专利名称：测试头升降设备的制作方法
技术领域：
本实用新型是关于一种测试头升降设备，尤指一种适用于半导体封装测试设备 中，辅助测试头升降的测试头升降设备。
背景技术：
半导体元件、或集成电路等经过设计、并制造后，尚须经过封装及测试。特别是测 试，其可以确保半导体元件、或集成电路正常运作与否。然而，所谓的IC测试可以分为封装 前的晶片检测、以及封装后的成品检测。其中，晶片检测是在晶片切割与封装前，先以探针 (Probe)测试晶片内的集成电路是否正常。另一方面，封装后的成品测试则需依照封装的形 式，在适合的测试装置(Device under test，DUT)上进行测试，以确保各项特性或功能皆符 合所需规格。请参阅图1，图1是现有测试头升降设备的整体立体图。图中显示有一测试头10， 其主要于晶片测试时直接电性接触并进行测试。测试头10是由一夹持臂11所固定，且夹 持臂11可提供测试头10三个维度的旋转。另外，图中另显示有一升降立柱12，其主要使夹 持臂11上升或下降，以利进行测试或检修维护。请一并参阅图2、图3A、及图3B，图2是现有测试头升降设备的传动机构的大部分 解图，图3A是现有测试头升降设备的传动机构中A-A线段的剖视图，图3B是现有测试头升 降设备的传动机构中B-B线段的剖视图。如图中所示，驱动装置13驱动其下方的升降导杆 14上升或下降，进而连动升降导杆14下方的链轮15上升或下降。此外，再透过链条16套 设于链轮15上。因此，当链轮15上升或下降时，链条16随之连动，进而促使链条16连接 的夹持臂11下降或上升。然而，现有测试头升降设备的传动机构组装、及检修维护时相当麻烦，耗时费工。 其主要是因为，必须将内部整组机构整串取出或置入，亦即包含驱动装置13、升降导杆14、 链轮15、及其它周边元件，无法单独分解组设。也就是说，检修维护时仍必须一体取出后进 行维护，而组装时则必须整组一体置入并固定，相当费力且稍微不慎将导致人员受伤、或元 件毁损。
实用新型内容本实用新型为一种测试头升降设备，包括一驱动螺杆、一动力源、一升降座、一壳 体、一升降台、及一传动带。其中，驱动螺杆包括有一第一端、及一第二端；动力源动力连接 驱动螺杆的第一端，动力源驱动驱动螺杆旋转。升降座螺设于驱动螺杆并通过驱动螺杆旋 转带动上升或下降，且升降座一侧枢设有一活动轮，而活动轮包括有一中心滑轴。至于，驱 动螺杆的第二端枢设于壳体，且壳体的一侧组设有一滑槽，而活动轮的中心滑轴滑设于滑 槽。以及，传动带包括有一固定端、及一活动端，固定端组设于壳体上，活动端组设于升降 台，而传动带套设于活动轮，且升降座的活动轮带动传动带以连动升降台上升或下降。因 此，本实用新型以能大幅减少组立件，组装容易，维修快速，且运转稳定使用寿命大幅增长。[0007]较佳的是，本实用新型可更包括有一另一活动轮、一另一滑槽、及一另一传动带。 其中，另一活动轮枢设相对应于活动轮的一侧，另一活动轮包括有一另一中心滑轴；另一滑 槽组设于壳体内相对应于滑槽的一侧，另一活动轮的另一中心滑轴滑设于另一滑槽；另一 传动带套设于另一活动轮，另一传动带的二端分别组设于壳体与升降台。据此，本实用新型 采双侧驱动，其不仅具受力平均可提高使用寿命的优点，而且双侧受力可支撑更大负载，可 更为稳固平整支撑。再者，本实用新型可更包括有一轴承底座，组设于壳体，而驱动螺杆的第二端枢设 于轴承底座。据此，通过轴承底座支撑、及固定驱动螺杆，可避免驱动螺杆于运转过程中晃 动影响运转的稳定性。此外，本实用新型可更包括有一导轨、及一导槽，而导轨立设于壳体 外，导槽组设于升降台，且导槽滑设于导轨。其中，本实用新型通过导轨、及导槽的设计，升 降台于上生或下降的过程中，可辅助导引避免升降台晃动或侧向移动。另外，本实用新型可更包括有二辅助出力装置，每一辅助出力装置包括有一第一 端、及一第二端。其中，二辅助出力装置的第一端分别组设于壳体，二辅助出力装置的第二 端分别组设于升降座的相对应二侧。据此，本实用新型的辅助出力装置除主要用以辅助动 力源，使其可驱动更重的负载外，亦具有稳定负载的功效。然而，本实用新型的辅助出力装 置可为氮气缸、油压缸、或其它等效装置。又，本实用新型的可更包括有一固定轮，其组设于壳体上端，而传动带套设于活动 轮、及固定轮上。因此，本实用新型的固定轮主要用以改变传动带的施力方向，进而改变升 降座的移动方向。然而，本实用新型的活动轮可为一链轮，传动带可为一链条。当然，亦可 为其它等效的传动元件或装置。此外，本实用新型可更包括有一联轴座，其组设于动力源与驱动螺杆间，而动力源 是透过联轴座动力连接驱动螺杆的第一端。据此，联轴座主要用以连接动力源及驱动螺杆， 其可为一般的连轴装置，当然亦可包括减速元件，如减速齿轮等。再且，本实用新型可更包括有二缓冲弹簧，其一端组设于壳体内，另一端组设于传 动带的固定端。因此，本实用新型通过缓冲弹簧可缓冲负载直接对传动机构的冲击。然而， 本实用新型亦可于缓冲弹簧上另增设指示元件、及负载传感器。其中指示元件主要用以指 示目前荷重，而负载传感器主要则用以感测是否超重。
图1是现有测试头升降设备的整体立体图。图2是现有测试头升降设备的传动机构的大部分解图。图3A是现有测试头升降设备的传动机构中A-A线段的剖视图。图3B是现有测试头升降设备的传动机构中B-B线段的剖视图。图4是本实用新型一较佳实施例的大部分解图。图5A是本实用新型一较佳实施例的A-A线段的剖视图。图5B是本实用新型一较佳实施例的B-B线段的剖视图。主要元件符号说明10 测试头11夹持臂12 升降立柱 13驱动装置[0023] 14升降导杆15链轮[0024] 16链条2动力源[0025] 2l联轴座22缓沖弹簧[0026] 3驱动螺杆3l第一端[0027] 32第二端4升降座[0028] 4l，42活动轮411，42l中心滑轴[0029] 5壳体5l，52 滑槽[0030] 53轴承底座54导轨[0031] 55，56固定轮57手摇柄[0032] 6，60 传动带6l固定端[0033] 62活动端7升降台[0034] 7l导槽8辅助出力装置[0035] 8l第一端82第二端具体实施方式
[0036] 请同时参阅图4、图5A、及图5B，图4是本实用新型测试头升降设备一较佳实施例的大部分解图，图5A是本实用新型测试头升降设备一较佳实施例的A—A线段的剖视图，图5B测试头升降设备是本实用新型一较佳实施例的B—B线段的剖视图。图中显示一种测试头升降设备，其主要用以举升或降低测试头(图中未示)，以供测试、或检修维护时使用。当然，本实用新型并不仅以测试头的升降设备为限，本实用新型亦可运用于其它升降设备或机具上。[0037] 如图中所示有一壳体5、及一升降台7，其中壳体5外立设有导轨54，升降台7则组设有导槽7l，导槽7l滑设于导轨54。然而，升降台7上另外组设测试头夹持机构(图中未示)，其用以夹持测试头。其中，升降台7通过导轨54、及导槽7l的设计，于其上生或下降的过程中，可辅助导引避免升降台7晃动或侧向移动。[0038] 另外，壳体5内部设有一驱动螺杆3，其包括有一第一端3l、及一第二端32。其中，驱动螺杆3的第一端3l动力连接一动力源2，其动力源2是驱动驱动螺杆3旋转。然而，在本实施例中，动力源2与驱动螺杆3间组设有一联轴座2l，动力源2是透过联轴座2l动力连接驱动螺杆3的第一端3l。据此，联轴座2l主要用以连接动力源2及驱动螺杆3，其可为一般的连轴装置，当然亦可包括减速元件，如减速齿轮等。另外，壳体5外相对应于联轴座2l位置组设有一手摇柄57，其是连接至联轴座2l。据此，手摇柄57主要当缺乏动力、或高度需微调时，可用以取代动力源2，直接以人工手动方式进行升降。[0039] 再者，驱动螺杆3的第二端32枢设于一轴承底座53，且轴承底座53组设于壳体5底端。据此，本实施例通过轴承底座53支撑固定驱动螺杆3，可避免驱动螺杆3于运转过程中晃动影响运转的稳定性。另外，图中另显示有一升降座4，其螺设于驱动螺杆3并通过驱动螺杆3的旋转，进而带动升降座4上升或下降。而且，升降座4二侧分别枢设有一活动轮4l，42，且活动轮4l，42分别包括有一中心滑轴411，42l。[0040] 然而，壳体5内的相对应二侧分别组设有滑槽5l，52，上述活动轮4l，42的中心滑轴411，42l滑设于滑槽5l，并通过滑槽5l滑设、导引、及卡止，使升降台7不会随着驱动螺杆3旋转而连动旋转，反而形成上生或下降的结果。此外，本实施例更包括有二辅助出力装 置8。其中，每一辅助出力装置8包括有一第一端81、及一第二端82。又，二辅助出力装置 8的第一端81分别组设固定于壳体5，而二辅助出力装置8的第二端82分别组设于升降座 4的相对应二侧。据此，本实用新型的辅助出力装置8除主要用以辅助动力源2，使其可驱 动更重的负载外，亦具有稳定负载的功效。然而，本实施例的辅助出力装置8为为氮气缸， 其当然亦可为油压缸、或其它等效装置。再且，如图所示，壳体5上端更包括有二固定轮55，56，其枢设于壳体5上端。在本 实施例中，二活动轮41，42、及二固定轮55，56皆为链轮，当然其亦可为其它等效的传动元 件或装置。另外，图中显示有二缓冲弹簧22，其一端组设于壳体5内，另一端则分别组设有 传动带6，60。在本实施例中，传动带6，60为链条，当然其亦可为其它等效的传动元件或装 置。然而，每一传动带6，60包括有一固定端61、及一活动端62。其中，固定端61组设于二 缓冲弹簧22上，活动端62组设于升降台7。而且，传动带6，60分别套设于二活动轮41，42、及二固定轮55，56。其中，固定轮 55，56主要用以改变传动带6，60的施力方向，进而改变升降台7的移动方向。此外，本实施 例的二缓冲弹簧22则主要用以缓冲负载，避免负载直接对传动机构的冲击。然而，本实用 新型亦可于缓冲弹簧22上另增设指示元件、及负载传感器(图中未示)。其中，指示元件主 要用以指示目前荷重，而负载传感器主要则用以感测是否超重。再且，在本实施例中，升降座4的活动轮41带动传动带6以连动升降台7上升或 下降。详而言之，当动力源2或手摇柄57透过联轴座21带动驱动螺杆3旋转，而促使驱动 螺杆3的升降座4上升或下降。然而，升降座4的上升或下降则另外带动传动带6，60，进而 促使壳体5外部的升降台7进行升降动作。上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本实用新型所主张的权利范围自应以 权利要求范围所述为准，而非仅限于上述实施例。
权利要求一种测试头升降设备，其特征在于，包括一驱动螺杆，包括有一第一端、及一第二端；一动力源，动力连接驱动螺杆的该第一端，该动力源驱动该驱动螺杆旋转；一升降座，螺设于该驱动螺杆并通过该驱动螺杆旋转带动上升或下降，该升降座一侧枢设有一活动轮，该活动轮包括有一中心滑轴；一壳体，该驱动螺杆的该第二端枢设于该壳体，该壳体的一侧组设有一滑槽，该活动轮的该中心滑轴滑设于该滑槽；一升降台；以及一传动带，包括有一固定端、及一活动端，该固定端组设于该壳体上，该活动端组设于该升降台，该传动带套设于该活动轮，该升降座的该活动轮带动该传动带以连动该升降台上升或下降。
2.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有一另一活动轮、一另 一滑槽、及一另一传动带，该另一活动轮枢设相对应于该活动轮的一侧，该另一活动轮包括 有一另一中心滑轴；该另一滑槽组设于该壳体内相对应于该滑槽的一侧，该另一活动轮的 该另一中心滑轴滑设于该另一滑槽；该另一传动带套设于该另一活动轮，该另一传动带的 二端分别组设于该壳体与该升降台。
3.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有一轴承底座，组设于 该壳体，该驱动螺杆的该第二端枢设于该轴承底座。
4.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有一导轨、及一导槽， 该导轨立设于该壳体外，该导槽组设于该升降台，该导槽滑设于该导轨。
5.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有二辅助出力装置，每 一辅助出力装置包括有一第一端、及一第二端，该二辅助出力装置的该第一端分别组设于 该壳体，该二辅助出力装置的第二端分别组设于该升降座的相对应二侧。
6.根据权利要求5所述的测试头升降设备，其特征在于，该二辅助出力装置为二氮气缸。
7.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有一固定轮，组设于该 壳体上端，该传动带套设于该活动轮、及该固定轮。
8.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，该活动轮为一链轮，该传动带 为一链条。
9.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有一联轴座，组设于该 动力源与该驱动螺杆间，该动力源是透过该联轴座动力连接驱动螺杆的该第一端。
10.根据权利要求1所述的测试头升降设备，其特征在于，更包括有二缓冲弹簧，其一 端组设于该壳体内，另一端组设于该传动带的该固定端。
专利摘要本实用新型公开了一种测试头升降设备，其主要包括一驱动螺杆、一动力源、一升降座、一壳体、一升降台、及一传动带。其中，动力源驱动该驱动螺杆旋转，螺设于驱动螺杆的升降座通过驱动螺杆旋转带动上升或下降。且升降座一侧枢设有一活动轮，而活动轮包括有一中心滑轴，其滑设于壳体内的滑槽。另外，传动带的固定端组设于壳体上，传动带的活动端组设于升降台，而传动带又套设于活动轮。据此，通过升降座的活动轮带动传动带以连动升降台上升或下降。因此，本实用新型能大幅减少组立件，组装容易，维修快速，且运转稳定使用寿命大幅增长。
文档编号G01R1/067GK201765258SQ201020270680
公开日2011年3月16日 申请日期2010年7月21日 优先权日2010年7月21日
发明者吴国荣 申请人:京元电子股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
