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专利名称：凹球面区域针床测试台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试台，尤其是凹球面区域针床测试台。
背景技术：
固定针位电路板针床自动测试系统已广泛应用，但这种针位固定的测试针床只能对某一种型号的电路板进行测试，如果换测另一种电路板，必须重新制作探针夹具工装，对多品种小批量的测试工作，测试效率非常低下。针对这个问题，本实用新型运用凹球面区域探针测试技术，实现了多种型号电路板的快速自动测试。

实用新型内容本实用新型提供了凹球面区域针床测试台，该系统操作方便，简单，降低了系统成本，免去了多工装准备工序。本实用新型提供了凹球面区域针床测试台，由针床、电极和探针组成，针床上设有导电极的凹球面，探针与导电极相连。优选方案为探针为弹簧探针。优选方案为探针通过软质焊点与导电极相连。优选方案为探针可在45°的锥形区域内自由活动。本实用新型运用凹球面区域探针测试技术，实现了多种型号电路板的快速自动测试。
图1本实用新型结构图；具体实施方式
以下结合附图及具体实施方式
，对本实用新型作进一步详细的说明。实施例1凹球面区域针床测试台，针床(1)、电极(2)和探针(3)组成，针床上设有导电极的凹球面(4)，探针(3)与导电极(4)相连，探针(3)为弹簧探针，探针通过软质焊点与导电极⑷相连，探针⑶可在45°的锥形区域内自由活动。因探针针尖可落在被测电路板上一个凹球面区域之中，从而实现灵活的测试位置，避免了固定工装的制作。同时也简化了系统、节省了资源使用凹球面区域针床测试台，仅使用一种固定的工装，可使测试针在45°区域内受力均勻，连接良好，测试信息可靠，实现多种型号电路板的测试。这种测试系统操作方便，简单。降低了系统成本，免去了多工装准备工序。以上内容是结合本实用新型的结构和工作过程对其所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.凹球面区域针床测试台，由针床、电极和探针组成，其特征在于针床上设有导电极的凹球面，探针与导电极相连。
2.根据权利要求1所述的凹球面区域针床测试台，其特征在于所述的探针为弹簧探针。
3.根据权利要求1所述的凹球面区域针床测试台，其特征在于所述的探针通过软质焊点与导电极相连。
4.根据权利要求1-3任一项所述的凹球面区域针床测试台，其特征在于所述的探针可在45°的锥形区域内自由活动。
专利摘要本实用新型公开了凹球面区域针床测试台，针床、电极和探针组成，针床上设有导电极的凹球面，探针与导电极相连，探针为弹簧探针，探针通过软质焊点与导电极相连，探针可在45°的锥形区域内自由活动。本实用新型系统操作方便，简单，降低了系统成本，免去了多工装准备工序。
文档编号G01R31/28GK202126454SQ201120249128
公开日2012年1月25日 申请日期2011年7月15日 优先权日2011年7月15日
发明者张海霞 申请人:北京世纪晨数据技术有限责任公司