专利名称：光电探测器探头结构及使用其的辐照均匀性测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于太阳模拟器光学性能参数测量领域，主要用于太阳模拟器辐照区 域的辐照均勻性测量。
背景技术：
在太阳模拟器的光学性能参数测量中，该实用新型集扫描、测量、控温、数据采集 于一体，相比目前使用的测量手段更加先进，自动化、集成化程度更高。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种能够进行温度控制的用于辐照不均勻度测量的 光电探测器探头结构，以及使用该探头结构的辐照度均勻性测试仪。为了实现上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案光电探测器探头结构，包括硅光电池探测器、光阑、温度传感器、加热片和安装底 座。其中，硅光电池探测器上串联有一个1 Ω的负载电阻，探测器背面粘贴在安装底座的上 表面上，温度传感器粘贴在探测器附近。光阑可通过螺纹与安装底座连接，加热片粘贴在安 装底座的下表面上。探测器、温度传感器和加热片的导线穿过安装底座上的导孔与外界连 接。其中，光电探测器探头结构通过安装底座的4个安装孔与外界进行螺栓固定。其中，硅光电池探测器采用单晶硅光电池，其响应非线性误差优于士0.5%，温度 引起的不稳定误差优于士0.5%/°C。其中，光阑可以采用不同通光孔径的多种光阑。其中，温度传感器采用PT100测温钼电阻。其中，加热片采用薄膜加热片，例如电阻36 Ω，额定功率36W。本实用新型的辐照度均勻性测量仪，包括上述的光电探测器探头、扫描机构、温控 装置、电动控制器、数据采集仪和计算机。其中，光电探测器探头通过螺栓与扫描机构上面 的承载台螺接，扫描结构在电动控制器的控制下带动光电探测器探头按规定的扫描轨迹进 行扫描。温控装置通过导线与光电探测器探头上面的温度探测器和加热片连接，硅光电池 探测器所接收的信号通过导线由数据采集仪进行采集，通过计算机进行记录。其中，电动控制器采用软件控制，可以通过编程输入特定轨迹，实现自动控制功 能。本实用新型可以按照事先编制的扫描轨迹进行辐照度均勻性测量，具有全自动、 集成化、快速、便捷、高精度的优点。
图1是光电探测器探头结构图。其中，1为硅光电池探测器；2为光阑；3为温度传感器；4为加热片；5为安装底座。[0016]图2是辐照均勻性测试仪组成原理图。
具体实施方式
参照图1，本实用新型的光电探测器探头，包括硅光电池探测器1、光阑2、温度传 感器3、加热片4和安装底座5。其中，硅光电池探测器上串联有一个1 Ω的负载电阻，探测 器背面粘贴在安装底座的上表面上，温度传感器粘贴在探测器附近。光阑可通过螺纹与安 装底座连接，加热片4粘贴在安装底座的下表面上。硅光电池探测器1、温度传感器3和加 热片4的导线穿过安装底座5上的导孔与外界连接。整个探头结构通过安装底座的4个安 装孔与外界采取螺栓固定。其中，硅光电池探测器采用单晶硅光电池，其响应非线性误差优 于士0. 5%，温度引起的不稳定误差优于士0. 5% /°C。优选地，光阑2可以采用不同通光孔 径的多种光阑。其中，温度传感器采用PT100测温钼电阻。加热片优选为薄膜加热片，例如 电阻36 Ω，额定功率36W的薄膜加热片。参照图2，本实用新型的辐照度均勻性测量仪，包括上述的光电探测器探头、扫描 机构、温控装置、电动控制器、数据采集仪和计算机。其中，光电探测器探头通过螺栓与扫描 机构上面的承载台螺接，扫描结构在电动控制器的控制下带动光电探测器探头按规定的扫 描轨迹进行扫描。温控装置通过导线与光电探测器探头上面的温度传感器和加热片连接， 硅光电池探测器所接收的信号通过导线由数据采集仪进行采集，通过计算机进行记录。其 中，电动控制器采用软件控制，可以通过编程输入特定轨迹，实现自动控制功能。尽管上文对本实用新型的具体实施方式
给予了详细描述和说明，但是应该指明的 是，我们可以依据本实用新型的构想对上述实施方式进行各种等效改变和修改，其所产生 的功能作用仍未超出说明书及附图所涵盖的精神时，均应在本实用新型的保护范围之内。
权利要求一种光电探测器探头结构，包括硅光电池探测器、光阑、温度传感器、加热片和安装底座，其特征在于，硅光电池探测器上串联有一个1Ω的负载电阻，硅光电池探测器背面粘贴在安装底座的上表面上，温度传感器粘贴在硅光电池探测器附近，光阑通过螺纹与安装底座连接，加热片粘贴在安装底座的下表面上，硅光电池探测器、温度传感器和加热片的导线穿过安装底座上的导孔与外界连接。
2.如权利要求1所述的光电探测器探头结构，其特征在于，光电探测器探头结构通过 安装底座的4个安装孔与外界进行螺栓固定。
3.如权利要求1所述的光电探测器探头结构，其特征在于，硅光电池探测器中硅光电 池为单晶硅光电池，其响应非线性误差优于士0.5%，温度引起的不稳定误差优于士0.5% ,C。
4.如权利要求1-3任一项所述的光电探测器探头结构，其特征在于，光阑为不同通光 孔径的光阑。
5.
6.如权利要求1-3任一项所述的光电探测器探头结构，其特征在于，加热片为薄膜加 热片。
7.一种辐照均勻性测试仪，包括权利要求1-6任一项所述的光电探测器探头结构、扫 描机构、温控装置、电动控制器、数据采集仪和计算机，其特征在于，光电探测器探头通过螺 栓与扫描机构上面的承载台螺接，扫描机构在电动控制器的控制下带动光电探测器探头按 规定的扫描轨迹进行扫描，温控装置通过导线与光电探测器探头上面的温度传感器和加热 片连接，硅光电池探测器所接收的信号通过导线由数据采集仪进行采集，通过计算机进行 记录。
专利摘要本实用新型公开了一种辐照均匀性测试仪，包括光电探测器探头、扫描机构、温控装置、电动控制器、数据采集仪和计算机。其中，光电探测器探头通过螺栓与扫描机构上面的承载台螺纹连接，扫描机构在电动控制器的控制下带动光电探测器探头按规定的扫描轨迹进行扫描。温控装置通过导线与光电探测器探头上面的温度传感器和加热片连接，硅光电池探测器所接收的信号通过导线由数据采集仪进行采集，通过计算机进行记录。本实用新型可以按照事先编制的扫描轨迹进行辐照度均匀性测量，具有全自动、集成化、快速、便捷、高精度的优点。
文档编号G01J1/42GK201653545SQ200920293539
公开日2010年11月24日 申请日期2009年12月4日 优先权日2009年12月4日
发明者于江, 杨林华, 蒋山平 申请人:北京卫星环境工程研究所
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