整圆精密测量装置，包括圆环形量具体、固定测量头、活动测量头、固表板和千分表，所述固定测量头通过拉紧螺钉固定在量具体中下部并指向圆心，所述固表板通过压紧螺钉固定设置于量具体顶部，所述千分表从上到下穿过固表板并通过小压紧螺钉固定，千分表底部螺纹连接指向圆心的活动测量头并用压紧螺母将活动测量头固定。本实用新型的有益效果是结构简单，使用方便，能够确保准确的测出浅短的非完整圆或完整圆的精密测量，通过与标准件的直接对比，减少了长度量值传递的误差。
文档编号G01B5/00GK202403635SQ201120514030
公开日2012年8月29日 申请日期2011年12月12日 优先权日2011年12月12日
发明者李俊 申请人:四川高龙机械有限公司