专利名称：焊缝跟踪检测设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及检测技术领域，尤其是涉及一种焊缝跟踪检测设备。
背景技术：
在自动化焊接领域，由于操作者不宜进入焊接工作区域，从而不能近距离实时监 视焊接过程并作必要的调节控制，所以当实际的焊接条件发生变化时，例如焊接过程中的 工件在加工、装配过程中的尺寸误差和位置偏差以及工件加热变形等因素的变化会使接头 位置偏移预定路径，这样会导致焊接质量下降甚至失败。因此，精确的焊缝跟踪是保证焊接 质量的关键。现有技术中广泛应用结构光焊缝跟踪传感器对焊缝进行跟踪和检测，传统上常用 单线结构光焊缝跟踪传感器，因此只能用于直线焊缝的跟踪和检测。对于曲线焊缝，需要采 用多线结构光进行跟踪和检测。传统上，多线结构光采用衍射光栅或多个激光器产生。采 用衍射光栅的方式，价格昂贵，而采用多个激光器的方式，体积较大。此外，传统多线结构光 的光路不可调整，工况适用性差。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的 在于提出一种焊缝跟踪检测设备，该焊缝跟踪检测设备能够产生多线结构光用于检测曲线 焊缝，而且体积小、成本低、光路可调整，调整操作简单，工况适用性好。根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备包括用于对焊缝成像的成像器件；用于 产生结构光的结构光发生器；以及光学器件，所述光学器件可反射和可折射光以将所述结 构光发生器发射出的结构光分成照射到焊缝上的折射光和反射光。根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备，通过采用光学器件的反射和折射性质来 达到结构光的分光效果，实现对结构光的分光，可对形状复杂的曲线焊缝进行检测跟踪。另外，根据本发明上述实施例的焊缝跟踪检测设备还可以具有如下附加的技术特 征所述光学器件为具有反射和折射特性的光学器件，如光学玻璃片，本例以光学玻 璃片加以说明。所述结构光发生器发射出的结构光入射到所述光学玻璃片上的入射角度α的范 围为70彡α彡80°。所述光学玻璃片的反射面的背面镀有增透膜以减小多次反射。所述成像器件为CXD摄像机。所述结构光发生器为激光发生器。根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备将结构光分成多线结构光后的光路可变， 光路参数可调，适合多种工况条件。另外，体积�。鄹癖阋�。本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变 得明显和容易理解，其中图1是根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备的原理示意图；图2是根据本发明的一个实施例的焊缝跟踪检测设备的成像器件上对焊缝成像 的照片；图3是根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备通过调整光学器件的位置和角度 来实现光路调整的示意图。
具体实施例方式下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终 相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附 图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的 方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明而不是要求本发明必须以特定的方位构造和操 作，因此不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中，“下游”指的方向是沿光线的照射 方向。下面参考图1描述根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备。如图1所示，根据本发明实施例的一种焊缝跟踪检测设备包括用于对焊缝成像的 成像器件1、用于产生结构光的结构光发生器2和光学器件3。可选地，成像器件1为CXD 摄像机。结构光发生器2为激光发生器。具体地，光学器件设置在结构光发生器2与焊缝之间，位于结构光发生器2的下 游。光学器件3为可反射和可折射光的材料，以将结构光发生器2发射出的结构光分 成照射到焊缝上的折射光和反射光。例如，光学器件3可为具有反射和折射性质的光学玻
璃片ο光学玻璃片3被放置为轴线不平行于结构光，即，结构光发生器2发射出的结构光 的入射光与光学玻璃片3之间存在预定角度。下面将参考图1-图3来描述根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备的工作过程。首先，结构光发生器1发射出激光结构光2，该入射光4照射到光学玻璃片3上，发 生了反射和折射现象，产生了折射光5和反射光6。然后，折射光5和反射光6分别照射到 焊缝上，形成了两条结构光条纹7和8。最后在CCD摄像机上成像，实现多线结构光对焊缝 的检测，如图2所示。具体地，在大角度入射的条件下，可实现折射和反射光强的基本相等， 实现了分光效果。在本发明的一个示例中，结构光入射到光学玻璃片3上的入射角度α的 范围为70S α <80°，此时，整个系统结构尺寸最�。止庑Ч詈�。光学玻璃片3的厚度应不超过1mm，以实现更好的分光效果。在本发明的一个示例中，光学玻璃片3的反射面的背面镀有增透膜以减小多次反
如图3所示，通过调整光学玻璃片3的位置和角度，可以实现光束夹角和位置的调 整，与图1中的光学玻璃片3的位置相比，图3中的光学玻璃片3的位置和角度改变，从而 改变了折射光5和反射光6的光束方向，并照射到焊缝上，然后在CXD摄像机1上成像。根据本发明实施例的焊缝跟踪检测设备，通过采用光学器件的反射和折射性质来 达到结构光的分光效果，实现对结构光的分光，可对形状复杂的曲线焊缝进行检测跟踪，并 且光路可变，光路参数可调，适合多种工况条件。另外，根据本发明实施例的焊缝跟踪检测 设备体积小，价格便宜。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、 “示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结 构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的 示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特 点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解在不 脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本 发明的范围由权利要求及其等同物限定。
权利要求
一种焊缝跟踪检测设备，其特征在于，包括用于对焊缝成像的成像器件；用于产生结构光的结构光发生器；以及光学器件，所述光学器件可反射和折射光以将所述结构光发生器发射出的结构光分成照射到焊缝上的折射光和反射光。
2.根据权利要求1所述的焊缝跟踪检测设备，其特征在于，所述光学器件为如光学玻璃片ο
3.根据权利要求2所述的焊缝跟踪检测设备，其特征在于，所述结构光发生器发射出 的结构光入射到所述光学玻璃片上的入射角度α的范围为70S α <80°。
4.根据权利要求2所述的焊缝跟踪检测设备，其特征在于，所述光学器件的反射面的 背面镀有增透膜以减小多次反射。
5.根据权利要求1所述的焊缝跟踪检测设备，其特征在于，所述成像器件为CCD摄像机。
6.根据权利要求1所述的焊缝跟踪检测设备，其特征在于，所述结构光发生器为激光 发生器。
全文摘要
本发明公开了一种焊缝跟踪检测设备，包括用于对焊缝成像的成像器件；用于产生结构光的结构光发生器；以及光学器件，所述光学器件可反射和可折射光以将所述结构光发生器发射出的结构光分成照射到焊缝上的折射光和反射光。根据本发明的焊缝跟踪检测设备，通过采用光学器件的反射和折射性质来达到结构光的分光效果，实现对结构光的分光，可对形状复杂的曲线焊缝进行检测跟踪。
文档编号G01B11/00GK101934418SQ20101023868
公开日2011年1月5日 申请日期2010年7月26日 优先权日2010年7月26日
发明者潘际銮, 郑军 申请人:清华大学
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