专利名称：激光双频合成波长干涉仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及领域为采用光学测量方法为其特征的仪器，是一种激光双频合成波长干涉仪。
背景技术：
光学干涉纳米测量技术广泛采用了对干涉条纹进行细分方法来获得高的测量分辨率，针对不同的干涉仪存在许多干涉条纹细分方法，归结起来主要可以分为两类，一类是光学细分方法，即从光学系统设计方面考虑，利用光路结构的设计或者利用光学元件性质的设计来实现，例如，光学倍乘方法，分布调制方法和磁光偏振光干涉仪；另一类是电子细分方法，例如，电阻链细分、A/D变换细分、数字鉴相细分和锁相倍频细分等方法。这些方法实现的细分系数一般在1/2-1/10000之间，而且要达到比较高的细分系数，除在合理设计光学系统的同时还必须具有灵敏、稳定的电子处理电路，所以系统一般比较复杂、精密度要求较高。所以现有光学干涉纳米测量技术难以实现高精度的纳米测量和兼顾大范围的纳米测量。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种激光双频合成波长干涉仪，即在同一套干涉仪光路中有两个迈克尔逊干涉仪的结构，形成了合成波长对干涉条纹的极大细分，细分系数达1/1760000，因此易于实现纳米级甚至皮米级的纳米测量，结合对干涉条纹整数级次的计数，可以实现毫米量级范围的大范围纳米测量。
本实用新型采用的技术方案如下包括双频激光器，四个分光镜，参考镜，光阑，二个偏振分光镜，三个角锥棱镜，二个1/4波片，带光阑的反射镜，测量镜，反射镜，三个检偏器，四个光电探测器。第一角锥棱镜和第二角锥棱镜与第一偏振分光镜成对称布置，双频激光器发出相互正交的双纵模偏振光λ1和λ2，由第一分光镜分成反射和透射两束光，反射光束经参考镜返回后透过第一分光镜，透射光束经过光阑射向第一偏振分光镜，其中波长为λ1的透射光由第一偏振分光镜反射至第一角锥棱镜，然后经反射镜、第二1/4波片、第三角锥棱镜和第一偏振分光镜射向第一分光镜，波长为λ2的透射光再次透过第一偏振分光镜经第一1/4波片、带光阑的反射镜射向测量镜，然后被反射至第一偏振分光镜，经第二角锥棱镜、带光阑的反射镜、反射镜、第二1/4波片、第三角锥棱镜、测量镜、第一偏振分光镜后也射向第一分光镜；射向第一分光镜的透射光束经第一分光镜反射后，与透过第一分光镜的反射光束一起射向第二偏振分光镜，其中波长为λ1的光被透过至第一光电探测器，波长为λ2的光被反射至第二、第三、第四分光镜后，分别经各自的第一、第二、第三检偏器至各自的第二、第三、第四光电探测器。
本实用新型具有的有益的效果是在光路中有两个迈克尔逊干涉仪的结构，即参考干涉仪和测量干涉仪。用二个波长λ1和λ2形成合成波长λS，利用λS对λ2进行细分，细分系数达到1/1760000，可以进行亚纳米级精度的纳米测量，结合对λ2形成的整数干涉条纹进行计数，可以实现测量镜毫米量级范围的纳米测量。测量镜纳米级位移由第一光电探测器和第二光电探测器来实现，测量镜和参考镜的毫米级位移由第一、第二、第三检偏器和第二、第三、第四光电探测器来实现。本实用新型主要适用于纳米技术、微光机电技术、集成电路芯片制造技术、生物技术等领域所涉及的大范围纳米测量领域。
附图是激光双频合成波长干涉仪的结构原理图。
具体实施方式
如附图所示，本实用新型包括双频激光器1，四个分光镜2、24、23、22，参考镜3，光阑4，二个偏振分光镜5、14，三个角锥棱镜6、10、12，二个1/4波片7、11，带光阑的反射镜8，测量镜9，反射镜13，三个检偏器16、19、21，四个光电探测器15、17、18、20。第一角锥棱镜6和第二角锥棱镜10与第一偏振分光镜5成对称布置，双频激光器1发出相互正交的双纵模偏振光λ1和λ2，由第一分光镜2分成反射和透射两束光，反射光束经参考镜3返回后透过第一分光镜2，透射光束经过光阑4射向第一偏振分光镜5，其中波长为λ1的透射光由第一偏振分光镜5反射至第一角锥棱镜6，然后经反射镜13、第二1/4波片11、第三角锥棱镜12和第一偏振分光镜5射向第一分光镜2，波长为λ2的透射光再次透过第一偏振分光镜5经第一1/4波片7、带光阑的反射镜8射向测量镜9，然后被反射至第一偏振分光镜5，经第二角锥棱镜10、带光阑的反射镜8、反射镜13、第二1/4波片11、第三角锥棱镜12、测量镜9、第一偏振分光镜5后也射向第一分光镜2；射向第一分光镜2的透射光束经第一分光镜2反射后，与透过第一分光镜2的反射光束一起射向第二偏振分光镜14，其中波长为λ1的光被透过至第一光电探测器15，波长为λ2的光被反射至第二、第三、第四分光镜24、23、22后，分别经各自的第一、第二、第三检偏器16、19、21至各自的第二、第三、第四光电探测器17、18、20。
在本实用新型中，实际存在两个迈克尔逊干涉仪，即由第一分光镜2、参考镜3、第一偏振分光镜5、第一角锥棱镜6、反射镜13、第二1/4波片11和第三角锥棱镜12组成的对波长λ1的一路迈克尔逊干涉仪，称之为参考干涉仪；由第一分光镜2、参考镜3、第一偏振分光镜5、第一1/4波片7、带光阑的反射镜8、测量镜9、第二角锥棱镜10、反射镜13、第二1/4波片11和第三角锥棱镜12组成的对波长λ2的另一路迈克尔逊干涉仪，称之为测量干涉仪。在测量干涉仪的第一偏振分光镜5、带光阑的反射镜8和测量镜9之间，光束往返4次，所以可以实现对波长λ2的8倍细分；在参考镜3、第一分光镜2、第一偏振分光镜5、反射镜13、第三角锥棱镜12和第二偏振分光镜14之间，参考干涉仪和测量干涉仪具有共光路的结构，该结构可以有效抑制环境因素变化对测量结果的影响。
在本实用新型中，测量镜的被测位移可以表示为L＝Ln+Δl (a)其中(1)、(a)式中的Ln可由整数干涉条纹计数法获得，即Ln=n·λ28.]]>具体实施方法为第一检偏器16的通光方向取水平方向，第二检偏器19的通光方向取45°方向，第三检偏器21的通光方向取垂直方向，那么第二、三、四光电探测器17、18、20检测到的干涉条纹信号的相位分别是0°90°180°采用可逆计数法则可获得整数干涉条纹数值n。
(2)、(a)式中的Δl利用合成波长对干涉条纹的细分方法获得。具体实施方法为由第一、第二光电探测器15和17分别检测波长λ1和λ2的干涉条纹信号。波长λ1只在参考干涉仪中进行干涉，干涉信号的相位差为 式中L是参考干涉仪中反射光束和透射光束的光程差。波长λ2在测量干涉仪中进行干涉，干涉信号的相位差为 式中L2是第一偏振分光镜5和测量镜9之间的距离。设Δ＝1-2，则有 式中λs=λ1λ2|λ1-λ2|]]>是合成波长。当测量镜9有微小的位移Δl(纳米量级)，则相位差Δ变为 为了得到测量镜9的位移，可将参考镜3移动ΔL使Δ′回到Δ，即使L→L+ΔL，则Δ′→Δ，由公式(b)和(c)得到Δl=λ24λsΔL---(d)]]>上式表明测量镜9纳米量级的被测位移可以通过检测参考镜毫米量级的位移ΔL来获得。参考镜位移ΔL可采取与(1)相似的干涉条纹计数法获得，即Ln=n·λ22.]]>至此，(a)式中的Δl可以算出。
由以上(1)、(2)可以获得测量镜的被测位移。
由式(d)可得本套干涉仪对干涉条纹的细分系数为K=λ24λs,]]>若采用632.8nm的双纵模He-Ne激光器，其输出的两个光波频率差约为Δν＝1070MHz，则合成波长为λs≈280mm，细分系数为K=λ24λs=0.6328×1064×280×10-3≈11760000,]]>这样大的细分系数要优于目前所有的干涉条纹细分方法。
权利要求1.一种激光双频合成波长干涉仪，其特征在于它包括双频激光器(1)，四个分光镜(2、24、23、22)，参考镜(3)，光阑(4)，二个偏振分光镜(5、14)，三个角锥棱镜(6、10、12)，二个1/4波片(7、11)，带光阑的反射镜(8)，测量镜(9)，反射镜(13)，三个检偏器(16、19、21)，四个光电探测器(15、17、18、20)；第一角锥棱镜(6)和第二角锥棱镜(10)与第一偏振分光镜(5)成对称布置，双频激光器(1)发出相互正交的双纵模偏振光λ1和λ2，由第一分光镜(2)分成反射和透射两束光，反射光束经参考镜(3)返回后透过第一分光镜(2)，透射光束经过光阑(4)射向第一偏振分光镜(5)，其中波长为λ1的透射光由第一偏振分光镜(5)反射至第一角锥棱镜(6)，然后经反射镜(13)、第二1/4波片(11)、第三角锥棱镜(12)和第一偏振分光镜(5)射向第一分光镜(2)，波长为λ2的透射光再次透过第一偏振分光镜(5)经第一1/4波片(7)、带光阑的反射镜(8)射向测量镜(9)，然后被反射至第一偏振分光镜(5)，经第二角锥棱镜(10)、带光阑的反射镜(8)、反射镜(13)、第二1/4波片(11)、第三角锥棱镜(12)、测量镜(9)、第一偏振分光镜(5)后也射向第一分光镜(2)；射向第一分光镜(2)的透射光束经第一分光镜(2)反射后，与透过第一分光镜(2)的反射光束一起射向第二偏振分光镜(14)，其中波长为λ1的光被透过至第一光电探测器(15)，波长为λ2的光被反射至第二、第三、第四分光镜(24、23、22)后，分别经各自的第一、第二、第三检偏器(16、19、21)至各自的第二、第三、第四光电探测器(17、18、20)。
专利摘要本实用新型公开了一种激光双频合成波长干涉仪，它包括双频激光器，四个分光镜，参考镜，光阑，二个偏振分光镜，三个角锥棱镜，二个1/4波片，带光阑的反射镜，测量镜，反射镜，三个检偏器和四个光电探测器等组成。在光路中有两个迈克尔逊干涉仪的结构，二个波长λ
文档编号G01J9/02GK2597969SQ03228600
公开日2004年1月7日 申请日期2003年1月22日 优先权日2003年1月22日
发明者陈本永, 孙政荣, 吴晓维 申请人:浙江工程学院
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