专利名称：用于光学测试样品的装置和方法
技术领域：
本发明涉及一种改善光学测试装置的测量结果的精确度的方法。光学测试例如可以但不必须是，吸收测试、光致发光测试或化学发光测试。此外，本发明涉及一种用于改善光学测试装置的光学测量精确度的光学测试装置和计算机程序。
背景技术：
在生化分析实验室和临床实验室内所从事的工作通常都基于结合到被测高分子上的不同标签或标记。所用的标记一般为不同的放射性同位素、酶、不同荧光分子以及例如稀有金属的荧光螯合物。通过利用酶自身的生化作用，例如改变分子的物理性能，可以对酶的标记进行检测。在酶免疫测定中，酶可以把无色物质催化为有色物质，或者把非荧光物质催化为荧光物质。利用诸如光度测试的吸收测试可以测试有色物质。在进行吸收测试时，首先测试在无任何样品情况下获得的滤过且稳定的光束强度，然后测试经过一块板内的样品的光束强度。而后计算吸收系数，即吸收值。可采用通常用来测试样品中荧光标记物质的含量的荧光测试方法来测试荧光物质的数量。大部分光致发光标记基于分子发荧光的过程。在此过程中，处于基态的分子吸收光辐射。由于吸收了能量，量子分子跃迁至较高的激发态。在快速振动释放后，分子重新返回到基态，而多余的能量以光量子的方式被释放。由于在此过程中有能量损失，平均吸收的能量比平均发出的能量高。另一种测试方法是化学发光测试法，该方法从没有因光照而被激发的样品中测量物质的发光性能。因此，适合于光致发光测试的光致发光光度计也可用作化学发光光度计。此外，有一种称为扩增冷光近距离均相实验或Alph必creen 的分析方法。该 AlphaScreen 方法的功能基于使用附着于被研究分子的微球。所述球有两种，其被涂覆以充当单线态氧的供体或受体的材料。当液态样品受合适波长(例如680nm)的光照射时，测试开始。随后，供体球中的材料将周围的氧转变为单线态氧。单线态分子的寿命较短，因此通过在液体中的扩散它们只能到达200nm的距离。如果发生了被研究的化学反应，供体球和受体球都被结合到同一分子，从而使它们彼此足够接近。此时，单线态氧可到达受体球， 并在此开始一系列的反应。伴随反应的最后阶段，受体球中的涂布材料发出500-700nm范围内的光子。如果没有发生化学反应，单线态氧无法到达受体球，也就检测不到发光。通过测量光强度，可推断化学反应效率。适合于执行以上描述的一部分或所有测试方法的光学测试装置一般包括至少一个激励光源，用于产生激励光束到每次待测试的一个或多个样品上。每个激励光源例如可以是闪光灯或激光源。在从激励光源到样品的光路中可包括例如透镜、光纤、镜、分色镜、滤光器、单色器和/或其他光学元件。光学测试装置还包括至少一个检测器，用于检测每次从待测样品中发出的光束，以及用于产生响应于该被检测发光光束的检测信号。光学测试装置还包括处理装置，用于产生每个待测样品的测试结果，该测试结果基于与该样品相关的检测信号。每个检测器例如可以是光电二极管或光电倍增管。在从样品到检测器的光路中可包括例如透镜、光纤、镜、分色镜、滤光器、单色器和/或其他光学元件。每个待测样品储存在多个样品孔中的一个孔内，所述多个样品孔设在微滴定板或其他样品支撑件上。在实际测试中，不同样品的温度彼此并不相同。这种不同样品间的温度差异是一种不利现象，因为由样品发出的发光辐射强度取决于样品温度，所以从不同样品获得的测试结果彼此不相称。出版物US6977722公开了一种光学测试装置，其包括适于测试样品板温度的一个或多个温度传感器。每个温度传感器可以是诸如热敏电阻或热电偶的接触式传感器，或是诸如顶传感器(红外)的非接触式传感器。一个或多个温度传感器适于通过使用多种传感器和/或相对于传感器移动样品板，来测量样品板上不同位置的温度。光学测试装置还包括计算机，该计算机适于接收来自一个或多个温度传感器的信号、向用户报告温度以及根据温度影响修正所测试的信号。温度修正的精确度取决于样品板上的温度梯度，还取决于测试温度时所选择的样品板上的位置。
发明内容
根据本发明的第一方面，提供一种新的光学测试装置。根据本发明的光学测试装置包括-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束，以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，-至少一个温度传感器，被配置为在多个样品孔中测量样品孔具体温度，该至少一个温度传感器能从不同样品孔中测量不同温度，以及-处理装置，被配置为基于和样品相关的检测信号产生每一样品的测试结果，并基于从包含样品的特定样品孔所测得的样品孔具体温度，修正与每个待测样品相关的测试结果，其中多个样品孔可相对于至少一个温度传感器移动，以使每个温度传感器能从一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度，以及至少一个温度传感器被配置为测量特定样品孔中的样品孔具体温度，其中该特定样品孔每次均位于能使检测器检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上。由于基于从包含被观察样品的样品孔中测得的样品孔具体温度修正了关于某一样品的测试结果，并且每一样品孔具体温度是在被研究的样品处于能使检测器检测到来自该样品的发光光束的机械位置上时测得的，本发明温度修正的精确度优于利用根据本文较早描述的现有技术的光学测试装置时的精确度。根据本发明的第二方面，提供一种被光学测试装置所采用的用于改善测试结果的精确度的新方法。-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束，以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，以及-处理装置，基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果。根据本发明的方法包括-用温度传感器从多个样品孔中测试样品孔具体温度，-基于从包含样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度，修正与每个待测样品相关的测试结果，-相对于温度传感器移动多个样品孔，以使每个温度传感器能从一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度，以及-当特定样品孔位于能使检测器检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上时，测量每一特定样品孔中的样品孔具体温度。根据本发明的第三方面，提供一种被光学测试装置所采用的用于改善测量结果的精确度的新计算机程序。-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束，以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，-处理装置，用于基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果，和-至少一个温度传感器，被配置为在多个样品孔中测量样品孔具体温度，该至少一个温度传感器能从不同样品孔中测量不同温度。根据本发明的计算机程序产品包括用于控制可编程处理装置执行以下内容的处理器可执行指令-基于从包含样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度，修正与每个待测样品相关的测试结果，-控制多个样品孔相对于温度传感器移动，以使每个温度传感器能从一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度，以及-当特定样品孔位于能使检测器检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上时，控制至少一个温度传感器测量每个特定样品孔中的样品孔具体温度。根据本发明的第四方面，提供一种用根据本发明的计算机程序编码的计算机可读介质。计算机可读介质例如可以是光盘或电存储装置。在所附从属权利要求中描述了本发明的多个示例实施例。结合附图阅读以下对具体示例性实施例的描述，可以更好地理解本发明不同示例性实施例的结构、操作方法以及其他目的和优点。在本文中使用的词语“包括”为开放式限定，其不排除包含其他没有提到的特征。 在从属权利要求中引用的特征除非明确指示否则可以相互自由组合。
现在参考以下附图结合例子详细解释本发明的示例实施例及其优点，其中图Ia示出根据本发明一实施例的光学测试装置的示意性侧视图；图Ib示出沿图Ia的A-A线俯视下的示意图2示出根据本发明一实施例的光学测试装置的示意性侧视图；图3示出适用于根据本发明实施例的光学测试装置的温度传感器布局的示意图；图4示出根据本发明一实施例的被光学测试装置所采用的用于改善光学测试结果的精确度的方法流程图。
具体实施例方式图Ia示出根据本发明一实施例的光学测试装置的示意性侧视图。待测样品103， 104，105，106，107，108，109 分别储存在多个样品孔 111，112，113，114，115，116，117 中。图 Ib示出沿图Ia的A-A线俯视下的示意图。从图Ib中可以看出，在该示例中，样品孔构成 7X7阵列。然而，在很多其他示例中，阵列中可以有更多样品孔，例如96个样品孔。光学测试装置包括用于接收分离部件1 的接口装置123，所述分离部件IM包括多个样品孔。因此，包括样品孔的部件1 是可更换的。接口装置通常还被称为“样品滑板”。接口装置123 机械连接于支撑轨道140，该支撑轨道140可在双箭头141限定的方向上移动。依次地，接口装置123可相对于支撑轨道140，在双箭头142限定的方向上移动。从而，接口装置123 和样品孔可在坐标系统190所限定的xy平面内移动。因此，通过改变接口装置123的机械位置，可测到每个样品。在图Ia所示意的情况下，当前被测试的样品是储存在样品孔112 中的样品104。原则上说，包括样品孔的部件IM可以是光学测试装置的组成部分，但如果这个包括多个样品孔的部件可更换，它能带来更多优点。参考图la，光学测试装置包括被配置为产生激励光束的激励光源101。激励光源 101例如可以是闪光灯。由激励光源101产生的激励光束被透镜125准直，并被引导穿过滤光器126。对于不同波长可选择不同的滤光器。然后，透镜127将激励光束聚焦到纤维光导1 的端部，纤维光导1 将该激励光束导向到分色镜129。纤维光导例如可以是一束光纤，例如200根直径例如为IOOym的光纤。光纤束可被用于混合激励光束以避免待测样品上的光束分布不均勻。分色镜1 将激励光束反射到准直透镜130。随后，透镜131将激励光束聚焦到样品104。透镜131和130将来自样品104的光致发光光束导向至分色镜129。分色镜优选被设计成反射激励波长但透射发光波长。发光光束随后被第二镜132分成两束光。镜132 优选为分色镜，作为滤光器使用，使具有第一发光波长的发光光束传输通过该镜，并使具有第二发光波长的发光光束被该镜反射。传输通过镜132的发光光束被透镜133准直，并被滤光器135滤过，而后被透镜134聚焦到检测器119的光阑内。被镜132反射的发光光束被透镜136准直，并被滤光器137滤过，而后被透镜138聚焦到检测器120的光阑内。检测器119例如可以是光电倍增管，检测器120例如可以是光电二极管。检测器119和120被配置为响应于具有第一发光波长的被检测光束和具有第二发光波长的被检测光束来产生第一和第二检测信号。然后，第一和第二监测信号被放大和处理，以获得具有第一和第二发光波长的发光光束的强度值。在AlphaScreen 测试模式中，从激励光源102接收激励光束，该激励光源为激光光源。激励光束经光导被导向到分色镜129。在AlphaScreen 测试方法中，仅采用一个检测器119，优选为光电倍增管。在AlphaScreen 测试方法中，优选使用透明的热板(thermo plate)(未示出)用于密封样品孔111-117的开口。
光学测试装置包括处理装置121，用于产生每个待测样品103-109的测试结果，该测试结果基于与该样品相关的检测信号。光学测试装置包括温度传感器122，其被配置为测量样品孔111-117中的样品孔具体温度。包括样品孔111-117的部件IM可在xy平面内相对于温度传感器122移动。因此，温度传感器可被用于测量所有样品孔中的样品孔具体温度。温度传感器122例如可以为顶传感器(红外)。在图Ia所示的光学测试装置中，温度传感器122被配置为测量样品孔112中的样品孔具体温度，其中所述样品孔112每次所处的机械位置能使检测器119和/或120检测到从储存在该样品孔中的样品104发射的发光光束，即温度传感器122被配置为测量包含有当前被测试样品的样品孔的样品孔具体温度。处理装置121被配置为根据从包含样品的特定样品孔所测量的样品孔具体温度，使用预定数学规则来修正与每个待测样品相关的测试结果。与样品103相关的测试结果用样品孔111的测量温度来修正，与样品104相关的测试结果用样品孔112的测量温度来修正。例如，可以根据以下规则修正与某一样品相关的测试结果M Mcorr = MXF(T),(1)其中轧。 为修正后的测量结果，F⑴为样品孔具体温度T的预定函数。预定函数 F(T)例如可以为F(T) = α (TCI_T)，(2)其中α为温度系数，Ttl为参考温度。例如，如果温度升高1°C意味着测试结果M升高P%，那么温度系统α则选定为l+p/100。利用该α值，函数F(T)能补偿测试结果的变化。为了消除暂时温度变化对测试结果的影响，温度传感器122被优选配置为在检测器119和/或120对来自储存在相应样品孔中的样品的发光光束进行检测的期间测量样品孔具体温度，即发光光束的检测和温度测量基本同时进行。图2示出根据本发明一实施例的光学测试装置的示意性侧视图。待测样品203， 204，205，206，207，208，209，210 分别储存在多个样品孔 211，212，213，214，215，216，217， 218中。光学测试装置包括用于接收分离部件124的接口装置223，所述分离部件IM包括多个样品孔。从而，接口装置223以及样品孔可在坐标系统290所限定的xy平面内移动。光学测试装置包括允许同时测试两个样品的测试布局。在图2所示意的情况中， 当前测试的是样品205和209。激励光源201照射样品205，激励光源201a照射样品209。 也可以用单个激励光源同时照射一个以上的样品。例如，可使用纤维光导将单个激励光源辐射的光束分开以用于多个样品。检测器219检测由样品205发射的发光光束，检测器219a 检测由样品209发射的发光光束。检测器219和219a被配置为响应于被检测的发光光束产生检测信号。光学测试装置包括用于产生每个待测样品的测试结果的处理装置221，其中所述测试结果基于与样品相关的检测信号。光学测试装置还包括被配置为从多个样品孔中测量样品孔具体温度的温度传感器222和222a。处理装置221被配置为基于从包含样品的特定样品孔测量的样品孔具体温度，修正与每个待测样品相关的测试结果。在图2所示的光学测试装置中，温度传感器222被配置为测量样品孔214的样品孔具体温度，该样品孔214靠近包含当前正在被测试的样品205的样品孔213。相应地，温度传感器22 被配置为测量样品孔218的样品孔具体温度，该样品孔218靠近包含当前正在被测试的样品209的样品孔217。出于示意目的，可以考虑将样品孔211和215分别直接置于温度传感器222和22 上方的情况。图2并没有描绘出这种情况。在以上提到的这种情况中，可以在样品孔211和215中测量温度。然后，将样品孔向左移一步，使测量样品孔212和216中的温度的同时，检测样品203和207的发光光束，随后再将样品孔向左移一步，使在测量样品孔213和217中的温度的同时，检测样品204和208的发光光束，随后再将样品孔向左移一步，则变为图2所描述的这种情况，以此类推。用从样品孔211测量的温度来修正与样品203相关的测试结果，用从样品孔212测量的温度来修正与样品204相关的测试结果。所以，从修正测试结果的角度看，被测温度表示稍早信息，但在很多实际情况中，相对于短暂性的连续测试之间的时间，短暂温度变化一般比较缓慢，所以测试误差十分小。图3示出适用于根据本发明实施例的光学测试装置的温度传感器布局的示意图。温度传感器布局包括用于每个样品孔311，312，313，314的单独温度传感器322，32加， 322b，322c。温度传感器可以与包括多个样品孔的部件成为一体，或与用于接收该包括多个样品孔的单独部件的接口装置成为一体。温度传感器例如可以是热敏电阻或热电偶，其中热敏电阻例如为NTC-电阻(负温度系数)或PTC-电阻(正温度系数)。在图3所示的温度传感器布局中，温度传感器322b的热敏电阻或电压值可以在电线343和344之间被检测。图4示出根据本发明一实施例的被光学测试装置所采用的用于改善光学测试结果的精确度的方法流程图，其中所述光学测试装置包括-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束，以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，以及-处理装置，用于基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果。该方法包括，在步骤401中，测试样品孔SWi中的样品孔具体温度Tit5该方法包括， 在步骤402中，基于样品孔具体温度，用预定数学规则修正关于储存在样品孔SWi内样品Si 的测试结果。该方法包括，在步骤403中，如果有余下的待测样品，继续下一个样品。在根据本发明实施例的方法中，在检测器对来自储存在相应样品孔中的样品的发光光束进行检测的期间测量样品孔具体温度。在根据本发明实施例的方法中，至少一个温度传感器包括用于每个样品孔的单独温度传感器。在根据本发明实施例的方法中，多个样品孔相对于温度传感器移动，以使温度传感器能在一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度。在根据本发明实施例的方法中，当样品孔位于能使检测器检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上时，测量每个特定样品孔中的样品孔具体温度。在根据本发明实施例的方法中，根据以下规则修正每个待测样品的测试结果Mcorr = MXF(T),其中M。m为修正后的测量结果，F(T)为样品孔具体温度T的预定函数，其中样品孔具体温度T从包含待测样品的特定样品孔测得。
在根据本发明实施例的方法中，根据以下规则修正每个待测样品的测试结果Mcorr = MXa (το_τ)其中轧。 为修正后的测量结果，M为测试结果，α和Ttl为预定常数，T为从包含待测样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度。根据本发明一实施例的计算机程序包括被光学测试装置所采用的用于改善光学测试结果的精确度的软件装置，所述光学测试装置包括-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束，以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，-处理装置，用于基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果，和-至少一个温度传感器，被配置为在多个样品孔中测量样品孔具体温度，该至少一个温度传感器能从不同样品孔中测量不同温度。该软件装置包括处理器可执行指令，用于控制可编程处理装置利用预定数学规则，并基于从包含样品的特定样品孔所测得的样品孔具体温度，来修正与每个待测样品相关的测试结果。利用根据本发明实施例的计算机程序来编码根据本发明实施例的计算机可读介质。计算机可读介质例如可以是光盘或电存储装置。上述给定描述中提供的特定例子不应该认为是限制。因此，本发明不仅仅限于以上描述的实施例。
权利要求
1.一种光学测试装置，包括-至少一个激励光源(101，102，201，201a)，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品(103-109,203-210)的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔 (111-117,211-218,311-314)之一中，-至少一个检测器(119，120，219，219a)，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束，以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，-处理装置(121，221)，基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果，以及-至少一个温度传感器(122，222，22加，311，311a，3311b，311c)，被配置为从多个样品孔中测量样品孔具体温度，该至少一个温度传感器能从不同样品孔中测量不同温度，和处理装置被配置为基于从包含样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度，修正与每个待测样品相关的测试结果，其特征在于，多个样品孔(111-117,211-218)相对于该至少一个温度传感器(122， 222,222a)可移动，以使每个温度传感器能从一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度，和该至少一个温度传感器被配置为测量特定样品孔(112)中的样品孔具体温度，其中该特定样品孔(11 每次均位于能使检测器(119，120)检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上。
2.根据权利要求1所述的光学测试装置，其中温度传感器被配置为在检测器对来自储存在相应样品孔中的样品的发光光束进行检测的期间，测量样品孔具体温度。
3.根据权利要求1所述的光学测试装置，包括用于接收分离部件(124，224)的接口装置(123，223)，所述分离部件(124，224)包括多个样品孔。
4.根据权利要求1所述的光学测试装置，包括包含多个样品孔的部件。
5.根据权利要求1所述的光学测试装置，其中处理装置被配置为根据以下规则修正与每个待测样品相关的测试结果Mcorr = MXF(T)，其中M。。 为修正后的测试结果，M为测试结果，以及F(T)为样品孔具体温度T的预定函数，其中样品孔具体温度T从包含待测样品的特定样品孔测得。
6.根据权利要求1所述的光学测试装置，其中处理装置被配置为根据以下规则修正与每个待测样品相关的测试结果Mcorr = MX α (το_τ)，其中M。m为修正后的测试结果，M为测试结果，α和Ttl为预定常数，T为从包含待测样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度。
7.一种由光学测试装置采用的用于改善测试结果精确度的方法，该装置包括-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，以及-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束， 以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，-处理装置，基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果，该方法包括-测量G01)，用温度传感器从多个样品孔中测量样品孔具体温度，以及 -修正002)，基于从包含样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度，修正与每个待测样品相关的测试结果，其特征在于，该方法还包括-相对于温度传感器移动多个样品孔，以使温度传感器能从一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度，以及-当特定样品孔位于能使检测器检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上时，测量每一特定样品孔中的样品孔具体温度。
8.根据权利要求7所述的方法，其中在检测器对来自储存在相应样品孔中的样品的发光光束进行检测的期间，测量样品孔具体温度。
9.根据权利要求7所述的方法，其中根据以下规则修正与每个待测样品相关的测试结果Mcorr = MXF(T)，其中M。。 为修正后的测试结果，M为测试结果，以及F(T)为样品孔具体温度T的预定函数，其中样品孔具体温度T从包含待测样品的特定样品孔测得。
10.根据权利要求7所述的方法，其中根据以下规则修正与每个待测样品相关的测试结果Mcorr = MX α (το_τ)，其中M。m为修正后的测试结果，M为测试结果，α和Ttl为预定常数，T为从包含待测样品的特定样品孔测得的样品孔具体温度。
11.一种由光学测试装置采用的用于改善测试结果精确度的计算机程序，该光学测试装置包括-至少一个激励光源，其中每一个激励光源被配置为产生用于至少一个待测样品的激励光束，每个待测样品被储存在多个样品孔之一中，-至少一个检测器，其中每一个检测器被配置为检测由待测样品之一发出的发射光束， 以及产生响应于该被测发射光束的检测信号，-可编程处理装置，用于基于与样品相关的检测信号产生每个待测样品的测试结果，和 -至少一个温度传感器，被配置为在多个样品孔中测量样品孔具体温度，该至少一个温度传感器能从不同样品孔中测量不同温度，该计算机程序产品包括处理器可执行指令，用于控制可编程处理装置，以基于从包含样品的特定样品孔所测得的样品孔具体温度，来修正与每个待测样品相关的测试结果，其特征在于，该计算机程序产品还包括用于控制可编程处理装置执行以下内容的处理器可执行指令-控制多个样品孔相对于温度传感器移动，以使每个温度传感器能从一个以上的样品孔中测量样品孔具体温度，以及-当特定样品孔位于能使检测器检测到从储存在该样品孔中的样品发射的发光光束的机械位置上时，控制至少一个温度传感器测量特定样品孔中的样品孔具体温度。
全文摘要
根据本发明的光学测试装置包括被配置为从多个样品孔(111-117)测量样品孔具体温度的一个或多个温度传感器(122)，其中多个样品孔(111-117)被配置为储存被光学测试的样品(103-109)。光学测试装置的处理装置(121)被配置为基于测得的样品孔具体温度，用预定数学规则修正通过光学测试得到的测试结果。由此减少了因不同样品间的温度差异所引起的对测试结果的温度修正的准确度的不利影响。
文档编号G01N21/64GK102292628SQ200980155136
公开日2011年12月21日 申请日期2009年10月13日 优先权日2009年1月26日
发明者J·莱特内, M·奥加拉 申请人:沃拉克有限公司
专业数控铣床产品供应商
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