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专利名称：采用距离偏移技术消减天线测试环境中多径干扰的方法
技术领域：
本发明属于天线测试领域，具体涉及一种利用距离偏移技术在天线测试环境中消除多径干扰信号，提高测量天线参数(包括方向图和增益、以及其它参数)精度的使用方法。
背景技术：
衡量一付天线的实际辐射性能，需通过精确的测量。测试环境中(微波暗室或开阔场)存在多径干扰，在常规的频域测量中，主瓣波束在指向侧壁时形成的强反射会抬高副瓣电平；当吸波材料的性能不够理想时，来自侧壁、后墙的多径干扰信号会严重影响测试精度。微波暗室内，随着测试频段的降低，侧壁的多径反射增强，导致天线方向图的测试精度难以达到±ldB ；IOOMHz以下频段恶化到±2dB以上。在外场测试时，由于外部环境的不可控，多径干扰更加严重。对于高增益、低副瓣天线情况更加严重。

发明内容
基于以上情况，本发明提出一种利用测试距离偏移技术，消除多径干扰对测试结果的影响。由于天线测试系统获取的频域响应是直达信号与多径干扰信号的矢量合成，通过测试两次不同测试距离下的频域相应，可以将直达波信号与多径干扰信号波分离，得到各自的频域响应，达到消除多径干扰的目的。技术方案步骤I :搭建天线测试系统，发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线；步骤2 :根据被测天线工作频段，设置矢量网络分析仪的测试起止频率和频率间隔Af, Af应小于10MHz，建议置于IMHz0A :在测试距离为d时，天线测试系统的频域响应为S' 21 ；B :在测试距离为d+Ad时(AdOd且Ad< A min)，天线测试系统的频域响应为
S" 21;步骤3 :建立直达波信号与多径干扰波的干涉模型
权利要求
1.一种采用距离偏移技术消减天线测试环境中多径干扰的方法，其特征在于步骤如下 步骤I:搭建天线测试系统发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线； 步骤2 :根据被测天线工作频段，设置矢量网络分析仪的测试起止频率和频率间隔Af, Af 小于 IOMHz ； A :在测试距离为d时，天线测试系统的频域响应为S' 21 ； B:在测试距离为d+Ad时(八(1口(1且八(1< Xmin),天线测试系统的频域响应为S " 21 ； 步骤3 :建立直达波信号与多径干扰波的干涉模型
2.根据权利要求I所述采用距离偏移技术消减天线测试环境中多径干扰的方法，其特征在于所述起止频率和频率间隔Af为1MHz。
全文摘要
本发明涉及一种采用距离偏移技术消减天线测试环境中多径干扰的方法，通过分析天线测量环境中直达信号与多径干扰信号之间的关系，通过测试两次不同测试距离下的频域相应，采用距离偏移技术，将直达信号从频域响应中分离，从而可以消减多径干扰对天线测试的影响，得到更为精确的天线测试数据。尤其对高增益、低副瓣天线尤为有效。
文档编号G01R29/10GK102768310SQ20121027313
公开日2012年11月7日 申请日期2012年8月2日 优先权日2012年8月2日
发明者宋鹏, 张曼, 张琦, 张颖军, 张麟兮, 郭静远, 魏世京 申请人:西北工业大学