专利名称：一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种基于双光路的光纤Verdet (维尔德常数)常数测量系统，属于光纤陀螺技术领域。
背景技术：
光纤陀螺是一种基于Sagnac (萨格纳克效应)效应的角速度传感器,光纤陀螺通常在应用中是被暴露在地磁场中，由于磁光效应的存在，地磁场会引起敏感环中相反两束传播光的相位漂移。光纤环的光纤长度很长(几百到几千米)，磁光效应带来的非互易相位差累计不可忽略。特别是在惯性导航领域的高精度陀螺中是个很大的影响。光纤环是光纤陀螺的核心，光纤磁敏感性是由光纤Verdet常数表征的，测量光纤的Verdet常数的意义在于一方面在光纤绕环前可以通过此系统验证所用光纤是否合格，排除光纤本身的质量问题；另一方面为新型光纤陀螺的新型光纤的磁敏感性分析提供了测试平台。目前的光纤Verdet常数测量系统分为单光路测量与双光路测量方法，双光路测量法的优点为光能利用率高、抗干扰性能强、能够消除光源光强涨落对输出信号的影响。系统中采用法拉第旋转反射镜可以减少线性双折射，信号处理部分大多采用模拟信号处理，为了整体提高测量的精度，本专利中采用模拟+数字的处理方法。FPGA的运用可以提高处理的速度与精度。
发明内容
本发明的目的是解决上述问题，提出了一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，能够实现光纤Verdet常数的精确测量。—种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统,为全光纤结构,包括光源、起偏器、保偏光纤耦合器、螺线管、被测光纤、恒流电源、法拉第旋转反射镜、偏振分束器、第一探测器、第二探测器、信号处理部分和计算机；光源、起偏器、保偏光纤耦合器的第一端口之间依次通过光纤连接，光源发出光，起偏器将光变为线偏振光，线偏振光进入保偏光纤稱合器的第一端口，保偏光纤稱合器的第二端口通过保偏尾纤与被测光纤一端熔接，保偏光纤耦合器的第三端口通过光纤连接偏振分束器；线偏振光由保偏光纤耦合器第二端口输出至被测光纤，被测光纤穿过螺线管的铁芯内部，一端与保偏光纤耦合器第二端口的保偏尾纤熔接，另一端与法拉第旋转反射镜的尾纤熔接；信号处理部分的FPGA�？橹新菹吖芮？樘峁┣藕牛懔鞯缭次菹吖芴峁┑缭矗菹吖苣谕ㄈ氲缌鳎诒徊夤庀舜Σ懦。幌咂窆庠诒徊夤庀酥写洌咂窆庠诖懦〉淖饔孟路⑸菜凵洌窠欠⑸咂窆馔ü徊夤庀撕螅诜ɡ谛瓷渚档淖饔孟略俅尉菹吖埽咂窆庠俅畏⑸较虻男羌颖叮恍羌颖兜南咂窆馐淙氡Ｆ庀朔Q合器的第二端口，通过保偏光纤稱合器的第三端口进入偏振分束器，偏振分束器将线偏振光分为偏振正交的两束光，分别输出至第一探测器、第二探测器；信号处理部分包括前置放大器、滤波器、交直流隔离电路、A/D转换器、FPGA�？椋坏谝惶讲馄魍ü庀肆悠穹质鳎讲獾降谝皇猓璐懦∥醇又暗牡谝惶讲馄魈讲獾降墓夤β饰狫1 ;第一探测器的增益为G，开启磁场后第一探测器接收到第一束光的电压具体为:
权利要求
1.一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，为全光纤结构，包括光源、起偏器、保偏光纤耦合器、螺线管、被测光纤、恒流电源、法拉第旋转反射镜、偏振分束器、第一探测器、第二探测器、信号处理部分和计算机； 光源、起偏器、保偏光纤稱合器的第一端口之间依次通过光纤连接，光源发出光，起偏器将光变为线偏振光，线偏振光进入保偏光纤稱合器的第一端口，保偏光纤稱合器的第二端口通过保偏尾纤与被测光纤一端熔接，保偏光纤耦合器的第三端口通过光纤连接偏振分束器；线偏振光由保偏光纤耦合器第二端口输出至被测光纤，被测光纤穿过螺线管的铁芯内部，一端与保偏光纤耦合器第二端口的保偏尾纤熔接，另一端与法拉第旋转反射镜的尾纤熔接；信号处理部分的FPGA模块中螺线管驱动�？樘峁┣藕牛懔鞯缭次菹吖芴峁┑缭矗菹吖苣谕ㄈ氲缌鳎诒徊夤庀舜Σ懦。幌咂窆庠诒徊夤庀酥写洌咂窆庠诖懦〉淖饔孟路⑸菜凵洌窠欠⑸咂窆馔ü徊夤庀撕螅诜ɡ谛瓷渚档淖饔孟略俅尉菹吖埽咂窆庠俅畏⑸较虻男羌颖叮恍羌颖兜南咂窆馐淙氡Ｆ庀笋詈掀鞯牡诙丝冢üＦ庀笋詈掀鞯牡谌丝诮肫穹质鳎穹质鹘咂窆夥治裾坏牧绞猓直鹗涑鲋恋谝惶讲馄�、第二探测器； 信号处理部分包括前置放大器、滤波器、交直流隔离电路、A/D转换器、FPGA�？椋� 第一探测器通过光纤连接偏振分束器，探测到第一束光，设磁场未加之前的第一探测器探测到的光功率为J1 ;第一探测器的增益为G，开启磁场后第一探测器接收到第一束光的电压具体为:
2.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，所述的保偏光纤耦合器采用膜片式保偏耦合器。
3.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，螺线管未通电，未加磁场前，调节起偏器使线偏振光在偏振分束器为45°分束，使两路的光功率相等。
4.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，所述的减法器�？橛爰扑慊耐ㄑ斗绞轿�:通过FPGA�？榈牡�6接口采用RS422协议与计算机通讯。
5.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，所述的除法器�？�、减法器�？�、螺线管驱动信号以及信号输出在FPGA�？橹型ü齎erilog HDL编程实现。
6.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，所述的光源采用超辐射二极管光源。
7.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，所述的起偏器采用膜片式可调起偏器。
8.根据权利要求1所述的一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，所述的第一探测器、第二探测器均 采用PIN管。
全文摘要
本发明公开了一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统，包括光源、起偏器、光环形器、螺线管、法拉第旋转反射镜、偏振分束器(PBS)、光电探测器(PD)、信号处理部分、恒流电源、计算机；本发明能够实现光纤费尔德(Verdet)常数的精确测量，可以减少光纤自身的线性双折射对测量的影响；此系统为光纤的磁敏感性研究提供了平台；同时为光纤陀螺光纤的磁敏感性方面性能选择提供了测量平台，避免了光纤陀螺用光纤的可靠性。
文档编号G01M11/00GK103076155SQ20121059281
公开日2013年5月1日 申请日期2012年12月31日 优先权日2012年12月31日
发明者李彦, 姜漫, 宋镜明, 宋凝芳, 金靖, 李帅, 孙彦凤 申请人:北京航空航天大学
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