专利名称：激光器和发光二极管辐射测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种激光器和发光二极管辐射测试系统。
背景技术：
传统的测试激光器和发光二极管辐射的方法，有一种方式是用手分别拿着被测光源和探头，这种方式存在一定的缺陷，在测试过程中手可能颤动，如果测试量大，且时间过长，人手就容易疲劳，不得不换人测试，其测试效果低；另外，手拿被测光源和探头，很难保证两者中心在同一直线上，如果两者中心不在同一直线上，测试就不能进行，这种测试方式受人为因素影响太多，测试结果不准确，费时费力。为了解决上述问题，中国专利文献 CN2138303公开了一种发光二极管测试仪装置，包括探头、支架、测量台及测量基座，探头和测量台有电缆可连接发光二极管测试仪电气箱，分别输出光电信号和获得驱动发光二极管的电流。只要使光电探头在弹簧作用下升起，即可在测量台的插座内插进待测管，压下光电探头后，即可获得发光二极管辐射的，由光电探测器转换的光电信号。这种测试装置是被测光源固定不动，探头上下移动，存在移动幅度小的问题；在实际测试中，各种被测光源特性不同，部分被测光源需要探头和被测光源之间距离很大，而以这种仪器把支架高度做的非常高是不现实的。
实用新型内容本实用新型的目的是针对上述问题，向社会提供一种激光器和发光二极管辐射测试系统，该系统不仅能提供探头和被测光源的平动，又能提供空间旋转，便于各种测试需要，本系统测试数据准确，稳定性好，操作方便快速。本实用新型的技术方案是设计一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、支架和基座，所述支架包括探头支架，所述探头设置在探头支架的顶端，透镜支架，透镜设置在透镜支架的顶端，被测光源支架，在被测光源支架上设有用于放置被测光源的被测光源夹；所述基座是水平基座，所述探头支架、透镜支架和被测光源支架设置在水平基座上，在所述透镜和所述被测光源之间设有第一栅阑，所述探头、透镜、第一栅阑和被测光源的中心线在同一直线上。作为对本实用新型的改进，所述水平基座包括主导轨和支导轨，所述被测光源支架通过第一主滑块设置在所述主导轨上，所述支导轨通过第二主滑块设置在所述主导轨上，所述探头支架通过第一副滑块设置在所述支导轨上，所述透镜支架通过第二副滑块设置在所述支导轨上。作为对本实用新型的进一步改进，所述探头支架包括使探头支架在X方向移动的 X方向移动机构，所述X方向移动机构包括上、下两块，所述下块与第一副滑块固定连接，在所述下块上设有丝杆座和丝杆，所述丝杆与丝杆座螺纹连接，在丝杆的外端设有旋钮，在所述上块上设有推块，所述丝杆和推块活动连接，转动所述旋钮，推块在丝杆作用下，带动上块在X方向往复移动，从而使所述探头支架也在X方向往复移动。[0007]作为对本实用新型的进一步改进，所述探头支架包括使探头支架在Y方向移动的 Y方向移动机构，所述Y方向移动机构包括上、下两块，下块与χ方向移动机构的上块相连， 在所述下块上设有丝杆座和丝杆，所述丝杆与丝杆座螺纹连接，在丝杆的外端设有旋钮，在所述上块上设有推块，所述丝杆和推块活动连接，转动所述旋钮，推块在丝杆作用下，带动上块在Y方向往复移动，从而使所述探头支架也在Y方向往复移动。在本实用新型中，所述探头支架包括使探头支架在平面旋转的平面旋转机构，所述平面旋转机构包括使探头支架在平面旋转的旋钮、导杆，拧动旋钮，带动导杆使探头支架在平面旋转。作为对本实用新型的进一步改进，探头支架1包括使探头支架1在X方向旋转的X 方向旋转机构14，所述X方向旋转机构14包括X方向旋转机构旋钮、X方向旋转机构丝杆、 第一弧面块141、第二弧面块142，所述第一弧面块141的下底为弧面，所述第二弧面块142 的上底为与第一弧面块141的下底弧面的弧度相同的弧面，所述第一弧面块141叠加在所述第二弧面块142上，并使弧面的方向呈X方向，第一直齿轮和第一斜齿轮，所述X方向旋转机构旋钮设置在X方向旋转机构丝杆的外端，X方向旋转机构丝杆另一端与位于第一弧面块141下方的第一直齿轮连接，第一直齿轮与设置于第一弧面块141下底面上的第一斜齿轮啮合，拧动X方向旋转机构旋钮带动第一直齿轮转动和第一斜齿轮，第一斜齿轮带动第一斜块141在X方向往复旋转，从而第一斜块141带动探头支架1在X方向往复旋转。作为对本实用新型的进一步改进，探头支架1包括使探头支架1在Y方向旋转的 Y方向旋转机构15，所述Y方向旋转机构15包括Y方向旋转机构旋钮、Y方向旋转机构丝杆、第三弧面块151、第四弧面块152，所述第三弧面块151的下底为弧面，所述第四弧面块 152的上底为与第三弧面块151的下底弧面的弧度相同的弧面，所述第三弧面块151叠加在所述第四弧面块142上，并使弧面的方向呈Y方向，第二直齿轮和第二斜齿轮，所述Y方向旋转机构旋钮设置在Y方向旋转机构丝杆外端，Y方向旋转机构丝杆与位于第三弧面块 151下方的第二直齿轮连接，第二直齿轮与设置于第三弧面块151下底面上的第二斜齿轮啮合，拧动Y方向旋转机构旋钮带动第二直齿轮和第二斜齿轮转动，第二斜齿轮带动第二斜块151往复在Y方向旋转，从而第二斜斜块151带动探头支架1在Y方向往复旋转。作为对本实用新型的进一步改进，所述透镜支架包括透镜支架升降机构，所述透镜支架升降机构包括第一套筒和第一套杆，所述第一套筒连接在第二副滑块上，所述第一套杆安插在第一套筒内，在套筒上设有用于定位第一套杆的旋钮。作为对本实用新型的进一步改进，所述透镜支架包括透镜的微调机构，所述微调机构包括第一丝杆、连接座、微调机构旋钮、一对侧旋钮和一对竖杆，连接座设有两个通孔， 所述竖杆分别穿过两个通孔连接在透镜座上，所述旋钮设置在连接座相对两侧面上，微调机构旋钮设置在丝杆的顶端，丝杆的下端与透镜连接，拧动微调机构旋钮，第一丝杆上下移动，微调透镜位置。作为对本实用新型的进一步改进，所述被测光源支架包括调整被测光源高度的伸缩机构，所述伸缩机构的顶端与连接平板相连，伸缩机构底端与第一主滑块相连，伸缩机构包括第二丝杆、连接在第二丝杆外端的摇柄、四个连接块和四个伸缩单元，每个伸缩单元包括四个伸缩片，每两片伸缩片构成一个叉，其中一个叉的下端与另一个叉的上端连接，在中间部位构成一个平行四边形；每两个伸缩单元间隔一定距离通过两个连接块相连成左右两伸缩构件，两伸缩构件与第二丝杆相连分布在第一主滑块上，转动摇柄，第二丝杆带动伸缩机构升降。作为对本实用新型的进一步改进，所述被测光源支架包括调整被测光源角度的转盘、固定平板、第二套筒和第二套杆，转盘设在第二套杆上端，第二套杆安插在第二套筒内， 第二套筒设置在固定平板上，固定平板固定在连接平板上，所述被测光源夹设置在转盘上， 转动转盘，带动被测光源夹，调整被测光源的角度。本实用新型提供的一种激光器和发光二极管辐射测试系统，它可以方便的改变探头、透镜和被测光源三者之间的距离，且三者之间距离变化范围大；探头、透镜和被测光源分别固定在支架上，在测试过程中不会产生晃动，探头、透镜和被测光源三者的中心也能保证在同一直线上，对测试结果影响小，测试过程中可提供一个以上透镜，系统不仅能提供探头和被测光源的平动，又能提供空间旋转，便于各种测试需要，本系统测试数据准确，稳定性好，操作方便快速。
图1是本实用新型一种实施例的立体结构示意图；图2是图1中透镜微调机构的平面结构示意图。图3是图1中被测光源支架收缩状态的平面结构示意图。图4是图1中被测光源支架伸张状态的平面结构示意图。
具体实施方式
请参见图1，图1所揭示地是一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、 支架和基座，所述支架包括探头支架1，所述探头设置在探头支架1的顶端11，透镜支架2， 透镜21设置在透镜支架2的顶端22，被测光源支架3，在被测光源支架3上设有用于放置被测光源的被测光源夹31，本实施例中被测光源可以是激光器、发光二极管；所述基座是水平基座4，，所述探头支架1、透镜支架2和被测光源支架3设置在水平基座4上，本实施例中的基座结构还可采用在水平桌面上设置三个以上卡槽，三个支架设置在卡槽上；在所述透镜21和所述被测光源之间设有第一栅阑沈，栅阑放置在栅阑座内，根据被测产品的不同可以更换不同规格的栅阑；所述探头、透镜21、第一栅阑沈和被测光源的中心线在同一直线上。本实用新型中，所述水平基座4包括主导轨5和支导轨7，支导轨7上设有一刻度尺，可以读出探头和透镜之间的距离，所述被测光源支架3通过第一主滑块6设置在所述主导轨5上，所述支导轨7通过第二主滑块8设置在所述主导轨5上，所述探头支架1通过第一副滑块9设置在所述支导轨7上，所述透镜支架2通过第二副滑块10设置在所述支导轨 7上。本实用新型中，所述探头支架1包括使探头支架1在X方向移动的X方向移动机构12，所述X方向移动机构12包括上、下两块121，122，所述下块121与第一副滑块9固定连接，在所述下块121上设有丝杆座，丝杆与所述丝杆座螺纹连接，在丝杆的外端设有旋钮，在所述上块122上设有推块，所述丝杆和推块活动连接，转动所述旋钮，推块在丝杆作用下，带动上块122在X方向往复移动，从而使所述探头支架1也在X方向往复移动，达到在X方向微调探头的目的。本实用新型中，所述探头支架1包括使探头支架1在Y方向移动的Y方向移动机构13，所述Y方向移动机构13包括上、下两块131，132，下块131与X方向移动机构12的上块122相连，在所述下块131上设有丝杆座，丝杆与所述丝杆座螺纹连接，在丝杆的外端设有旋钮，在所述上块132上设有推块，所述丝杆和推块活动连接，转动所述旋钮，推块在丝杆作用下，带动上块在Y方向往复移动，从而使所述探头支架1也在Y方向往复移动，达到在Y方向微调探头的目的。本实用新型中，所述探头支架1包括使探头支架1在Z方向移动的升降驱动机构 16，所述Z方向移动升降驱动机构16包括齿条和齿轮，所述齿轮顺时针滚动，齿条相对向下移动，探头支架1在Z方向向下移动，所述齿轮逆时针滚动，齿条相对向上移动，探头支架1 在Z方向向上移动。本实施例中Z方向移动升降驱动机构16还可采用涡轮蜗杆方式，Z方向移动升降驱动机构16可采用涡轮蜗杆形式，所述涡轮顺时针转动，蜗杆相对向下移动， 探头支架1在Z方向向下移动，所述涡轮逆时针转动，蜗杆相对向上移动，探头支架1在Z 方向向上移动，达到在Z方向微调探头的目的。在本实用新型中，所述探头支架1包括使探头支架1在平面旋转的平面旋转机构 17，所述平面旋转机构17包括两块旋转块，其中下旋转块与Z方向移动升降驱动机构16的上底面连接，上旋转块与第四弧面块152下底面连接，所述上旋转块通过其下底面的套轴套在所述下旋转块的中孔内，旋转上旋转块可使探头支架1在水平面内旋转。本实用新型中，所述探头支架1包括使探头支架1在Y方向旋转的Y方向旋转机构15，所述Y方向旋转机构15包括Y方向旋转机构旋钮、Y方向旋转机构丝杆、第三弧面块 151、第四弧面块152，所述第三弧面块151的下底为弧面，所述第四弧面块152的上底为与第三弧面块151的下底弧面的弧度相同的弧面，所述第三弧面块151叠加在所述第四弧面块142上，并使弧面的方向呈Y方向，第二直齿轮和第二斜齿轮，所述Y方向旋转机构旋钮设置在Y方向旋转机构丝杆外端，Y方向旋转机构丝杆与位于第三弧面块151下方的第二直齿轮连接，第二直齿轮与设置于第三弧面块151下底面上的第二斜齿轮啮合，拧动Y方向旋转机构旋钮带动第二直齿轮和第二斜齿轮转动，第二斜齿轮带动第二斜块151往复在Y方向旋转，从而第二斜斜块151带动探头支架1在Y方向往复旋转。本实用新型中，所述探头支架1包括使探头支架1在X方向旋转的X方向旋转机构14，所述X方向旋转机构14包括X方向旋转机构旋钮、X方向旋转机构丝杆、第一弧面块 141、第二弧面块142，所述第一弧面块141的下底为弧面，所述第二弧面块142的上底为与第一弧面块141的下底弧面的弧度相同的弧面，所述第一弧面块141叠加在所述第二弧面块142上，并使弧面的方向呈X方向，第一直齿轮和第一斜齿轮，所述X方向旋转机构旋钮设置在X方向旋转机构丝杆的外端，X方向旋转机构丝杆另一端与位于第一弧面块141下方的第一直齿轮连接，第一直齿轮与设置于第一弧面块141下底面上的第一斜齿轮啮合，拧动X方向旋转机构旋钮带动第一直齿轮转动和第一斜齿轮，第一斜齿轮带动第一斜块141 在X方向往复旋转，从而第一斜块141带动探头支架1在X方向往复旋转。在本实用新型中，所述透镜支架2包括透镜支架升降机构23，所述透镜支架升降机构23包括第一套筒231和第一套杆232，所述第一套筒231连接在第二副滑块10上，所述第一套杆232安插在第一套筒231内，在套筒231上设有用于定位第一套杆232的旋钮，当第一套杆232调整到一个高度时，拧紧旋钮234，使第一套杆232固定在这一高度不动； 本实施例中定位第一套杆232的方式还可采用在第一套杆232和第一套筒231上间隔一定距离设置通孔，当第一套杆232调整到一个高度时，用插销穿过第一套杆232和第一套筒 231上的通孔，使第一套杆232固定在这一高度不动。请参见图2，图2所揭示地是一种微调机构，所述透镜支架2包括透镜21的微调机构对，所述微调机构M包括第一丝杆对3、连接座M4、微调机构旋钮M5、一对侧旋钮M1， Ml，和一对竖杆M2J42，，连接座244设有两个通孔，所述竖杆M2J42，分别穿过两个通孔连接在透镜座25上，所述旋钮Ml，Ml，设置在连接座244相对两侧面上，微调机构旋钮 245设置在丝杆243的顶端，丝杆243的下端与透镜连接，拧动微调机构旋钮M5，第一丝杆 243上下移动，微调透镜21位置。请参见图3至图4，所述被测光源支架3包括调整被测光源高度的伸缩机构32，所述伸缩机构32的顶端与连接平板34相连，伸缩机构32底端与第一主滑块6相连，伸缩机构32包括第二丝杆321、连接在第二丝杆321外端的摇柄322、四个连接块323和四个伸缩单元324，每个伸缩单元3 包括四个伸缩片，伸缩片3M11和伸缩片3M12通过销钉在中间部位连接成叉3241，伸缩片3M21和伸缩片3M22通过销钉在中间部位连接成叉3M2， 叉3242的下端与叉3241的上端连接，在中间部位构成一个平行四边形；每两个伸缩单元间隔一定距离通过两个连接块相连成左右两伸缩构件，两伸缩构件与第二丝杆321相连分布在第一主滑块6上，转动摇柄322，第二丝杆321带动伸缩机构3升降。本实施例中调整被测光源高度的伸缩机构32还可采用套筒、套杆的结构来代替，套杆连接在第一主滑块6上， 套杆安插在套筒内，当套杆调整到一定高度，用定位旋钮定位。
权利要求1.一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、支架和基座，其特征在于所述支架包括探头支架(1)，所述探头设置在探头支架(1)的顶端(11)，透镜支架O)，透镜 (21)设置在透镜支架( 的顶端(22)，被测光源支架(3)，在被测光源支架C3)上设有用于放置被测光源的被测光源夹(31)；所述基座是水平基座G)，所述探头支架(1)、透镜支架 (2)和被测光源支架( 设置在水平基座(4)上，在所述透镜和所述被测光源之间设有第一栅阑(26)，所述探头、透镜(21)、第一栅阑06)和被测光源的中心线在同一直线上。
2.根据权利要求1所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述水平基座(4)包括主导轨( 和支导轨(7)，所述被测光源支架( 通过第一主滑块(6)设置在所述主导轨( 上，所述支导轨(7)通过第二主滑块(8)设置在所述主导轨( 上，所述探头支架(1)通过第一副滑块(9)设置在所述支导轨(7)上，所述透镜支架( 通过第二副滑块(10)设置在所述支导轨(7)上。
3.根据权利要求1或2所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述探头支架(1)包括使探头支架(1)在X方向移动的X方向移动机构(12)，所述X方向移动机构(1 包括上、下两块(121，122)，所述下块(121)与第一副滑块(9)固定连接，在所述下块(121)上设有丝杆座和丝杆，所述丝杆与丝杆座螺纹连接，在丝杆的外端设有旋钮， 在所述上块(12 上设有推块，所述丝杆和推块活动连接，转动所述旋钮，推块在丝杆作用下，带动上块(12 在X方向往复移动，从而使所述探头支架(1)也在X方向往复移动。
4.根据权利要求3所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述探头支架(1)包括使探头支架(1)在Y方向移动的Y方向移动机构(13)，所述Y方向移动机构 (13)包括上、下两块(131，132)，下块(131)与X方向移动机构(12)的上块(122)相连，在所述下块(131)上设有丝杆座和丝杆，所述丝杆与丝杆座螺纹连接，在丝杆的外端设有旋钮，在所述上块(13 上设有推块，所述丝杆和推块活动连接，转动所述旋钮，推块在丝杆作用下，带动上块(13 在Y方向往复移动，从而使所述探头支架(1)也在Y方向往复移动。
5.根据权利要求4所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于探头支架 ⑴包括使探头支架⑴在X方向旋转的X方向旋转机构(14)，所述X方向旋转机构(14) 包括X方向旋转机构旋钮、X方向旋转机构丝杆、第一弧面块(141)、第二弧面块(142)，所述第一弧面块(141)的下底为弧面，所述第二弧面块(142)的上底为与第一弧面块(141)的下底弧面的弧度相同的弧面，所述第一弧面块(141)叠加在所述第二弧面块(14 上，并使弧面的方向呈X方向，第一直齿轮和第一斜齿轮，所述X方向旋转机构旋钮设置在X方向旋转机构丝杆的外端，χ方向旋转机构丝杆另一端与位于第一弧面块(141)下方的第一直齿轮连接，第一直齿轮与设置于第一弧面块(141)下底面上的第一斜齿轮啮合，拧动X方向旋转机构旋钮带动第一直齿轮转动和第一斜齿轮，第一斜齿轮带动第一斜块(141)在X方向往复旋转，从而第一斜块(141)带动探头支架(1)在X方向往复旋转。
6.根据权利要求5所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于探头支架 ⑴包括使探头支架⑴在Y方向旋转的Y方向旋转机构(15)，所述Y方向旋转机构(15) 包括Y方向旋转机构旋钮、Y方向旋转机构丝杆、第三弧面块(151)、第四弧面块(152)，所述第三弧面块(151)的下底为弧面，所述第四弧面块(152)的上底为与第三弧面块(151)的下底弧面的弧度相同的弧面，所述第三弧面块(151)叠加在所述第四弧面块(14 上，并使弧面的方向呈Y方向，第二直齿轮和第二斜齿轮，所述Y方向旋转机构旋钮设置在Y方向旋转机构丝杆外端，Y方向旋转机构丝杆与位于第三弧面块(151)下方的第二直齿轮连接，第二直齿轮与设置于第三弧面块(151)下底面上的第二斜齿轮啮合，拧动Y方向旋转机构旋钮带动第二直齿轮和第二斜齿轮转动，第二斜齿轮带动第二斜块(151)往复在Y方向旋转， 从而第二斜斜块(151)带动探头支架(1)在Y方向往复旋转。
7.根据权利要求6所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述透镜支架( 包括透镜支架升降机构(23)，所述透镜支架升降机构包括第一套筒(231)和第一套杆032)，所述第一套筒031连接在第二副滑块(10)上，所述第一套杆(23 安插在第一套筒031)内，在套筒031)上设有用于定位第一套杆032)的旋钮034)。
8.根据权利要求7所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述透镜支架( 包括透镜的微调机构(M)，所述微调机构04)包括第一丝杆043)、连接座 (244)、微调机构旋钮(245)、一对侧旋钮(241,241')和一对竖杆(242，242，)，连接座(244) 设有两个通孔，所述竖杆(M2J42’ )分别穿过两个通孔连接在透镜座0 上，所述旋钮 (241,241')设置在连接座(M4)相对两侧面上，微调机构旋钮( 设置在丝杆043)的顶端，丝杆043)的下端与透镜连接，拧动微调机构旋钮045)，第一丝杆( 上下移动，微调透镜位置。
9.根据权利要求8所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述被测光源支架(3)包括调整被测光源高度的伸缩机构(32)，所述伸缩机构(32)的顶端与连接平板(34)相连，伸缩机构(32)底端与第一主滑块(6)相连，伸缩机构(32)包括第二丝杆(321)、连接在第二丝杆(321)外端的摇柄(322)、四个连接块(32 和四个伸缩单元 (3M)，每个伸缩单元包括四个伸缩片，四片伸缩片分别构成两个叉(3对1，3242)，其中一个叉(3 的下端与另一个叉(3M1)的上端连接，在中间部位构成一个平行四边形；每两个伸缩单元间隔一定距离通过两个连接块相连成左右两伸缩构件，两伸缩构件与第二丝杆 (321)相连分布在第一主滑块(6)上，转动摇柄(322)，第二丝杆(321)带动伸缩机构(3) 升降。
10.据权利要求9所述的激光器和发光二极管辐射测试系统，其特征在于所述被测光源支架C3)包括调整被测光源角度的转盘(33)、固定平板(36)、第二套筒(37)和第二套杆 (35)，转盘(3 设在第二套杆(3 上端，第二套杆(3 安插在第二套筒(37)内，第二套筒(37)设置在固定平板(36)上，固定平板(36)固定在连接平板(34)上，所述被测光源夹 (31)设置在转盘(3 上，转动转盘(33)，带动被测光源夹(31)，调整被测光源的角度。
专利摘要一种激光器和发光二极管辐射测试系统，包括探头、支架和基座，支架包括探头支架(1)、透镜支架(2)和被测光源支架(3)；基座是水平基座(4)，探头支架(1)、透镜支架(2)和被测光源支架(3)设置在设有主导轨(5)支导轨(7)的水平基座(4)上。本测试系统可方便的改变探头、透镜和被测光源三者之间的距离，且三者之间距离变化范围大；探头、透镜和被测光源分别固定在支架上，在测试过程中不会产生晃动，探头、透镜和被测光源三者中心能保证在同一直线上，测试结果影响�。馐韵低晨商峁┮桓鲆陨贤妇担低巢唤瞿苁固酵泛捅徊夤庠此揭贫帜茉诳占渫醋低巢馐允葑既罚榷ㄐ院茫僮鞣奖憧焖�。
文档编号G01M11/04GK202033176SQ20112006025
公开日2011年11月9日 申请日期2011年3月9日 优先权日2011年3月9日
发明者张少杰, 张栋, 蔡屹, 谢晋雄 申请人:深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心
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