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专利名称：X-ray自动连续式检测设备的制作方法
技术领域：
本发明是有关于一种x-ray自动连续式检测设备，特别是指一种以自动化的方式检测芯片元件的缺陷，并可同时检测多个芯片元件，而大幅降低检测的工时，且载承该芯片元件的载带亦可回收再利用，则可达到环保的目的的X-ray自动连续式检测设备。
背景技术：
按，现有X-ray检测芯片元件前，会先将制作完成的芯片元件载入检测载带上，并于载带上贴覆一膜将其封装，再开始进行X-ray检测，然现有的X_ray的光束检测范围有限，使得每一次仅可供一芯片元件检测，且该芯片元件检查方式是利用人工操作的方式将芯片元件载入X-ray检测设备中，再以人工方式检视光检测仪器上的芯片元件，是否有缺陷并纪录缺陷的芯片元件，当检查完成后再以人工的方式将载带上的膜撕开将芯片元件取下，而使该载带无法再次利用。且现有的检测方式，因一次仅能检测一芯片元件，而相当耗时；尔后，有些业者则采抽样的方式检查芯片元件，其虽节省工时但相对的风险亦增高许多，且X-ray检测设备具有辐射，无论是抽样检查或是更换检测的载带，替换人员则需频繁的进入X-ray检测设备房，长久下来，对人体亦是一种无形的迫害。有鉴于此，如何将上述缺失加以摒除，即为本案创作人所欲解决的技术困难点的所在；是而，本案创作人基于多年从事相关产品设计的经验，有感于上述传统用品的不便， 经多年苦心孤诣潜心研究，试作改良，终于可以摒除现有装填测试片的诸多缺点，成功研发完成本案，并使本创作得以诞生，以增进功效。

发明内容
为了解决上述问题，本发明目的在于提供一种一次检测多个载带上的芯片元件， 而可提高检测的效率的X-ray自动连续式检测设备。本发明是提供一种X-ray自动连续式检测设备，至少包括— X-ray检测装置，其具有一辐射光源及一信号处理器，其信号处理器是用以接收辐射光源所产生的能量输出信号，且该X-ray检测装置两侧是分别开设有一设计规划大小的入孔及出孔；载带，其两端分别穿设于X-ray检测装置的入孔及出孔，并置于辐射光源与信号处理器间，以供X-ray检测装置进行检测，而该载带具有数个等间距排列的容置槽，用以收容芯片元件；以及，一分析系统，电连接该信号处理器，用以分析该芯片元件的品质；借此，于X-ray检测装置一可容许的检测区域内，一次检测多个载带上的芯片元件，而可提高检测的效率。


图1是本发明的流程图。图2是本发明的平面示意图。图3是本发明的局部载带立体示意图。图4是本发明的实施例图。图5是本发明的步骤图。主要元件符号说明10输送装置 11控制模组 12传动机构121轴杆122定位件 20 X-ray检测装置21辐射光源22信号处理器23入孔 24出孔30载带31容置槽311孔洞 32孔40分析系统50芯片载入装置60自动分类装置70芯片元件h宽度χ检测范围100于输送装置上配置载带200于载带的容置槽中置入芯片元件300设定容置槽的编号400进行芯片元件检测500进行芯片元件分类600回收载带再利用
具体实施例方式为使本发明的内容，及所能达成的功效得到充分的了解，兹配合附图列举一具体实施例，详细介绍说明如下请参阅图1至图4所示，本发明一种X-ray自动连续式检测设备，其包括一输送装置10、一 X-ray检测装置20、载带30及一分析系统40 ；其中，该输送装置10，其具有一控制模组11及一传动机构12，其控制模组11电连接该传动机构12以控制其工作，而该传动机构12则设有一轴杆121及至少一定位件122。该X-ray检测装置20，其一端连设该输送装置10，具有一辐射光源21及一信号处理器22，，其信号处理器22用以接收辐射光源21所产生的能量输出信号，且于X-ray检测装置20两侧分别开设有一设计规划大小的入孔23及出孔24，以供载带30穿入及输出。载带30，其一端绕设于输送装置10的轴杆121上，另一端则穿设X_ray检测装置 20的入孔23至出孔24，并穿于辐射光源21与信号处理器22间，以供X-ray检测装置20进行检测，而该载带30具有至少一等间距排列的容置槽31，而本发明的图示则以三排等间距的容置槽31为主，但并不以此为限，以借助该容置槽31收容芯片元件70，且该容置槽31的排数可依客制需求增加或减少，但其总排数的宽度h需小于X-ray检测装置的可容许检测范围χ的直径；而容置槽31中开设有一孔洞311，以便于吸取该芯片元件70，且载带30 — 端排设有数个孔32，以供输送装置10的定位件122插入该孔32内，而将载带30移动(卷动)°该分析系统40，电连接该信号处理器22，用以分析芯片元件70品质。实施时，本发明的X-ray自动连续式检测设备，于输送装置10及X-ray检测装置 20间进一步设有一芯片载入装置50，使载带30输送至X-ray检测装置20前，于容置槽31 中设置该芯片元件70，以供检测；且于分析系统40后端亦可进一步设有一自动分类装置 60，用以将检测、分析过后的芯片元件70进行分类。
请再次参阅图2及图5所示，为本发明的X-ray自动连续式检测设备的流程图，包含以下步骤于输送装置上配置载带100 于输送装置10的轴杆121上装设一卷饶式载带30。于载带的容置槽中置入芯片元件200 驱动输送装置10，使载带30沿芯片载入装置50工作，以便将芯片元件70载入于载带30的容置槽31中。设定容置槽的编号300 如X-ray检测装置20的可容许检测(光束)区域为X，而载带于该检测区域X内的容置槽31 (在此以3x3排容置槽为例，如图4所示)，会于检测前， 在分析系统中先将各位置的容置槽31编设一编号1、2、3. . . 9，以便检测比对。进行芯片元件检测400 将置入芯片元件70的载带30依预设路线穿设X_ray检测装置20的入孔23，至辐射光源21与信号处理器22间，借助辐射光源21以数个散射角度的X-射线产生的能量输出信号传送至信号处理器22。进行芯片元件分类500 将信号处理器22的检测值传送至分析系统40，并借助分析系统40就各位置的芯片元件70做检测分析，并将其检测结果指令传送至自动分类装置 60，使载带30沿X-ray检测装置20的出孔24穿出后，则可进行分类作业；而其分类的方式如检测结果为X(不良品)的编号有1、3、9，则其容置槽内的芯片元件为缺陷品；检测结果为0(不良品)的编号有2、4、5、6、7、8，则其容置槽内的芯片元件为优良品，而自动分类装置则会依编号的0、X结果将其内的芯片元件分送至销毁区、封装区或重制区等。回收载带再利用600 当载带30内的芯片元件70检测完毕并进行分类后，该载带 30是可重复再利用的卷绕于输送装置10的轴杆121上。承上所述，本发明的X-ray自动连续式检测设备，是具有下述的优点1.该载带10是可依客制需求设置至少一等间距排列的容置槽31，而可量产化，增加竞争力。2.载带10于可容许检测范围χ内设有数个容置槽31，并借助该分析系统40而可一次检测数个芯片元件70，则可降低检测工时并提升效率。3.于X-ray检测装置20两侧分别开设有一设计规划大小的入孔23及出孔24，供载带30穿入及输出，使载带10可直接由X-ray检测装置20外输送至其内再输出，而可减少工作人员接触辐射，降低辐射感染率。4.该载带30借助输送装置10输送至芯片载入装置50及X-ray检测装置20中， 并借助分析系统40及自动分类装置60，将其自动分类，而这一连贯性的作业程序可使本发明达到一连续式自动检测，则可大幅降低人力成本，并可不停机的大量检测，进而增加生产率。5.且本发明的载带30是可重复再利用，而达到一节能减碳的环保目的。综上所述，本发明在突破先前的技术结构下，确实已达到所欲增进的功效，且也非熟悉该项技艺者所易于思及，再者，本发明申请前未曾公开，其所具的进步性、实用性，显已符合发明专利的申请要件，爰依法提出发明申请。
权利要求
1.一种X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，其至少包括一个X-ray检测装置，具有一个辐射光源及一个信号处理器，该信号处理器用以接收辐射光源所产生的能量输出信号，且该X-ray检测装置两侧分别开设有一个入孔及出孔；载带，两端分别穿设于该X-ray检测装置的入孔及出孔，并置于辐射光源与信号处理器之间以供X-ray检测装置进行检测，而该载带具有数个等间距排列以收容芯片元件的容置槽；以及，分析系统，电连接该信号处理器以分析芯片元件的品质。
2.根据权利要求1所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，该载带的容置槽开设有吸取该芯片元件的孔洞，且载带一端排设有数个孔。
3.根据权利要求2所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，该X_ray检测装置前端进一步设有一个用以输送该载带得输送装置，该输送装置具有一控制模组及一传动机构，而该控制模组电连接该传动机构以控制其工作。
4.根据权利要求3所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，该分析系统后端进一步设有一个自动分类装置，将分析过后的芯片元件进行分类。
5.一种X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，其步骤包括于输送装置上配置载带；于载带的容置槽中置入芯片元件；将X-ray检测装置的可检测区域内的容置槽，于分析系统中就各位置的容置槽设定一编号，以便检测比对；将置入芯片元件的载带依预设路线穿设至X-ray检测装置的辐射光源与信号处理器间，借助辐射光源以数个散射角度的χ-射线产生的能量输出信号传送至信号处理器；信号处理器的检测值传送至分析系统，以借助该分析系统就各位置的芯片元件做检测分析，并将其检测结果指令传送至自动分类装置，进行分类作业。
6.根据权利要求5所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，于芯片元件检测完毕并进行分类后，该载带重新装设于该输送装置上。
全文摘要
本发明是提供一种X-ray自动连续式检测设备，至少包括一X-ray检测装置，其具有一辐射光源及一信号处理器，其信号处理器是用以接收辐射光源所产生的能量输出信号；载带，其穿设于辐射光源与信号处理器间，以供X-ray检测装置进行检测，而该载带具有至少一等间距排列的容置槽，以收容芯片元件；以及，一分析系统，电连接该信号处理器，用以分析芯片元件的品质；借此，于X-ray检测装置一可容许的检测区域内，一次检测多个载带上的芯片元件，而可提高检测的效率。
文档编号G01N23/18GK102466648SQ20101054555
公开日2012年5月23日 申请日期2010年11月16日 优先权日2010年11月16日
发明者邱鸿智 申请人:邱鸿智