专利名称：检测装置及检测方法
技术领域：
本发明涉及一种偏光片的检测装置及检测方法，特别是一种用以区分光学补偿型 偏光片和非光学补偿型偏光片的检测装置及检测方法。
背景技术：
液晶显示器(Liquid Crystal Display, LCD)以其轻薄、节能等特点，已被越来越 多的消费者所接受。然而LCD目前存在的缺点是它狭窄的视线角度和严重的色偏现象。一 种可行的用以克服该些问题的方法是设计一种具有光学补偿特性的偏光片。图1是现有的一种具有光学补偿特性的偏光片。该种偏光片100与普通偏光片相 比，除了具备偏光层101，胶层103和离型膜104之外，还具备光学补偿膜102。其中该光学 补偿膜102为一种高透明度且光学特征各向异性的材质组成，比如以聚碳酸酯为代表的高 分子相位差膜聚合物，或者盘状液晶及向列型液晶为代表的高分子液晶材料。该些材料由 于在各个方向上的传输特性不同，通过具体的设计可以使原本倾斜于画面法线方向的光线 得到补偿，因而可以扩大LCD的视角和矫正色偏的功能。但是对于偏光片的生产厂家而言，由于光学补偿型偏光片在目测状况下很难同普 通的偏光片进行区别，往往在来料和加工的过程中，被工人将该两种偏光片混淆，从而产生 许多误操作，给厂商带来了极大的困扰。目前鉴别该两种偏光片的方法是采用破坏性的检测方式，具体来说，就是通过将 待测偏光片贴附到液晶显示器上，根据显示结果判断该偏光片的种类。这种方法虽然能检 测出偏光片的种类，但是已经贴附到液晶显示器的偏光片无法再利用，只能作报废处理，而 且其操作繁琐并需要一块专门用于测试的液晶显示器，极大的增加了检测成本。
发明内容
有鉴于此，本发明将提供一种在不破坏偏光片的情况下，就可以区分光学补偿型 偏光片和非光学补偿型偏光片的检测装置和检测方法。根据本发明的目的提供的检测装置，包括透明基板，具有第一表面和相背的第二 表面，该第一表面设有起偏层；该第二表面具有检测区和参考区，其中该检测区用以放置待 测偏光片；该参考区设有第一标准片和第二标准片，且该第一标准片和该第二标准片的透 光轴相差180°。根据本发明的目的提供的检测装置，该第一标准片和该第二标准片为光学补偿型 偏光片。根据本发明的目的提供的检测装置，该第一标准片和该第二标准片具有离型膜。根据本发明的目的提供的检测装置，该第一标准片的透光轴为45°。根据本发明的目的提供的检测装置，该起偏层的透光轴与该第一标准片的透光轴 相差一角度，其中该角度的范围在，90° )区间。根据本发明的目的提供的检测方法，包括提供一种如上所述的检测装置；选择角度观察该第一标准片和第二标准片，使该第一标准片和该第二标准片的表面具有不同的 图案；将待测偏光片放置于该检测区，以上述角度观察该偏光片；旋转该偏光片，使该偏光 片呈现与第一标准片或者第二标准片相同的图案；将该偏光片旋转180°，以此时该偏光 片的图案与第一标准片和第二标准片对比，并根据该对比结果判断该偏光片的类型。根据本发明的目的提供的检测方法，其中该对比结果包括该待测偏光片两次都与 同一块参考标准片的图案相同；或者该待测偏光片两侧分别与两块参考标准片的图案相 同。根据本发明的目的提供的检测方法，其中该判断包括与同一块参考标准片具有相 同的图案时，该待测偏光片为非光学补偿型偏光片；或者分别与两块参考标准片具有相同 的图案时，该待测偏光片为光学补偿型偏光片。根据本发明的目的提供的检测方法，还包括使用外部光源，设置在该起偏层的一 侧，该外部光源产生强光照射该检测装置，使该第一标准片、第二标准片和该待测偏光片产 生的干涉图案更加明显。上述的检测装置和检测方法，其结构简单，使用方便，能够快速的鉴别出所测偏光 片的种类，且不会破坏该偏光片，大大提高了生产效率，降低生产成本。下面结合附图以具体实施方式
对本发明做详细说明。
图1是现有的光学补偿型偏光片的结构示意图；图2A是本发明的一种较佳实施方式的检测装置的示意图；图2B是图2A中检测装置的背面示意图；图3是本发明的检测方法的流程示意图；图4A-4D是使用本发明的检测装置进行检测的具体实施方式
的示意图；图5是本发明的第二具体实施方式
的检测装置的侧视示意图。
具体实施例方式请参照图2A，图2A是本发明的一种较佳实施方式的检测装置的示意图。如图所 示，检测装置200包括透明基板201，该透明基板201可以是玻璃、有机玻璃、树脂片等。在 该透明基板201的第一表面设有起偏层202，与该第一表面相背的第二表面设有检测区205 和参考区206，其中该检测区205用以放置待测偏光片，该参考区206用以放置第一标准片 203和第二标准片204，该第一标准片203和第二标准片204是一对透光轴相差180°的光 学补充型偏光片。具体而言，该第一标准片203和该第二标准片204可以选取一种已知透 光轴角度的光学补充型偏光片，以富士胶膜株式会社制造的45° WV膜为例，该偏光片的透 光轴为45°，且具有如图1所示的偏光片100的结构。选取两片该种偏光片，一片以正常的 角度放置，以形成第一标准片203，另外一片则相对该第一标准片203旋转180°放置，以形 成第二标准片204。对于光学补偿型偏光片而言，其内部的光学性质表现为各向异性，因此 观察该第一标准片203和第二标准片204的表面时，可以看到不同的颜色或图案。较佳地， 为了使该第一标准片203和第二标准片204表面产生的图案能与待测偏光片放到检区205 后产生的图案具有可比性，其离型膜将被保留在该第一标准片203和第二标准片204的上面。检测时，由于第一标准片203、第二标准片204以及待测的偏光片均不是紧密贴合在透 明基板201上，其间留有一定的空气间隙，因而在第一标准片203、第二标准片204以及待 测的偏光片的表面会形成炫彩的干涉图案。于实际操作中，该第一标准片203、第二标准片 204可以通过额外的胶带(图中未示出)将其固定在透明基板201的参考区206内。请再参考图2B，图2B是图2A中检测装置的背面示意图。如图所示，该起偏层202 用以将透过的外部光线变成偏振光，只需普通的偏光片即可。同时为了保证光线透过该起 偏层202后仍能有部分从第一标准片203和第二标准片204中透出，其透光轴不能与该第 一标准片203或第二标准片204的透光轴垂直，即两者之间相差，90° )区间中的任意 一个角度。在本实施例中，为了配合上述的第一标准片203和第二标准片204，选取该起偏 层202的透光轴为0°。下面将详细说明如何使用上述检测装置200检测偏光片。请一并参考图3、图 4A-4D，图3是本发明的检测方法的流程示意图，图4A-4D是使用本发明的检测装置进行检 测的具体实施方式
的示意图。如图所示，第一步选取一个合适的视角观察第一标准片203 和第二标准片204，使该第一标准片203和第二标准片204呈现出干涉图案。此处因为第一 标准片203和第二标准片204并非精密贴合在透明基本201的表面，其间会有空气薄膜，再 加上本身的离型层等薄膜，使得光线在透过该第一标准片203和第二标准片204时会产生 明暗相间或者炫彩的干涉条纹。如图4A所示，在一合适的观察角度下，第一标准片203和 第二标准片204分别出现有差异的干涉图案。接着，将待测的偏光片300放置到检测装置200的检测区205上，在上述的视角下 观察该待测偏光片300的图案，并与第一标准片203和第二标准片204的干涉图案比较，如 果此时该待测偏光片300出现的干涉图案与第一标准片203或者第二标准片203的干涉图 案不相同，则需要将该待测偏光片300旋转一定角度，直到该偏光片300的干涉图案与第一 标准片203或者第二标准片204中的一个相同。将与待测偏光片300具有相同干涉图案的参考标准片记为第一比较结果。然后将 该待测偏光片300水平旋转180°，如图4B所示。观察此时该待测偏光片300的干涉图案， 并再一次与第一标准片203和第二标准 片204的干涉图案比较，将此次与待测偏光片300 具有相同干涉图案的参考标准片记为第二比较结果。最后根据第一比较结果和第二比较结果进行判断如果该第一比较结果和该第二 比较结果相同，即该待测偏光片300两次出现的干涉图案都与同一块参考标准片的干涉图 案相同，则说明该待测偏光片300在同一轴上的两个不同方向的光传输特性相同，该待测 偏光片300为非光学补偿型偏光片；如果该第一比较结果和该第二比较结果不同，即该待 测偏光片300两次出现的干涉图案分别与两块参考标准片相同，则说明该待测偏光片300 在同一轴上的两个不同方向的光传输特性不同，该待测偏光片300为光学补偿型偏光片。 如图4C-4D所示的情况，就是待测偏光片300为光学补偿型偏光片时，出现两次不同的干涉 图案的示意图。请再参考图5，图5是本发明的第二具体实施方式
的示意图。与第一实施方式相 比，该第二实施方式使用外部光源400，设置在该起偏层202的一侧。由该外部光源400产 生的较强光线照射该检测装置200，使该第一标准片203、第二标准片204和该待测偏光片 300产生的干涉图案更加明显，易于判断。
由上述描述的本发明的检测装置和检测方法，利用光学补偿型偏光片具有各项异 性的光学传输性质，而非光学补偿型偏光片则没有这一性质的特征，通过比对两块标准片 所产生的干涉图案，在不破坏待测偏光片的情况下就能判断其所属类型。与现有的检测手 段相比，本发明的检测装置和检测方法具有结构简单，使用方便，且成本低廉的特征。由以上较佳具体实施方式
的详述，希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施方式
来对本发明的权利要求范围加以限制。相反地，其 目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的权利要求的范围内。
权利要求
一种检测装置，用以区分光学补偿型偏光片和非光学补偿型偏光片，其特征在于包括透明基板，具有第一表面和相背的第二表面，该第一表面设有起偏层；该第二表面具有检测区和参考区，其中该检测区用以放置待测偏光片；该参考区设有第一标准片和第二标准片，且该第一标准片和该第二标准片的透光轴相差180°。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该第一标准片和该第二标准片为光学 补偿型偏光片。
3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该第一标准片和该第二标准片具有离型膜。
4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该第一标准片的透光轴为45°。
5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该起偏层的透光轴与该第一标准片的 透光轴相差一角度，其中该角度的范围在，90° )区间。
6.一种检测方法，用以区分光学补偿型偏光片和非光学补偿型偏光片，其特征在于包 括下列步骤提供一种如权利要求1至5任意一项所述的检测装置；选择角度观察该第一标准片和第二标准片，使该第一标准片和该第二标准片的表面具 有不同的图案；将待测偏光片放置于该检测区，以上述角度观察该待测偏光片；旋转该待测偏光片，使该待测偏光片呈现与第一标准片或者第二标准片相同的图案；将该待测偏光片旋转180°，以此时该待测偏光片的图案与第一标准片和第二标准片 对比；根据该对比结果判断该偏光片的类型。
7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于该对比结果包括该待测偏光片两次都 与同一块参考标准片的图案相同；或者该待测偏光片两侧分别与两块参考标准片的图案相 同。
8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于该判断包括与同一块参考标准片具有 相同的图案时，该待测偏光片为非光学补偿型偏光片；或者分别与两块参考标准片具有相 同的图案时，该待测偏光片为光学补偿型偏光片。
9.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于该方法还包括使用外部光源，设置在该 起偏层的一侧，该外部光源产生强光照射该检测装置，使该第一标准片、第二标准片和该待 测偏光片产生的干涉图案更加明显。
全文摘要
本发明公开了一种用以区分光学补偿型偏光片和非光学补偿型偏光片的检测装置和检测方法。该检测装置包括透明基板、起偏层、第一标准片和第二标准片。该检测方法通过将待测偏光片放置在透明基板的检测区，并比对第一标准片和第二标准片的干涉图案进行判断。本发明的检测装置和检测方法在不破坏待测偏光片的情况下就能快速的进行检测，并具有结构简单，使用方便，且成本低廉的特征。
文档编号G01M11/00GK101806966SQ20101015611
公开日2010年8月18日 申请日期2010年3月31日 优先权日2010年3月31日
发明者王旭萍 申请人:苏州达信科技电子有限公司;达信科技股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
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