专利名称：一种光致变色镜片光谱分析系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光谱分析系统，特别是指一种光致变色镜片光谱分析系统。
背景技术：
透明物质的光谱分析是一项通用技术，但是针对于光致变色眼镜片的光谱分析却一直停留在理论阶段，原因是相对于普通的光谱分析仪器，光致变色眼镜片的测量需要在一定的时间范围内施加一定能量的模拟太阳光进行激励，而且需要一个恒温的状态，需要相应的软件来处理符合眼镜行业标准的数据，整个系统的搭建难度较大，应用又比较窄，所以一直没有面市。事实上，光致变色眼镜片的原料提供商可以提供类似本实用新型提供的实验数据，但是这些数据曲线都是由10个左右的点构成的，并且这些厂家的实验方法和设备都是秘而不宣的。而本实用新型提供的数据曲线是由数千个点构成的，精确反应了光致变色镜 片在模拟太阳光照射下和一定温度环境下的变暗和恢复过程。
发明内容本实用新型提出一种光致变色镜片光谱分析系统，解决了现有技术中无法使光致变色眼镜片的特性和质量能够得到量化测量的缺点。本实用新型的技术方案是这样实现的一种光致变色镜片光谱分析系统，其特征在于，该系统包括可模拟太阳光的激励光源�？�、恒温控制�？椤⒐馄资莶杉饬磕？椤⒉馐郧�、电源控制器，所述的需进行光谱分析的光致变色镜片置于测试腔内，所述的恒温控制模块控制测试腔内温度，所述的激励光源模块发出模拟太阳光，照射需进行光谱分析的光致变色镜片，所述光谱数据采集测量�？橛氩馐郧涣樱杉庵卤渖灯馐允荩龅募だ庠茨？�、恒温控制�？椤⒐馄资莶杉饬磕？橛傻缭纯刂破髁庸┑�。所述激励光源�？榘ǘ袒‰�、快门机构、滤光片、透镜组合，所述的短弧氙灯经由快门机构控制打开，通过滤光片及透镜组合后射出模拟太阳光。所述的恒温控制�？榘ê阄滤〖罢舴⑵鳌Ｋ龅墓馄资莶杉饬磕？榘ú馐怨庠�、光谱仪、资料处理器、电脑处理器，所述的测试光源发出测试光，照射需进行光谱分析的光致变色镜片，所述的光谱仪与测试腔连接，采集光致变色镜片测试数据后与资料处理器连接，所述的资料处理器与电脑处理器连接。所述的光谱仪包括一号光谱仪、二号光谱仪。与现有技术相比，本实用新型的优点在于，使光致变色眼镜片的特性和质量能够得到量化的测量，可被广泛的用于原材料的测量分析和研发，成品的质量监控等。
[0012]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本实用新型一种光致变色镜片光谱分析系统的结构示意图。其中，10-测试腔、20-激励光源�？�、21-透镜组合、22-滤光片、23-快门机构、24-短弧氙灯、30-光谱数据采集测量�？�、31-—号光谱仪、32-二号光谱仪、33-测量光源、34-资料处理器、35-电脑处理器、40-恒温控制�？椤�50-电源控制器
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。如图I所示，一种光致变色镜片光谱分析系统，该系统包括可模拟太阳光的激励光源�？�20、恒温控制�？�40、光谱数据采集测量�？�30、测试腔10、电源控制器50，所述的需进行光谱分析的光致变色镜片置于测试腔10内，所述的恒温控制�？�40控制测试腔10内温度维持测试温度，测试温度一般为5°C或23°C或35摄氏度，所述的激励光源�？�20发出模拟太阳光，照射需进行光谱分析的光致变色镜片后，由光谱数据采集测量�？�30采集数据，输出测量结果，所述的激励光源�？�20、恒温控制�？�40、光谱数据采集测量�？�30由电源控制器50连接供电。所述激励光源�？�20包括短弧氙灯24、快门机构23、滤光片22、透镜组合21，所述的短弧氙灯24经由快门机构23控制打开，通过滤光片22及透镜组合21后射出模拟太阳光。所述的恒温控制�？�40包括恒温水浴及蒸发器。所述的光谱数据采集测量�？�30包括一号光谱仪31、二号光谱仪32、包含紫外和可见光的测量光源33、资料处理器34、电脑处理器35，所述的测试光源33发出测试光，照射需进行光谱分析的光致变色镜片，所述的一号光谱仪31接收激励光源�？�20发出的模拟太阳光照射需进行光谱分析的光致变色镜片后的光谱信息数据，所述的二号光谱仪32接收测试光源33发出测试光照射需进行光谱分析的光致变色镜片后的光谱信息数据，所述一号光谱仪31、二号光谱仪32分别将数据传送至资料处理器34，由资料处理器34汇总至电脑处理器35计算处理后，输出测量结果。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种光致变色镜片光谱分析系统，其特征在于，该系统包括可模拟太阳光的激励光源�？�、恒温控制�？�、光谱数据采集测量�？椤⒉馐郧弧⒌缭纯刂破鳎龅男杞泄馄追治龅墓庵卤渖灯糜诓馐郧荒冢龅暮阄驴刂颇？榭刂撇馐郧荒谖露龋龅募だ庠茨？榉⒊瞿Ｄ馓艄猓丈湫杞泄馄追治龅墓庵卤渖灯龉馄资莶杉饬磕？橛氩馐郧涣樱杉庵卤渖灯馐允荩龅募だ庠茨？�、恒温控制�？�、光谱数据采集测量�？橛傻缭纯刂破髁庸┑�。
2.根据权利要求I所述的一种光致变色镜片光谱分析系统，其特征在于所述激励光源�？榘ǘ袒‰�、快门机构、滤光片、透镜组合，所述的短弧氙灯经由快门机构控制打开，通过滤光片及透镜组合后射出模拟太阳光。
3.根据权利要求I所述的一种光致变色镜片光谱分析系统，其特征在于所述的恒温控制模块包括恒温水浴及蒸发器。
4.根据权利要求I所述的一种光致变色镜片光谱分析系统，其特征在于所述的光谱数据采集测量模块包括测试光源、光谱仪、资料处理器、电脑处理器，所述的测试光源发出测试光，照射需进行光谱分析的光致变色镜片，所述的光谱仪与测试腔连接，采集光致变色镜片测试数据后与资料处理器连接，所述的资料处理器与电脑处理器连接。
5.根据权利要求4所述的一种光致变色镜片光谱分析系统，其特征在于所述的光谱仪包括一号光谱仪、二号光谱仪。
专利摘要本实用新型提出了一种光致变色镜片光谱分析系统，该系统包括可模拟太阳光的激励光源�？椤⒑阄驴刂颇？椤⒐馄资莶杉饬磕？�、测试腔、电源控制器，所述的需进行光谱分析的光致变色镜片置于测试腔内，所述的恒温控制�？榭刂撇馐郧荒谖露龋龅募だ庠茨？榉⒊瞿Ｄ馓艄猓丈湫杞泄馄追治龅墓庵卤渖灯龉馄资莶杉饬磕？橛氩馐郧涣樱杉庵卤渖灯馐允荩龅募だ庠茨？�、恒温控制�？�、光谱数据采集测量�？橛傻缭纯刂破髁庸┑�。与现有技术相比，本实用新型的优点在于，使光致变色眼镜片的特性和质量能够得到量化的测量，可被广泛的用于原材料的测量分析和研发，成品的质量监控等。
文档编号G01N21/25GK202794021SQ20122048276
公开日2013年3月13日 申请日期2012年9月19日 优先权日2012年9月19日
发明者陈忠, 朱思立 申请人:上海新中佳精密仪器有限公司
专业数控铣床产品供应商
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