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专利名称：一种led灯具的老化和温度试验方法
技术领域：
本发明涉及半导体制造技术领域，尤其是一种LED灯具的老化和温度试验方法。
背景技术：
LED(发光二极管)由于其寿命长、可靠耐用、体积小、能耗低等优点，已成为21世 纪具有竞争力的新型固体光源。目前，LED元件的老化技术已有了，业界普遍采用两种老化方法来进行老化实验第一种是常规老化将大功率LED以额定电流点1000小时，测量光衰与色坐标变 化，光衰的大小决定产品质量的好坏。第二种是强迫性老化将大功率LED以2倍的额定电流进行破坏性实验，通常业界 是以96小时为老化标准，同样光衰和色坐标变化越小表明产品的质量越好。现在的LED老化方法不考虑许多特殊LED在特殊场所下的环境要求，如工作温度 的要求，且现有的方法是将老化与高低温环境试验分开进行，影响了产品加工生产进度，而 灯具整体的老化还没有方法。

发明内容
为了解决上述技术难题，本发明提供了一种LED灯具的老化和温度试验方法，可 用于LED灯具在高低温老化条件下进行老化。一种LED灯具的老化和温度试验方法，将LED灯具老化与高低温环境测试同时进 行，整个过程分为(a)将大功率LED灯具在高温摄氏度、电压U1伏下工作、小时；(b)将大功率LED灯具在常温a2摄氏度、电压U2伏下工作t2小时；(c)将大功率LED灯具在低温a3摄氏度、电压U3伏下工作t3小时；(d)测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；过程(a)-(d)总耗时小于96小时。对于汽车和挂车外部照明和信号装置的灯具，B1 = 52，、= 24，a2 = 22. 5士2. 5， t2 = 70，a3 = -43，t3 = 1，U2 为灯具额定电压，U1 = 110% U2, U3 = 90% U20对于民用机场灯具，B1= 55，ti = 24，a2 = 22. 5士2. 5，t2 = 70，a3 = -40, t3 = 1，U2 为灯具额定电压，U1 = 110% U2, U3 = 90% U2O对于LED路灯和草坪灯的耐温试验条件由生产厂家和用户共同商定，以不超过当 地五十年一遇的最高、最低气温为依据，设定U2为灯具额定电压，U1 = 110% U2, U3 = 90%U2。如果只对灯具中的LED进行老化和温度试验，、=1，a2 = 22. 5士2. 5，t2 = 90，t3 =1，高温、低温的温度值和灯具需要耐受的高温、低温的温度值一致，U2是使工作电流为额 定电流的2倍的电压，U1为额定电压，U3 = 90% U2，在高温工作时，LED保持良好的散热。本发明的有益效果是充分考虑了工作温度对LED的影响，将老化与高低温试验同时进行，减少了时间，加快了生产速度。为了对本发明的进一步了解，将通过结合下述附图对本发明的实施进行说明。


图1是本发明一种LED灯具的老化和温度试验方法的温度一时间坐标。图2是本发明一种LED灯具的老化和温度试验方法的电压一时间坐标。其中，T表示温度，t表示时间，U表示电压，线段OA对应的时间为、小时，线段BC 对应的时间为t2小时，线段DE对应的时间为t3小时，B1为高温老化温度，a2为常温老化温 度，a3为低温老化温度。
具体实施例方式下面结合附图和具体实施对本发明作进一步说明。《GB10485-1989汽车和挂车外部照明和信号装置的基本环境试验》中关于耐温试 验条件为高温试验周围温度50士2 °C，试验时间(点灯)lh;低温试验周围温 度-40 士 3°C，试验时间(点灯)Ih。所以对车灯设Sa1= 52，、= 24，a2 = 22. 5 士 2. 5，t2 = 70，a3 = -43，t3 = 1，即 OA = 24，BC = 70，DE = 1，U2 为灯具额定电压 12V 或 24V，U1 = 110% U2, U3 = 90% U20《GBT7256-2005民用机场灯具一般要求》的4. 1灯具的工作环境条件中规定环 境温度为-40°C +55°C，没提到具体试验时间(点灯)时间。所以对机场灯具设定B1 = 55，ti = 24，a2 = 22. 5 士 2. 5，t2 = 70，a3 = -40, t3 = 1，即 OA = 24，BC = 70，DE = 1，设定 U2 为灯具额定电压，U1 = 110% U2, U3 = 90% U20一款LED路灯和草坪灯的耐温试验条件应由生产厂家和用户共同商定，以不超过 当地五十年一遇的最高、最低气候为标准，B1 = 44，、= 24，a2 = 22. 5士2. 5，t2 = 70，a3 =-20，t3 = 1，即 OA = 24，BC = 70，DE = 1，设定 U2 为灯具额定电压，U1 = 110% U2, U3 = 90% U20对灯具中的一款LED进行老化和温度试验时，B1 = 52，、= 1，a2 = 22. 5士2. 5， t2 = 90，a3 = -40，t3 = 1，U2是使工作电流为额定电流的2倍的电压3. 4V，U1为额定电压 3. 15V，U3 = 90% U2，在高温工作时，LED保持良好的散热。本发明可由本领域的技术人员在不脱离本发明的精神的前提下作若干的修改，但 所作的修改仍是在本申请的权利要求的保护范围之内。
权利要求
一种LED灯具的老化和温度试验方法，其特征是将LED灯具老化与高低温环境测试同时进行，整个过程分为(a)将大功率LED灯具在高温a1摄氏度、电压U1伏下工作t1小时；(b)将大功率LED灯具在常温a2摄氏度、电压U2伏下工作t2小时；(c)将大功率LED灯具在低温a3摄氏度、电压U3伏下工作t3小时；(d)测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；过程(a) (d)总耗时小于96小时。
2. 5，t2 = 70，a3 = -43, t3 = 1，U2 为灯具额定电压，U1 = 110% U2, U3 = 90% U2O
3.根据权利要求1所述的一种LED灯具的老化和温度试验方法，其特征是对于民用 机场灯具，B1 = 55，ti = 24，a2 = 22. 5士2. 5，t2 = 70，a3 = -40, t3 = 1，U2 为灯具额定电 压，U1 = 110% U2, U3 = 90% U20
4.根据权利要求1所述的一种LED灯具的老化和温度试验方法，其特征是对于LED 路灯和草坪灯的耐温试验条件由生产厂家和用户共同商定，以不超过当地五十年一遇的最 高、最低气温为依据，设定U2为灯具额定电压，U1 = 110% U2，U3 = 90% U20
5.根据权利要求1所述的一种LED灯具的老化和温度试验方法，其特征是如果只对 灯具中的LED进行老化和温度试验，、=l，a2 = 22. 5士2. 5，t2 = 90，t3 = 1，高温、低温的 温度值和灯具需要耐受的高温、低温的温度值一致，U2是使工作电流为额定电流的2倍的电 压，U1为额定电压，U3 = 90% U2，在高温工作时，LED保持良好的散热。
全文摘要
本发明提供了一种LED灯具的老化和温度试验方法，可用于LED灯具在高低温条件下进行老化。将LED灯具老化与高低温环境测试同时进行，整个过程分为(a)将大功率LED灯具在高温a1摄氏度、电压U1伏下工作t1小时；(b)将大功率LED灯具在常温a2摄氏度、电压U2伏下工作t2小时；(c)将大功率LED灯具在低温a3摄氏度、电压U3伏下工作t3小时；(d)测试LED灯具的光衰及色坐标，将光衰或色坐标变化较大的LED灯具剔除；过程(a)-(d)总耗时小于96小时。本发明的有益效果是将老化与高低温试验同时进行，减少了时间，加快了生产速度。
文档编号G01R31/26GK101968533SQ20101027891
公开日2011年2月9日 申请日期2010年8月31日 优先权日2010年8月31日
发明者倪建, 叶为全, 朱向冰, 武汉, 王竞, 罗青青, 陈巧云, 陈瑾 申请人:安徽师范大学