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专利名称：一种e型磁芯气隙深度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电子产品生产技术领域，特别是涉及E型磁芯产品生产过 程中对研磨气隙深度测量的量具。
背景技术：
E型磁芯作为电子产品的零部件，为满足设计的要求，往往需要研磨气隙。 E型磁芯有三个脚，两边的脚一般高，中间的脚比两边的脚略低一些，当将两个 E型磁芯合起来形成闭路时，中脚相对处就会形成一条缝隙，称之为气隙。气隙 的深浅是E型^兹芯生产中的重要控制点。传统的测量气隙深度的方法是用卡 尺分别量出边脚的高度和中脚的高度，取其差值即为气隙深度。这种测量方法 的不足是显而易见的，它需要两次测量，再取其差值，操作起来较麻烦，且容 易产生误差。

实用新型内容
本实用新型针对上述现有技术存在的不足，提出了一种E型磁芯气隙深度 测量仪，其设计合理，结构简单，利用该测量仪测量E型磁芯气隙深度，操作 简便，读数直观，测量精度高。
本实用新型解决技术问题所采取的技术方案是 一种E型磁芯气隙深度测 量仪，由百分表或千分表、测量平台和基座组成，所述测量平台固定在基座上， 所述测量平台台面平整，中部设有小孔，所述百分表或千分表固定在所述测量 平台的一侧，所述百分表或千分表的测量头通过所述小孔伸至测量平台另一侧 并能自由伸缩。
选用百分表或者千分表，主要依据对测量精度的要求。
所述测量平台可以水平设置，也可以垂直设置。所述测量平台水平i殳置时， 所述的百分表或者千分表呈垂直状态固定在所述测量平台的下侧，其测量头向 上，通过所述测量平台中间的小孔且高出测量平台台面；所述测量平台垂直设 置时，所述的百分表或者千分表呈水平状态固定在所述测量平台的左侧，其测 量头向右，通过所述测量平台中间的小孔且超出测量平台台面。
为确保测量的精度，本实用新型中所述的测量平台的台面必须平整，要求 其平面度为0.02mm。实际应用中，操作者取坐姿或站姿，正一见量具；测量前， 先用一未研磨过气隙的磁芯，将百分表或千分表的测量头推进，使其与测量平台平齐，将百分表或千分表归零。测量时，将E型磁芯的中脚对准测量头，两 边脚压紧在测量平台的台面上，然后根据百分表或千分表示值即可读出被测E 型》兹芯气隙的深度。
本实用新型的运用，大大方便了对E型磁芯气隙深度的测量，而且测量精 度比较高，可达到有效控制E型磁芯气隙深度的目的，从而解决了因测量误差 而导致的磁芯不良问题。


图1为本实用新型一种实施方式结构示意图。 图2为本实用新型另一种实施方式结构示意'图。
具体实施方式
实施例1
如图l所示，它由百分表l、测量平台2和基座3组成，基座3则由底座和 支撑柱构成。测量平台2固定在基座3的支撑柱上，测量平台2台面平整、水 平，中部设有小孔4，百分表1垂直固定在测量平台2的下侧，百分表1的测量 头5通过小孔4伸至测量平台2的上侧并能自由伸缩。
实施例2
如图2所示，它由百分表l、测量平台2和基座3组成。测量平台2固定在 基座3上，测量平台2台面平整、垂直，中部设有小孔4，百分表l水平固定在 测量平台2的左侧，百分表1的测量头5通过小孔4伸至测量平台2的右侧并 能自由伸缩。
权利要求1.一种E型磁芯气隙深度测量仪，其特征在于由百分表或千分表、测量平台和基座组成，所述测量平台固定在基座上，所述测量平台表面平整，中部设有小孔，所述百分表或千分表固定在所述测量平台的一侧，所述百分表或千分表的测量头通过所述小孔伸至测量平台另一侧并能自由伸缩。
专利摘要本实用新型涉及一种E型磁芯气隙深度测量仪。E型磁芯气隙深度传统测量的方法是用卡尺分别量出边脚高度和中脚高度，然后取其差值。操作麻烦，且容易产生误差。本实用新型由百分表或千分表、测量平台和基座组成，测量平台固定在基座上，测量平台台面平整，中部设有小孔，百分表或千分表固定在测量平台的一侧，其测量头通过小孔伸至测量平台另一侧并能自由伸缩。它大大方便了对E型磁芯气隙深度的测量，而且测量精度较高。
文档编号G01B5/18GK201429400SQ20092018990
公开日2010年3月24日 申请日期2009年7月28日 优先权日2009年7月28日
发明者周继军, 张建兴, 杜立明 申请人:浙江通达磁业有限公司