专利名称：一种全自动高压介质损耗测试仪检定装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电气设备的绝缘检测设备的检定技术领域，尤其涉及一种全自动 高压介质损耗测试仪检定装置。
技术背景目前，电气设备的绝缘结构均由各种绝缘介质所构成，由于介质的电导，极性介质 中偶极子转动时的摩擦以及介质中的气隙放电，使处在高电压下的介质(或整个绝缘结 构)是有损耗的，这种损耗称为介质损耗，它是电气设备绝缘性能的重要指标。介质损耗测 试仪是一种测量介质损耗正切和电容量的自动化仪表，可以在工频高压下，现场测量各种 绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗正切值和电 容值，在电力系统中应用极为频繁，检定任务也比较繁重。依据DL/T962-2005高压介质损 耗测试仪通用技术条件的要求，检定点需要选定值电容(如IOOpF)的标准介质损耗器在介 损测试仪损耗因数全量限内均勻选取20个校准点进行示值误差校准，还需要选取若干定 值电容(如25pF、50pF、1000pF、10000pF)的标准损耗器在介损仪介质损耗因数量限范围内 选取上、中、下三个校准点进行示值误差校准。而目前为止，国内检定介质损耗测试仪的标 准仪器均为档位需要手动切换的标准介损器，每检定一个点都需要检定人员进入试验区内 切换下一个检定点，几个定值电容之间切换也需要进入试验区内进行换线操作，不仅非常 繁琐，而且在IOkV的试验区域内进行频繁操作存在极大的安全隐患，这显然与我们要求日 益严格的安全生产的精神相悖，因此全自动高压介质损耗测试仪检定装置的研制就显得非 常必要
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种全自动高压介质损耗测试仪检定装置。一种全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中包括数据处理器、驱动单元、介 损档位控制电路，数据处理器的控制信号输出端连接驱动单元的信号输入端，驱动单元的 信号输出端连接介损档位控制电路的控制端，介损档位控制电路的高压信号输入端用于连 接待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，介损档位控制电路的测量结果输出端用于 连接待测高压介质损耗测试仪的低压取样输入端。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中该检定装置还包括存储单元， 存储单元连接在数据处理器的存储端口。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中所述的介损档位控制电路包 括至少两个档位检测电路，各档位检测电路的高压输入端之间以及各档位检测电路的测量 信号输出端之间均连接有继电器控制接点；各档位检测电路均包括一定值电容、一钳位电 容、至少两个依次串接的继电器控制接点，定值电容与各继电器控制接点相串接，钳位电容 连接于定值电容负极与地之间；各继电器控制接点两端均用于并接相应阻值的电阻。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中各继电器控制接点两端所并接的相应档位阻值的电阻单元；各电阻单元均包括相互串接的定值电阻和微调电位器，各 电阻单元中的定值电阻的阻值远大于微调电位器的阻值。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中所述的介损档位控制电路包 括第一、第二、第三档位检测电路，所述待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端连接第 一继电器的单刀双档接点的输入接脚，第一档位检测电路的高压输入端连接第一继电器的 单刀双档接点常闭接脚，第一继电器的单刀双档接点�？咏帕拥诙痰缙鞯サ端到� 点的输入接脚，第二继电器的单刀双档接点常闭接脚连接第二档位检测电路的高压输入 端，第二继电器的单刀双档接点�？咏帕拥谌滴患觳獾缏返母哐故淙攵耍坏谝坏滴� 检测电路的测量信号输出端连接第三继电器的单刀双档接点常闭接脚，第三继电器的单刀 双档接点的输出接脚用于输出测量结果信号，第四继电器的单刀双档接点的输出接脚连接 第三继电器的单刀双档接点常开接脚，第四继电器的单刀双档接点常闭、�？咏欧直鸲� 应连接第二、第三档位检测电路的测量信号输出端；第一档位检测电路的包括第一定值电容、第一钳位电容、第一 第六检测继电器 常闭接点，第一定值电容与第一 第六检测继电器常闭接点依次串联，第一钳位电容连接 于第一定值电容负极与地之间；第一 第六检测继电器常闭接点的两端分别并联有相应档 位的电阻单元；第二档位检测电路的包括第二定值电容、第二钳位电容、第七 第十二检测继电 器常闭接点，第二定值电容与第七 第十二检测继电器常闭接点依次串联，第二钳位电容 连接于第二定值电容负极与地之间；第七 第十二检测继电器常闭接点的两端分别并联有 相应档位的电阻单元；第三档位检测电路的包括第三定值电容、第三钳位电容、第十三 第十八检测继 电器常闭接点，第三定值电容与第十三 第十八检测继电器常闭接点依次串联，第三钳位 电容连接于第三定值电容负极与地之间；第十三 第十八检测继电器常闭接点的两端分别 并联有相应档位的电阻单元；各电阻单元均包括相互串接的相应档位阻值的电阻和微调电位器，各电阻单元中 的电阻的阻值远大于微调电位器的阻值。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中所述的驱动单元包括移位寄 存器和达林顿管，移位寄存器的信号输入端连接数据处理器的控制信号输出端，移位寄存 器的信号输出端连接达林顿管的信号输入端，达林顿管的信号输出端各管脚对应控制相应 继电器线圈的上电。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中该检定装置还包括显示单元 和操控单元，显示单元的信号输入端用于连接所述数据处理器的显示信号输出端，操控单 元的信号输出端用于连接所述数据处理器的操控信号输入端。所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中该检定装置还包括用于与上 位机连接通讯的通讯单元，通讯单元的数据输入/输出端连接所述数据处理器的通讯端。本实用新型采用上述技术方案后将达到如下的技术效果本实用新型的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，将该检定装置的高压信号输 入端连接待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，由该检定装置的数据处理器通过驱 动单元控制介损档位控制电路实施相应档位的转换，待测高压介质损耗测试仪输出的高压信号通过介损档位控制电路相应档位电容、电阻后降为相应低压信号，该低压信号传送到 待测高压介质损耗测试仪的低压取样输入端，由该待测高压介质损耗测试仪对该低压信号 进行计算，计算结果即为该待测高压介质损耗测试仪处理得到的相应档位的介损值，如果 得到的该介损值偏离对应档位的标准值，说明该待测高压介质损耗测试仪出现偏差，需要 校准，如此可见，检测过程中完全不用手工操作换挡，彻底解决了操作人员在高压环境下的 安全保障问题，并且检测快速准确，可提高检测效率。
图1为本实用新型的全自动高压介质损耗测试仪检定装置的结构原理框图；图2为图1检定装置中的数据处理器与存储单元的电路连接图；图3为图1检定装置中驱动单元的电路原理图；图4为图1检定装置中介损档位控制电路的正接线方式的电路原理图；图5a为本实用新型全自动高压介质损耗测试仪检定装置检定原理的串联模型；图5b为对应图5串联模型的矢量图。
具体实施方式
本实用新型的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，如图1所示，包括数据处理 器、存储单元、驱动单元、介损档位控制电路，存储单元连接在数据处理器的存储端口，数据 处理器的控制信号输出端连接驱动单元的信号输入端，驱动单元的信号输出端连接介损档 位控制电路的控制端，可将介损档位控制电路的A端用作高压信号输入端，用于连接待测 高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，B端用作测量结果输出端，用于连接待测高压介质 损耗测试仪的低压取样输入端；也可将介损档位控制电路的B端用作高压信号输入端，用 于连接待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，A端用作测量结果输出端，用于连接待 测高压介质损耗测试仪的低压取样输入端。图2为数据处理器U6 (采用8958)与存储单元中存储芯片U7 (采用25045)的电路 连接图，数据处理器U6的7、8脚分别连接按键面板上的“up”键、“down”键的信号输出端， 其中，“up”键是换档时候的每按一次档位递增一次，“down”键是换档时候的每按一次档位 递减一次，当然也可以用红外线�？仄髌鸬较喽杂诘牟僮�。数据处理器U6的32 39脚对 应连接显示单元中显示器接口 J9的17 10脚，用于驱动显示器；数据处理器TO的25 28脚分别对应连接存储芯片U7的1、2、5、6脚，存储芯片U7用于存储检测结果信息。图3为驱动单元的电路原理图，所述的驱动单元包括第一、第二、第三移位寄存器 U1、U2、U3(均采用74LS595)和第一、第二、第三达林顿管U4、U5、TO (均采用2803)，第一、第 二、第三移位寄存器U1、U2、U3依次级联，第二移位寄存器U2的14脚连接第一移位寄存器 Ul的9脚，第三移位寄存器U3的14脚连接第二移位寄存器U2的9脚，第一移位寄存器Ul 的14、11、12脚分别连接所述数据处理器U6的1、2、3脚，第二移位寄存器U2的11、12脚分 别连接所述数据处理器U6的2、3脚，第三移位寄存器U3的11、12脚分别连接所述数据处 理器U6的2、3脚；第一移位寄存器Ul的15脚以及1 7脚分别连接第一达林顿管U4的 1 8脚，第一达林顿管U4的11 18脚分别连接所述介损档位控制电路中继电器IKlA 1K6A和继电器K1A、K3A的线圈的第一端，继电器IKlA 1K6A和继电器K1A、K3A的线圈的第二端均连接+12V电源；第二移位寄存器U2的15脚以及1 7脚分别连接第二达林顿管 TO的1 8脚，第二达林顿管U5的11 18脚分别连接所述介损档位控制电路中继电器 2K1A 2K6A和继电器K2A、K4A的线圈的第二端，继电器2K1A 2K6A和继电器K2A、K4A 的线圈的第二端均连接+12V电源；第三移位寄存器U3的15脚以及1 5脚分别连接第三 达林顿管TO的1 6脚，第三达林顿管U6的13 18脚分别连接所述介损档位控制电路 中继电器3K1A 3K6A的线圈的第三端，继电器3K1A 3K6A的线圈的第三端均连接+12V 电源；图4为介损档位控制电路的电路原理图，本实施例是将介损档位控制电路的A端 用作高压信号输入端，用于连接待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，B端用作测量 结果输出端，用于连接待测高压介质损耗测试仪的低压取样输入端；所述的介损档位控制 电路包括第一、第二、第三档位检测电路，所述待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端 连接第一继电器KlA的单刀双档接点的输入接脚3脚，第一档位检测电路的高压输入端连 接第一继电器KlA的单刀双档接点常闭接脚5脚，第一继电器KlA的单刀双档接点常开接 脚7脚连接第二继电器K2A单刀双档接点的输入接脚3脚，第二继电器K2A的单刀双档接 点常闭接脚5脚连接第二档位检测电路的高压输入端，第二继电器K2A的单刀双档接点常 开接脚7脚连接第三档位检测电路的高压输入端；第一档位检测电路的测量信号输出端连 接第三继电器K3A的单刀双档接点常闭接脚5脚，第三继电器K3A的单刀双档接点的输出 接脚3脚用于输出测量结果信号，第四继电器K4A的单刀双档接点的输出接脚3脚连接第 三继电器K3A的单刀双档接点常开接脚7脚，第四继电器K4A的单刀双档接点常闭、常开接 脚5脚、7脚分别对应连接第二、第三档位检测电路的测量信号输出端；第一档位检测电路包括第一定值电容Cl (100PF)、第一钳位电容Ctl、第一 第六 检测继电器IKlA 1K6A的常闭接点，第一定值电容Cl与第一 第六检测继电器IKlA 1K6A常闭接点依次串联，第一钳位电容Ctl连接于第一定值电容Cl负极与地之间；第一检 测继电器IKlA常闭接点的两端并联有电阻IRs 1与微调电位器IWl串联构成的第一电阻 单元，第二检测继电器1K2A常闭接点的两端并联有电阻1Rs2与微调电位器1W2串联构成 的第二电阻单元，第三检测继电器1K3A常闭接点的两端并联有电阻1Rs3与微调电位器1W3 串联构成的第三电阻单元，第四检测继电器1K4A常闭接点的两端并联有电阻1Rs4与微调 电位器1W4串联构成的第四电阻单元，第五检测继电器1K5A常闭接点的两端并联有电阻 1Rs5与微调电位器1W5串联构成的第五电阻单元，第六检测继电器1K6A常闭接点的两端并 联有电阻1Rs6与微调电位器1W6串联构成的第六电阻单元。第二档位检测电路的包括第二定值电容C2、第二钳位电容Ct2、第七 第十二检 测继电器2K1A 2K6A常闭接点，第二定值电容C2与第七 第十二检测继电器2K1A 2K6A 常闭接点依次串联，第二钳位电容Ct2连接于第二定值电容C2负极与地之间；第七检测继 电器2K1A常闭接点的两端并联有电阻2Rs 1与微调电位器2W1串联构成的第七电阻单元， 第八检测继电器2K2A常闭接点的两端并联有电阻2Rs2与微调电位器2W2串联构成的第八 电阻单元，第九检测继电器2K3A常闭接点的两端并联有电阻2Rs3与微调电位器2W3串联 构成的第九电阻单元，第十检测继电器2K4A常闭接点的两端并联有电阻2Rs4与微调电位 器2W4串联构成的第十电阻单元，第十一检测继电器2K5A常闭接点的两端并联有电阻2Rs5 与微调电位器2W5串联构成的第十一电阻单元，第十二检测继电器2K6A常闭接点的两端并
7联有电阻2Rs6与微调电位器2W6串联构成的第十二电阻单元。第三档位检测电路的包括第三定值电容C3、第三钳位电容Ct3、第十三 第十八 检测继电器3K1A 3K6A常闭接点，第三定值电容C3与第十三 第十八检测继电器3K1A 3K6A常闭接点依次串联，第三钳位电容Ct3连接于第三定值电容C3负极与地之间；第十三 检测继电器3K1A常闭接点的两端并联有电阻3Rsl与微调电位器3W1串联构成的第十三电 阻单元，第十四检测继电器3K2A常闭接点的两端并联有电阻3Rs2与微调电位器3W2串联 构成的第十四电阻单元，第十五检测继电器3K3A常闭接点的两端并联有电阻3Rs3与微调 电位器3W3串联构成的第十五电阻单元，第十六检测继电器3K4A常闭接点的两端并联有电 阻3Rs4与微调电位器3W4串联构成的第十六电阻单元，第十七检测继电器3K5A常闭接点 的两端并联有电阻3Rs5与微调电位器3W5串联构成的第十七电阻单元，第十八检测继电器 3K6A常闭接点的两端并联有电阻3Rs6与微调电位器3W6串联构成的第十八电阻单元。具有损耗的绝缘材料或结构，通�？捎么虿⒘牡缱�、电容组成的等效回路 和相应的矢量图来表示，而该检定装置中所采用的介损因数标准器采用串联模型，如图5a、 图5b所示。由 ρ = UrI = Uctg δ I故tg δ = Ur/Uc = wRsCs当电阻Rs的阻值增大时，正切值tan δ也增大；参数δ反映了介质损耗的大�。� 故称介质损耗角，介质损耗角的正切值tan δ则是衡量介质损耗的重要参数，由此可得到， 要控制介质损耗角正切值tan δ值的大�。恍枰刂频缱鑂s的大小即可。而本实用新型 是由数据处理器U6控制第一、第二、第三移位寄存器U1、U2、U3驱动第一、第二、第三达林顿 管U4、U5.U6,再通过控制第一、第二、第三达林顿管U4、U5、U6的各管脚的输出来控制相应 继电器线圈的上电、断电来实现相应电阻单元的选择，设置相应电阻单元中的电阻值为需 要的电阻值，即可对待测高压介质损耗测试仪输入相应的标准取样值，如果该高压介质损 耗测试仪对该取样值的计算偏离对应的标准计算结果，即说明该高压介质损耗测试仪出现 偏差，需要校准1、如检定时通过数据处理器U6选择第一档位检测电路需要检测介质损耗角的正切值tg δ为0. 01%时，首先继电器klA不动作，数据处 理器TO控制第一达林顿管U4的18脚使继电器IklA上电，其常闭接点动作断开，此时测量 回路上串联上电阻IRsl和微调电位器IWl，取得对应介质损耗角正切值tg δ为0. 01%的 档位。2、如检定时通过数据处理器U6选择第二档位检测电路需要检测介质损耗角的正切值tg δ为0. 05%时，首先数据处理器U6控制第一达 林顿管U4的12脚使继电器klA上电动作，继电器klA的单刀双档接点的输入接脚3脚连 接�？咏�7脚，同时数据处理器U6控制第二达林顿管U5的17脚使继电器2k2A上电、控 制第一达林顿管U4的11脚使继电器k3A上电动作，取得对应介质损耗角正切值tg δ为 0. 05%的档位。3、如检定时通过数据处理器U6选择第三档位检测电路需要检测介质损耗角的正切值tg δ为5%时，首先数据处理器TO控制第一达林 顿管U4的12脚、第二达林顿管TO的12脚使继电器klA、K2A上电动作，使高压信号连接至第三档位检测电路，同时数据处理器TO控制第三达林顿管TO的18脚使继电器3K1A上电、 控制第一达林顿管U4的11脚使继电器K3A动作、控制第二达林顿管TO的11脚使继电器 K4A动作，即取得对应介质损耗角正切值tg δ为5%的档位。注本实施例中分别串接对应电阻IRs l、2Rs l、3Rs 1的电阻单元，可取得对应介质损耗角正切 值tgS为0.01%的档位；分别串接对应电阻1RS2、2RS2、3RS2的电阻单元，可取得对应介质损耗角正切值 tg5为0.05%的档位；分别串接对应电阻1Rs3、2RS3、3Rs3的电阻单元，可取得对应介质损耗角正切值 tg5为0.1%的档位；分别串接对应电阻1Rs4、2Rs4、3Rs4的电阻单元，可取得对应介质损耗角正切值 tg5为0.5%的档位；分别串接对应电阻1Rs5、2RS5、3RS5的电阻单元，可取得对应介质损耗角正切值 tg5为的档位；分别串接对应电阻1Rs6、1Rs6、1Rs6的电阻单元，可取得对应介质损耗角正切值 tg5为5%的档位。调试时根据公式tg δ ^ 2 Π fRs(C+Ct)，可反算出相应电阻Rs (本实施例中各电 阻Rs采用高精度低PPM值的电阻)的大概值后，再调节微调电位器W，使电阻Rs的值>> 微调电位器W的阻值，可使本检定装置的检测工作更稳定、准确。所述的继电器K1A、K2A、 K3A、K4A均采用高压真空继电器，钳位电容Ctl、Ct2、Ct3的值要保证在有高压而无电阻负 载的情况下在钳位电容上的电压降不超过400V有效值，以保证该检定装置和外围操作人 员的安全，所以钳位电容Ctl、Ct2、Ct3的电容值一般远大于对应档位的定值电容的值，但 耐压不超过一千伏即可。此外，也可将介损档位控制电路的B端用作高压信号输入端，用于连接待测高压 介质损耗测试仪的高压信号输出端，A端用作测量结果输出端，用于连接待测高压介质损耗 测试仪的低压取样输入端，这种反接的介损档位控制电路的控制过程请参照上述图4的说 明，这里不再赘述。本实用新型的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，还包括用于与上位机连接通 讯的通讯单元，该通讯单元包括通讯芯片，通讯通讯芯片的数据输入/输出端连接所述数 据处理器TO的通讯端10、11脚(RXD管脚、TXD管脚)。通讯芯片可采用型号为MAX232的 通讯芯片。
权利要求一种全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于包括数据处理器、驱动单元、介损档位控制电路，数据处理器的控制信号输出端连接驱动单元的信号输入端，驱动单元的信号输出端连接介损档位控制电路的控制端，介损档位控制电路的高压信号输入端用于连接待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，介损档位控制电路的测量结果输出端用于连接待测高压介质损耗测试仪的低压取样输入端。
2.如权利要求1所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于该检定装 置还包括存储单元，存储单元连接在数据处理器的存储端口。
3.如权利要求1或2所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于所述 的介损档位控制电路包括至少两个档位检测电路，各档位检测电路的高压输入端之间以及 各档位检测电路的测量信号输出端之间均连接有继电器控制接点；各档位检测电路均包括 一定值电容、一钳位电容、至少两个依次串接的继电器控制接点，定值电容与各继电器控制 接点相串接，钳位电容连接于定值电容负极与地之间；各继电器控制接点两端均用于并接 相应阻值的电阻。
4.如权利要求3所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于各继电器 控制接点两端所并接的相应档位阻值的电阻单元；各电阻单元均包括相互串接的定值电阻 和微调电位器，各电阻单元中的定值电阻的阻值远大于微调电位器的阻值。
5.如权利要求4所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于所述的介 损档位控制电路包括第一、第二、第三档位检测电路，所述待测高压介质损耗测试仪的高压 信号输出端连接第一继电器的单刀双档接点的输入接脚，第一档位检测电路的高压输入端 连接第一继电器的单刀双档接点常闭接脚，第一继电器的单刀双档接点�？咏帕拥诙� 继电器单刀双档接点的输入接脚，第二继电器的单刀双档接点常闭接脚连接第二档位检测 电路的高压输入端，第二继电器的单刀双档接点�？咏帕拥谌滴患觳獾缏返母哐故� 入端；第一档位检测电路的测量信号输出端连接第三继电器的单刀双档接点常闭接脚，第 三继电器的单刀双档接点的输出接脚用于输出测量结果信号，第四继电器的单刀双档接点 的输出接脚连接第三继电器的单刀双档接点�？咏牛谒募痰缙鞯牡サ端到拥愠１�、 �？咏欧直鸲杂α拥诙�、第三档位检测电路的测量信号输出端；第一档位检测电路的包括第一定值电容、第一钳位电容、第一 第六检测继电器常闭 接点，第一定值电容与第一 第六检测继电器常闭接点依次串联，第一钳位电容连接于第 一定值电容负极与地之间；第一 第六检测继电器常闭接点的两端分别并联有相应档位的 电阻单元；第二档位检测电路的包括第二定值电容、第二钳位电容、第七 第十二检测继电器常 闭接点，第二定值电容与第七 第十二检测继电器常闭接点依次串联，第二钳位电容连接 于第二定值电容负极与地之间；第七 第十二检测继电器常闭接点的两端分别并联有相应 档位的电阻单元；第三档位检测电路的包括第三定值电容、第三钳位电容、第十三 第十八检测继电器 常闭接点，第三定值电容与第十三 第十八检测继电器常闭接点依次串联，第三钳位电容 连接于第三定值电容负极与地之间；第十三 第十八检测继电器常闭接点的两端分别并联 有相应档位的电阻单元；各电阻单元均包括相互串接的相应档位阻值的电阻和微调电位器，各电阻单元中的电阻的阻值远大于微调电位器的阻值。
6.如权利要求5所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于所述的驱 动单元包括移位寄存器和达林顿管，移位寄存器的信号输入端连接数据处理器的控制信号 输出端，移位寄存器的信号输出端连接达林顿管的信号输入端，达林顿管的信号输出端各 管脚对应控制相应继电器线圈的上电。
7.如权利要求6所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于该检定装 置还包括显示单元和操控单元，显示单元的信号输入端用于连接所述数据处理器的显示信 号输出端，操控单元的信号输出端用于连接所述数据处理器的操控信号输入端。
8.如权利要求6所述的全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其特征在于该检定装 置还包括用于与上位机连接通讯的通讯单元，通讯单元的数据输入/输出端连接所述数据 处理器的通讯端。
专利摘要一种全自动高压介质损耗测试仪检定装置，其中包括数据处理器、存储单元、驱动单元、介损档位控制电路，存储单元连接在数据处理器的存储端口，数据处理器的控制信号输出端连接驱动单元的信号输入端，驱动单元的信号输出端连接介损档位控制电路的控制端，介损档位控制电路的高压信号输入端用于连接待测高压介质损耗测试仪的高压信号输出端，介损档位控制电路的测量结果输出端用于连接待测高压介质损耗测试仪的低压取样输入端。
文档编号G01R35/00GK201707434SQ20102024718
公开日2011年1月12日 申请日期2010年7月5日 优先权日2010年7月5日
发明者刘玮蔚, 蔡洪贵, 陈卓娅, 马磊 申请人:河南电力试验研究院
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