专利名称：投影三维测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种三维测量装置，具体涉及一种利用投影技术的三维测量装置。
背景技术：
目前，现有的自动可编程的3维轮廓测量装置，为激光机械扫描，器特点是扫描快 和结构简单。主要缺点1 受激光束宽度的限制无法有效测量微小被测物的轮廓；2 采用 机械扫描，可靠性和重复性差；3 使用三角测量法计算高度时，通过0和1的灰阶阀值来计 算被测物高度变化时激光的水平位移值来计算出实际高度值，分辨率低；4 激光的颜色是 红色，被测物表面颜色变化达时如线路板表面同时有绿色和红色部分时，无法同时高精度 测量。
实用新型内容本实用新型针对现有技术的不足，提供了一种能适应亮暗大反差测量对象的测量
直ο本实用新型是通过以下技术方案实现的投影三维测量装置，测量对象上设有结构光投影装置，图像采集装置和环形光源， 环形光源垂直方向，在环形光源上设有图像采集装置，结构光投影装置设置在环形光源的一侧。环形光源用于对被测物同步点进行定位识别拍照。投影三维测量装置，进一步来说明投影装置倾斜设置在环形光源的一侧，投影装 置发光的亮度可调。本实用新型可实现对亮暗变化明显的测量物体表面3维测量，保持测量的高精度 和重复性，在实际应用中可适应宽范围的测量对象，适用性更强。
附图为三维测量装置部件结构示意图。
具体实施方式
参见附图所示。投影三维测量装置，测量对象1上设有结构光投影装置2，图像采集装置4和环形 光源3，环形光源3垂直方向，在环形光源3上设有图像采集装置4，结构光投影装置2倾斜 设置在环形光源3的一侧。设定CCD相机为长曝光时间，高增益方式，投影光源为高亮度，依 次投影利用检测头拍摄采集N张结构光在测量对象表面的反射图片，并进行计算，得出测 量对象1表面暗部分的三维值。再设定CD相机为短曝光时间，低增益方式，投影光源为低 亮度，依次投影利用检测头拍摄采集N张结构光在测量对象表面的反射图片，并进行计算，得出测量对象表面亮部分的三维值。最后将两次3为测量结果整合得到全三维测量结果， 保证了测量的高精度性。
权利要求投影三维测量装置，测量对象上设有结构光投影装置和环形光源，环形光源垂直方向，在环形光源上设有图像采集装置，其特征在于检测头设置在环形光源的一侧。
2.根据权利要求1所述的投影三维测量装置，其特征在于检测头倾斜设置在环形光源 的一侧。
专利摘要本实用新型涉及投影三维测量装置，测量对象上设有结构光投影装置，图像采集装置和环形光源，环形光源垂直方向，在环形光源上设有图像采集装置，结构光投影装置设置在环形光源的一侧。本实用新型提供了一种能适应亮暗大反差测量对象的测量装置。
文档编号G01B11/24GK201716007SQ20102025703
公开日2011年1月19日 申请日期2010年7月9日 优先权日2010年7月9日
发明者姚征远 申请人:合肥思泰光电科技有限公司
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