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专利名称：锥螺纹塞规中径测量方法
技术领域：
本发明涉及一种塞规中径测量方法。
背景技术：
检定圆柱螺纹塞规通常使用三针法，利用量针和测长机对螺纹塞规的中径进行测量，以得到螺纹塞规的中径值进行评价。这种方法用于圆柱螺纹塞规简单可靠，但对于锥螺纹塞规并不适用。由于锥螺纹塞规具有锥度，如果利用三针测量需要引入工装，因为塞规轴向每个位置中径都不相同，只能测量小头方向的中径值，而得不到基准面的中径值，测量过程中会引入很多误差，得到的数据重复性不好，准确度不高。目前对锥螺纹塞规的检测还属于空白。市场上瑞士某公司供应一种IAC螺纹综合测量仪。采用锥螺纹塞规齿面接触扫描的方式来采集测量数据，虽然测量结果精度准确度 很高，但该设备投资较大，后期对设备的检测，精度维护等费用较高。不符合我公司目前的生产实际需要。

发明内容
本发明的目的是提供一种锥螺纹塞规中径测量方法，以解决现有测量塞规中径需使用专用仪器，投资较大且后期维护费用高的问题。本发明为解决上述技术问题采取的技术方案是所述方法包括以下步骤步骤一、在锥螺纹上半部的相邻三个齿面上各采集一点，分别定义为第一点(xn，yi)、第二点(xi2 Yi)和第三点(χ13，Yi)，其中第一点、第二点和第三点在同一直线上；采在锥螺纹下半部的相邻三个齿面上各采集一点，分别定义为第四点(x21，y2)、第五点(x22，y2)和第六点(x23，y2)，其中第四点、第五点和第六点在同一直线上，采集塞规的基面位置坐标；步骤二、在锥螺纹上半部，取锥螺纹塞规的中径线L1和平行于锥螺纹中径线L1且过第二点的直线L2，直线L2经过三个齿面的三个交点中相邻两个交点之间的距离定义为屯、d2,计算屯、d2值
权利要求
1.一种锥螺纹塞规中径测量万法，其特征在于所述万法包括以下步骤步骤一、在锥螺纹上半部的相邻三个齿面上各采集一点，分别定义为第一点(I) (X11^1)、第二点(2) (X12,Y1)和第三点(3) (x13，yi)，其中第一点(I)、第二点(2)和第三点(3)在同一直线上； 采在锥螺纹下半部的相邻三个齿面上各采集一点，分别定义为第四点(4) (x21, y2)、第五点(5) (x22, y2)和第六点(6) (x23, y2)，其中第四点(4)、第五点(5)和第六点(6)在同一直线上，采集塞规的基面位置坐标； 步骤二、在锥螺纹上半部，取锥螺纹塞规的中径线L1和平行于锥螺纹中径线L1且过第二点的直线L2，直线L2经过三个齿面的三个交点中相邻两个交点之间的距离定义为Clpd2,计算屯、d2值
2.根据权利要求I所述锥螺纹塞规中径测量方法，其特征在于步骤一中使用万能工具显微镜进行采集第一点(I)、第二点(2)、第三点(3)、第四点(4)、第五点(5)和第六点(6)的坐标。
全文摘要
锥螺纹塞规中径测量方法，它涉及一种塞规中径测量方法。该方法解决现有测量塞规中径需使用专用仪器，投资较大且后期维护费用高的问题。所述方法包括以下步骤步骤一、在锥螺纹上半部的相邻三个齿面上各采集一点；采在锥螺纹下半部的相邻三个齿面上各采集一点；步骤二、直线L2经过三个齿面的三个交点中相邻两个交点之间的距离定义为d1、d2，计算d1、d2值；步骤三、直线L3经过三个齿面的三个交点中相邻两个交点之间的距离定义为d3和d4，计算d3和d4值；步骤四、已知螺纹塞规基面的横坐标x0，即可求出锥螺纹塞规的基面中径值d。本发明用于测量锥螺纹塞规中径。
文档编号G01B3/26GK102889834SQ20121031692
公开日2013年1月23日 申请日期2012年8月31日 优先权日2012年8月31日
发明者杨英, 张鑫桐, 于辉刚, 徐胜男, 范乐乐, 路梅, 朱英男, 李变弟, 李涛, 王永刚, 汪涛 申请人:哈尔滨汽轮机厂有限责任公司