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专利名称：自动激光测尺仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及材料的检测设备，具体地说是一种自动激光测尺仪，可应用于金属材料试样在拉伸或冲击试验前对其截面尺寸的精确和快速地检测，也可用于需进行精确测量截面尺寸的其它非金属材料的检测。
背景技术：
为了得到金属材料的力学性能，需要对金属材料试样在拉伸或冲击试验前进行精确的最小截面检测。拉伸试验是检验金属力学性能的最基本、最重要的试验项目。金属材料的主要应力计算公式如下:
权利要求1.一种自动激光测尺仪，其特征在于:包括夹紧装置(I)、电动执行器(4)、滑台板(6)、水平激光测试元件(9)、垂直激光测试元件(10)、壳体(19)及控制系统，其中水平激光测试元件(9)和垂直激光测试元件(10)分别安装在壳体(19)上，水平激光测试元件(9)和垂直激光测试元件(10)发出的激光相互垂直且共面；所述滑台板(6)与安装在壳体(19)内的电动执行器(4)相连，由该电动执行器(4)驱动在壳体(19)上往复运动，所述滑台板(6)的运动轨迹在水平激光测试元件(9)和垂直激光测试元件(10)之间穿过；所述滑台板(6)上安装有将待检试样(8)固定在滑台板(6)上的夹紧装置(I )，该夹紧装置(I)及侍检试样(8)均随滑台板(6)运动；所述电动执行器(4)、水平激光测试元件(9)和垂直激光测试元件(10)分别与位于壳体(19)内的控制系统连接，由水平激光测试元件(9)和垂直激光测试元件(10)检测出的数据传给控制系统。
2.按权利要求1所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述滑台板(6)上安装有滑台板上滑轨(3)，滑台板(6)的前后两端分别设有前固定块(2)及后固定块(7)，其中前固定块(2)靠近滑台板上滑轨(3)的前端，所述后固定块(7)通过滑块在滑台板上滑轨(3)上往复运动，固定不同规格的待检试样(8 )。
3.按权利要求2所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述滑台板上滑轨(3)为两根，相互平行，两根滑台板上滑轨(3)之间的滑台板(6)上开有通孔；所述待检试样(8)位于通孔上方，待检试样(8)的前后两端分别固定在前固定块(2)及后固定块(7)上，其中待检试样(8 )的前端由所述夹紧装置(I)夹紧固定。
4.按权利要求1、2或3所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述夹紧装置(I)包括前固定块(2 )、上定位块(12)、弹簧轴(13 )、夹紧块(14 )及弹簧(15 )，其中上定位块(12 )安装在前固定块 (2)的一端，所述前固定块(2)上开有第一条形孔(18)，该第一条形孔(18)与前固定块(2)中空的内部相连通，所述弹簧轴(13)容置在前固定块(2)的内部，并与前固定块(2)螺纹连接，所述夹紧块(14)的下部由第一条形孔(18)穿入、并套设在弹簧轴(13)上；在夹紧块(14)的下部与弹簧轴(13) 一端端部之间设有套在弹簧轴(13)上的弹簧(15)，为夹紧块(14)提供夹紧待检试样(8)的夹紧力。
5.按权利要求4所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述弹簧轴(13)的轴向截面为“T”形，夹紧块(14)的下部开有供弹簧轴(13)穿过的圆孔。
6.按权利要求4所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述夹紧块(14)的上部露在前固定块(2)的外面，夹紧块(14)露出部分的下表面与所述前固定块(2)的上表面相接触。
7.按权利要求1所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述壳体(19)的上面板(16)上安装有至少一根滑台板下滑轨(11)，滑台板(6)通过滑块在滑台板下滑轨(11)上运动，实现待检试样(8 )的检测。
8.按权利要求1所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述水平激光测试元件(9)和垂直激光测试元件(10)分别通过固定板(20)安装在壳体(19)上，该固定板(20)垂直于所述壳体(19)的上面板(16)，在固定板(20)与上面板(16)相接触的底部中间开有供滑台板(6)及滑台板(6)上待检试样(8)通过并检测的孔。
9.按权利要求1所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述滑台板(6)通过滑台连接板(5)与电动执行器(4)相连接，壳体(19)的上面板(16)上设有第二条形孔(21)，滑台连接板(5)的上端由所述第二条形孔(21)穿出、连接至滑台板(6)的下表面。
10.按权利要求1所述的自动激光测尺仪，其特征在于:所述壳体(19)上安装有与控制系统相连的触摸 屏(17),壳体(19)的一端设有扫码器。
专利摘要本实用新型涉及材料的检测设备，具体地说是一种自动激光测尺仪，包括夹紧装置、电动执行器、滑台板、水平激光测试元件、垂直激光测试元件、壳体及控制系统，水平激光测试元件和垂直激光测试元件分别安装在壳体上，滑台板与安装在壳体内的电动执行器相连，由电动执行器驱动在壳体上往复运动；滑台板上安装有将待检试样固定在滑台板上的夹紧装置，夹紧装置及侍检试样均随滑台板运动；电动执行器、水平激光测试元件和垂直激光测试元件分别与位于壳体内的控制系统连接。本实用新型结构简单，可对同一试样进行固定间距的点进行测量，也可对样件进行多点连续测量，使测量结果更接近真实的最小值，消除了传统测量方式中人为因素的影响，提高检测精度。
文档编号G01B11/00GK203163685SQ20132008445
公开日2013年8月28日 申请日期2013年2月25日 优先权日2013年2月1日
发明者孙永革, 唐炫宇, 程宝军, 毛权 申请人:沈阳普瑞森科学仪器设备有限公司