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专利名称：基于一维光子晶体的光纤温度探头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种基于一维光子晶体的光纤温度探头，属于温度测试技术领域。
背景技术：
70年代以来，光纤技术不但在通信上得到广泛的应用，在传感技术上也受到广泛的重视，光纤测温是一种利用光在光纤中传播的某种特性，实现实时测量空间温度场分布的技术。光纤本身就是温度传感器。光纤温度探头是高温区与光纤的过渡接头。作为传感器的光纤温度探头具有可以屏蔽外界杂散光、减少电磁干扰、适于高温高压等非接触测量等优点，在电力电缆、隧道、消防报警系统检测中都有广泛的应用前景。现有技术中传输型光纤温度传感器的光纤只能起到光信号传输的作用，系统比较复杂且对机械振动等干扰比较敏感以及传感元件易受环境污染，存在光纤与传感元件之间的光耦合等问题。

实用新型内容本实用新型公开了一种基于一维光子晶体的光纤温度探头，利用光学薄膜介质的折射率随着温度变化而变化，进而影响到特定波长光波的反射率或透射率变化，通过反射光与输入光的光强比率变化实现测温目的。是对现有的一维光子晶体光纤温度探头的技术改进。本实用新型可以有效克服抗干扰能力差、传感元件易受环境污染以及光纤与传感元件之间的光耦合等问题。一种基于一维光子晶体的光纤温度探头，其特征在于在光纤温度探头的一维光子晶体的出射端面及外层再镀一层低折射率材料二氧化硅薄膜。本实用新型在基于一维光子晶体出射端面及外层紧密的贴合了二氧化硅薄膜，其优点和积极效果是1)对具有缺陷层的一维光子晶体起保护作用，将其与被测环境隔离开来，防止其遭受污染或氧化，保证折射率变换的准确性，提高了测量的稳定性；幻与具有缺陷层的一维光子晶体的光变化曲线叠加后可以增大变化率，使得变化曲线斜率更大，更趋于线性化，从而提高测温精度；；3)有效提高了基于一维光子晶体光纤温度探头测量的稳定性和抗干扰性。

图1为本实用新型的结构示意图。1、入射光线，2、光纤温度探头，3、出射端面，4、一维光子晶体，5、二氧化硅薄膜，6、 反射光线。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型加以详细说明。[0010]基于一维光子晶体的光纤温度探头，如图1所示，在光纤温度探头2的一维光子晶体4的出射端面3及外层再镀一层低折射率材料二氧化硅薄膜5。当从光纤输入1. 55um波长的一定光功率的激光时，入射光线1沿着光路进行，在遇到出射端面3时，沿着反射光线6反射，该光纤温度探头2的反射光功率和温度呈良好的线性关系，而且灵敏度高，特性稳定。可以有效克服抗干扰能力差、传感元件易受环境污染以及光纤与传感元件之间的光耦合等问题。
权利要求1.基于一维光子晶体的光纤温度探头，其特征在于在光纤温度探头的一维光子晶体的出射端面及外层再镀一层低折射率材料二氧化硅薄膜。
专利摘要本实用新型涉及一种基于一维光子晶体的光纤温度探头，其特点是在光纤温度探头的一维光子晶体的出射端面及外层再镀一层低折射率材料二氧化硅薄膜。本实用新型的优点和积极效果是1)对具有缺陷层的一维光子晶体起保护作用，将其与被测环境隔离开来，防止其遭受污染或氧化，保证折射率变换的准确性，提高了测量的稳定性；2)与具有缺陷层的一维光子晶体的光变化曲线叠加后可以增大变化率，使得变化曲线斜率更大，更趋于线性化，从而提高测温精度；3)有效提高了基于一维光子晶体光纤温度探头测量的稳定性和抗干扰性。
文档编号G01K11/32GK202057433SQ20112011896
公开日2011年11月30日 申请日期2011年4月21日 优先权日2011年4月21日
发明者张礼朝, 胡佳惠, 赵曼彤 申请人:上海理工大学