专利名称：自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光谱带宽测量装置，尤其是一种自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置。
背景技术：
在分子吸收分光光度法通则中提到，根据待测物的类别及检验要求，需要选择适宜的狭缝宽度。在保持入射光和透射光狭缝宽度一致的情况下，调节狭缝宽度，使狭缝透出的光谱带宽小于样品吸收带的带宽。狭缝宽度的选择，应以减少狭缝宽度时待测物的吸光度不再增加为准。在使用光度计等光谱分析仪器进行样品的样品检测时，其检测的结果与光度计的光谱带宽数值之间存在很大对应关系，若希望获得被测样品最真实的吸光度或者透过率， 选择最佳的光谱带宽条件就是主要因素之一。然而，目前市场上所有的光度计或者光谱仪器都不具备自动选择最优光谱带宽功能或技术。
实用新型内容针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型提供一种可以帮助光度计或者其他光谱仪实现自动选择最优光谱带宽功能，为分析测试工作者提供极大的方便，提高测试数据准确性的自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置。为实现上述目的，本实用新型提供一种自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，由连续可变狭缝装置、光谱分析装置以及计算机构成，所述连续可变狭缝装置通过数据线与所述光谱分析装置中的控制板相连接，所述光谱分析装置通过RS232串口或USB 线与所述计算机连接。所述连续可变狭缝装置通过固定钉安装在所述光谱分析装置的内部。所述光谱分析装置为光度计，所述连续可变狭缝装置通过数据线与所述光度计中的控制板相连接。所述光度计通过RS232串口或USB线与所述计算机连接。与现有技术相比，本实用新型具有以下优点本实用新型提供的自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，由连续可变狭缝装置、光谱分析装置以及计算机构成，连续可变狭缝装置通过数据线与光谱分析装置中的控制板相连接，光谱分析装置通过RS232串口或USB线与计算机连接。连续可变狭缝装置通过固定钉安装在光谱分析装置的内部，该光谱分析装置为光度计。本实用新型可帮助光度计或其他光谱分析装置实现自动选择最优光谱带宽功能，为分析测试工作者提供极大的方便，提高测试数据的准确性；由于是仪器自动调节光谱带宽并扫描数据，所以极大的节省测试时间，并且提高了工作效率。
[0011]图1为本实用新型的结构框图；图2为通过本实用新型对青霉素钾样品在0. lnm-5. Onm不同光谱带宽下进行的50 个光谱宽度的光谱测定叠加图。主要元件符号说明如下1连续可变狭缝装置 2光度计3计算机4控制板
具体实施方式
为了更清楚的表述本实用新型，
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。本实用新型提供的自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，由连续可变狭缝装置、光谱分析装置以及计算机构成，连续可变狭缝装置通过数据线与光谱分析装置中的控制板相连接，光谱分析装置通过RS232串口或USB线与计算机连接。连续可变狭缝装置通过固定钉安装在光谱分析装置的内部。如图1所示，在本实施例中，该光谱分析装置为光度计2，连续可变狭缝装置1通过固定钉安装在光度计2的内部，并通过数据线与光度计2中的控制板4相连接。光度计 2还通过RS232串口或USB线与计算机3连接。通过安装在计算机上的专用光度计应用系统给光度计中的控制板发送改变光谱带宽的指令，控制板驱动连续可变狭缝装置改变狭缝宽度，这样被测样品在不同光谱带宽下的测量结果来自动被计算机检测和记录，通过寻找最大吸光度的测量结果，确定分析测试的最佳光谱带宽条件。本实用新型的操作步骤为1、仪器开机后，设置好待测样品的特定波长；2、将待测样品放入样品室S池架，将样品空白放入R池架；3、计算机自动调整狭缝宽度由最小光谱带宽至最大光谱带宽依次调整；4、每调整一次光谱带宽，计算机自动记录透过样品S的能量h、参比R池的能量 Er，然后计算出该光谱带宽条件下样品的透过率T和吸光度A ；计算机完成所有光谱带宽调整后，就可以给出该样品在不同光谱带宽条件下的吸光度和透过率的值，并能判断出最高、 最低吸光度和透过率，并生成数据报告；5、分析完成后，测试工作者就可以根据数据报告选择待测样品的最佳光谱带宽进行下一步的检测工作。如图2所示，在通过本实用新型对青霉素钾样品进行测定的实验中，其整个实验时间为35分钟，平均每个狭缝宽度耗时0. 7min，最大限度的缩短了扫描时间。此次连续扫描在0. 5nm光谱带宽，264nm处有最大吸收值为0. 8690，因此最佳分析光谱带宽是0. 5nm。本实用新型可以广泛应用于紫外可见分光光度计、原子吸收分光光度计、液相色谱紫外检测器等有光谱带宽和分辨率要求的光度计或光谱仪器等产品的设计开发。以上公开的仅为本实用新型的几个具体实施例，但是，本实用新型并非局限于此， 任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，其特征在于，由连续可变狭缝装置、光谱分析装置以及计算机构成，所述连续可变狭缝装置通过数据线与所述光谱分析装置中的控制板相连接，所述光谱分析装置通过RS232串口或USB线与所述计算机连接。
2.如权利要求1所述的自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，其特征在于，所述连续可变狭缝装置通过固定钉安装在所述光谱分析装置的内部。
3.如权利要求1或2所述的自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，其特征在于，所述光谱分析装置为光度计，所述连续可变狭缝装置通过数据线与所述光度计中的控制板相连接。
4.如权利要求3所述的自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，其特征在于，所述光度计通过RS232串口或USB线与所述计算机连接。
专利摘要本实用新型涉及一种自动选择被测样品最优光谱带宽测量条件的装置，由连续可变狭缝装置、光谱分析装置以及计算机构成，连续可变狭缝装置通过数据线与光谱分析装置中的控制板相连接，光谱分析装置通过RS232串口或USB线与计算机连接。连续可变狭缝装置通过固定钉安装在光谱分析装置的内部，该光谱分析装置为光度计。本实用新型可帮助光度计或其他光谱分析装置实现自动选择最优光谱带宽功能，为分析测试工作者提供极大的方便，提高测试数据的准确性；由于是仪器自动调节光谱带宽并扫描数据，所以极大的节省测试时间，并且提高了工作效率。
文档编号G01N21/31GK202101758SQ20112019200
公开日2012年1月4日 申请日期2011年6月9日 优先权日2011年6月9日
发明者刘景会, 周素敏, 孙金龙, 崔维兵, 曹金朋, 董媛 申请人:北京普析通用仪器有限责任公司
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