专利名称：一种磁波传感器天线振动试验架的制作方法
技术领域：
本发明涉及试验架，特别涉及一种磁波传感器天线振动试验架。
背景技术：
空间低频波探測器的磁波传感器天线通常装在伸出于卫星星体之外且长度为卫星载荷仓本体直径尺度2倍以上距离的伸杆顶部，远离卫星体干扰源。卫星升空入轨前，イ申杆体呈弯折状由支座支撑并锁定在支座顶部。发射时，卫星体受到强烈 振动使离开支座约束点的伸杆端部的传感器振幅加倍放大及破坏性共振现象，使振动谱中加速度极值达到星体的2倍以上，正弦加速度峰值可超过40g，若不加以控制，会严重破坏传感器及伸杆结构。因此，地面环模测试阶段必须作严格的模拟幅度放大等试验。而通用型试验振动架除了笨重不利于模拟试验外也不能直接装载三个垂直分量的磁波传感器天线也不易避免高次偕波等干扰问题。
发明内容
本发明的目的在干，为实现上述问题，设计一种适合具有特殊结构的卫星空间波探測器传感器在40g加速度振动试验中使用的磁波传感器天线振动试验架。为实现上述发明目的，提出一种磁波传感器天线振动试验架，该磁波传感器天线振动试验架，用于固定磁波传感器天线于振动测试平台上，包括侧板13和安装支点2 ；其特征在干，该试验架还包括底板18 ;所述的底板18与所述的侧板13相互垂直，呈L形；所述的底板18上设有底部安装通孔11 ;所述的侧板13通过底板18将被测部件沿3个正交方向固定于振动测试平台上。所述的侧板13中心部位设有ー个椭圆通孔5。所述的椭圆通孔5的中心位于所述的侧板13中心正上方50mm处；所述的椭圆通孔5的孔面积不小于所述的侧板上表面16面积的1/4。所述的安装支点2成圆台型，所述的安装支点2设置在侧板13朝向被测部件的面上；所述的安装支点2的顶部设有支点螺孔17。所述的侧板13上设有若干安装通孔4环绕于所述的椭圆通孔5周围。所述的侧板13的底部设有长方形通孔6于椭圆通孔5的下方，所述的长方形通孔6内设有ー连结筋12 ;所述的长方形通孔6内开有对称于连结筋12两侧的矩形截面通孔8贯通到底板部分18。所述的连结筋12的断面呈棱形。所述的侧板13的顶部15的两个角呈圆弧形。本发明的优点在于，在环模试验设备方面填补了ー项空白，并适用于同类型被测部件作三维振动试验。本支架使用方便、被测件安装方位精确、方向转换简单，试验架本身高频谐振干扰和次级干扰强度较低，对被测件的试验数据影响极�。谡艺穸退婊穸匝榻峁械母咂灯赘扇旁肷赏耆雎圆患�。
图I为本发明的一种磁波传感器天线振动试验架。附图标识I、L型板2、安装支点3、圆弧角4、安装通孔5、椭圆通孔6、长方形通孔7、底板顶面8、矩形截面通孔9、L型板背面10、椭圆通孔壁11、底部安装通孔12、连接筋13、侧板14、底板底面15、侧板顶部16、侧板上表面17、支点螺孔18、底板
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进行进ー步说明。本发明提供一种磁波传感器天线振动试验架，包括L型板I和安装支点2 ;L型板I是ー个纵向断面成L形的立体折板结构；L型板I包括侧板13和底板18两部分，侧板平面的中部靠近侧板顶部15上开有ー个椭圆通孔5，环绕椭圆通孔周围开有四个安装通孔4，四个安装通孔以侧板上表面的纵向几何平分线对称分布；侧板在椭圆通孔5与底板之间还有ー个长方形通孔6，所述的长方形通孔内设有断面为棱形的连结筋12和两个连通底板底面14的矩形截面通孔8 ;所述的位于试验架底板18上开有ニ个底部安装通孔11 ;所述的安装支点2是环绕在椭圆通孔5周围的4个锥形圆台，锥形圆台顶部设有固定被测部件的支点螺孔17 ;侧板顶部15的两个角是圆弧角3。上述技术方案中，所述的L型板I为金属铝制成，侧板13的三维尺度的LI L2 L3比例关系为(25 32) (18 27) (4 6)，其中，L1、L2和L3分别是侧板13的长度、宽度和厚度。上述技术方案中，底板18的三维尺度的L2 L4 L3比例关系为(18 27) (6 11) (4 6)。其中，L4、L2和L5分别是底板18的长度、宽度和厚度。底板18的厚度L5是指在底板顶面7和底板底面14这两个平面之间的垂直距离。上述技术方案中，所述的安装支点2的锥帽形圆台的轴向主截面的锥形夹角为30度 70度。上述技术方案中，所述的圆弧角3的半径大于或等于L型板宽度L2的1/8。上述技术方案中，所述的椭圆通孔5的孔面积不小于L型板侧板上表面16面积的1/4。上述技术方案中，所述的L型板的底板18的宽度L4不小于L型板侧板部分长度的 1/10。上述技术方案中，所述的圆台型的安装支点2高度为30mm 40mm。本发明可通过下述技术方案予以实现。首先选取型号LY-12、尺寸约为310mmX 220mmX 80mm的铝板，在铝板上去掉ー个尺度265mmX 220mmX 35mm的一部分，使剩下部分成一个纵向断面成L形立体结构的L型板1，侧板上表面16间距220mmX 185mm的4个对称位置上开设直径15mm的安装通孔4。以侧板上表面16长度方向的几何平分线为对称中心线，在L型板I平面上铣出ー个长短轴为160mmX 130mm的椭圆通孔5，其中心位置在长度方向上向板顶部偏离板中心50mm,椭圆通孔5与底板顶面7之间开有I个(60±5)mmX (140± 15)mm的长方形通孔6,长方形通孔6的一边侧壁距大椭圆孔侧壁10约30mm,长方形通孔6的另ー边侧壁位于底板顶面7所在平面内，长方形通孔6的两侧距L型板侧板13两侧均为35mm，长方形通孔6侧壁与底板底面14所在平面之间设有2个供垂直方位安装的矩形截面通孔8,矩形截面通孔有25mmX 13mm的截面,底板顶面7与底板底面14之间还有2个供垂直方位安装的底部安装通孔11。以侧板的椭圆通孔5中心为对称中心、在130mmX 130mm的4个位置上设有凸出于侧板12的侧板上表面16约(35±5)mm的铝质圆台部分用作传感器的4个的安装支点2，圆台形安装支点2的上、底直径分别为Φ 18mm和C>35mm。为减少高次谐振干扰，圆弧角3加工成R彡50mm的圆弧角。四个安装通孔4是L型板平放固定在振动测试平台时的安装孔，此吋，L型板背面9为整个L型板与振动测试平台直接接触的面；通过底板18中矩形截面通孔8和底部安装通孔11使得L型板直立固定在振动测试平台上，此时，底板底面14是安装面。由于通用型振动测试平台的振动方向是沿单一垂直方向振动的，因此要在三维坐标方位试验被测部件就只能通过振动支架及被测部件的不同安装方位来实现。被测部件通过与四个安装支点2相对应即成正方形排列的4个安装脚用螺栓分别固定在安装支点2就可实现测试，在L型板背面9作安装面时所进行的测试就是被测部件的第一个方位测试；对于底板底面14是安装面的情形，此时四个支点螺孔17处于同一个垂直平面上，将被测部件通过四个安装脚固定在四个安装支点2上就可实现第二个方位的测试，再对被测部件相对于侧板13平面的垂直线旋转90度固定就可实现第三个方位的测试，从而就可实现了被测部件沿三个正交方向固定于振动测试平台上的全方位测试。直接加工形成的棱形断面连结筋12的最大宽度处是30mm。将传感器在支架上转动90度角换位安装即可实现在三维坐标方向的振动试验。最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制。尽管參照实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，都不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
权利要求
1.一种磁波传感器天线振动试验架，该磁波传感器天线振动试验架，用于固定磁波传感器天线于振动测试平台上，包括侧板(13)和安装支点(2)； 其特征在于，该试验架还包括底板(18);所述的底板(18)与所述的侧板(13)相互垂直，呈L形；所述的底板(18)上设有底部安装通孔(11);所述的侧板(13)通过底板(18)将被测部件沿三个正交方向固定于振动测试平台上。
2.根据权利要求I所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在于，所述的侧板(13)中心部位设有ー个椭圆通孔(5)。
3.根据权利要求2所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在干，所述的椭圆通孔(5)的中心位于所述的侧板(13)中心正上方50mm处；所述的椭圆通孔(5)的孔面积不小于所述的侧板上表面(16)面积的1/4。
4.根据权利要求I所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在于，所述的安装支点(2)成圆台型，所述的安装支点(2)设置在侧板(13)朝向被测部件的面上；所述的安装支点(2)的顶部设有支点螺孔(17)。
5.根据权利要求I或2所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在于，所述的侧板(13)上设有若干安装通孔⑷环绕于所述的椭圆通孔(5)周围。
6.根据权利要求I所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在于，所述的侧板(13)的底部设有长方形通孔出)于椭圆通孔(5)的下方，所述的长方形通孔出)内设有ー连结筋(12);所述的长方形通孔(6)内开有对称于连结筋(12)两侧的矩形截面通孔(8)贯通到底板部分(18)。
7.根据权利要求6所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在于，所述的连结筋(12)的断面呈棱形。
8.根据权利要求I所述的磁波传感器天线振动试验架，其特征在于，所述的侧板(13)的顶部(15)的两个角呈圆弧形。
全文摘要
本发明涉及一种磁波传感器天线振动试验架，该磁波传感器天线振动试验架，用于固定磁波传感器天线于振动测试平台上，包括侧板(13)和安装支点(2)；该试验架还包括底板(18)；底板(18)与侧板(13)相互垂直，呈L形；底板(18)上设有底部安装通孔(11)；所述的侧板(13)通过底板(18)将被测部件沿3个正交方向固定于振动测试平台上。在环模试验设备方面填补了一项空白，并适用于同类型被测部件作三维振动试验。本支架使用方便、被测件安装方位精确、方向转换简单，试验架本身高频谐振干扰和次级干扰强度较低，对被测件的试验数据影响极�。谡艺穸退婊穸匝榻峁械母咂灯赘扇旁肷赏耆雎圆患�。
文档编号G01M7/06GK102680194SQ20111005931
公开日2012年9月19日 申请日期2011年3月11日 优先权日2011年3月11日
发明者曹晋滨, 曾力, 王作桂, 董伟 申请人:中国科学院空间科学与应用研究中心
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