专利名称：微量样品光度检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种样品分析仪器，特别是一种样品光度检测装置。
背景技术：
目前，对样品的光度分析一般采用的方法是将被检测样品溶液加入10mm×10mm标准比色皿，比色皿由通光材料石英制成；光源发出的光经过分光装置和滤色装置后透射通过比色皿的样品溶液，样品溶液对于特定波长光的吸收来测定样品的物质组分及含量。测量一次完毕后，将检测分析过程中与样品溶液接触过的分析器具清洗干净后供下次检测分析使用。
现有技术中存在的缺点是1、结构复杂；2、浪费的样品较多，每次分析取样的样品溶液量大于3ml，特别是对于某些珍贵或不易采集制作的样品进行微量分析时会大大的提高检测分析的成本；3、操作繁琐，并且对分析器具的清洗比较麻烦，增加了分析的工作量，延长了检测分析的工作时间。
实用新型内容本实用新型的目的是克服上述现有技术的不足，提供一种结构简单、操作简便、清洗方便，并且所需被检测的样品用量微小的微量样品光度检测装置。
本实用新型采用的技术方案是一种微量样品光度检测装置，包括有光源、单色仪和基座，该基座上开有通孔，该通孔的下方固定安装底座，下探针插装在该底座上；所述基座上设置有铰链，该铰链上以可以活动的方式安装有活动臂，上探针固定安装在该活动臂上，其位置与所述下探针的位置相对应；所述下探针通过光纤与所述光源或所述单色仪连接，所述上探针对应于上述下探针通过所述光纤与上述单色仪或上述光源连接。
由于本实用新型对样品的检测过程是利用液体的表面张力使所需的样品溶液呈现球状，再将上、下探针与上述样品液滴接触后做进一步的光度分析，所以需要的样品溶液量不超过10ul，低于现有技术样品用量的300倍以上，节约了样品，降低了检测分析成本；并且其操作简单、清洗方便，减少了检测分析的工作量，提高了工作效率，使检测分析的工作过程可靠、快速。
图1为本实用微量样品光度检测装置第一种实施例的结构示意图；图2为本实用微量样品光度检测装置工作状态局部示意图；图3为本实用微量样品光度检测装置第二种实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图具体说明本实用新型如图1所示，本实用新型微量样品光度检测装置包括有基座2，该基座2上开有通孔10，该通孔10的下方固定安装底座11，下探针9插装在底座11上。在基座2上设置铰链3，铰链3上以可以活动的方式安装有活动臂5，上探针4固定安装在活动臂5上，其位置与下探针9的位置相对应。下探针9通过光纤14与光源7相连接。上探针4通过光纤18与单色仪8相连接。由于光的可逆性，可以使上探针4与光源7连接，下探针9与单色仪8连接。
本实用新型的使用过程如下将样品的溶液2-10ul滴放在下探针9上，转动活动臂5，使上探针4与下探针9上的样品溶液接触，由于样品液体的表面张力的作用，在上探针4与下探针9之间可形成约2mm高的液柱1，如图2所示。光源7发出的光线经过光纤14传送给下探针9，穿过上述的样品溶液形成的液柱1射入到上探针4，再经过光纤18传送给单色仪8，由单色仪8对接收到的光线进行分析得出分析结果。
由于现有技术中光纤的探针由金属制成，为了避免样品溶液与探针接触带来的污染而造成测量精度的降低，可以在上探针4的下部安装石英探头25并且通孔10的上方设有石英基板6。
此外，可以在活动臂5上设有限位凸起12，使活动臂5上固定的上探针4向下移动到距离下探针9或石英基板6有一定间隙时，该限位凸12顶到基座2上，使活动臂5不能再向下移动，保证上探针4与下探针9或基板6之间在工作时存在一定间隙，其二者之间能够形成被检测样品溶液的液柱1，避免上探针4与下探针9或基板6直接接触而将样品溶液挤压流失。将上探针4以可滑动方式安装在活动臂5上，活动臂5开有螺栓孔，螺栓孔内安装一个螺栓13，该螺栓13的一端顶靠上探针4；使用时，放松螺栓13可以对上探针4相对与下探针9或石英基板6的距离进行微量调整，调整后再将螺栓13拧紧顶住上探针4，进一步提高了本实用新型的操作性能。
另外，还可以在石英基板6上涂镀一聚四氟乙烯薄层，使样品溶液滴加在基板6上后易于保持球形状态，方便测量的操作。
权利要求1.一种微量样品光度检测装置，包括有光源、单色仪，其特征在于该微量样品光度检测装置还包括有基座，该基座上开有通孔，该通孔的下方固定安装底座，下探针插装在该底座上；所述基座上设置有铰链，该铰链上以可以活动的方式安装有活动臂，上探针固定安装在该活动臂上，其位置与所述下探针的位置相对应；所述下探针通过光纤与所述光源或所述单色仪连接，所述上探针对应于上述下探针通过所述光纤与上述单色仪或上述光源连接。
2.如权利要求1所述的微量样品光度检测装置，其特征在于所述上探针的下部安装有石英探头，所述基座的通孔上方设有石英基板。
3.如权利要求2所述的微量样品光度检测装置，其特征在于所述石英基板上涂镀有一层聚四氟乙烯层。
4.如权利要求1、2或3所述的微量样品光度检测装置，其特征在于所述活动臂上设有限位凸起。
5.如权利要求1、2或3所述的微量样品光度检测装置，其特征在于所述上探针以可以滑动的方式安装在所述活动臂上，该活动臂开有螺栓孔，螺栓孔内安装螺栓，该螺栓的一端顶靠所述上探针。
专利摘要本实用新型公开了一种微量样品光度检测装置。该微量样品光度检测装置包括有光源、单色仪和基座，该基座上开有通孔，该通孔的下方固定安装底座，下探针插装在该底座上；所述基座上设置有铰链，该铰链上以可以活动的方式安装有活动臂，上探针固定安装在该活动臂上，其位置与所述下探针的位置相对应；所述下探针通过光纤与所述光源或所述单色仪连接，所述上探针对应于上述下探针通过所述光纤与上述单色仪或上述光源连接。本实用新型操作简单、清洗方便，并且所需被检测的样品用量微�。乇鹗视糜诙哉涔蠡虿灰撞杉谱鞯难方形⒘糠治�。
文档编号G01N21/01GK2612944SQ03245599
公开日2004年4月21日 申请日期2003年4月22日 优先权日2003年4月22日
发明者孙宏伟, 马放均 申请人:北京普析通用仪器有限责任公司
专业数控铣床产品供应商
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