专利名称：一种x荧光光谱分析仪的制作方法
技术领域：
一种X荧光光谱分析仪技术领域[0001]本实用新型涉及X荧光光谱分析，为一种谱峰实时检测式的多元素同时测定型X 荧光光谱分析仪。
背景技术：
[0002]现有的能量色散多元素同时测定型X荧光光谱分析仪EDXRF中，一般每个元素通 道道的特征X射线由探测器检测，产生的脉冲信号经放大器放大后，脉冲高度将按照一峰 形曲线分布，即称为该元素的特征X射线谱峰，简称元素谱峰。仪器调试时必须仔细调节元 素谱峰峰位，并使谱峰分辨率达到最佳，然后设定元素通道区，计算区内的谱峰面积，又称 脉冲计数率，即代表该元素特征X射线的强度，与该元素含量成正比，借此即可以对元素含 量进行定量分析。[0003]现有的EDXRF中的元素谱峰检测系统，主要是采用单道脉冲高度分析器，为了使 谱峰峰位稳定，要求X光管高压和信号放大电路具有很高的稳定性；另一方面为了防止因 元器件温度漂移或老化等引起较大的谱峰漂移而导致出现过大的元素分析误差，一般要用 户定时，例如每隔24小时，用参考银标样初始化各元素的谱峰，以监测和校正谱峰的漂移。发明内容[0004]本实用新型要解决的问题是现有的能量色散多元素同时测定型X荧光光谱分析 仪要求X光管高压和信号放大电路具有很高的稳定性，并且要定时进行初始化调整，操作 繁琐。[0005]本实用新型的技术方案为一种X荧光光谱分析仪，包括X光管、准直器、元素特征 X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机，X光管、准直器和元素特征X射线探测器对应 设有至少一组，X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样，元素特征X射线探测器接 收试样反射出的X射线，所有元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上 位计算机。[0006]本实用新型所有元素特征X射线谱峰检测全部有探测器完成，采集到的各路元素 特征X射线信号直接由计算机软件进行分析，得到元素谱峰图，经过算法计算得到各元素 的含量。由于采用探测器完成信号采集，计算机软件进行分析，减少了对X光管高压和信号 放大电路的稳定性要求，不需要用户频繁使用标样初始化定标。
[0007]图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
[0008]如图1，本实用新型包括X光管1、准直器2、元素特征X射线探测器4、自动控制系 统5以及上位计算机6，X光管1、准直器2和元素特征X射线探测器4对应设有至少一组，X光管I发出的X射线经准直器2输出至待分析试样3，元素特征X射线探测器4接收试样 3反射出的X射线，所有元素特征X射线探测器4的输出信号通过自动控制系统5输入上位 计算机6。[0009]本实用新型所有元素特征X射线谱峰检测全部有探测器完成，采集到的信号直接 由计算机软件进行分析，得到元素谱峰图，经过算法计算得到各元素的含量。由于采用探测 器完成信号采集，计算机软件进行分析，减少了对X光管高压和信号放大电路的稳定性要 求，不需要用户频繁使用标样初始化定标。上位计算机也提供了良好的人机操作界面，更利 于用户操作使用。
权利要求1. 一种X荧光光谱分析仪，其特征是包括X光管、准直器、元素特征X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机，X光管、准直器和元素特征X射线探测器对应设有至少一组，X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样，元素特征X射线探测器接收试样反射出的X射线，所有元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上位计算机。
专利摘要一种X荧光光谱分析仪，包括X光管、准直器、多个元素特征X射线探测器、自动控制系统以及上位计算机，X光管发出的X射线经准直器输出至待分析试样，元素特征X射线探测器接收试样反射出的X射线，元素特征X射线探测器的输出信号通过自动控制系统输入上位计算机。本实用新型所有元素特征X射线谱峰检测全部有探测器完成，采集到的信号直接由计算机软件进行分析，得到元素谱峰图，经过算法计算得到各元素的含量，由于采用探测器完成信号采集，计算机软件进行分析，减少了对X光管高压和信号放大电路的稳定性要求，不需要用户频繁使用标样初始化定标。
文档编号G01N23/223GK202854069SQ20122018559
公开日2013年4月3日 申请日期2012年4月26日 优先权日2012年4月26日
发明者赵敏, 杨绍雨 申请人:南京第四分析仪器有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
