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专利名称：工件表面缺陷深度检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种工件表面缺陷深度检测装置，可快速检测工件表面缺陷深度。
二、背景技术在生产实践中，工件表面缺陷深度检测是一项比较繁复的技术工作，需要耗费较 多的人力物力，检测精度也不高。
三、发明内容本实用新型的目的是要提供一种新型的工件表面缺陷深度检测装置，可快速检测 工件表面缺陷深度。本实用新型由一台工业显微镜及一个千分表组合而成。在工业显微镜的物镜部设 置一联动检测板，联动检测板随物镜而动，千分表表座与工业显微镜本体通过连接杆相连， 表头紧压检测板，物镜在工件表面与缺陷底部的两个聚焦点相对应的千分表读数之差即为 工件表面缺陷深度。为方便读数，检测工件时，调整显微镜聚焦手环，使显微镜物镜在被测 工件表面聚焦，这时将千分表调零；下一步移动显微镜物镜到被测工件缺陷底部，调整显微 镜聚焦手环，使显微镜物镜在被测工件缺陷底部聚焦，这时联动检测板也随之而动，带动千 分表表头微动，记录千分表读数，多测几个底点，读数最大的即为工件表面缺陷深度。

附图是工件表面缺陷深度检测装置的使用示意图。图中1.聚焦手环，2.联动检测板，3.显微镜物镜，4.千分表表头，5.连接杆，6.千 分表。
五具体实施方式
将工业显微镜及千分表通过连接杆( 组合，在工业显微镜的物镜( 部设置一 联动检测板O)，使千分表表头(4)紧压检测板O)，检测时，调整显微镜聚焦手环(1)，使 显微镜物镜( 在被测工件表面聚焦，这时将千分表(6)调零；下一步移动显微镜物镜(3) 到被测工件缺陷底部，调整显微镜聚焦手环(1)，使显微镜物镜C3)在被测工件缺陷底部聚 焦，这时联动检测板( 也随之而动，带动千分表表头(4)微动，记录千分表(6)读数，多测 几个底点，读数最大的即为工件表面缺陷深度。
权利要求1. 一种工件表面缺陷深度检测装置，其特征是在工业显微镜的物镜部设置一联动检 测板，联动检测板随物镜而动，千分表表座与工业显微镜本体通过连接杆相连，表头紧压检 测板，物镜在工件表面与缺陷底部的两个聚焦点相对应的千分表读数之差即为工件表面缺 陷深度。
专利摘要工件表面缺陷深度检测装置是一种较为简单实用且精度较高的表面缺陷检测装置，由一台工业显微镜及一个千分表组合而成，在工业显微镜的物镜部设置一联动检测板，联动检测板随物镜而动，千分表表座与工业显微镜本体通过连接杆相连，表头紧压检测板。检测工件时，调整显微镜聚焦手环，使显微镜物镜在被测工件表面聚焦，这时将千分表调零；下一步移动显微镜物镜到被测工件缺陷底部，调整显微镜聚焦手环，使显微镜物镜在被测工件缺陷底部聚焦，这时联动检测板也随之而动，带动千分表表头微动，记录千分表读数，多测几个底点，读数最大的即为工件表面缺陷深度。
文档编号G01B11/22GK201892507SQ20102058891
公开日2011年7月6日 申请日期2010年10月26日 优先权日2010年10月26日
发明者惠征 申请人:惠征