专利名称：光学物体识别装置和印制设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种以非接触方式检测物体类型的光学物体识别装置和使用该装置的印制设备。
背景技术：
通常，复印机和打印机在传输记录介质时执行记录处理，在高性能、高速处理和高分辨率方面都已经取得进步。所使用的记录介质包括很多种，如常用纸、蜡光纸、OHP(头上投影器)纸等等。当在这么多种记录介质上通过打印机等(例如一种喷墨记录系统打印机)，即一种图像记录装置进行印制时，需要通过依照记录介质的情况进行记录控制以形成高质量的图像，具体地说，即取决于记录介质类型的渗透速率和墨水变干时间上的差别。
例如，这里有现有技术的第一个实例和现有技术的第二个实例，作为一种检测文件记录介质，如印制纸、树脂胶片或薄片等的装置。
在现有技术的第一个实例中，如图10所示，为了反射发光装置41发射到薄片43上的光，然后使该反射光的一部分进入光电探测器42，一个发光装置41和一个光电探测器42相对于薄片43以某一指定角度被设置。光电探测器42上入射光的数量取决于薄片43的类型(表面情况)而有差别，因此，薄片43的类型基于这种差别得到识别。例如，应该参考日本专利JP10-198174 A。
在现有技术的第二个实例中，如图11所示，一个发光装置41和两个光电探测器42a和42b分别相对于薄片43以某一指定角度被设置。具体地说，发光装置41和第一光电探测器42a相对于垂直于薄片43的方向以相同角度θ被设置，并且第二光电探测器42b以角度θ/2被设置，其角度是第一光电探测器42a的角度θ的一半。第一光电探测器42a接收到来自于薄片43的规则反射光，并且第二光电探测器42b接收到来自于薄片43的漫反射光。然后，薄片43的类型通过取决于薄片43在两个光电探测器42a和42b上反射光数量值的差异而得到识别。例如，应该参考日本专利JP 2001-180843 A。
但是，有很多种薄片，包括常用纸、蜡光纸、OHP纸、无光铜版纸、光面胶片、喷墨明信片等。这样，对于上述现有技术的第一和第二实例很难准确识别所有这些类型。最多只有常用纸、蜡光纸和OHP纸这三种可以被识别。
发明内容
因此，本发明的目的是提供一种光学物体识别装置和一种使用该装置的印制设备，该识别装置能够通过来自待检物体的反射光轻松识别多种物体。
为了解决上述缺陷，本发明提供一种光学物体识别装置，包括发光装置；第一光电探测器和一个第二光电探测器，在光从发光装置发射到待检物体表面之后，它们接收来自待检物体表面的反射光；和识别器，用来基于从第一光电探测器和第二光电探测器输出的输出值识别待检物体的类型，发光装置和第一光电探测器分别位于发光装置的光学轴线和待检物体表面的交点处确定的法线两侧，发光装置被设置为使得发光装置的光学轴线和待检物体表面之间的角度为10至30度，第一光电探测器被设置为使得第一光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度为10至30度，第二光电探测器被设置为使得第二光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度大约为90度。
应注意到，从第一光电探测器和第二光电探测器输出的输出值各自代表从相应于待检物体表面粗糙度的波形的输出信号获得的输出值。此外，如果待检物体的表面为均匀平面，确定法线、发光装置的光学轴线与待检物体表面之间的角度、第一光电探测器的光学轴线与待检物体表面之间的角度以及第二光电探测器的光学轴线与待检物体表面之间的角度。而且，发光装置的光学轴线与待检物体表面的交点、第一光电探测器的光学轴线与待检物体表面的交点以及第二光电探测器的光学轴线与待检物体表面的交点彼此重合。
被应用于发光装置的光学轴线与待检物体表面之间的角度和第一光电探测器的光学轴线与待检物体表面之间的角度最好为10至30度范围内的相等角度。
按照本发明的光学物体识别装置，被应用于发光装置的光学轴线与待检物体表面之间的角度为10至30度，被应用于第一光电探测器的光学轴线与待检物体表面之间的角度为10至30度，被应用于第二光电探测器的光学轴线与待检物体表面之间的角度大约为90度。这使得有可能在最佳位置设置发光到待检物体的发光装置、接收来自待检物体的规则反射光的第一光电探测器和接收来自待检物体的漫反射光的第二光电探测器。也就是说，使用这种设置，基于从第一光电探测器和第二光电探测器输出的输出值可以获得随着各种物体而不同的输出值。这样，如果有很多种薄片，如常用纸、无光铜版纸、蜡光纸、OHP纸、烫印纸和喷墨纸作为待检物体，就可以获得随着各种薄片而不同的两个输出值(双路信号)。
因此可以通过来自待检物体的反射光轻松而准确识别多种物体。
在一个实施例的光学物体识别装置中，发光装置的波长不超过660nm。
按照该实施例的光学物体识别装置，多种物体之间反射光数量上的差别很大，并且可以获得随着各种物体而不同的输出值。由此，就有可能获得高度准确的识别。
一个实施例的光学物体识别装置还包括分别设置在发光装置的光学轴线、第一光电探测器的光学轴线和第二光电探测器的光学轴线上的偏振片，其中，由偏振片偏振的光沿着垂直于由发光装置的光学轴线、第一光电探测器的光学轴线和第二光电探测器的光学轴线形成的假想平面的方向通过。
按照该实施例的光学物体识别装置，通过设置偏振片很容易识别物体，或者待检物体。该光学物体识别装置利用当垂直于假想平面的方向上的偏振光在待检物体上被反射时取决于待检物体的表面情况偏振状态是被保持还是被破坏。也就是说，如果偏振状态可以保持，那么在待检物体上被反射的偏振光通过设置在光电探测器光学轴线上的偏振片到达光电探测器。但是，如果偏振状态不能保持，那么只有一部分在待检物体上被反射的偏振光到达光电探测器。这样，该光学物体识别装置使用下面现象，即光电探测器上入射光的数量取决于薄片表面情况的差别而变化。
一个实施例的光学物体识别装置还包括设置在发光装置光学轴线上的第一偏振片，其中由第一偏振片偏振的光沿着垂直于由发光装置的光学轴线、第一光电探测器的光学轴线和第二光电探测器的光学轴线形成的假想平面的方向通过；设置在第一光电探测器的光学轴线上的第二偏振片，其中由第二偏振片偏振的光沿着绕第一光电探测器的光学轴线从该假想平面的垂直方向旋转一个指定角度的方向通过；设置在第二光电探测器的光学轴线上的第三偏振片，其中由第三偏振片偏振的光沿着绕第二光电探测器的光学轴线从该假想平面的垂直方向旋转一个指定角度的方向通过。
该指定角度应该最好为30至60度。
按照该实施例的光学物体识别装置，通过设置第一偏振片、第二偏振片和第三偏振片很容易识别物体，或者待检物体。该光学物体识别装置利用当垂直于假想平面的方向上的偏振光在待检物体上被反射时取决于待检物体的表面情况偏振光是否从该假想平面的垂直方向被旋转指定角度。也就是说，如果光成为被旋转指定角度的偏振光，那么在待检物体上被反射的偏振光通过设置在光电探测器光学轴线上的偏振片并到达光电探测器。但是，如果光不成为被旋转指定角度的偏振光，那么只有一部分在待检物体上被反射的光到达光电探测器。如上所述，该光学物体识别装置使用下面现象，即光电探测器上入射光的数量取决于待检物体表面情况的差别而变化。
而且，一个实施例的光学物体识别装置还包括用于限制光的传播路径的狭缝，这些狭缝分别被设置在发光装置的发光侧、第一光电探测器的接收侧和第二光电探测器的接收侧。
按照该实施例的光学物体识别装置，通过设置狭缝，由来自发光装置的光形成于待检物体表面的光斑区域可以被限制到一个区域，该区域不从发光装置的光学轴线和待检物体表面的交点过度扩散。因此，几乎只有规则反射分量光可以入射到第一光电探测器上，并且从第一光电探测器输出的输出值的准确度得到提高。如果光斑区域变大，那么，即使发光装置的光学轴线和待检物体表面之间的角度等于第一光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度，第一光电探测器也会不利地接收到除了除规则反射分量以外的光。这样，输出值的准确度下降。
而且，一个实施例的光学物体识别装置还包括一个设置在发光装置的发光侧的准直透镜。
按照该实施例的光学物体识别装置，通过设置准直透镜，来自发光装置的平行光被发射到待检物体，来自发光装置的光形成于待检物体表面的光斑区域可以被限制到不从发光装置的光学轴线和待检物体表面的交点过度扩散的区域。因此，几乎只有规则反射分量光可以入射到第一光电探测器上，并且从第一光电探测器输出的输出值的准确度得到提高。如果光斑区域变大，那么，即使发光装置的光学轴线和待检物体表面之间的角度等于第一光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度，第一光电探测器也会不利地接收到除了除规则反射分量以外的光，并且输出值的准确度下降。
而且，在一个实施例的光学物体识别装置中，发光装置为半导体激光器。
按照该实施例的光学物体识别装置，几乎可以被认作点光源的半导体激光器被应用于发光装置，因此，光斑区域可以在尺寸上进一步被减小并且准确度进一步得到提高。
而且，在一个实施例的光学物体识别装置中，识别器计算A/B并根据该计算值识别待检物体的类型，其中A为第一光电探测器的输出值，B为第二光电探测器的输出值。
按照该实施例的光学物体识别装置，识别器根据A/B的计算值识别待检物体的类型，因此很多类型可以被准确识别。
而且，在一个实施例的光学物体识别装置中，识别器计算(A+B)/(A-B)并根据该计算值识别待检物体的类型，其中A为第一光电探测器的输出值，B为第二光电探测器的输出值。
按照该实施例的光学物体识别装置，识别器根据(A+B)/(A-B)的计算值识别待检物体的类型，因此很多类型可以被准确识别。
需要注意的是，识别器可以同时获得A/B的计算值和(A+B)/(A-B)的计算值，由此，更多类型可以被准确识别。
而且，在一个实施例的光学物体识别装置中，识别器在获得计算值之前可以校准第一光电探测器的输出值和第二光电探测器的输出值。
这样，校准被定义为调节输出值使得这些值不会随着各种光学物体识别装置(识别器)而变化的操作。
按照该实施例的光学物体识别装置，通过消除对发光装置发光效率的变化和光电探测器灵敏度的变化考虑的需要并防止计算值随着各种光学物体识别装置(识别器)而变化，很多种物体可以被准确识别。
而且，本发明提供了设置有上述光学物体识别装置的印制设备。
按照本发明的印制设备，即使有很多种用于印制的物体的薄片和胶片，也可以获得正确的识别，并且因此可以在对应于各种类型的最佳印制情况下进行高质量的印制。
结合附图阅读下面的详细说明，可以更完全地了解到本发明，这些附图仅仅是为了举例说明，因此并不限制本发明，其中图1是按照本发明第一种实施例的光学物体识别装置的结构示意图；图2A是按照本发明第二种实施例的光学物体识别装置的结构示意图；图2B是按照本发明第二种实施例的光学物体识别装置的一部分的结构示意图；图3A是按照本发明第三种实施例的光学物体识别装置的结构示意图；图3B是按照本发明第三种实施例的光学物体识别装置的一部分的结构示意图；图4是按照本发明第四种实施例的光学物体识别装置的结构示意图；图5是按照本发明的一种光学物体识别装置的比较实例的结构示意图；图6是按照本发明第五种实施例的光学物体识别装置的结构示意图；图7是按照本发明第六种实施例的光学物体识别装置的结构示意图；图8是一个曲线图，显示了绘在水平轴上的薄片的类型和绘在垂直轴上的计算值；图9是另一个曲线图，显示了绘在水平轴上的薄片的类型和绘在垂直轴上的计算值；图10是一种现有技术的光学物体识别装置的结构示意图；图11是另一种现有技术的光学物体识别装置的结构示意图。
具体实施例方式
下面将基于附图所示的实施例详细说明本发明。
第一种实施例图1是一个结构示意图，显示了按照本发明第一种实施例的光学物体识别装置。该光学物体识别装置有发光装置10、第一光电探测器1 1、第二光电探测器12和识别器13。
第一光电探测器11和第二光电探测器12接收由发光装置10发射到薄片3表面的光所产生的来自薄片3表面的反射光。识别器13基于从第一光电探测器11和第二光电探测器12输出的输出值识别薄片3的类型。
作为薄片3，可以是例如常用纸、无光铜版纸、蜡光纸、OHP纸、烫印纸、喷墨纸等。
第一光电探测器11的输出值和第二光电探测器12的输出值各自为从相应于薄片3表面粗糙度的波形的输出信号获得的输出值。
发光装置10和第一光电探测器11位于该发光装置10的光学轴线和薄片3表面的交点处确定的法线两侧。
发光装置10被设置为使得该发光装置10的光学轴线和薄片3表面之间的角度α为10至30度，并发射光到薄片3。
第一光电探测器11被设置为使得该第一光电探测器11的光学轴线和薄片3表面之间的角度β为10至30度，并且接收来自薄片3的规则反射光。角度α和β最好彼此相等。
第二光电探测器12被设置为使得该第二光电探测器12的光学轴线和薄片3表面之间的角度大约为90度，并接收来自薄片3的漫反射光。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，因为发光装置10、第一光电探测器11和第二光电探测器12被设置在最佳位置，依据各种薄片3而不同的输出值可以通过从第一光电探测器11和第二光电探测器12输出的输出值而获得。因此，很多种薄片3可以通过来自薄片3的反射光被轻松识别。
发光装置10的波长不超过660nm，多种薄片3之间反射光数量的差别就很大。这使得有可能获得依据各种薄片3而不同的输出值，以获得高度准确的识别。另外，发光装置10的波长可以在红外线区域内。
第二种实施例图2A和图2B显示了按照本发明第二种实施例的光学物体识别装置。图2A显示了该光学物体识别装置的结构示意图。图2B显示了沿图2A的箭头线Y-Y的视图。
在该光学物体识别装置中，偏振片8分别被设置在发光装置10的光学轴线、第一光电探测器11的光学轴线和第二光电探测器12的光学轴线上。偏振片8允许偏振光沿着垂直于由发光装置10的光学轴线、第一光电探测器11的光学轴线和第二光电探测器12的光学轴线形成的假想平面的方向通过。这里对上述结构以外的其它结构不再说明，因为其它结构与第一种实施例相同。
该假想平面与图2A中的纸平面重合。该垂直方向表示垂直于图2A中的纸平面的箭头“a”的方向，并表示图2B中的箭头“b”的方向。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，通过设置偏振片8很容易识别薄片3。具体地说，当发光装置10的波长不超过660nm时，偏振片8会更有效。
特别地说，该光学物体识别装置利用的是当垂直于假想平面的方向上的偏振光在薄片3上被反射时，偏振状态是被保持还是被破坏，取决于薄片3的表面情况。也就是说，如果偏振状态可以保持，那么在薄片3上被反射的偏振光通过设置在光电探测器11和12光学轴线上的偏振片8到达光电探测器11和12。如果偏振状态不能保持，那么只有一部分在薄片3上被反射的偏振光到达光电探测器11和12。如上所述，该光学物体识别装置使用下面现象，即光电探测器11和12上入射光的数量取决于薄片3表面情况的差别而变化。
第三种实施例图3A和图3B显示了按照本发明另一种实施例的光学物体识别装置。图3A显示了该光学物体识别装置的结构示意图。图3B显示了沿图3A的箭头线Y-Y的视图。
在该光学物体识别装置中，第一偏振片8a被设置在发光装置10的光学轴线上。第一偏振片8a允许偏振光沿着垂直于上述假想平面的方向通过。另外，第二偏振片8b被设置在第一光电探测器11的光学轴线上。第二偏振片8b允许绕第一光电探测器11的光学轴线从该假想平面的垂直方向旋转一个指定角度的偏振光通过。此外，第三偏振片8c被设置在第二光电探测器12的光学轴线上。第三偏振片8c允许绕第二光电探测器12的光学轴线从该假想平面的垂直方向旋转一个指定角度的偏振光通过。这里对除了上述结构以外的其它结构不再说明，因为其它结构与第一种实施例相同。
该假想平面与图3A中的纸平面重合。该垂直方向表示垂直于图3A中的纸平面的箭头“a”的方向。通过第三偏振片8c的偏振光的方向表示图3B中的箭头“c”的方向。尽管从垂直方向旋转的指定角度为30至60度，但是也可以为其它角度。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，通过设置第一偏振片8a、第二偏振片8b和第三偏振片8c很容易识别薄片3。具体地说，当发光装置10的波长不超过660nm时，该结构会很有效。
特别地说，上述光学物体识别装置利用的是当垂直于假想平面的方向上的偏振光在薄片3上被反射时，偏振光是否从该假想平面的垂直方向被旋转指定角度取决于薄片3的表面情况。也就是说，如果偏振光被旋转指定角度，那么在薄片3上被反射的偏振光通过设置在光电探测器11和12光学轴线上的偏振片8b和8c到达光电探测器11和12。如果偏振光不被旋转指定角度，那么只有一部分在薄片3上被反射的偏振光到达光电探测器11和12。如上所述，该光学物体识别装置使用下面现象，即光电探测器上入射光的数量取决于薄片3表面情况的差别而变化。
第四种实施例图4显示了按照本发明另一种实施例的光学物体识别装置。在该光学物体识别装置中，限制光传播路径的狭缝4分别被设置在发光装置10、第一光电探测器11和第二光电探测器12的发光侧。因为其它结构与第一种实施例相同，这里不对其进行说明。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，通过设置狭缝4，由来自发光装置10的光形成于薄片3表面的光斑区域Z可以被限制到一个区域，该区域不从发光装置10的光学轴线和薄片3表面的交点过度扩散。因此，几乎只有规则反射分量的光可以入射到第一光电探测器11上，因而从第一光电探测器11输出的输出值的准确度得到提高。
如果没有狭缝4，光斑区域Z会变大，如图5所示。因此，即使发光装置10的光学轴线和薄片3表面之间的角度等于第一光电探测器11的光学轴线和薄片3表面之间的角度，第一光电探测器11也会不利地接收到除了除规则反射分量以外的光。特别地说，一束光(漫反射光)20入射到第一光电探测器11，其入射角不同于其反射角。这样，从第一光电探测器11输出的输出值的准确度下降。
第五种实施例图6显示了按照本发明另一种实施例的光学物体识别装置。在该光学物体识别装置中，准直透镜5被设置在发光装置10的发光侧，取代第四种实施例(图4)中的狭缝4。因为其它结构与第一种实施例相同，这里不对其进行说明。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，准直透镜5允许来自发光装置10的光被平行发射到薄片3。因此，光斑区域Z可以在尺寸上被减小。于是，几乎只有规则反射分量的光可以入射到第一光电探测器11，因而从第一光电探测器11输出的输出值的准确度得到提高。
应该注意到，为了进一步减小光斑区域Z的尺寸，可以提高来自准直透镜5的平行光的平行度。
第六种实施例图7显示了按照本发明另一种实施例的光学物体识别装置。在该光学物体识别装置中，除了第五种实施例(图6)中的准直透镜5，半导体激光器用作发光装置10。因为其它结构与第一种实施例相同，这里不对其进行说明。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，几乎可以被认作点光源的半导体激光被用作发光装置10，因此，光斑区域Z可以在尺寸上进一步被减�。既范冉徊降玫教岣�。
第七种实施例图8是一个曲线图，显示了基于光电探测器11和12的输出值由识别器13为各种薄片3计算的计算值。假设第一光电探测器11的输出值为A并且第二光电探测器12的输出值为B，那么识别器13计算A/B并根据该计算值识别薄片3的类型。
特别地说，作为薄片3的类型，有常用纸、三种无光铜版纸、四种蜡光纸、OHP纸、烫印纸和喷墨纸，根据A/B的计算值，薄片可以划分(识别)为六组，从I到VI。也就是说，除了烫印纸、喷墨纸和无光铜版纸，薄片的其他类型可以被识别。
第八种实施例图9是一个曲线图，显示了基于光电探测器11和12的输出值由识别器13为各种薄片3计算的计算值。假设第一光电探测器11的输出值为A并且第二光电探测器12的输出值为B，那么识别器13计算(A+B)/(A-B)并根据该计算值识别薄片3的类型。
特别地说，作为薄片3的类型，有常用纸、三种无光铜版纸、四种蜡光纸、OHP纸、烫印纸和喷墨纸，根据(A+B)/(A-B)的计算值薄片可以划分(识别)为六组，从I′到VI′。也就是说，除了烫印纸、喷墨纸和无光铜版纸，薄片的其他类型可以被识别。
第九种实施例识别器13可以获得A/B的计算值和(A+B)/(A-B)的计算值，由此，除了图8和9中的蜡光纸B、蜡光纸C、无光铜版纸B、无光铜版纸C，薄片的其他类型可以被识别。
第十种实施例在获得计算值之前，识别器13可以进行第一光电探测器11的输出值A和第二光电探测器12的输出值B的校准。
在这里，校准被定义为调节输出值A和B使得这些值不会随着各种光学物体识别装置(识别器13)而变化的操作。
按照具有上述结构的光学物体识别装置，由于不必考虑发光装置10发光效率的变化和第一光电探测器11及第二光电探测器12灵敏度的变化，并防止计算值随着各种光学物体识别装置(识别器13)而变化，很多种薄片3可以被准确识别。
而且，如果进行这种校准，计算值的变化可以被减小。因此，计算值上差别很小的薄片，或者，例如图8和9中的蜡光纸B、蜡光纸C可以被识别。
第十一种实施例接下来，尽管没有示出，本发明的印制设备设置有按照上述实施例的光学物体识别装置。
按照本发明的印制设备设置有上述光学物体识别装置中的一种，薄片3可以被识别，使得可以在对应于薄片3类型的最佳印制情况下进行印制。
虽然上面已经说明了本发明，但是很明显，本发明可以以很多方式进行变化。这种变化并不被认为脱离了本发明的精神和范围，并且对于本领域的技术人员很明显的所有修改都被认为包括在权利要求书的范围内。
权利要求
1.一种光学物体识别装置，包括发光装置；第一光电探测器和第二光电探测器，在光从所述发光装置发射到待检物体表面之后，所述第一、二光电探测器接收来自待检物体表面的反射光；识别器，用来基于所述第一光电探测器和第二光电探测器输出的输出值识别待检物体的类型，其中，所述发光装置和所述第一光电探测器分别位于所述发光装置的光学轴线和待检物体表面的交点处确定的法线两侧，所述发光装置被设置为使得所述发光装置的光学轴线和待检物体表面之间的角度为10至30度，所述第一光电探测器被设置为使得所述第一光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度为10至30度，所述第二光电探测器被设置为使得所述第二光电探测器的光学轴线和待检物体表面之间的角度大约为90度。
2.根据权利要求1所述的光学物体识别装置，其中，所述发光装置的波长不超过660nm。
3.根据权利要求2所述的光学物体识别装置，还包括分别设置在所述发光装置的光学轴线、所述第一光电探测器的光学轴线和所述第二光电探测器的光学轴线上的偏振片，其中，由所述偏振片偏振的光沿着垂直于由所述发光装置的光学轴线、所述第一光电探测器的光学轴线和所述第二光电探测器的光学轴线形成的假想平面的方向通过。
4.根据权利要求2所述的光学物体识别装置，还包括设置在所述发光装置的光学轴线上的第一偏振片，其中，由所述第一偏振片偏振的光沿着垂直于由所述发光装置的光学轴线、所述第一光电探测器的光学轴线和所述第二光电探测器的光学轴线形成的假想平面的方向通过；设置在所述第一光电探测器的光学轴线上的第二偏振片，其中，由所述第二偏振片偏振的光沿着绕所述第一光电探测器的光学轴线从所述假想平面的垂直方向转过预定角度的方向通过；设置在所述第二光电探测器的光学轴线上的第三偏振片，其中，由所述第三偏振片偏振的光沿着绕所述第二光电探测器的光学轴线从所述假想平面的垂直方向转过预定角度的方向通过。
5.根据权利要求1所述的光学物体识别装置，还包括用于限制光的传播路径的狭缝，这些狭缝分别被设置在所述发光装置的发光侧、所述第一光电探测器的接收侧和所述第二光电探测器的接收侧。
6.根据权利要求1所述的光学物体识别装置，还包括设置在所述发光装置的发光侧的准直透镜。
7.根据权利要求6所述的光学物体识别装置，其中，所述发光装置为半导体激光器。
8.根据权利要求1所述的光学物体识别装置，其中，所述识别器计算A/B，并根据该计算值识别待检物体的类型，其中A为所述第一光电探测器的输出值，B为所述第二光电探测器的输出值。
9.根据权利要求1所述的光学物体识别装置，其中，所述识别器计算(A+B)/(A-B)，并根据该计算值识别待检物体的类型，其中A为所述第一光电探测器的输出值，B为所述第二光电探测器的输出值。
10.根据权利要求8所述的光学物体识别装置，其中，所述识别器在获得计算值之前校准所述第一光电探测器的输出值和所述第二光电探测器的输出值。
11.一种设置有根据权利要求1所述的光学物体识别装置的印制设备。
全文摘要
一种光学物体识别装置，包括发光装置、第一光电探测器和第二光电探测器。在该光学物体识别装置中，形成于发光装置的光学轴线和待检薄片表面之间的角度为10至30度，形成于第一光电探测器的光学轴线和薄片表面之间的角度为10至30度，形成于第二光电探测器的光学轴线和薄片表面之间的角度大约为90度。于是，发光装置、第一光电探测器和第二光电探测器被设置在最佳位置，使得第一光电探测器和第二光电探测器可以获得随着各种薄片而不同的两个输出值。
文档编号G01N21/55GK1595308SQ20041007492
公开日2005年3月16日 申请日期2004年9月1日 优先权日2003年9月8日
发明者山口阳史 申请人:夏普株式会社
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
