专利名称：检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光电检测技术领域，尤其涉及一种检测彩色滤光片中亚像素(RGB)偏移的方法及装置。
背景技术：
參见图1，为彩色滤光片中RGB的示意图，其中彩膜区域在经过背光LED灯照射的情况下，根据本身RGB的特性呈现出不同的颜色。參见图2，为CXD (Charge-CoupledDevice,电荷耦合元件)从通过LED照射的彩色滤光片中彩膜区域呈现出不同的灰阶值。图3为现有技术中AOI (Automatic OpticInspection,自动光学检测)获取彩色滤光片中彩膜区域正常情况下灰阶变化波形的示意图，其中横坐标表示位置坐标，纵坐标表示位置坐标对应的灰阶值，灰阶值范围0 255。在现有的彩色滤光片的异常的检测方法中，对检测此点是否为异常定义ー个阈值，对每个点的检测设定都是一祥的。如图4所示，红色区域上有ー个灰色缺陷40。參见图5，为CCD获取的彩膜区域的灰阶的效果，其中②是异常点的灰阶值，①③④⑤点是正常点的灰阶值。现有的检测异常点的计算方法如下首先设②是这五点中灰阶值的最小值，然后对此五点的灰阶值进行从小到达排序②①③④⑤。将需要检测的点的灰阶值与五点排序后灰阶值排在中间的这个值进行比较，差值为②-③；设Recipe检测阈值为X，则若差值②-③的绝对值大于阈值X，则点②为异常点。然而，在现有的异常的检测技术中，当发生亚像素偏移，利用上述的五点比较法进行检测时，由于黑矩阵(Mask)偏移会造成彩膜区域的整体偏移，而用上述的五点比较法进行检测，AOI会认为偏移部分是正常的部分，导致无法检测出彩色滤光片中的异常，因此在进行异常检测时，有必要判断彩膜区域中是否出现亚像素偏移。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置，加强对彩色滤光片的品质检测。根据本发明的ー个方面，提供了一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法，所述方法包括检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。可选地，所述获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量的步骤包括根据所述灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。可选地，所述生成灰阶变化波形的步骤包括获取被检测的彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关參数；根据获取的所述灰阶变化的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化波形。可选地，所述方法还包括预先设置所述预设的灰阶异常值的阈值、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。可选地，所述方法还包括当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信息。根据本发明的另ー个方面，提供了一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的装置，所述装置包括；检测�？椋糜诩觳馑霾噬斯馄械牟誓で虻幕医妆浠⑸苫医妆浠ㄐ危徊ǚ寤袢∧？椋糜诨袢〔誓で虻幕医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖浚槐冉夏？椋糜诒冉匣袢〉幕医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖亢驮ど璧囊斐２ǚ宓氖裤兄担慌卸？椋糜诘被袢〉幕医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖看笥谠ど璧囊斐２ǚ宓氖裤兄凳保卸ū患觳獾牟噬斯馄胁誓で蛑谐鱿盅窍袼仄�。可选地，所述波峰获取�？榘úǚ寤袢〉ピ糜诟菟龌医妆浠ㄐ危约霸ど璧囊斐２ǚ逯档你兄担袢』医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖�。可选地，所述检测�？榘ɑ医谆袢g元，用于获取彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关參数；波形生成単元，用于根据获取灰阶变化的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩色滤光片中彩膜区域的灰阶变化波形。可选地，所述装置还包括设置�？椋糜谠は壬柚盟鲈ど璧幕医滓斐Ｖ档你兄�、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。可选地，所述装置还包括提示�？椋糜诘迸卸ū患觳獾牟噬斯馄胁誓で蛑谐鱿盅窍袼仄剖保⑺吞崾拘畔�。由上述技术方案可知，本发明的实施例具有如下有益效果利用获取的异常波峰的数量与预设的异常波峰的数量阈值进行比较，当获取的灰阶变化波形的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，可判定彩膜区域中出现亚像素偏移，解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检測。
图1表示现有技术中彩色滤光片正常情况下的RGB的示意图；图2表示现有技术中AOI获取彩色滤光片正常情况下RGB的示意图(灰白)；
图3表示现有技术中AOI获取彩色滤光片正常情况下灰阶变化波形示意图；图4表示现有技术中彩色滤光片中RGB的阵列图及缺陷的示意图；图5表示现有技术中AOI获取到彩色滤光片中RGB的阵列图及缺陷的示意图(灰白)；图6表示本发明的实施例中检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法流程图；图7表示本发明的实施例中彩色滤光片异常情况下的RGB的示意图(Red区有漏光现象)；图8表示本发明的实施例中AOI获取彩色滤光片异常情况下RGB的示意图(灰白，red区有漏光现象)；图9表示本发明的实施例中AOI获取彩色滤光片异常情况下灰阶变化波形示意图；图10表示本发明的实施例中检测彩色滤光片中亚像素偏移的装置的框图。
具体实施例方式下面将參照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。本发明提出一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置。下面结合图6具体说明根据本发明一个实施例的、适于解决上述问题的检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法的流程图。如图6所示，本发明的检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法始于步骤S610。在步骤S610中，检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；具体地，首先获取彩膜区域中灰阶变化的相关參数，该相关參数包括彩膜区域中红、绿和蓝的灰阶值；然后根据获取灰阶变化的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩膜区域的灰阶变化波形。也就是，首先通过对彩色滤光片的彩膜区域进行检测，计算出被检测彩色滤光片的彩膜区域中红、绿和蓝的灰阶值，然后根据预设的灰阶异常值的阈值，生成灰阶变化波形，如图9所示。随后，在步骤S620中，获取被检测的彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。可选地，在步骤S620中，根据灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取灰阶变化波形的异常波峰的数量。正常情况下，彩色滤光片中不会发生亚像素偏移；当出现亚像素偏移时，会出现部分玻璃上无彩色的胶，此部分光的透过率较高，在灰阶变化波形中，当CCD接收到的光量比较多时，灰阶值就高，此时会形成灰阶变化波形中的波峰，当波峰值超过预设的异常波峰值的阈值时，表明该波峰出现异常，该波峰为异常波峰。随后，在步骤S630中，比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值。随后，在步骤S640中，当获取的灰阶变化波形的波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，可判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移。也就是，可预先设定异常波峰的数量阈值，然后通过对异常波峰的数量进行管理，当异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，可判断被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移。參见图7，为彩色滤光片异常情况下的RGB的示意图(Red区有漏光现象71)。对图7所示的彩色滤光片进行灰阶处理，可得到如图8所示的RGB的示意图，图8为AOI获取彩色滤光片异常情况下RGB的示意图(灰白，red区有漏光现象71)。然后对图8所示的RGB的示意图进行波形分析，可得到如图9所示的灰阶变化波形示意图，图9为AOI获取彩色滤光片异常情况下灰阶变化波形示意图，其中横坐标表示位置坐标，纵坐标表示位置坐标对应的灰阶值，灰阶值范围0 255，其中91为设置的异常波峰值的阈值。由图9中可得出有4个波峰为异常波峰，假设预设的异常波峰的数量阈值设置为3个，由于图9中异常波峰的数量为4个大于预设的异常波峰的数量阈值3个，则可判定被检测的彩色滤光片中出现亚像素偏移。随后在步骤S650中，当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信也就是，根据以上步骤对彩膜区域进行检测，根据各点灰阶值获取出被检测彩膜区域的灰阶变化波形，然后对波形的波峰进行管理，设置异常的灰阶阈值与异常的波峰的数量阈值，若检测出异常波峰的数量超出预设的异常波峰的数量阈值时，则可认为彩膜区域中有亚像素偏移，此时可向工作人员发出提示信息，从而增强对彩色滤光片的彩膜区域品质的检測。可选地，在本发明的一个实施例中，在步骤S610之前，该方法还可包括预先设置预设的灰阶异常值的阈值、预先设置异常波峰的数量阈值以及预先设置预设的异常波峰值的阈值。需要说明的是，图6所示的方法并不限定按所示的各步骤的顺序进行，可以根据需要调整各步骤的先后顺序。另外，图6所示的方法中的步骤也不限定于上述步骤的划分，上述步骤可以进ー步拆分成更多步骤也可以合并成更少步骤。如图10所示，为本发明的实施例中检测彩色滤光片中亚像素偏移的装置的框图，该装置包括检测�？�101，用于检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；波峰获取�？�102，用于获取被检测的彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较模块103，用于比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；判定模块104，用于当获取的灰阶变化波形的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移。在本发明的一个实施例中，波峰获取模块102包括波峰获取单元，用于根据灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取灰阶变化波形中的异常波峰的数量。在本发明的一个实施例中，检测�？�101包括灰阶获取単元，用于获取彩色滤光片中彩膜区域中的灰阶异常的相关參数；波形生成単元，用于根据获取的灰阶异常的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩膜区域的灰阶变化波形。在本发明的一个实施例中，该装置还包括设置�？椋糜谠は壬柚迷ど璧幕医滓斐Ｖ档你兄�、预设的异常波峰的数量阈值、以及预设的异常波峰值的阈值。
在本发明的一个实施例中，该装置还包括提示模块105，用于当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信息。由上述技术方案可知，本发明的实施例具有如下有益效果利用获取的异常波峰的数量与预设的异常波峰的数量阈值进行比较，当获取的灰阶变化波形的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，可判定彩膜区域中出现亚像素偏移，解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检測。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
权利要求
1.一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法，其特征在于，所述方法包括检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值； 当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量的步骤包括根据所述灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成灰阶变化波形的步骤包括 获取被检测的彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关参数；根据获取的所述灰阶变化的相关参数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化波形。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括预先设置所述预设的灰阶异常值的阈值、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信息。
6.一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的装置，其特征在于，所述装置包括检测模块，用于检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；波峰获取�？椋糜诨袢〔誓で虻幕医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖浚槐冉夏？椋糜诒冉匣袢〉幕医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖亢驮ど璧囊斐２ǚ宓氖裤兄担慌卸？椋糜诘被袢〉幕医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖看笥谠ど璧囊斐２ǚ宓氖裤兄凳保卸ū患觳獾牟噬斯馄胁誓で蛑谐鱿盅窍袼仄�。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述波峰获取�？榘úǚ寤袢〉ピ糜诟菟龌医妆浠ㄐ危约霸ど璧囊斐２ǚ逯档你兄担袢』医妆浠ㄐ沃械囊斐２ǚ宓氖�。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测�？榘ɑ医谆袢〉ピ糜诨袢〔噬斯馄胁誓で蛑谢医妆浠南喙夭问徊ㄐ紊傻ピ糜诟莼袢』医妆浠南喙夭问约霸ど璧幕医滓斐Ｖ档你兄担杀患觳獾牟噬斯馄胁誓で虻幕医妆浠ㄐ�。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括设置�？椋糜谠は壬柚盟鲈ど璧幕医滓斐Ｖ档你兄怠⑺鲈ど璧囊斐２ǚ宓氖裤兄�、以及所述预设的异常波峰值的阈值。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括提示�？椋糜诘迸卸ū患觳獾牟噬斯馄胁誓で蛑谐鱿盅窍袼仄剖保⑺吞岵� 十目息。
全文摘要
本发明提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置，其中该方法包括检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移，由此解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检测。
文档编号G01M11/02GK103033343SQ20121053974
公开日2013年4月10日 申请日期2012年12月13日 优先权日2012年12月13日
发明者张铁轶, 余道平, 刘超强, 张祥 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
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