专利名称：一种用于vxi总线数字测试系统的老化�？榈闹谱鞣椒�
技术领域：
本实用新型涉及ー种集成电路老化�？椋绕渖婕癌`种用于VXI总线数字测试系统的老化�？椋粲诩傻缏凡馐约际趿煊�。
背景技术：
VXI 总线(VXI bus)是 VME bus Extensions for Instrumentation 的缩写。它是继IEEE488总线之后，为适应測量仪器从分立的台式和机架式结构发展为更紧凑的�？槭浇峁沟男枰瞥龅囊恢中碌淖芟弑曜�。VXI总线系统是ー种计算机控制的功能系统，一般由主机箱、若干器件、资源管理器和主控制器组成。组成VXI总线系统的基本逻辑单元称为“器件”。一般来说，一个器件占据ー块VXI模块，也允许在ー块�？樯鲜迪侄喔銎骷蛘咭桓銎骷季荻嗫槟？�。当若干个用于集成电路测试的VXI�？榛赩XI总线进行搭建时，就组成了 VXI总线数字测试系统。这些VXI�？橐话惆≒MU(精密测量单元)�？�、通道�？�、电源�？�、图形�？榈�。在集成电路测试工作中，用于集成电路中测生产线的数字测试系统一般都要求24 小时运行，并且要保证一定时间内测试的稳定性和精确度，这就对集成电路测试系统在长时间工作的情况下各个�？榈脑诵形榷ㄐ院凸ぷ骶忍岢隽搜细竦囊�。另ー方面，集成电路测试系统中ー些潜在的隐患和问题一般都要经过长时间的运行才会暴露出来。面对这样的问题，开发一套用于集成电路测试系统老化测试的老化�？榫拖缘煤苡斜匾恕Ｔ谧ɡ盼猌L 200710120719. 9的中国发明专利中，公开了ー种集成电路高温动态老化测试方法及测试装置。该方法将集成电路焊接在老化子板上，并对老化子板进行功能验证测试和动态工作模式测试；将测试通过的焊有集成电路的老化子板插接在通用老化板的接ロ插座上，将通用老化板接入老化测试系统中，进行老化测试；根据测试标准，在不同的时间点对老化子板进行功能验证测试和动态工作模式测试，以证明集成电路是否仍能正常工作。该发明适用于多种不同封装产品的通用测试，不需再根据不同封装型式的产品订制专用的老化板，从而減少了测试的准备时间，降低了测试周期，并节约了测试成本。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于VXI总线数字测试系统的老化�？�。该装置可以用于各种VXI总线数字测试系统的老化测试工作。为实现上述的目的，本实用新型采用下述的技术方案一种用于VXI总线数字测试系统的老化�？椋涮卣髟谟谒隼匣？榘ㄖ骺刂破�、配置存储器、多个老化测试�？�、继电器矩阵和老化电阻；其中，所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器、 所述继电器矩阵和各所述老化测试�？椋凰雠渲么娲⑵饔胨鲋骺刂破髁樱糜诖娲⒗匣馐缘呐渲贸绦颍籟0012]所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接所述老化电阻。其中较优地，所述老化�？橹谢拱ㄗ涌ㄗ�。其中较优地，所述老化�？橹谢拱↗TAG接ロ，所述JTAG接ロ连接所述主控制器。其中较优地，所述主控制器由微控制器和CPLD组成，所述微控制器用于控制所述配置存储器和测试仪资源，所述CPLD用于提供所述继电器矩阵的继电器控制位。其中较优地，所述配置存储器为E2PROM或者FLASH。本实用新型所提供的老化�？榭梢杂敫髦諺XI总线数字测试系统相互配合，自动完成相关数字测试系统的老化测试工作，配置灵活，操作方便。
以下结合附图
和具体实施方式
对本实用新型作进ー步的详细说明。图I是本实用新型所提供的老化模块的整体原理示意图；图2是本老化�？橹校骺刂破鞯脑硎疽馔迹煌�3是本老化�？橹校珻PLD的配置示意图；图4是本老化�？橹校痰缙骶卣蟮氖疽馔�。
具体实施方式
如图I所示，本实用新型所提供的用于VXI总线数字测试系统的老化�？橛芍骺刂破鳌⑴渲么娲⑵�、n个老化测试�？�(n为自然数)、继电器矩阵、老化电阻和转接卡座(图中未示)组成。其中，主控制器一方面连接集成电路测试仪，从中获取集成电路测试仪的资源；另一方面分别连接配置存储器、各个老化测试�？楹图痰缙骶卣螅员愣运墙锌刂�。配置存储器连接主控制器，用于存储老化测试的配置程序。在程序运行时，配置存储器可以向主控制器提供进行老化测试的配置程序。老化测试�？橛糜诘饔茅`些可以进行老化测试的集成电路测试仪资源。这些集成电路测试仪资源是可以自选的，通过软件控制来实现。继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接老化电阻。上述的主控制器可以由MCU (微控制器)和CPLD实现。配置存储器可以是E2PROM或者FLASH(非易失性存储器)等。转接卡座用于实现本老化�？橛爰傻缏凡馐砸堑鹊牧樱渚咛迨迪质潜玖煊蚱胀际跞嗽倍寄苷莆盏某９婕际酰诖司筒蛔甘隽�。本实用新型所提供的老化�？橹饕攵訴XI总线数字测试系统设计的，因此其中的各功能�？槎际腔赩XI总线驱动的，主控制器和继电器矩阵的控制信号都来源于VXI 总线，配套的老化测试软件的底层驱动也是针对VXI总线编写的。如图I所示，本老化�？橹谢股栌蠮TAG接ロ。JTAG是ー种国际标准测试协议，与 IEEE 1149. I兼容。该JTAG接ロ连接主控制器，用于完成对主控制器的相关配置。JTAG接 ロ还可用于实现ISP(In-System Programmable在线编程)，对待测试器件进行编程。图2是本老化模块中主控制器的原理示意图。该主控制器由微控制器和CPLD(复杂可编程逻辑器件)组成，其中微控制器用于控制配置存储器和测试仪资源；CPLD用于提供继电器矩阵的继电器控制位，从而实现对继电器矩阵的控制。上述的CPLD也可以由 FPGA(现场可编程门阵列)来替代。[0027]图3是上述CPLD的配置示意图。该CPLD包括通过逻辑元件连接的第一跟随器、 译码器和第二跟随器，其中第一跟随器的输出端连接译码器的输入端，译码器的输出端连接第二跟随器的输入端。在本老化�？榈囊桓鍪凳├校褂玫睦匣缱璧淖柚滴狪MQ，主要用作老化测试时FVMI (加压测流)和FIMV (加流测压)的负载。根据VXI总线数字测试系统的配置不同，需要调用的集成电路测试仪资源也不尽相同。如图4所示，这些集成电路测试仪资源包括最大深度的通道板自诊断、PMU(精密测量単元)老化，板PMU老化，DPS(器件电压源)老化、驱动比较电平老化、程控负载老化等。 它们可以以软件方式进行选�。诶匣馐怨讨幸部梢运媸备摹１纠匣？榈墓ぷ髟硎钦庋脑诮欣匣馐缘氖焙颍骺刂破鞔优渲么娲⑵鞫脸隼匣渲贸绦颍钡玫蕉喔隼匣馐阅？榈难≡裥畔ⅲ菡飧鲅≡裥畔⒁来蔚饔眉傻缏凡馐砸堑淖试矗⑼ü痰缙骶卣罅拥缱韪涸亟蠪VMI (加压测流)、 FIMV(加流测压)或其它对应的操作。在一次操作完成后判断是否出现错误或者失效，如正常则继续循环，如不正常则结束程序。上面对本实用新型所提供的VXI总线数字测试系统老化模块进行了详细的说明。 对本领域的一般技术人员而言，在不背离本实用新型实质精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动，都将构成对本实用新型专利权的侵犯，将承担相应的法律责任。
权利要求1.一种用于VXI总线数字测试系统的老化�？椋涮卣髟谟谒隼匣？榘ㄖ骺刂破�、配置存储器、多个老化测试�？�、继电器矩阵和老化电阻；其中，所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器、所述继电器矩阵和各所述老化测试�？椋凰雠渲么娲⑵饔胨鲋骺刂破髁樱糜诖娲⒗匣馐缘呐渲贸绦颍凰黾痰缙骶卣笠环矫媪蛹傻缏凡馐砸牵硪环矫媪铀隼匣缱�。
2.如权利要求I所述的老化模块，其特征在干所述老化�？橹谢拱ㄗ涌ㄗ�
3.如权利要求I所述的老化�？椋涮卣髟诟伤隼匣？橹谢拱↗TAG接ロ，所述JTAG接ロ连接所述主控制器。
4.如权利要求I所述的老化�？椋涮卣髟谟谒鲋骺刂破饔晌⒖刂破骱透丛涌杀喑搪呒骷槌桑鑫⒖刂破饔糜诳刂扑雠渲么娲⑵骱筒馐砸亲试矗龈丛涌杀喑搪呒骷糜谔峁┧黾痰缙骶卣蟮募痰缙骺刂莆�。
5.如权利要求I所述的老化�？椋涮卣髟诟伤雠渲么娲⑵魑狤2PROM或者FLASH。
专利摘要本实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，包括主控制器、配置存储器、多个老化测试�？椤⒓痰缙骶卣蠛屠匣缱�。其中，主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和各老化测试�？椋慌渲么娲⑵饔胫骺刂破髁樱糜诖娲⒗匣馐缘呐渲贸绦颍患痰缙骶卣笠环矫媪蛹傻缏凡馐砸牵硪环矫媪永匣缱�。本老化模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合，自动完成相关数字测试系统的老化测试工作，配置灵活，操作方便。
文档编号G01R31/3181GK202339398SQ20112052326
公开日2012年7月18日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日
发明者张东, 李 杰, 蒋常斌 申请人:北京自动测试技术研究所
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