专利名称：一种光测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型为一种光测系统，尤其一种用于测量介质的透光率的光测系统。
背景技术：
目前，用于测量介质的透光率的光测系统一般结构简单，测量不准确，测量量程
实用新型内容本实用新型的目的是针对目前光测系统结构简单，测量不准确，测量量程小的缺点，提供一种新型的光测系统，该装置设有散光组件、聚光组件和测光组件，能连续测量相应的光密度随时间变化的透过率至少为光谱灵敏度响应的5个数量级。该光测系统测量准确、量程大。本实用新型解决上述技术问题的技术方案是本实用新型一种光测系统包括一光源组件，该光源组件包括一变压器，及一可变电阻器，及一白炽灯，该可变电阻器和白炽灯串联于变压器的次级线圈中；一散光组件，该散光组件包括一配有盖板的不透光暗箱，及一发散透镜，及下光窗，及一设置于下光窗下方的光窗加热器，该不透光暗箱的底部设置有光源组件的白炽灯，发散透镜设置于白炽灯的上方；一聚光组件，该聚光组件包括一聚光透镜，及一设置于聚光透镜上方的中性滤光片， 及一配有盖板的不透光暗箱，及一上光窗，及一设置于上光窗下方的中空的不透明圆盘；一测光组件，该测光组件包括一光电倍增管，及一透光孔，及一设置于透光孔上方的永久滤光片，及一不透光暗箱，及一放大滤光片，及一设置于放大滤光片下方且直径大于永久滤光片直径的挡板，该透光孔设置于不透光暗箱的下方中心位置，其直径小于永久滤光片的直径； 一设置于上下不透光暗箱中间位置的介质箱。本实用新型一种光测系统，其光源组件中，由白炽灯提供光源，白炽灯的电压通过变压器和可变电阻器获得，白炽灯应安装在下部不透光暗箱中；其散光组件中，白炽灯产生的光线通过透镜发散，形成直射光束，直射光束向测试箱的下光窗传播并透过下光窗；其聚光组件中，在不透光暗箱内的较低位置处固定聚光透镜，使得校准直射光束能够在上下暗箱之间的透光板处被聚焦形成一个小的强光斑，在聚光透镜上方，应安装中性滤光片；其测光组件中，光电倍增管连接有多量程耦合放大器作为记录装置，能连续测量相应的光密度随时间变化的透过率，系统对透过率应为线性响应，在其下面设置有永久滤光片和放大滤光片，校准直射光束的入射或射出，挡板处于关闭状态时，可阻止测试箱中的所有光线到达光电倍增管。本实用新型的工作原理是首先在介质箱无所测介质条件下，由光电倍增管测得透过率为0和100%的量程计数，然后，在介质箱的介质浓度随时间变化而改变的情况下，测量出各时间点的相对的光透过率。本实用新型通过同时设有测量部分和过滤部分，该过滤部分设有一过滤用的广口瓶和一排气软管，在测量气压的同时可以调节气压，并实现过滤，具有功能齐全、操作方便的优点，而且能避免污染。
图1，为本实用新型一种光测系统的优选的实施例。图中，1为光源组件，11为变压器，12为可变电阻器，13为白炽灯，2为散光组件， 21为不透光暗箱，22为发散透镜，23为光窗加热器，M为下光窗，3为聚光组件，31为中性滤光片，32为聚光透镜，33为不透光暗箱，34为上光窗，35为不透明圆盘，4为测光组件，41 为光电倍增管，42为永久滤光片，43为透光孔，44为不透光暗箱，45为放大滤光片，46为挡板，5为介质箱。
具体实施方式
如图1，为本实用新型一种光测系统的优选的实施例。本实用新型一种光测系统包括光源组件(1)，该光源组件(1)包括变压器(11)，及可变电阻器(12)，及白炽灯(13)，该可变电阻器(12)和白炽灯(13)串联于变压器(12)的次级线圈中；散光组件(2)，该散光组件(2)包括配有盖板的不透光暗箱(21)，及发散透镜 (22)，及下光窗(24)，及设置于下光窗(24)下方的光窗加热器(23)，该不透光暗箱(21)的底部设置有光源组件的白炽灯(13)，发散透镜(22)设置于白炽灯(13)的上方；聚光组件 (3)，该聚光组件(3)包括聚光透镜(32)，及设置于聚光透镜(32)上方的中性滤光片(31)， 及配有盖板的不透光暗箱(33)，及上光窗(34)，及设置于上光窗(34)下方的中空的不透明圆盘(35)；测光组件(4)，该测光组件(4)包括光电倍增管(41)，及透光孔(43)，及设置于透光孔(43)上方的永久滤光片(42)，及不透光暗箱(44)，及放大滤光片(45)，及设置于放大滤光片(45 )下方且直径大于永久滤光片(42 )直径的挡板(46 )，该透光孔(43 )设置于不透光暗箱(44)的下方中心位置，其直径小于永久滤光片(42)的直径；设置于上下不透光暗箱中间位置的介质箱(5)。本实用新型一种光测系统，其光源组件中，由白炽灯提供光源，白炽灯的电压通过变压器和可变电阻器获得，白炽灯应安装在下部不透光暗箱中；其散光组件中，白炽灯产生的光线通过透镜发散，形成直射光束，直射光束向测试箱的下光窗传播并透过下光窗；其聚光组件中，在不透光暗箱内的较低位置处固定聚光透镜，使得校准直射光束能够在上下暗箱之间的透光板处被聚焦形成一个小的强光斑，在聚光透镜上方，应安装中性滤光片；其测光组件中，光电倍增管连接有多量程耦合放大器作为记录装置，能连续测量相应的光密度随时间变化的透过率，系统对透过率应为线性响应，在其下面设置有永久滤光片和放大滤光片，校准直射光束的入射或射出，挡板处于关闭状态时，可阻止测试箱中的所有光线到达光电倍增管。本实用新型的工作原理是首先在介质箱无所测介质条件下，由光电倍增管测得透过率为0和100%的量程计数，然后，在介质箱的介质浓度随时间变化而改变的情况下，测量出各时间点的相对的光透过率。以上所述，仅为本实用新型之较佳实施例而已，当不能限定本实用新型实施范围， 即凡依本申请范围所作均等变化与修饰，皆应仍属本实用新型涵盖范围内。
权利要求1.一种光测系统，其特征在于，包括一光源组件，该光源组件包括一变压器，及一可变电阻器，及一白炽灯，该可变电阻器和白炽灯串联于变压器的次级线圈中；一散光组件；一聚光组件；一测光组件；一设置于上下不透光暗箱中间位置的介质箱。
2.根据权利要求1所述的一种光测系统，其特征在于，所述散光组件进一步包括一配有盖板的不透光暗箱，该不透光暗箱的底部设置有光源组件的白炽灯；一发散透镜，发散透镜设置于白炽灯的上方；一下光窗；一设置于下光窗下方的光窗加热器。
3.根据权利要求1所述的一种光测系统，其特征在于，所述聚光组件进一步包括一聚光透镜；一设置于聚光透镜上方的中性滤光片；一配有盖板的不透光暗箱；一上光窗；一设置于上光窗下方的中空的不透明圆盘。
4.根据权利要求1所述的一种光测系统，其特征在于，所述测光组件进一步包括一光电倍增管；一透光孔，该透光孔设置于不透光暗箱的下方中心位置，其直径小于永久滤光片的直径；及一设置于透光孔上方的永久滤光片；一不透光暗箱；及一放大滤光片；及一设置于放大滤光片下方且直径大于永久滤光片直径的挡板。
专利摘要本实用新型涉及一种光测系统。它包括一光源组件，该光源组件包括一变压器，及一可变电阻器，及一白炽灯，该可变电阻器和白炽灯串联于变压器的次级线圈中；一散光组件，该散光组件至少包括一发散透镜；一聚光组件，该聚光组件至少包括一聚光透镜，及一设置于聚光透镜上方的中性滤光片，及一设置于上光窗下方的中空的不透明圆盘；一测光组件，该测光组件至少包括一光电倍增管，及一设置于透光孔上方的永久滤光片，及一放大滤光片；一介质箱。本实用新型的工作原理是首先在介质箱无所测介质条件下，由光电倍增管测得透过率为0和100%的量程计数，然后，在介质箱的介质浓度随时间变化而改变的情况下，测量出各时间点的相对的光透过率。
文档编号G01N21/01GK202083630SQ20112014672
公开日2011年12月21日 申请日期2011年5月10日 优先权日2011年5月10日
发明者文洪钟 申请人:东莞市中诺质检仪器设备有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
