专利名称：一种塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及薄膜特征的测量装置，尤其涉及塑料薄膜可见光波段范围内双折射率的测量装置。
背景技术：
双折射率是表征塑料薄膜光学性能以及取向结构的重要参数。目前，薄膜双折射率的测定往往需要借助于偏光显微镜，采用干涉条纹计测的方式进行。当样品较厚或双折射率较大使光学延迟(双折射率与样品厚度的乘积)较大时，制样困难且干涉条纹数目多， 计测非常吃力，而且容易出错；而当光学延迟较小时，常因观测不到干涉条纹而无法定量测量。另外，这些测量往往使用单色光源，因此只能得到特定波长下的双折射率；而在制备高品质的光学薄膜时，常需要了解薄膜在全可见光波段范围内的光学性能。
实用新型内容发明目的为了克服现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种测量装置，能够相对简便地测量塑料薄膜全可见光波段范围内的双折射率，尤其对小双折射率的测试。技术方案为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为一种塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，包括透射光测量组件、分光计组件和数据处理组件；所述透射光测量组件包括依次放置的光源、第一偏振片、放置被测薄膜的支架和第二偏振片；所述分光计组件包括分光棱镜、检测从分光棱镜透射出的光的光探测器和A/D转换器，所述光探测器的输出端与A/D转换器的输入端相连接；从第二偏振片透射出的光通过光导元件与分光棱镜相连接，A/D转换器的输出端通过数据线与数据处理组件相连接。工作时，将已知膜厚的样品放置在支架上，置于第一偏振片和第二偏振片之间，光源依次经过第一偏振片、样品和第二偏振片透射出后，通过光导元件传输到分光棱镜上，分光棱镜将透射光按波长值分开，光探测器将各波长值的透射光转换为电信号，A/D转换器将电信号转化为数字量后通过数据线传输给数据处理组件，数据处理组件经相关计算后即可得到所需测量的双折射率测量结果。所述光源为白光光源，白光光源为多种光波段范围光的结合，在对薄膜进行双折射率测量时，能够提供可见光波段范围内的所有双折射率测量。所述光导元件可以为光纤或其他光导元件。所述光探测器可以为CXD阵列、CMOS组件或其他光探测器。所述数据处理组件可以为计算机，通过计算机显示透射光强度信息，并对其进行处理得到所需测量的双折射率测量结果。有益效果本实用新型提供的塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，能够同时测得在全可见光波段范围内塑料薄膜的双折射率，还能实现许多方法不能完成的小双折射率的测试。测试效率较高，便于操作控制，具有较高的实用价值。
图1为本实用新型的结构示意图；图2为实施例一的透射光谱图；图3为实施例二的透射光谱图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作更进一步的说明。如附图所示为一种塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置的机构示意图， 包括透射光测量组件、分光计组件和数据处理组件。所述透射光测量组件包括依次放置的光源1、第一偏振片2、放置被测薄膜的支架和第二偏振片3。所述分光计组件包括分光棱镜4、检测从分光棱镜4透射出的光的光探测器5和 A/D转换器6，所述光探测器5的输出端与A/D转换器6的输入端相连接。从第二偏振片3透射出的光通过光纤与分光棱镜4相连接，A/D转换器5的输出端通过数据线与数据处理组件相连接。所述光源1为白光光源，所述光探测器5为CCD阵列或CMOS组件，所述数据处理组件为计算机7。工作时，将已知膜厚的样品8放置在支架上，置于第一偏振片2和第二偏振片3之间，光源1依次经过第一偏振片2、样品8和第二偏振片3透射出后，通过光纤传输到分光棱镜4上，分光棱镜4将透射光按波长值分开，光探测器5将各波长值的透射光转换为电信号，A/D转换器6将电信号转化为数字量后通过数据线传输给计算机7，计算机7经相关计算后即可得到所需测量的双折射率测量结果。下面结合图1对计算机7的计算过程给予一种计算方法的说明首先对下述计算方法中使用的字母所表示的意义给予解释
权利要求1.一种塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，其特征在于所述测量装置包括透射光测量组件、分光计组件和数据处理组件；所述透射光测量组件包括依次放置的光源(1)、第一偏振片O)、放置被测薄膜的支架和第二偏振片(3)；所述分光计组件包括分光棱镜G)、检测从分光棱镜(4)透射出的光的光探测器( 和A/D转换器(6)，所述光探测器(5)的输出端与A/D转换器(6)的输入端相连接；从第二偏振片( 透射出的光通过光导元件与分光棱镜(4)相连接，A/D转换器(6)的输出端通过数据线与数据处理组件相连接。
2.根据权利要求1所述的塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，其特征在于所述光源(1)为白光光源。
3.根据权利要求1所述的塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，其特征在于所述光导元件为光纤。
4.根据权利要求1所述的塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，其特征在于所述光探测器(5)为CXD阵列或CMOS组件。
5.根据权利要求1所述的塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，其特征在于所述数据处理组件为计算机(7)。
专利摘要本实用新型公开了一种塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，包括透射光测量组件、分光计组件和数据处理组件；透射光测量组件通过光导元件与分光计组件相连接，分光计组件通过数据线与数据处理组件相连接；通过数据处理组件计算处理经由透射光测量组件和分光计组件得到的薄膜样品的白偏振光干涉光谱，能够快速得到样品全可见光波段的双折射率测量结果。本实用新型提供的塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置，能够同时测得在全可见光波段范围内塑料薄膜的双折射率，还能实现许多方法不能完成的小双折射率的测试。测试效率较高，便于操作控制，具有较高的实用价值。
文档编号G01M11/02GK202083622SQ201120053130
公开日2011年12月21日 申请日期2011年3月2日 优先权日2011年3月2日
发明者宋歌, 戴钧明, 李光, 杨胜林, 江建民, 王树霞, 陈旭 申请人:中国石化仪征化纤股份有限公司, 中国石油化工股份有限公司
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