专利名称：提高数字抓取�？槭莶裳约按娣拍芰Φ淖爸玫闹谱鞣椒�
技术领域：
本实用新型涉及一种半导体测试装置，具体涉及一种半导体测试过程中自动测试设备的数据采样及存放装置。
背景技术：
目前，在半导体测试领域，一般的自动测试设备(ATE)本身的数字抓取�？� DCAP (Digital Capture)存放容量是有限的。特别在数字抓取�？镈CAP串口芯片的输出 时，往往一个存放位地址只能存放一个bit的数据，导致其他的bit位空闲而浪费。如
图1所示，目前串口输出被测芯片在测试仪上的数字抓取�？镈CAP采样方式， 每个地址只有1个bit位被使用。因此，需要找到一种装置，能够使空闲的bit位得到充分 的应用。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种装置，它可以提高数字抓取�？槭� 采样以及存放能力。为了解决以上技术问题，本实用新型提供了一种提高数字抓取�？槭莶裳约� 存放能力的装置；包括被测芯片，被测芯片上有串行端口；自动测试设备，自动控制设备 上数字抓取模块端口 ；所述被测芯片和自动测试设备之间连接有数据转换电路，所述数据 转换电路包括高频采样时钟和寄存器；数据转换电路通过高频采样时钟采集被测芯片的串 口输出，并存放在一个高bit位的采样寄存器中，该寄存器的位数等于数字抓取�？榇娲� 器每个地址的bit位数；所述数据转换电路的输出端连接到自动控制设备的数字抓取模块 端□。本实用新型的有益效果在于可以提高自动测试设备ATE数字抓取�？镈CAP数据 采样以及存放能力，采用本实用新型的装置可以明显提高自动测试设备ATE的能力，克服 了因为硬件本身数字抓取�？镈CAP存放器能力不足的问题。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细说明。图1是现有串口输出被测芯片在测试仪上的数字抓取�？镈CAP采样示意图；图2是本实用新型实施例所述的数字抓取�？镈CAP采样示意图。
具体实施方式
如图2所示，应用本实用新型的装置的数字抓取模块DCAP采样方式，通过一个数 据转换电路，把串口输出的数据根据需要转换成并口的输出，之后一起数字抓取�？镈CAP 采样到地址中去，提高了数据的采样、存放能力；该方案是一种提高自动测试设备ATE数字 抓取�？镈CAP数据采样以及存放能力的装置。[0011]把该数据转换电路插入到自动测试设备ATE和被测芯片之间，并把数据转换电路的输出端子100到IOn分别转换到自动测试设备ATE的数字抓取�？镈CAP采样端子。当需要使用数字抓取�？镈CAP进行采样时，先通过高频采样时钟把被测芯片的 串口输出采集到数据转换电路中，并按照状态需要存放在一个高bit位的采样寄存器中， 该寄存器的位数等于数字抓取�？镈CAP存储器每个地址的bit位数。该数据转换电路中状态机共有3个状态，可以根据情况进行选择。状态Sl为默认状态，该状态下，串口进来的数据直接被存放到采样寄存器的bitO 中，其他bit不储存数据。状态S2为数字抓取�？镈CAP存储器最大利用状态。该状态下，采样数据会依次 填满采样寄存器的所有bit位，一旦填满，在输出时钟的控制下，并口输出。状态S3为可调节状态，可以根据串口输出数据的具体特征，自由定义采样寄存器 的bit位数，以便数字抓取�？镈CAP采样后，数据处理更加方便。本实用新型并不限于上文讨论的实施方式。以上对具体实施方式
的描述旨在于为 了描述和说明本实用新型涉及的技术方案。基于本实用新型启示的显而易见的变换或替代 也应当被认为落入本实用新型的保护范围。以上的具体实施方式
用来揭示本实用新型的最 佳实施装置，以使得本领域的普通技术人员能够应用本实用新型的多种实施方式以及多种 替代方式来达到本实用新型的目的。
权利要求一种提高数字抓取�？槭莶裳约按娣拍芰Φ淖爸茫话ū徊庑酒徊庑酒嫌写卸丝冢蛔远馐陨璞福远刂粕璞干鲜肿ト∧？槎丝冢黄涮卣髟谟冢霰徊庑酒妥远馐陨璞钢淞佑惺葑坏缏罚鍪葑坏缏钒ǜ咂挡裳敝雍图拇嫫鳎皇葑坏缏吠ü咂挡裳敝硬杉徊庑酒拇谑涑觯⒋娣旁谝桓龈遙it位的采样寄存器中，该寄存器的位数等于数字抓取�？榇娲⑵髅扛龅刂返腷it位数；所述数据转换电路的输出端连接到自动控制设备的数字抓取�？槎丝�。
2.如权利要求1所述的提高数字抓取模块数据采样以及存放能力的装置，其特征在 于，所述数据转换电路串口进来的数据直接被存放到采样寄存器的bitO中，其他bit位不 储存数据。
3.如权利要求1所述的提高数字抓取�？槭莶裳约按娣拍芰Φ淖爸茫涮卣髟� 于，所述数据转换电路采样数据会依次填满采样寄存器的所有bit位，一旦填满，在输出时 钟的控制下，并口输出。
4.如权利要求1所述的提高数字抓取模块数据采样以及存放能力的装置，其特征在 于，所述数据转换电路根据串口输出数据的具体特征，定义采样寄存器的bit位数。
专利摘要本实用新型公开了一种提高数字抓取�？槭莶裳约按娣拍芰Φ淖爸茫话ū徊庑酒徊庑酒嫌写卸丝冢蛔远馐陨璞福远刂粕璞干鲜肿ト∧？槎丝冢凰霰徊庑酒妥远馐陨璞钢淞佑惺葑坏缏罚鍪葑坏缏钒ǜ咂挡裳敝雍图拇嫫鳎皇葑坏缏吠ü咂挡裳敝硬杉徊庑酒拇谑涑觯⒋娣旁谝桓龈遙it位的采样寄存器中，该寄存器的位数等于数字抓取�？镈CAP存储器每个地址的bit位数；所述数据转换电路的输出端连接到自动控制设备的数字抓取�？槎丝�。本实用新型可以提高自动测试设备ATE数字抓取�？镈CAP数据采样以及存放能力。
文档编号G01R31/317GK201555932SQ20092007470
公开日2010年8月18日 申请日期2009年11月19日 优先权日2009年11月19日
发明者�？Ｖ�, 辛吉升 申请人:上海华虹Nec电子有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
