专利名称：嵌入式测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试系统领域，具体涉及一种用于电子产品功能性测试和电路在线测试的嵌入式测试系统。
背景技术：
目前绝大多电子电路生产测试设备都是基于PC机为控制器，同时还需外加数字万用表，电源供应器，计数器，波形发生器等各种测量设备，组成了现有的生产测试设备。这样不但导致设备的集成化程度低，体积庞大，不便于放置和移动，同时测试资源浪费，成本高，不适合大规模电子产品的测试。近年来，随着嵌入式技术的不断发展，嵌入式系统开发的日益成熟，使得利用具有低成本高效率的嵌入式系统代替PC机系统来控制生产测试设备的方案成为了可能。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种集成度高、成本低、适用于大规模电子产品测试的嵌入式测试系统。实现本实用新型目的的技术方案是一种嵌入式测试系统，包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量�？椤⒂肭度胧街醒氪砥飨嗔南允灸？�、与嵌入式中央处理器相连的存储�？�、与嵌入式中央处理器相连的控制模块、为嵌入式中央处理器提供电源的电源�？椤⒂肭度胧街醒氪砥飨嗔牧砟？椤⒂肭度胧街醒氪砥飨嗔腞S232数据处理�？�。所述测量模块包括数字万用表测量�？�、计数器测量模块、波形发生器测量�？椋� 所述数字万用表测量�？�、计数器测量�？楹筒ㄐ畏⑸鞑饬磕？榉直鹩肭度胧街醒氪砥飨嗔�。本实用新型具有积极的效果(I)、本实用新型中，嵌入式测试系统中包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量�？�、与嵌入式中央处理器相连的显示�？�、 与嵌入式中央处理器相连的存储�？�、与嵌入式中央处理器相连的控制�？�、为嵌入式中央处理器提供电源的电源模块，由嵌入式中央处理器独立控制测量设备，完成测试，集成了各种测量功能于一身，集成度高，体积�。恍枰诺腜C控制器及外接测量设备，使用方便，相比传统的测量设备而言节省了测试资源，成本低，适用适用于大规模电子产品测试。(2)、本实用新型中，还包括与嵌入式中央处理器相连的联网处理�？�、与嵌入式中央处理器相连的RS232数据处理�？�。可以通过联网处理�？榱拥酵成希也馐怨炭梢约浣拥耐ü充榔骺刂疲馐允菀部梢约浣拥赝ü充榔鞣梦驶袢。啾却车拇油饨拥缒陨匣袢《裕褂酶奖憧旖啵袢〉氖莞笆庇行�。
图I为本实用新型的系统框图。[0010]附图标记嵌入式中央处理器I、测量�？�2、数字万用表测量�？�21、计数器测量�？�22、波形发生器测量�？�23、显示�？�3、存储�？�4、控制�？�5、电源�？�6、联网处理模块7、RS232数据处理模块8。
具体实施方式
(实施例I)见图1，一种嵌入式测试系统，包括嵌入式中央处理器I、与嵌入式中央处理器I相连的测量�？�2、与嵌入式中央处理器I相连的显示�？�3、与嵌入式中央处理器I相连的存储模块4、与嵌入式中央处理器I相连的控制�？�5、为嵌入式中央处理器I提供电源的电源�？�6、与嵌入式中央处理器I相连的联网处理�？�7、与嵌入式中央处理器I相连的 RS232数据处理�？�8。本实施例中，嵌入式中央处理器中移植了 Linux操作系统，由嵌入式中央处理器相关系统控制相关测量设备，完成测试任务，集成各种测量功能于一体，使用方便，且适用处理大规模电子产品的测试。RS232数据处理模块，可以有效处理测试中的各种Debug，控制�？榘袒蚴蟊辏梢杂行У亩郧度胧街醒氪砥鹘锌刂剖淙耄拱肆砟？椋ü？榭梢粤酉低秤胪撤衿鳎⒖山馐越峁娲⒃诖娲⒛？橹谢蛲绶衿髦校４媸萑壹笆保诓馐允币嗫梢酝ü撤衿鞫陨璞附性冻谭梦始霸冻炭刂疲迪侄圆饬拷峁氖凳奔嗫睾吞崛�。同于此系统中均存有嵌入式中央处理器，故可以由网页服务器分别控制多个系统，方便快截。测量�？�2包括数字万用表测量�？�21、计数器测量�？�22、波形发生器测量�？�23，所述数字万用表测量�？�21、计数器测量�？�22和波形发生器测量�？�23分别与嵌入式中央处理器I相连接。还可以包括集其他各种测量�？橛胍惶�。显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而这些属于本实用新型的实质精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种嵌入式测试系统，包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量�？�、与嵌入式中央处理器相连的显示�？�、与嵌入式中央处理器相连的存储�？�、与嵌入式中央处理器相连的控制模块、为嵌入式中央处理器提供电源的电源�？�。
2.根据权利要求I所述的嵌入式测试系统，其特征在于还包括与嵌入式中央处理器相连的联网处理�？椤⒂肭度胧街醒氪砥飨嗔腞S232数据处理模块。
3.根据权利要求2所述的嵌入式测试系统，其特征在于所述测量�？榘ㄊ滞蛴帽聿饬磕？�、计数器测量模块、波形发生器测量�？椋鍪滞蛴帽聿饬磕？�、计数器测量�？楹筒ㄐ畏⑸鞑饬磕？榉直鹩肭度胧街醒氪砥飨嗔�。
专利摘要本实用新型公开了一种嵌入式测试系统，包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量�？�、与嵌入式中央处理器相连的显示模块、与嵌入式中央处理器相连的存储�？�、与嵌入式中央处理器相连的控制�？�、为嵌入式中央处理器提供电源的电源�？�。本实用新型中集成了各种测量功能于一身，集成度高，体积�。恍枰诺腜C控制器及外接测量设备，使用方便，相比传统的测量设备而言节省了测试资源，成本低，适用适用于大规模电子产品测试。
文档编号G01R31/00GK202351351SQ20112050718
公开日2012年7月25日 申请日期2011年12月8日 优先权日2011年12月8日
发明者诸荩锋 申请人:苏州工业园区河洛科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
