专利名称：一种交流采样处理方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电力领域，尤其涉及一种交流采样处理方法及装置。
背景技术：
目前，已有的设备在进行交流采样处理时，一般将各个电量(如交流电压、交流电 流)的采样数值进行快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform，FFT)，获得各个交流电量。 其中，将各个电量(如交流电压、交流电流)的采样数值进行FFT，需要占用大量的微控制单 元(Micro Control Unit, MCU)的时间。同时，目前的交流采样处理触发是由MCU主程序通过定时器来触发的，即当定时 器的计时时间到达预设值时，MCU主程序触发交流采样处理。但是，在定时器开始计时至计 时时间到达预设值期间，MCU主程序将暂停工作，降低了 MCU工作效率。
发明内容
本发明实施例中提供了一种交流采样处理方法及装置，可以减少占用MCU的时 间，提高MCU工作效率。一种交流采样处理方法，包括中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；所述线程被所述唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数 值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；将所述各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换(DFT)，获得各个交流电量。其中，所述中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号包括中断程序判断采样定时器的计时时间是否到达预设值，若是，则对各个电量进行 采样并存储所述各个电量的采样数值；判断采样次数是否等于64次，若是，则复位所述采样次数并启动用于唤醒线程的 唤醒信号。可选地，所述方法还包括在获得各个交流电量之后，复位所述采样定时器并启动所述采样定时器重新计 时。可选地，所述方法还包括在获得各个交流电量之后，将所述各个交流电量输出液晶显示器LCD显示。一种交流采样处理装置，其特征在于，包括中断程序�？椋糜诖シ⒂糜诨叫严叱痰幕叫研藕牛幌叱棠？椋糜诒凰龌叫研藕呕叫眩⒋踊撼迩卸寥≡は却娲⒌母鞲龅缌康� 采样数值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；计算�？椋糜诮龈鞲龅缌康牟裳到欣肷⒏道镆侗浠籇FT，获得各个交 流电量。
其中，所述中断程序�？榘ǖ谝慌卸献幽？椋糜谂卸喜裳ㄊ逼鞯募剖笔奔涫欠竦酱镌ど柚担坏谝徊裳幽？椋糜谠谒龅谝慌卸献幽？榈呐卸辖峁鞘保愿鞲龅缌拷� 行采样并存储所述各个电量的采样数值；第二判断子�？椋糜谂卸纤龅谝徊裳幽？榈牟裳问欠竦扔�64次；第一控制子�？椋糜谠谒龅诙卸献幽？榈呐卸辖峁鞘保次凰龅谝� 采样子�？榈牟裳问⑵舳糜诨叫严叱痰幕叫研藕�。可选地，所述装置还包括第二控制子�？椋糜谠谒黾扑隳？榛竦酶鞲鼋涣鞯缌恐螅次凰霾裳� 时器并启动所述采样定时器重新计时。可选地，所述装置还包括液晶显示器LCD，用于在所述计算�？榛竦酶鞲鼋涣鞯缌恐螅允舅龈鞲鼋涣鞯缌�。与现有的技术相比，本发明实施例具有以下有益效果本发明实施例中，由中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；线程被唤醒信号唤 醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数值；将各个电量的采样数值进行离散 傅里叶变换(DFT)，获得各个交流电量。即本发明实施例将触发交流采样处理的任务从MCU 主程序中分离出来，减少MCU主程序工作，提高MCU工作效率；同时，本发明实施例中将各个 电量的采样数值进行离散傅里叶变换DFT，获得各个交流电量，可以减少占用MCU的时间。
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的 附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领 域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附 图。图1为本发明实施例中提供的一种交流采样处理方法的流程图；图2为本发明实施例中提供的一种中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号的方 法流程图；图3为本发明实施例中提供的一种交流采样处理装置的结构图；图4为本发明实施例中提供的另一种交流采样处理装置的结构图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护的范围。实施例一请参阅图1，图1为本发明实施例中提供的一种交流采样处理方法的流程图。如图 1所示，该交流采样处理方法可以包括以下步骤
101、中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；102、线程被上述唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数 值；其中，上述的各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；103、将上述的各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换(DFT)，获得各个交流电量。其中，与将各个电量(如交流电压、交流电流)的采样数值进行FFT相比，本发明 实施例将各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换DFT，可以减少占用MCU的时间，这是由 于FFT算法与DFT算法的性质决定的，本实施例不作赘述。请一并参阅图2，图2为本发明实施例中提供的一种中断程序触发用于唤醒线程 的唤醒信号的方法流程图。如图2所示，该方法可以包括以下步骤201、中断程序判断采样定时器的计时时间是否到达预设值，若是，则执行步骤 202 ；若否，则继续判断采样定时器的计时时间是否到达预设值。202、对各个电量进行采样并存储各个电量的采样数值；203、判断采样次数是否等于64次，若是，则执行步骤204 ；若否，则继续执行步骤 202 ；204、复位上述采样次数并启动用于唤醒线程的唤醒信号。本发明实施例中，由中断程序触发交流采样处理可以将触发交流采样处理的任务 从MCU主程序中分离出来，减少MCU主程序工作，提高MCU工作效率。可选地，本实施例中提供的交流采样处理方法还可以包括步骤在获得各个交流电量之后，复位采样定时器并启动所述采样定时器重新计时。可选地，本实施例中提供的交流采样处理方法还可以包括步骤在获得各个交流电量之后，将上述的各个交流电量输出液晶显示器显示。其中，采 用液晶显示器显示可以方便用户直观、精确地获悉上述的各个交流电量。本发明实施例将触发交流采样处理的任务从MCU主程序中分离出来，减少MCU主 程序工作，提高MCU工作效率；同时，本发明实施例中将各个电量的采样数值进行离散傅里 叶变换DFT，获得各个交流电量，可以减少占用MCU的时间。实施例二 请参阅图3，图3为本发明实施例中提供的一种交流采样处理装置的结构图。如图 3所示，该交流采样处理装置可以包括中断程序�？�301，用于触发用于唤醒线程的唤醒信号；线程模块302，用于被上述的唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电 量的采样数值；其中，上述的各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的 采样值；计算�？�303，用于将上述的各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换(DFT)，获 得各个交流电量。请一并参阅图4，图3为本发明实施例中提供的另一种交流采样处理装置的结构 图。图4所示的交流采样处理装置是由图3所示的交流采样处理装置进行优化得到的。在 图4所示的交流采样处理装置中，中断程序�？�301可以包括第一判断子�？�3011，用于判断采样定时器的计时时间是否到达预设值；
第一采样子模块3012，用于在第一判断子�？�3011的判断结果为是时，对各个电 量进行采样并存储各个电量的采样数值第二判断子�？�3013，用于判断第一采样子�？�3012的采样次数是否等于64 次；第一控制子模块3014，用于在第二判断子�？�3013的判断结果为是时，复位第一 采样子�？�3012的采样次数并启动用于唤醒线程的唤醒信号。可选地，如图4所示，该流采样处理装置还可以包括第二控制子�？�304，用于在计算�？�303获得各个交流电量之后，复位采样定时 器并启动采样定时器重新计时。可选地，如图4所示，该流采样处理装置还可以包括液晶显示器305，用于在计算�？�303获得各个交流电量之后，显示上述的各个交
流电量。本发明实施例将触发交流采样处理的任务从MCU主程序中分离出来，减少MCU主 程序工作，提高MCU工作效率；同时，本发明实施例中将各个电量的采样数值进行离散傅里 叶变换DFT，获得各个交流电量，可以减少占用MCU的时间。本领域普通技术人员可以理解实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过 程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序 在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括R0M、RAM、磁碟或者 光盘等各种可以存储程序代码的介质。以上对本发明实施例中提供的一种交流采样处理方法及装置进行了详细介绍，本 文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于 帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思 想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发 明的限制。
权利要求
一种交流采样处理方法，其特征在于，包括中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；所述线程被所述唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；将所述各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换DFT，获得各个交流电量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中断程序触发用于唤醒线程的唤醒 信号包括中断程序判断采样定时器的计时时间是否到达预设值，若是，则对各个电量进行采样 并存储所述各个电量的采样数值；判断采样次数是否等于64次，若是，则复位所述采样次数并启动用于唤醒线程的唤醒信号。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括在获得各个交流电量之后，复位所述采样定时器并启动所述采样定时器重新计时。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括 在获得各个交流电量之后，将所述各个交流电量输出液晶显示器LCD显示。
5.一种交流采样处理装置，其特征在于，包括中断程序�？椋糜诖シ⒂糜诨叫严叱痰幕叫研藕牛幌叱棠？椋糜诒凰龌叫研藕呕叫眩⒋踊撼迩卸寥≡は却娲⒌母鞲龅缌康牟裳� 数值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；计算�？椋糜诮龈鞲龅缌康牟裳到欣肷⒏道镆侗浠籇FT，获得各个交流电量。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述中断程序�？榘� 第一判断子�？椋糜谂卸喜裳ㄊ逼鞯募剖笔奔涫欠竦酱镌ど柚担坏谝徊裳幽？椋糜谠谒龅谝慌卸献幽？榈呐卸辖峁鞘保愿鞲龅缌拷胁� 样并存储所述各个电量的采样数值；第二判断子�？椋糜谂卸纤龅谝徊裳幽？榈牟裳问欠竦扔�64次； 第一控制子�？椋糜谠谒龅诙卸献幽？榈呐卸辖峁鞘保次凰龅谝徊裳� 子�？榈牟裳问⑵舳糜诨叫严叱痰幕叫研藕�。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括第二控制子�？椋糜谠谒黾扑隳？榛竦酶鞲鼋涣鞯缌恐螅次凰霾裳ㄊ逼� 并启动所述采样定时器重新计时。
8.根据权利要求5至7任一项所述的装置，其特征在于，还包括液晶显示器LCD，用于在所述计算�？榛竦酶鞲鼋涣鞯缌恐螅允舅龈鞲鼋涣鞯缌�。
全文摘要
本发明实施例涉及电力领域，公开了一种交流采样处理方法及装置，用于提高交流采样处理的效率。该交流采样处理方法包括中断程序触发用于唤醒线程的唤醒信号；所述线程被所述唤醒信号唤醒，并从缓冲区中读取预先存储的各个电量的采样数值；所述各个电量的采样值至少包括交流电压的采样值和交流电流的采样值；将所述各个电量的采样数值进行离散傅里叶变换(DFT)，获得各个交流电量。本发明实施例可以减少占用MCU的时间，提高MCU工作效率。
文档编号G01R19/00GK101968506SQ20101028162
公开日2011年2月9日 申请日期2010年9月13日 优先权日2010年9月13日
发明者何育坤, 顾莉娜, 马永军 申请人:深圳市华力特电气股份有限公司
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