专利名称：一种太阳能电池片衰减测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电学技术领域，涉及一种测试装置，特别是一种太阳能电池片衰减测试装置。
背景技术：
晶体硅太阳能电池片是目前光伏市场的主流产品，由于晶体在生长过程中会引入杂质，而对电池片的初期光照会导致其中的掺杂剂、氧及铁等杂质形成复合中心，从而使硅片的寿命降低，引起电池转换效率下降，发生较大幅度的光致衰减，晶体硅太阳能电池片在出厂前需要对其光致衰减进行测试，以确保电池片质量符合要求。传统的光致衰减试验，是把电池片放置在模拟光源或阳光下，暴晒一定时间，然后，对比暴晒前后电池片的电性能(即转换功率)，再人工计算电池片电性能衰减的比例或百分数，即可得出电池片光致衰减参数，可用于对电池片的光致衰减进行评价。但是，这种测试方法存在以下缺陷1、电池片的实验环境中不仅仅存在照射光源，还存在着空气、水汽等其它外界因素，这些因素会影响电池片光致衰减的测试结果；2、由于在测试过程中，对光源辐射量无法进行准确地控制，也会导致对电池片的光致衰减评价失真。由于受到光源辐射量等不可控量因素和实验环境中空气、水汽等无法屏蔽因素的影响，以致传统的光致衰减试验对太阳能硅电池片的光致衰减测试结果是不够准确的。同时，传统的电池片衰减率检测，一般只能从封装后组件检测数据中测试，测试的衰减率是组件整个的衰减。不能检测单独的电池片衰减，准确性与科学性不足，不能很好提供电池片技术提升数据。目前太阳能电池片通常在自然光下做衰减性能测试，由于太阳能电池片长期处于自然环境下，容易吸潮氧化，使功率衰减，造成测试标准偏差；另外，由于自然光源的不稳定性也直接影响了太阳能电池片所测试出来的电性能的稳定性，这给太阳能电池片的标准化生产、测试带来了不便。为更好的取得单个电池片衰减数据，研究开发此电池片衰减检测方法，此方法可以非常准确的检测出电池片在真实环境使用条件的衰减率，为电池片功率提升，技术创新提供数据。
发明内容本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种结构简单、操作方便，同时能够提供循环测试的太阳能电池片衰减测试装置。本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现一种太阳能电池片衰减测试装置，包括太阳能电池测试压片，所述的太阳能电池测试压片包括由下至上依次放置的背板、 胶膜层、太阳能电池片和透光组件层压而成，其特征在于，所述的胶膜层对应于太阳能电池片设置的位置上开设有通孔，所述的太阳能电池片的上侧面和下侧面分别与背板和透光组件相抵靠。本技术方案中，在胶膜层上开设有一通孔，并将太阳能电池片设置在胶膜层与背板及透光组件之间形成的腔体内，可以随时将电池片取出做检测，有效地避免胶膜层以及杂质的影响，提高测试的准确性。在上述的太阳能电池片衰减测试装置中，在上述的太阳能电池片衰减测试装置中，所述的通孔与太阳能电池片的形状及大小相适配。在电池片周围按照组件封装工艺进行层压，层压后太阳能电池片周围形成一个真空空间，可以有效地较少杂质对检测数据的影响。在上述的太阳能电池片衰减测试装置中，所述的胶膜层为乙酸醋烯乙烯共合物制成的EVA胶膜。在上述的太阳能电池片衰减测试装置中，所述的透光组件包括依次叠置层压为一体的玻璃一、胶膜和玻璃二。设置双层的玻璃可以提高电池片的防辐射能力，保护电池片免受紫外线的侵蚀，避免损坏。在上述的太阳能电池片衰减测试装置中，所述的玻璃一为钢化玻璃。在上述的太阳能电池片衰减测试装置中，所述的玻璃二为钢化玻璃。与现有技术相比，本实用新型采用了和组件封装工艺相同的层压方式，不同的地方在于把电池片和玻璃直接接触，层压后电池片形成一个真空空间。在测试时，将本实用新型放置在自然环境中做一个测试周期，然后用工具把电池片从封装装置中取出，测试电池片目前功率，取得准确的测试数据，得到一个周期的电池片衰减率。在测试过程中，由于电池片的上下侧面与胶膜不直接接触，电池片本身以及测试数值不会受到胶膜的影响，因而通过此测试装置可以对电池片的衰减进行循环测试，取得周期频次的测试数据，所得的综合数据也将更为的准确可靠。
图1是本实用新型的结构示意图。图中，1、背板；2、胶膜层；2a、通孔；3、太阳能电池片；4、玻璃一 ；5、EVA胶膜；6、玻
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具体实施方式
以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。参照图1，本实用例为太阳能电池片衰减测试装置，包括太阳能电池片测试压片包括由下至上依次放置的背板1、胶膜层2、太阳能电池片3、玻璃一 4、EVA胶膜5和玻璃二 6 层压而成，胶膜层2对应于太阳能电池片3的位置上开设置有通孔加，太阳能电池片3的下侧面和上侧面分别与背板1和玻璃一 4直接接触。本实施例在测试之前，需要对其进行封装处理，其步骤如下首先，将玻璃一 4、 EVA胶膜5、玻璃二 6层压为一体，然后将太阳能电池片3放置在封装好的“玻璃一 -EVA胶膜5-玻璃二 6”和设有通孔加的胶膜层2之间，按照正常组件封装工艺流程进行层压，层压后太阳能电池片3的周围形成一个真空空间，可以有效地杜绝杂质对测试数据的影响。在测试时，将本实施例产品放置在自然环境中，经过自然衰减后，用工具从背面把背板划开， 把电池片从封装装置中取出，测试电池片目前功率，取得准确的测试数据，得到一个周期的电池片衰减率。本实施例在测试过程中，由于太阳能电池片3的上下侧面与胶膜层2不直接接触， 太阳能电池片3电池片本身以及测试数值不会受到胶膜的影响，因而通过此测试装置可以对电池片的衰减进行循环测试，取得周期频次的测试数据，所得的综合数据也将更为的准
确可靠。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。尽管本文较多地使用了背板1、胶膜层2、通孔2a、太阳能电池片3、玻璃一 4、EVA 胶膜5、玻璃二 6等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本实用新型的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。
权利要求1.一种太阳能电池片衰减测试装置，包括太阳能电池测试压片，所述的太阳能电池测试压片包括由下至上依次放置的背板(1)、胶膜层O)、太阳能电池片( 和透光组件层压而成，其特征在于，所述的胶膜层( 对应于太阳能电池片( 设置的位置上开设有通孔 (加)，所述的太阳能电池片( 的上侧面和下侧面分别与背板(1)和透光组件相抵靠。
2.根据权利要求1所述的一种太阳能电池片衰减测试装置，其特征在于，所述的通孔 (2a)与太阳能电池片(3)的形状及大小相适配。
3.根据权利要求1或2所述的一种太阳能电池片衰减测试装置，其特征在于，所述的胶膜层( 为乙酸醋烯乙烯共合物制成的EVA胶膜。
4.根据权利要求1所述的一种太阳能电池片衰减测试装置，其特征在于，所述的透光组件包括依次层压叠置为一体的玻璃一(4)、EVA膜( 和玻璃二(6)。
5.根据权利要求4所述的一种太阳能电池片衰减测试装置，其特征在于，所述的玻璃一 (4)为钢化玻璃。
6.根据权利要求4所述的一种太阳能电池片衰减测试装置，其特征在于，所述的玻璃二(6)为钢化玻璃。
专利摘要本实用新型提供了一种太阳能电池片衰减测试装置，属于电学技术领域。它解决了现有技术无法对太阳能电池片的衰减进行有效测试的问题。本太阳能电池片衰减测试装置，包括太阳能电池测试压片，所述的太阳能电池测试压片包括由下至上依次放置的背板、胶膜层、太阳能电池片和透光组件层压而成，其特征在于，所述的胶膜层对应于太阳能电池片设置的位置上开设有通孔，所述的太阳能电池片的上侧面和下侧面分别与背板和透光组件相抵靠。它在胶膜层上开设有一通孔，并将太阳能电池片设置在胶膜层与背板及透光组件之间形成的腔体内，可以随时将电池片取出做检测，有效地避免胶膜层以及杂质的影响，提高测试的准确性。
文档编号G01R31/26GK202281823SQ20112042176
公开日2012年6月20日 申请日期2011年10月31日 优先权日2011年10月31日
发明者王伟兵, 赵东, 陈敏智 申请人:浙江宝利特新能源股份有限公司
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