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专利名称：电路板的信号测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种除错(debug)装置，且特别涉及一种电路板的信号测试装置。
背景技术：
一般来说，计算机或服务器所使用的主板(motherboard)都需要通过上电时序 (power sequence)的验证，以便于确定主板是否可以正常使用。因此上电时序的测试项目对于测试工程师进行主板测试来说十分重要。另外，就电源开启程序这个测试项目来说，主要是用来验证主板在电源开启 (power-on)时，主板上的各个待测电压的电压准位是否正确，以及各个待测电压间的电压逻辑准位转态的时间点是否正确。而若是各个待测电压的电压准位正确以及各个待测电压间的电压逻辑准位转态的时间点正确，表示主板可以正常使用；若是各个待测电压的电压准位不正确以及各个待测电压间的电压逻辑准位转态的时间点不正确，表示主板不能正常使用。测试工程师检查主板上的待测电压通常是利用万用电表检查逐一检测主板上有无供电电压异常或是利用示波器检查主板上有无异常的Reset信号。最后，再根据上述所检测出的异常电压或信号分析相关电路并找出问题点。由于需测试的电压与信号(例如主板上的工作电压、Power Good/Reset信号)很多，若依序一个一个量测上述待测电压与信号将耗费许多时间成本，而造成测试效率降低。 而且，待测电压及信号繁多且复杂，使得测试工程师容易忘记测试顺序而需要重新量测，如此也会浪费过多的测试时间，而让测试效果变差。

发明内容
本发明的目的就是提供一种电路板的信号测试装置，借以有效地减少电路板的测试时间，以提高测试效率。本发明提出一种电路板的信号测试装置，包括连接接口、检测�？橛胂允镜ピ�。连接接口连接至所述电路板，以接收并传输所述电路板的多个测试信号。检测�？榱�接至连接接口，接收并检测所述电路板的多个测试信号，以产生检测信号，其中，所述检测信号根据所述检测�？榧觳獬鏊�述电路板的多个测试信号其中之一发生异常而产生。显示单元连接至所述检测�？椋�接收并显示所述检测信号。在本发明的一实施例中，所述电路板的信号测试装置进一步包括电平转换电路， 其连接于所述连接接口与所述检测�？橹�间，用以转换所述电路板的多个测试信号的电平。在本发明的一实施例中，所述检测�？榘�括查表，其具有所述电路板的多个测试信号与所述检测信号的对应关系。在本发明的一实施例中，所述电路板的信号测试装置进一步包括数据输入接口， 其连接至所述检测�？椋�用以接收并传输更新数据，以更新所述查表的数据。
在本发明的一实施例中，所述连接接口为32比特的连接接口。在本发明的一实施例中，所述检测�？榘�括复杂可程序逻辑装置(complex programmable logic deVice，CPLD)0在本发明的一实施例中，所述显示单元为8比特发光二极管的显示器。在本发明的一实施例中，所述电路板为主板。本发明通过信号测试装置接收电路板的所有测试信号，而所有测试信号可经过检测�？榻�行检测后，一旦检测出某一信号发生异常(也即检测模块没有接收到上述信号) 时，则检测模块会产生检测信号给显示单元，以显示出检测信号。如此一来，使用者(测试工程师)不需要逐一对电路板(主板)上的测试端进行测试信号的量测，可通过显示单元所显示的信息，而快速的找到造成上述信号发生异常的电路，进而加快电路板的测试速度及效率。为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。


图1为本发明一实施例的电路板的信号测试装置方块图。附图标记说明100 信号测试装置；110:连接接口；120 检测�？椋�130 显示单元；140 电平转换单元；150:数据输入接口；180:电路板。
具体实施例方式图1为本发明一实施例的电路板的信号测试装置方块图。在本实施例中，电路板 180为一计算机的主板(motherboard)。请参照图1，信号测试装置100包括连接接口 110、 检测�？�120与显示单元130。连接接口 110连接至电路板180，用以接收所述电路板180的多个测试信号。在本实施例中，连接接口 110例如为32比特的连接接口。也就是说，连接接口 110可以接收电路板180的测试信号为32个，但本实施例不限于此，使用者可视电路板180所需进行的测试信号的数量而增加或减少连接接口 110的比特数。另外，在本实施例中，测试信号包括电路板(主板)180上的所有电压，例如工作电压、重置(reset)信号及电源良好(power good) 信号等。检测�？�120连接至连接接口 110，用以接收并检测所述电路板180的多个测试信号，以产生检测信号。其中，检测信号根据检测�？�120检测出电路板180的某一个测试信号发生异常(例如检测�？�120未接收到电路板180的某一个测试信号)而产生。在本实施例中，检测模块120可以包括复杂可编程逻辑装置(complex programmable logicdevice,CPLD)。另外，检测�？�120包括一查表，此查表具有电路板180的测试信号与检测信号的对应关系。而检测�？�120检测出电路板180的某一个测试信号发生异常时，会根据查表而产生对应的检测信号给显示单元130。显示单元130连接至检测�？�120，用以接收并显示检测信号，以便告知使用者电路板180的哪一个测试信号发生异常，而使用者便可通过显示单元130所显示的信息，而快速的找到致使上述测试信号发生异常的电路，并进行状况排除，使得电路板180可再次进行正常的操作。在本实施例中，显示单元130例如为8比特发光二极管的显示器，因此显示单元130可以显示“00000000” “11111111”的信息，而使用者便可透过上述的信息而找到电路板180发生异常的原因。如此一来，便可加快电路板180的测试速度。以下，将列举一例并搭配表1来说明信号测试装置100的操作。表1为本实施例的电路板180的测试信号与检测�？�120的检测信号(显示单元130所显示的信息)的对应关系表。表 权利要求
1.一种电路板的信号测试装置，其特征在于，包括一连接接口，连接所述电路板，以接收并传输所述电路板的多个测试信号；一检测�？椋�连接至所述连接接口，接收并检测所述电路板的多个测试信号，以产生一检测信号，其中，所述检测信号根据所述检测�？榧觳獬鏊�述电路板的多个测试信号其中之一发生异常而产生；以及一显示单元，连接至所述检测模块，接收并显示所述检测信号。
2.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述电路板的信号测试装置进一步包括一电平转换电路，连接于所述连接接口与所述检测�？橹�间，用以转换所述电路板的多个测试信号的电平。
3.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述检测�？榘�括一查表，其具有所述电路板的多个测试信号与所述检测信号的对应关系。
4.根据权利要求3所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述电路板的信号测试装置进一步包括一数据输入接口，连接至所述检测�？椋�用以接收并传输一更新数据，以更新所述查表的数据。
5.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述连接接口为32比特的连接接口。
6.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述检测�？榘�括一复杂可程序逻辑装置。
7.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述显示单元为8比特发光二极管的显示器。
8.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述电路板为一主板。
全文摘要
本发明提出一种电路板的信号测试装置，包括连接接口、检测�？橛胂允镜ピ�。连接接口连接至所述电路板，以接收并传输所述电路板的多个测试信号。检测�？榱�接至连接接口，接收并检测所述电路板的多个测试信号，以产生检测信号，其中，所述检测信号根据所述检测模块检测出所述电路板的多个测试信号其中之一发生异常而产生。显示单元连接至所述检测�？椋�接收并显示所述检测信号。借此，可有效地减少电路板的测试时间，以提高测试效率。
文档编号G01R31/3183GK102193064SQ20101013453
公开日2011年9月21日 申请日期2010年3月16日 优先权日2010年3月16日
发明者陳志丰, 黄乾坤 申请人:英业达股份有限公司