专利名称：用于介质膜反光碗的光谱测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光谱测量的技术，特别是涉及一种用于介质膜反光碗的光谱测 量装置的技术。
背景技术：
反光碗主要用于各类型灯具或投光系统的聚光，其聚光面采用曲面设计，能有 效降低光损。介质膜反光碗的碗体都由透明材质制成，其聚光面镀有多层介质膜， 并能通过介质膜使其聚光面达到特定要求的光谱特性(例如冷光灯碗可选择镀一层 能透过不可见的近红外光，只反射可见光的介质膜)，因而得到了广泛应用，其聚光 面面型主要有球面、椭球型、抛物面等。由于镀膜时，材料蒸汽流都是直线行进的， 介质膜反光碗的聚光面成膜均匀性不容易做到一致，而且测量曲面的光谱特性也是 一个难题，因此介质膜反光碗的光谱特性检测较为困难。
目前对介质膜反光碗光谱特性都采用预先制作参比样品的间接测量方法，即先 制作介质膜反光碗的网格化支架，再在每个网格内放置一相同材质的平面参比片， 等成膜结束后测量各参比片的反射率，得以获取各曲率段的光谱特性。但是一方面 由于面型问题使得各介质膜反光碗聚光面实际成膜的厚度与参比样品不同；另一方 面由于不同的介质膜反光碗之间，其聚光面的成膜也存在差异，因此这种方法所得 到的检测结果一致性较差，而且其重复性也较低，难以反映全体介质膜反光碗的光 谱特性。另外，制作参比样品也比较麻烦。
实用新型内容
针对上述现有技术中存在的缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种 能快速、方便的直接测量介质膜反光碗的光谱特性，而且检测结果一致性好、重复 性高，能反映全体介质膜反光碗光谱特性的用于介质膜反光碗的光谱测量装置。
为了解决上述技术问题，本实用新型所提供的一种用于介质膜反光碗的光谱测 量装置，其特征在于包括光源、测试架台、分光器和计算机；
所述光源包括用于发光的投光器和用于将投光器所发出的光转换为准平行光并 将其传输至测试架台上方的透镜组，所述投光器经光纤连接至透镜组；
所述测试架台台面上设有用于被测样品的移动导向的导轨，台面下方设有用于 接收光源的准平行光的积分球，所述积分球由光纤经用于阻断光路的快门连接至分 光器内的分光仪；所述分光器用于分离光线以供分光仪测量，所述分光仪的输出接 口连接用于实现暗背景测量以及由透射率至反射率计算的计算机。
进一步的，所述的投光器为高亮度的光输出大于xx的投光器。
进一步的，所述分光仪内部采用的是阵列探测器。 进一步的，所述分光仪的输出接口为USB接口。 进一步的，所述计算机为PC机。
进一步的，所述导轨由用于放置被测样品的前支撑、用于前支撑的移动导向的 二滑轨和用于带动前支撑在二滑轨上滑行的滑杆组成，所述滑杆设于前支撑底部， 所述二滑轨的一端分别连接所述滑杆。
进一步的，所述滑轨的轨迹与被测样品的面型对应设置，并能于测量时微调。 本实用新型提供的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，无需另外制作参比样品 即可连续准确的获知介质膜反光碗各处的透射率及其均匀性分布，并通过介质膜的 透射率间接计算出其反射率，从而得到反射光谱特性，其检测结果一致性好、重复 性高，能反映全体反光碗光谱特性，并能快速、方便的直接测量。
图1是本实用新型实施例的用于介质膜反光碗的光谱测量装置的结构框图； 图2测量样品放置于测试架台的导轨上的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图说明对本实用新型的实施例作进一步详细描述，但本实施例并不 用于限制本实用新型，凡是采用本实用新型的相似结构及其相似变化，均应列入本 实用新型的保护范围。
如图1所示，本实用新型实施例所提供的一种用于介质膜反光碗的光谱测量装
置，其特征在于包括光源、测试架台4、分光器8和PC机9;所述光源包括投光
器1和透镜组2，所述投光器1经光纤连接到透镜组2，用于发光，所述透镜组2用
于将投光器l所发出的光转换为准平行光，并传输至测试架台4上方；所述测试架
台4台面上设有导轨3，用于被测样品的移动导向，台面下方设有用于接收光源的 准平行光的带SMA光纤接口的积分球5，积分球5用于调整因光束偏移所致的测量 偏差，所述积分球5由光纤经用于阻断光路的快门连接至分光器内的分光仪7;所 述分光器8用于分离光线以供分光仪7测量；所述分光仪7内部采用的是阵列探测 器；所述分光仪的USB输出接口连接用于实现控制背景、样品及暗背景测量以及由 透射率计算的PC计算机9。所述的投光器为高亮度的功率大于100W的投光器。
如图2所示，所述导轨3由滑杆31、 二滑轨32和前支撑33组成，所述前支撑 用于放置被测样品10，所述滑杆31设于前支撑33底部，用于带动前支撑33在二 滑轨32上滑行，所述二滑轨32用于前支撑的移动导向，所述二滑轨32的一端分别连接所述滑杆31。
所述滑轨32的轨迹与被测样品10的面型对应设置，并能于测量时微调。
本实用新型的装置对测量样品进行测量的具体步骤如下
1) 不放置样品，通过PC机控制快门开启测量一次光亮，得到当前基线光亮值
E;
2) 通过PC机控制快门关闭测量一次暗背景，得到当前暗背景光亮值Ib;
3) 放置样品，通过PC机控制快门开启再测量一次光亮，得到样品光亮值I;
4) 用步骤l)、 2)、 3)所得值计算出各波长处透射率丁=(1-Ib)/(E-Ib);
5) 沿导轨移动样品，使其改变位置，重复步骤3至5直至完成样品的全方位测量。
本实用新型的装置在测试架台上不安装导轨时，可用于测试普通平面样品。
权利要求1、一种用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于包括光源、测试架台、分光器和计算机；所述光源包括用于发光的投光器和用于将投光器所发出的光转换为准平行光并将其传输至测试架台上方的透镜组，所述投光器经光纤连接至透镜组；所述测试架台台面上设有用于被测样品的移动导向的导轨，台面下方设有用于接收光源的准平行光的积分球，所述积分球由光纤经快门连接至分光器内的分光仪；所述分光仪的输出接口连接用于实现暗背景测量以及由透射率至反射率计算的计算机。
2、 根据权利要求1所述的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于所述的投光器为功率大于100W的投光器。
3、 根据权利要求1所述的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于所述分光仪内部采用的是阵列探测器。
4、 根据权利要求l所述的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于所述分光仪的输出接口为USB接口。
5、 根据权利要求l所述的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于所述计算机为PC机。
6、 根据权利要求1所述的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于所述导轨由用于放置被测样品的前支撑、用于前支撑的移动导向的二滑轨和用于带动 前支撑在二滑轨上滑行的滑杆组成，所述滑杆设于前支撑底部，所述二滑轨的一端 分别连接所述滑杆。
7、 根据权利要求6所述的用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于所述滑轨的轨迹与被测样品的面型对应设置，并能于测量时微调。
专利摘要一种用于介质膜反光碗的光谱测量装置，涉及光谱测量技术领域，所解决的是介质膜反光碗的测量结果一致性差、重复性低且不能直接测量的技术问题。该装置包括光源、测试架台、分光器和计算机；光源包括用于发光的投光器和用于将投光器所发出的光转换为准平行光并将其传输至测试架台上方的透镜组，投光器经光纤连接至透镜组；测试架台台面上设有用于被测样品的移动导向的导轨，台面下方设有用于接收光源的准平行光的积分球，积分球由光纤经快门连接至分光器内的分光仪；分光仪的输出接口连接用于实现暗背景测量以及由透射率至反射率计算的计算机。本实用新型具有检测结果一致性好、重复性高，能反映全体介质膜反光碗光谱特性的特点。
文档编号G01N21/59GK201344905SQ20092006749
公开日2009年11月11日 申请日期2009年2月5日 优先权日2009年2月5日
发明者健 宫, 奇 张, 张子业 申请人:光驰科技(上海)有限公司
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