专利名称：一种相位差检测测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种相位差检测测量装置。
背景技术：
目前，相位差测量多采用将测量信号和参考信号先通过限幅放大电路放大，再通 过过零比较电路实现将输入的测量信号和参考信号转换为脉冲信号，再将此脉冲信号送入 鉴相器进行鉴相，鉴相器输出的电压信号正比于测量信号和参考信号的相位差。这种相位 差测量对于输入信号要求较高，要求信号不能有共模电平叠加；二是可测量的相位差范围 小，范围是0 2 Ji 。
实用新型内容本实用新型需要解决得技术问题是提供一种相位差检测测量装置，以达到去除输 入信号的共模电平，增加测量信号的相位差范围的目的。 为了解决上述技术问题本实用新型的技术方案是，一种相位差检测测量装置，包 括电源�？椋淙胄藕磐ǖ溃刂破鳎嗥鳎黄涮卣髟谟谒龅氖淙胄藕磐ǖ酪来瓮ü� 电压增益控制器单元、带通滤波单元、电平转换单元与控制单元与控制器输入端连接；所述 的输入信号通道包括至少一条测量信号输入通道和一条参考信号输入通道；通道选择单元 与控制器的输入端连接；控制器的输出端通过频率变换电路、合成电路与鉴相器连接；控 制器的输出端通过频率变换电路与鉴相器输入端连接，鉴相器输出端通过了低通滤波单元 与第二电平转换单元连接。 —种相位差检测测量装置；其特征在于所述的输入信号通道包括两条测量信号 输入通道和一条参考信号输入通道。 —种相位差检测测量装置；其特征在于所述的通道选择单元为键盘或者波段选 择开关。 —种相位差检测测量装置；其特征在于所述的控制器输出端通过频率测量电路 和频率显示单元连接；控制器输出端与状态显示单元连接。 —种相位差检测测量装置；其特征在于所描的控制器采用单片机，控制芯片为 TMS470R1VF67A。 —种相位差检测测量装置；由于采用上述结构减少了输入信号的共模电平对鉴相 的影响，测量的相位差范围可以根据实际情况进行选择，测量范围大，简单实用。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型做进一步详细说明
图1为本实用新型原理框图 在图1中，1、输入信号通道，2、电压增益控制单元，3、带通滤波单元，4、第一电平 转换单元，5、通道选择单元，6、控制器，7、频率变换电路，8、合成电路，9、鉴相器，10、低通滤波单元，11、第二电平转换单元，12、输出信号单元，13、频率检测电路，14、频率显示单元， 15、状态显示单元，16、第一信号输入通道，17、第二信号输入通道，18、参考信号输入通道。
具体实施方式如图1所示，一种相位差检测测量装置，输入信号通道1依次通过电压增益控制器 单元2、带通滤波单元3、第一电平转换单元4与控制器6输入端连接；输入信号通道1由第 一测量信号输入通道16，第二信号测量通道17和一条参考信号输入通道18组成；电压增 益控制单元2将第一测量信号输入通道16，第二信号测量通道17和一条参考信号输入通道 18输入的两个检测信号和一个参考信号转换为脉冲信号；脉冲信号经过带通滤波单元3滤 波后，经第一电平转换单元4去除叠加在测量信号和参考信号上的共模电平后输入到控制 器6的输入端。控制器6输入端与通道选择单元5连接，通道选择单元选5择测量信号通 道是第一测量信号输入通道16还是第二信号测量通道17 ;通道选择单元5为键盘或者是 波段选择开关，控制器6采用单片机，控制芯片为TMS470R1VF67A;电源�？橄蚋鞯缏泛涂� 制器6提供电源。 控制器6根据通道选择单元5的选择，将选中的测量信号输出到频率检测电路13 将频率进行测量后送到经频率显示单元14显示频率；同时控制器6的输出端通过频率变换 电路7、合成电路8与鉴相器9连接；控制器6的输出端通过频率变换电路7与鉴相器9输 入端连接，鉴相器9将控制器6选中的测量信号和参考信号的相位差进行比较，鉴相器9输 出端通过了低通滤波单元10滤波后经第二电平转换单元11将误差电压转换为输出信号单 元12中的符合数据采集要求的电压输送到计算机。 控制器6输出端与状态显示单元15连接，状态显示单元15对测量信号的通道选 择、相位差测量范围、系统工作信息等进行显示。
权利要求一种相位差检测测量装置，包括电源�？椋淙胄藕磐ǖ�(1)，控制器(6)，鉴相器(9)；其特征在于所述的输入信号通道(1)依次通过电压增益控制器单元(2)、带通滤波单元(3)、第一电平转换单元(4)与控制器(6)输入端连接；所述的输入信号通道(1)包括至少一条测量信号输入通道和一条参考信号输入通道；通道选择单元(5)与控制器(6)的输入端连接；控制器(6)的输出端通过频率变换电路(7)、合成电路(8)与鉴相器(9)连接；控制器(6)的输出端通过频率变换电路(7)与鉴相器(9)输入端连接；所述的鉴相器(9)输出端通过低通滤波单元(10)与第二电平转换单元(11)连接。
2. 根据权利要求1所述的一种相位差检测测量装置；其特征在于所述的输入信号通 道(1)由第一测量信号输入通道(16)，第二信号测量通道(17)和一条参考信号输入通道 (18)组成。
3. 根据权利要求1所述的一种相位差检测测量装置；其特征在于一种相位差检测测 量装置；其特征在于所述的通道选择单元(5)为键盘或者波段选择开关。
4. 根据权利要求1所述的一种相位差检测测量装置；其特征在于一种相位差检测测 量装置；其特征在于所述的控制器(6)输出端通过频率测量电路(13)和频率显示�？� (14)连接；控制器(6)输出端与状态显示单元(15)连接。
5. 根据权利要求1所述的一种相位差检测测量装置；其特征在于一种相位差检测测 量装置；其特征在于所描的控制器(6)采用单片机，控制芯片为TMS470R1VF67A。
专利摘要一种相位差检测测量装置，包括电源�？椋淙胄藕磐ǖ溃刂破鳎嗥鳎黄涮卣髟谟谒龅氖淙胄藕磐ǖ酪来瓮ü缪乖鲆婵刂破鞯ピ�、带通滤波单元、电平转换单元与控制单元与控制器输入端连接；所述的输入信号通道包括至少一条测量信号输入通道和一条参考信号输入通道；通道选择单元与控制器的输入端连接；控制器的输出端通过频率变换电路、合成电路与鉴相器连接；控制器的输出端通过频率变换电路与鉴相器输入端连接，鉴相器输出端通过了低通滤波单元与第二电平转换单元连接；由于采用上述结构减少了输入信号的共模电平对鉴相的影响，测量的相位差范围可以根据实际情况进行选择，测量范围大，简单实用。
文档编号G01R25/00GK201477157SQ20092017228
公开日2010年5月19日 申请日期2009年5月27日 优先权日2009年5月27日
发明者余国刚, 刘晨露, 张晓卿, 张静, 易良碧 申请人:余国刚
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
