专利名称：冲击电流测试方法
技术领域：
本发明涉及电子测量技术领域，尤其涉及一种冲击电流测试方法。
背景技术：
在实际使用电路中，尤其是在电源电路，由于功率较大，开关瞬间输入端元器件将受到冲击电流。欧洲电信标准协会(the European Telecommunications StandardsInstitute)对用于通信系统的开关电源冲击电流允许值以稳态电流倍数的方式做了规定，其中最大值为稳态工作电流90倍。由此可见,冲击电流比稳态工作电流大很多,用于输入端的元器件需进行耐受冲击电流的能力的考核。冲击电流的大小由很多因素决定，如输入电压大�。淙氲缦咦杩梗缭茨诓渴淙氲绺屑暗刃ё杩梗淙氲缛莸刃Т杩沟�。这些参数根据不同的电源系统和布局不同而 不同，很难进行估算，最精确的方法是在实际应用中测量冲击电流的大小。《电子设备用固定电容器第I部分总规范GB/T2693-2001》中虽然给出了冲击电流测试的电路示意图，但是只适用于单个测试产品进行测试，且需要手动进行充放电测试，不仅耗费人力，而且操作人员存在触电的危险。因此，当下需要迫切解决的一个技术问题就是如何能够提出一种有效的措施，以解决现有技术中存在的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种冲击电流测试方法，有效实现了同时对多个元器件进行冲击电流测量和耐冲击电流能力测试。为了解决上述技术问题，本发明提供了冲击电流测试方法，包括设定次数和时间间隔；同时对多个元器件进行冲击电流测试。进一步地，所述进行冲击电流测试为一次或多次的测试。进一步地，所述多次的测试包括重复测试。进一步地，所述方法还包括显示当前冲击电流次数和冲击电流大小。综上，本发明所提供的冲击电流测试方法，有效实现了同时对多个元器件进行冲击电流测量和耐冲击电流能力测试，同时，测试周期通过时间继电器设定并由计数器计数，无需人工操作，节省了人力成本。
图I是本发明的一种冲击电流测试方法的流程示意图；图2是冲击电流测量系统结构图；图3为冲击电流试验装置内部电路结构图。
具体实施例方式本发明的实现思想冲击电流试验装置上的“周期”用于设定冲击电流发生的周期，每次发生依次冲击电流，“次数”会在冲击电流试验装置的面板上显示。设置完毕后可以进行耐冲击电流能力测试，根据具体需要利用电流探测器和示波器读取冲击电流值。同时，在进行冲击电流测试时，多个被测元件的冲击电流峰值会依次到来，进而对整个电路起到了保护作用。参见图1，给出了一种冲击电流测试方法的流程示意图，包括步骤S101，设定次数和时间间隔；步骤S102，同时对多个元器件进行冲击电流测试。
在具体的实现过程中，测试设备包括试验电源、储能电容、时间继电器、计数器、继电器以及示波器和电流探测器，实际应用中，可以设定冲击电流时间间隔、冲击电流次数、并能显示当前冲击电流次数和冲击电流大小。其中，多个继电器形成多级结构，依次对各测试元器件施加冲击电流，避免了多个冲击电流峰值同时施加可能引起的设备或电路损坏。参见图2，测试设备包括冲击电流试验装置(I)、被测元件(2)、试验电源(3)、示波器(4)、电流探测器/电压测试表笔(5)。冲击电流装置(I)将试验电源(3)提供的试验电压施加于多个被测元件(2)两端，并能够设置冲击电流周期和显示已完成的冲击次数。实际冲击电流值可通过电流探测器/电压测试表笔(5)显示在示波器(4)上。冲击电流试验装置(I)包括直流电源(6)、时间继电器(7)、储能电容(8)、继电器(9)和计数器(10)。直流电源(6)为继电器(9)的工作电源，时间继电器(7)为第一级继电器(9)接通电源(6)，各级继电器(9)通过中间触电依次为下级继电器接通电源(6)，各继电器的其它中间触点连接被测元件(2)。通过时间继电器(9)设置冲击电流周期，计数器(10)记录并显示冲击电流次数。参见图3，冲击电流试验装置包括时间继电器、继电器、计数器组成，内部连接方式为时间继电器的�？サ懔佑诘谝患都痰缙�(JI)与电源之间，第一级继电器(JI)的�？サ懔佑诘诙都痰缙�(J2)和电源之间，依次类推，第η-i级继电器(J(n-l))的常开触点连接于第η级继电器(Jn)和电源之间。当时间继电器工作时，其�？サ阄狫l接通电源，此时，Jl开始工作，其�？サ慵狫2接通电源，各继电器依次开始工作，J (η-i)的�？サ阄狫n接通电源。除时间继电器外的各继电器的其他触点用于对被测元件进行冲击电流测试，可实现多个被测元器件的同时测量。针对附图补充介绍的，图2中各标号表示为试验用电源(I),冲击电流试验装置
(2)，示波器(3)，电流探测器(4)，被测元件(5)。图3中各标号表示为继电器电源(6)，时间继电器(7)，储能电容(8)，继电器
(9)，计数器(10)。以上对本发明所提供的冲击电流测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
权利要求
1.一种冲击电流测试方法，其特征在于，包括 设定次数和时间间隔； 同时对多个元器件进行冲击电流测试。
2.根据权利要求I所述的冲击电流测试方法，其特征在于，所述进行冲击电流测试为一次或多次的测试。
3.根据权利要求2所述的冲击电流测试方法，其特征在于，所述多次的测试包括重复测< 试。
4.根据权利要求I所述的冲击电流测试方法，其特征在于，所述方法还包括 显示当前冲击电流次数和冲击电流大小。
全文摘要
本发明提供了一种冲击电流测试方法，涉及电子信息材料与元器件技术领域，具体包括设定次数和时间间隔；同时对多个元器件进行冲击电流测试。本发明所要解决的技术问题是提供一种冲击电流测试方法，有效实现了同时对多个元器件进行冲击电流测量和耐冲击电流能力测试。
文档编号G01R31/00GK102890182SQ20121041030
公开日2013年1月23日 申请日期2012年10月24日 优先权日2012年10月24日
发明者李天星, 戴颖, 董荷玉 申请人:北京元六鸿远电子技术有限公司
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