专利名称：利用辅助运放测试运放类ic参数的电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及利用辅助运放测试运放类IC参数的电路。
背景技术：
目前，用于测试运放类IC参数需要使用专门的测试设备，这些设备成本较高，同时电路结构复杂，当设备出现故障时，又很难维修，给测试运放类IC的工作增加了成本。
发明内容有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，该电路结构简单，易于实现，能够方便地测试运算放大器参数。利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，包括待测集成运放Al、辅助放大器A2、 开关 Si、S2、S3、S4、交流电源 VII、VI2、电阻 RU R2、R3、R4、RIO、RlU RL、电容 C2，其特征在于电阻Rl —端接交流电源VII，另一端串联电阻Rll和电阻R3，R11另一端接待测运放 Al的反相端，电阻R2 —端接交流电源VII，另一端串联电阻RlO和电阻R4，R11另一端接待测运放Al的同相端，电源VIl另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，Al输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，Al输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL 后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关Si、S2分别并联在电阻Rl 1、RlO两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。辅助运放Al的A02彡80dB, VICM2应大于Al的输出电压摆幅(至少大士 10V)， V0M2 彡 10V。R1、R2 取 50 Ω，R3、R4 取 50kQ，RIO, Rll 取 IOkQ。本实用新型电路简单、使用方便、易于实现，能够以最小的成本实现运放类IC参数的测试。
图1是本实用新型实施例的电路图。
具体实施方式
利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，如图1所示，包括待测集成运放Al、辅助放大器 A2、开关 Si、S2、S3、S4、交流电源 VII、VI2、电阻 RU R2、R3、R4、RIO、RlU RL,电容 C2，其特征在于电阻Rl —端接交流电源VII，另一端串联电阻Rll和电阻R3，Rll另一端接待测运放Al的反相端，电阻R2 —端接交流电源VII，另一端串联电阻RlO和电阻R4，R11 另一端接待测运放Al的同相端，电源VIl另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，Al输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，Al输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关S1、S2分别并联在电阻Rll、RlO两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。[0010]辅助运放Al的A02彡80dB，VICM2应大于Al的输出电压摆幅(至少大士 10V)， V0M2 彡 10V。R1、R2 取 50 Ω，R3、R4 取 50kQ，RIO, Rll 取 IOkQ。A1、A2接成闭环系统，为了保证闭环能稳定工作，补偿成单极点频率特性。以下介绍一下利用该电路对运算放大器的参数进行测量。一、输入失调电压Vosl的测量令VIl = VI2=0(对地短接)，闭合Si、S2、S4，打开S3，由于Rl、R2很�。� 这时输入失调电流I0S，在Rl上产生的附加失调电压很小。例如IOSl = 0. 1 μ A 则VOSRl=Rl *I0S1 =5 μ V由于VOS—般为mV数量级，所以此附加失调电压可略去不计。图中Al、A2等效于一个AO = A01*A02的放大器，因为V0S2的影响折算到待测放大器的输入端时要除以A01，所以V0S2与VOSl相比也可以略去不计，此外由于AO很高，所以闭环增益表达式Af=I十(R3 / Rl)是足够精确的。于是有
i
K2 = 0 +,若测得 V0S2=1V,则
权利要求1.利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，包括待测集成运放Al、辅助放大器A2、开关 Si、S2、S3、S4、交流电源 VII、VI2、电阻 RU R2、R3、R4、RIO、RlU RL、电容 C2，其特征在于电阻Rl —端接交流电源VII，另一端串联电阻Rll和电阻R3，R11另一端接待测运放Al 的反相端，电阻R2 —端接交流电源VII，另一端串联电阻RlO和电阻R4，R11另一端接待测运放Al的同相端，电源VIl另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，Al输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，Al输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关Si、S2分别并联在电阻 Rl 1、RlO两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。
2.根据权利要求1所述的利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，其特征在于 辅助运放Al的A02彡80dB, VICM2应大于Al的输出电压摆幅V0M2彡10V。
3.根据权利要求1所述的利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，其特征在于 电阻 Rl、R2 取 50 Ω，电阻 R3、R4 取 50k Ω，电阻 RIO、Rll 取 IOk Ω。
专利摘要本实用新型涉及利用辅助运放测试运放类IC参数的电路，其特征在于电阻R1一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R11和电阻R3，R11另一端接待测运放A1的反相端，电阻R2一端接交流电源VI1，另一端串联电阻R10和电阻R4，R11另一端接待测运放A1的同相端，电源VI1另一端接地，R4另一端接地，R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端，开关S4另一端接辅助运放的输出端，A1输出端接双路开关S4的另一支路的一端，开关S4另一接A2的反向输入端，A1输出接开关S3的一端，S3另一端串联电阻RL后接地，辅助运放A2的同相端接交流电源VI2，VI2另一端接地，开关S1、S2分别并联在电阻R11、R10两端，电阻R3两端并联补偿电容C2。本实用新型电路结构简单、使用方便、易于实现，能够方便地测量运算放大器参数。
文档编号G01R31/28GK202025069SQ201120009030
公开日2011年11月2日 申请日期2011年1月13日 优先权日2011年1月13日
发明者林康生, 陈品霞 申请人:博嘉圣(福州)微电子科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
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