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专利名称：一种用于筛除cog-lcd废品的测试机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及LCD测试仪器领域，尤其涉及一种LCD生产过程中用于筛除 COG-LCD废品的测试机。
背景技术：
LCD(Liquid Crystal Display的英文縮写，即液晶显示器)由于其技术优势，已经 广泛应用于生产生活中。因此生产LCD的相关工艺水平不断提高。在目前的LCD生产中， LCD产家筛除COG-LCD废品基本采用探针式白片测试机，但是这种探针式白片测试机结构 相对复杂，且价格高且需要的数量多，所以投入较大。探针式白片测试机工作原理是采取对 阴极阳极施加一定电压，并通过探针的行走来筛除断笔、阴极间短路、阳极间短路等废品， 但实际使用中发现其有测试速度过慢，效率低，探针的行走容易划伤ITO造成废品等缺陷。

实用新型内容针对上述问题，本实用新型提出一种结构简单、成本更加低廉的测试机来应用于
筛除COG-LCD废品。 本实用新型的技术方案是 本实用新型的用于筛除COG-LCD废品的测试机，包括一电压输出单元，连接于测 试头； 测试头，连接于电压输出单元输入端，准确放置于被测LCD的对应测试区；放置
台，承载被测LCD，其上设置有固定辅助构件； 固定辅助构件，设置于放置台上，辅助定位被测LCD。 进一步的，所述的测试头是3个，对应的测试区也是3个；所述的测试头包括第一 测试头，连接于电压输出单元的低电平输出端，准确放置于第一测试区，第二测试头，连接 于电压输出单元的高电平输出端，准确放置于第二测试区，第三测试头，连接于电压输出单 元的高电平输出端，准确放置于第三测试区。 本实用新型采用如上技术方案，具有结构相对已有的探针式白片测试机更简单， 成本也更加低廉，测试速度更快，且解决了原有探针的行走容易划伤IT0造成废品等缺陷。

图1是本实用新型的结构示意图； 图2是被测LCD引出测试区的布线示意图； 图3是本实用新型的测试头的实施例一示意图； 图4是本实用新型的测试头的实施例二示意图； 图5是本实用新型的测试头的实施例三示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式
对本实用新型进一步说明。 参阅图l所示，本实用新型的用于筛除COG-LCD废品的测试机，包括一电压输出 单元1，连接于测试头2 ; 测试头2，连接于电压输出单元1输入端，准确放置于被测LCD3的对应测试区； 放置台4，承载被测LCD3，其上设置有固定辅助构件5 ; 固定辅助构件5，设置于放置台4上，辅助定位被测LCD3。 参阅图2所示，不同型号的被测LCD3的玻璃片，按照需要测试的要求引出连接线， 并根据需要通高、低电平需要分为3个测试区。图2所示的其中的一种玻璃片的测试引线 区的情况，其中分布上方的第一测试区31，分布于右边的第二测试区32，分布于左边的第 三测试区33，测试区可以通过液晶屏的斑马线把各测试区的引线连接起来，方便与测试头 2的接触，相对已有的探针式更能够提高测试效率。 参阅图3、图4、图5所示，所述的测试头2是3个，对应于上述的3个测试区；所 述的测试头包括第一测试头21，连接于电压输出单元1的低电平输出端，准确放置于第一 测试区31，第二测试头22，连接于电压输出单元1的高电平输出端，准确放置于第二测试区 32，第三测试头23，连接于电压输出单元1的高电平输出端，准确放置于第三测试区33。测 试头2可以根据不同测试需要和测试区的各导线导通需要设计成不同方式。其中，图3是 本实用新型的测试头2的实施例一示的意图，其中第一测试头21接触条较长，第二测试头 22和第三测试头23较短，与第二测试区32和第三测试区33部分接触导通；图4是本实用 新型的测试头2的实施例二的示意图，第二测试头22和第三测试头23类似梳齿间隔导通 的结构；图5是本实用新型的测试头2的实施例三的示意图。 本实用新型的测试机可以用于LCD芯片绑定前的玻璃片废品筛选。如 1.筛除断笔及层间短路 即模拟软件测试llllllll，将所有阴极和所有阳极各分成若干组，在阴极和阳极 施加一定电压，并利用普通LCD测试仪功耗设置功能，就可筛除断笔及层间短路废品。 2.筛除阴极间短路 即模拟软件测试10101010，将所有阴极按10101010分组，所有阳极为一组，并在 阴极和阳极施加一定电压，若阴极未能按10101010显示即为废品。 3.筛除阳极间短路 即模拟软件测试01010101，将所有阴极分组，所有阳极按01010101分组，并在阴 极和阳极施加一定电压，若阳极未能按01010101显示即为废品。 尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应 该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节 上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
权利要求一种用于筛除COG-LCD废品的测试机，其特征在于包括一电压输出单元(1)，连接于测试头(2)；测试头(2)，连接于电压输出单元(1)输入端，准确放置于被测LCD(3)的对应测试区；放置台(4)，承载被测LCD(3)，其上设置有固定辅助构件(5)；固定辅助构件(5)，设置于放置台(4)上，辅助定位被测LCD(3)。
2. 根据权利要求l所述的测试机，其特征在于所述的测试头(2)是3个，对应的测试 区也是3个；所述的测试头包括第一测试头(21)，连接于电压输出单元(1)的低电平输出 端，准确放置于第一测试区(31)，第二测试头(22)，连接于电压输出单元(1)的高电平输出 端，准确放置于第二测试区(32)，第三测试头(23)，连接于电压输出单元(1)的高电平输出 端，准确放置于第三测试区(33)。
专利摘要本实用新型涉及LCD测试仪器领域，尤其涉及一种LCD生产过程中用于筛除COG-LCD废品的测试机。本实用新型的用于筛除COG-LCD废品的测试机，包括一电压输出单元，连接于测试头；测试头，连接于电压输出单元输入端，准确放置于被测LCD的对应测试区；放置台，承载被测LCD，其上设置有固定辅助构件；固定辅助构件，设置于放置台上，辅助定位被测LCD。所述的测试头是3个，对应的测试区也是3个。本实用新型采用如上技术方案，具有结构相对已有的探针式白片测试机更简单，成本也更加低廉，测试速度更快，且解决了原有探针的行走容易划伤ITO造成废品等缺陷。
文档编号G01R31/02GK201488867SQ20092013844
公开日2010年5月26日 申请日期2009年5月18日 优先权日2009年5月18日
发明者李晓琪, 林惠宾, 蔡松林 申请人:厦门高卓立科技有限公司