专利名称：检测彩色滤光片的设备及方法
技术领域：
本发明涉及液晶显示领域，尤其涉及一种检测彩色滤光片的设备及方法。
背景技术：
液晶显示面板一般需要采用彩色滤光片来实现彩色显示，通过给液晶加驱动控制电压，使从背光源发光的光线经过彩色滤光片的处理，显示出彩色画面，因为彩色滤光片的品质直接影响到液晶显示面板的画像显示品质，所以彩色滤光片的检测显得特别关键。现有技术中，彩色滤光片检测设备的光源都是通过冷阴极荧光灯管(Cold Cathode Fluorescent Lamp, CCFL)或发光二极管(Light Emitting Diode, LED)背光实现的。如图1所示，一种彩色滤光片检测设备，包括承载台11和背光源装置12，所述背光源装置12为CCFL或LED，所述背光源装置12包括收容框架120和多个发光元件，该收容框架120包括与该承载台11接触的底面121和与该底面121相对的表面122，该表面122 设置有多个V形槽1220。检测时，待检测彩色滤光片20设置在背光源装置12上。如图2 所示，所述彩色滤光片有多个平行设置的R(红)、G(绿)、B (蓝)子像素构成。CCFL背光或者LED背光的发光颗粒通常是毫米级以上的，而彩色滤光片的子像素通常为微米级。因而此背光源与其检测的子像素之间无法形成精确匹配关系。由于CCFL背光或者LED光源为强光源，需要遮光层降低亮度，并且需要一定的散热空间。使得CCFL背光或LED背光与待检测的彩色滤光片之间通常存在5mm以上的缝隙。针对不同的缺陷，进行检测时的观测角度存在一定的差异，在检测彩色滤光片时，由于背光与待检测的彩色滤光片之间存在5mm 以上的缝隙，在不同的观测角度下，不能通过背光位置确定缺陷位置，使得对彩色滤光片不良位置的确认粗略无法进行精确地址确认和输出。
发明内容
本发明实施例提供检测彩色滤光片的设备和方法，用以解决由于背光与待检测的彩色滤光片之间存在5mm以上的缝隙使得对彩色滤光片不良位置的确认粗略无法进行精确地址确认和输出的问题。为达到上述目的，本发明实施例采用如下技术方案一种检测彩色滤光片的设备，包括有机发光二极管OLED检测模板和控制台，所述 OLED检测模板由至少一个OLED背光组成，所述OLED背光的发光单元与待检测彩色滤光片的子像素一对一匹配，所述OLED检测模板通过驱动总线和数据传输线与所述控制台连接， 所述控制台控制所述OLED检测模板中所述OLED背光的发光单元的开关和灰度。具体的，所述驱动总线包括横向驱动总线和纵向驱动总线，所述OLED背光的发光单元通过横向电极连入所述横向驱动总线，所述OLED背光的发光单元通过纵向电极连入所述纵向驱动总线。具体的，所述控制台包括信号发生器和主控电脑，所述主控电脑与所述信号发生器连接，所述信号发生器通过所述数据传输线与所述驱动总线连接，所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号，所述信号发生器将所述图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板，所述 OLED检测模板中所述OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。进一步的，为了对待检测彩色滤光片不良点的捕捉更精确，所述信号发生器包括存储�？椋龃娲⒛？楸４嬗性は壬柚玫亩员韧枷褚约安龆员韧枷竦耐枷裥藕牛� 所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令调用所述产生所述对比图像的图像信号；所述主控电脑包括处理器，所述处理器与所述信号发生器相连，所述处理器提取所述对比图像以及通过所述产生所述对比图像的图像信号得到的检测图像，将所述对比图片和所述检测图像进行对比处理。进一步的，为了查找到所述不良点之后进行维修确认，所述控制台还包括信号存储传输单元，所述信号存储传输单元通过线路与所述主控电脑连接，保存所述主控电脑对比处理的结果。进一步的，为了加强所述检测彩色滤光片的设备的灵活性，降低所述主控电脑中的处理器的误判，所述控制台还包括信号控制面板，所述信号控制面板分别与所述信号发生器、所述主控电脑连接。一种检测彩色滤光片的方法，用于检测彩色滤光片的设备，所述检测彩色滤光片的设备包括有机发光二极管OLED检测模板和控制台，所述OLED背光的发光单元与待检测彩色滤光片的子像素一对一匹配，所述方法，包括控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，所述图像信号包括所述OLED检测模板中OLED背光的发光单元的开关和灰度；所述 OLED检测模板中OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。具体的，所述控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，包括所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号；所述信号发生器将所述图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板。又或者，所述控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，包括所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令调用所述产生所述对比图像的图像信号；所述信号发生器将所述产生所述对比图像的图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板；此时，所述方法，还包括待检测彩色滤光片通过OLED检测模板的光照得到检测图像；所述主控电脑提取所述对比图像以及通过所述产生所述对比图像的图像信号得到的检测图像，将所述对比图像和所述检测图像进行对比处理。进一步的，为进一步维修确认做准备，所述方法还包括所述主控电脑将所述对比处理的结果传输给信号存储传输单元。进一步的，为了加强所述检测彩色滤光片的设备的灵活性，降低所述主控电脑中的处理器的误判，所述方法，还包括所述主控电脑根据所述控制面板发送的控制指令调用所述主控电脑中的处理程序；所述信号发生器根据所述控制面板发送的控制指令生成图像信号。本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备及方法，采用由OLED背光组成的
5OLED检测模板对待检测的彩色滤光片进行检测，由于OLED背光的发光颗粒较�。芄挥胨龃觳獠噬斯馄淖酉袼厥迪忠欢砸黄ヅ洌庇捎贠LED检测模板中的OLED背光的发光单元式自发光方式，使得所述待检测彩色滤光片与所述OLED检测模板之间可实现无缝隙接触，避免了由于背光源与待检测彩色滤光片之间存在较大的缝隙导致检测彩色滤光片时，彩色滤光片不良位置的确认粗略的问题。
图1为现有技术中检测彩色滤光片的设备结构示意图；图2为图1中待检测彩色滤光片的结构示意图；图3为本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备结构示意图一；图4为图3所示检测彩色滤光片的设备中驱动总线的布局示意图；图5为本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备结构示意图二 ；图6为本发明实施例提供的检测彩色滤光片的方法流程图；图7为图6所示的检测彩色滤光片的方法中步骤601的流程图；图8为本发明又一实施例提供的检测彩色滤光片的设备结构示意图；图9为图8所示的检测彩色滤光片的设备中信号控制面板的结构示意图；图10为不良区域的捕捉形式一；图11为不良区域的捕捉形式二 ；图12为不良区域的捕捉形式三；图13为本发明又一实施例提供的检测彩色滤光片的方法流程图一；图14为图13所示的检测彩色滤光片的方法中步骤1302的流程图；图15为本发明又一实施例提供的检测彩色滤光片的方法流程图二。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。为了解决现有技术由于背光与待检测的彩色滤光片之间存在5mm以上的缝隙使得对彩色滤光片不良位置的确认粗略的问题，本发明实施例提供一种检测彩色滤光片的设备及方法。如图3所示，本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备，包括有机发光二极管 OLED检测模板31和控制台32，所述OLED检测模板31由至少一个OLED背光311组成，所述OLED背光311的发光单元与待检测彩色滤光片33的子像素一对一匹配，所述OLED检测模板31通过驱动总线34和数据传输线35与所述控制台32连接，所述控制台32控制所述 OLED检测模板31中所述OLED背光311的发光单元的开关和灰度；其中，所述OLED背光311 是OLED背光整体，发光单元为OLED背光311内的最小发光单元，类似于Panel和像素之间的关系。具体的，如图4所示，所述驱动总线34包括横向驱动总线41和纵向驱动总线42，所述OLED背光的发光单元43通过横向电极44连入所述横向驱动总线41，所述OLED背光的发光单元43通过纵向电极45连入所述纵向驱动总线42。进一步的，如图5所示，控制台32包括信号发生器51和主控电脑52，所述主控电脑52与所述信号发生器51连接，所述信号发生器51通过所述数据传输线35与所述驱动总线34连接，所述信号发生器51在接收到所述主控电脑52发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号，所述信号发生器51将所述图像信号通过所述数据传输线35和所述驱动总线34传输给所述OLED检测模板31，所述OLED检测模板31中所述OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。在本实施例中，所述控制台通过所述驱动总线和所述数据传输线控制所述OLED 背光中的每一个发光单元的开关和灰度。如图6所示，本发明实施例提供的检测彩色滤光片的方法，用于上述的检测彩色滤光片的设备，包括步骤601，控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，所述图像信号包括所述 OLED检测模板中OLED背光的发光单元的开关和灰度。具体的，如图7所示，所述步骤601，包括步骤701，所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号。步骤702，所述信号发生器将所述图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板。在具体实施时，要检测所述待检测彩色滤光片的R子像素时，所述控制台发送打开与所述待检测彩色滤光片的R子像素对应的发光单元的图像信号。同理，要检测B子像素或G子像素，需要发送打开与所述待检测彩色滤光片的B子像素或G子像素对应的发光单元的图像信号。所述图像信号还携带待发光的发光单元打开时的发光强度，即发光单元的灰度。具体的，所述控制台中的主控电脑发送检测指令，检测待检测彩色滤光片中R子像素的指令，所述信号发生器根据所述检测指令生成所述图像信号。该图像信号用于打开所述OLED背光中与所述待检测彩色滤光片中R子像素对应的发光单元。同理，检测所述待检测滤光片中的B子像素或G子像素也是通过上述步骤得到。步骤602，所述OLED检测模板中OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。在具体使用时，将待检测的彩色滤光片与所述OLED检测模板中的OLED背光机械对位，对位之后，所述控制台会给所述检测模板发送图像信号，所述OLED检测模板中OLED 背光的发光单元根据所述图像信号发光，所述待检测的彩色滤光片在所述OLED背光的正上方，所述OLED背光发光透过所述彩色滤光片之后形成图像，所述图像通过所述数据传输线返回给所述控制台，操作人员可以在所述控制台的显示器上观察所述图像，根据所述图像判断所述彩色滤光片的不良点。本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备及方法，采用由OLED背光组成的 OLED检测模板对待检测的彩色滤光片进行检测，由于OLED背光的发光颗粒较�。芄挥胨龃觳獠噬斯馄淖酉袼厥迪忠欢砸黄ヅ洌庇捎贠LED检测模板中的OLED背光的发光单元式自发光方式，使得所述待检测彩色滤光片与所述OLED检测模板之间可实现无缝隙接触，避免了由于背光源与待检测彩色滤光片之间存在较大的缝隙导致检测彩色滤光片时，彩色滤光片不良位置的确认粗略无法进行精确地址确认和输出的问题。如图8所示，本发明又一实施例提供的检测彩色滤光片的设备，包括有机发光二极管OLED检测模板81和控制台82，所述控制台82包括信号发生器821、主控电脑822和信号存储传输单元823，所述主控电脑822与所述信号发生器821连接，所述信号发生器821 通过所述数据传输线83与所述驱动总线84连接，所述信号发生器81在接收到所述主控电脑822发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号，所述信号发生器821将所述图像信号通过所述数据传输线83和所述驱动总线84传输给所述OLED检测模板81，所述OLED 检测模板81中所述OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。所述信号存储传输单元 823通过线路与所述主控电脑822连接，保存所述主控电脑822对比处理的结果。在本实施例中，所述OLED检测模板81由至少一个OLED背光组成，所述OLED背光的发光单元与待检测彩色滤光片的子像素一对一匹配。所述信号发生器821包括存储�？�8211，所述存储�？�8211保存有预先设置的对比图像以及产生所述对比图像的图像信号，所述信号发生器821在接收到所述主控电脑822发送的检测指令时，根据所述检测指令调用所述产生所述对比图像的图像信号；所述主控电脑822包括处理器8221，所述处理器8221与所述信号发生器821相连，所述处理器8221提取所述对比图像以及通过所述产生所述对比图像的图像信号得到的检测图像，将所述对比图片和所述检测图像进行对比处理。使用主控电脑822中的处理器8221查找待检测滤光片的不良，其准确度更高。所述处理器中进行所述对比图像与所述检测图像之间的处理，可以通过差值法实现，最佳状态下，所述对比图像像素与所述检测图像像素之间的差值均为0，说明所述待检测彩色滤光片检测结果为优质品。在所述处理器中可预先设置一个阈值，当所述对比图像像素与所述检测图像像素之间的差值大于所述阈值，则所述检测图像像素对应的彩色滤光片的子像素为不良点，对该点进行捕捉。在本实施例中，所述彩色滤光片的不良包括光阻膜色度差异、光阻膜缺失、光阻膜间混色、光阻膜污染、光阻膜位置偏差以及系统性漏光等。在所述处理器中可以设置与上述不良对应的阈值，当所述对比图像像素与所述检测图像像素之间的差值大于所述阈值，说明发生了与所述阈值对应的不良。值得说明的是，所述系统性漏光的具体检测方式为由于黑矩阵的发光单元和RGB的发光单元是独立的，因此可以通过打开对应于所述彩色滤光片的黑矩阵区域的发光单元，观测是否有光线从BM区域漏出，和/或，检测所述发光单元打开之后透过所述彩色滤光片是否有光照出的方式来判断是否存在系统性漏光。 不管是出现了光线从BM区域漏出，还是透过所述彩色滤光片有光照出，都说明该彩色滤光片存在系统性漏光的不良。进一步的，为了加强所述检测彩色滤光片的设备的灵活性，降低所述主控电脑中的处理器的误判，所述控制台82还包括信号控制面板824，所述信号控制面板拟4分别与所述信号发生器821、所述主控电脑822连接。具体的，如图9所示，所述信号控制面板拟4包括灰度调节按钮91、标记按钮92， 方向控制按钮93和坐标传输按钮94。所述灰度调节按钮91可以调节所述OLED背光中正在发光的发光单元的灰度，可以灵活调节操作员所需要的灰度，不完全受主控电脑的控制。
所述标记按钮92可以在人为观察时用于捕捉待检测彩色滤光片的不良区域。所述不良区域的捕捉形式可以是如图10所示的局部小区域，如图11所示的局部大区域或者是如图12所示的包含系统中心的区域。所述方向控制按钮93可以在所述标记按钮92捕捉到不良区域后进行不良点的精确捕捉。所述坐标传输按钮94可以在精确捕捉到所述不良点时将所述不良点的精确坐标传输给主控电脑。如图13所示，本发明又一实施例提供的检测彩色滤光片的方法，用于上述的检测彩色滤光片的设备，包括步骤1301，将待检测彩色滤光片与所述OLED检测模板机械预对位。具体的，所述待检测彩色滤光片对应于所述OLED检测模板中的OLED背光，所述待检测彩色滤光片的子像素与所述OLED背光中的发光单元一对一匹配。步骤1302，控制台发送图像信号给所述OLED检测模板。在本实施例中，所述图像信号包括所述OLED检测模板中OLED背光的发光单元的开关和灰度。具体的，如图14所示，所述步骤1302，包括步骤1401，所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令调用所述产生所述对比图像的图像信号。步骤1402，所述信号发生器将所述产生所述对比图像的图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板。步骤1303，所述OLED检测模板中OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。步骤1304，所述待检测彩色滤光片通过OLED检测模板的光照得到检测图像。步骤1305，所述主控电脑提取所述对比图像以及通过所述产生所述对比图像的图像信号得到的检测图像，将所述对比图像和所述检测图像进行对比处理。所述对比处理的具体实现方式与上述处理器进行对比处理的方法相同，此处不再赘述。步骤1306，所述主控电脑将所述对比处理的结果传输给信号存储传输单元。为进一步的维修确认做准备。进一步的，为了加强所述检测彩色滤光片的设备的灵活性，降低所述主控电脑中的处理器的误判，所述方法，如图15所示，还包括步骤1501，所述主控电脑根据所述控制面板发送的控制指令调用所述主控电脑中的处理程序。步骤1502，所述信号发生器根据所述控制面板发送的控制指令生成图像信号。本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备及方法，采用由OLED背光组成的 OLED检测模板对待检测的彩色滤光片进行检测，由于OLED背光的发光颗粒较�。芄挥胨龃觳獠噬斯馄淖酉袼厥迪忠欢砸黄ヅ洌庇捎贠LED检测模板中的OLED背光的发光单元式自发光方式，使得所述待检测彩色滤光片与所述OLED检测模板之间可实现无缝隙接触，避免了由于背光源与待检测彩色滤光片之间存在较大的缝隙导致检测彩色滤光片时，彩色滤光片不良位置的确认粗略的问题。
本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备及方法，能够应用于液晶显示装置中彩色滤光片的检测。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一计算机可读存储介质中，如 ROM/RAM、磁碟或光盘等。以上所述，仅为本发明的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
权利要求
1.一种检测彩色滤光片的设备，其特征在于，包括有机发光二极管OLED检测模板和控制台，所述OLED检测模板由至少一个OLED背光组成，所述OLED背光的发光单元与待检测彩色滤光片的子像素紧密贴合并且一对一匹配，所述OLED检测模板通过驱动总线和数据传输线与所述控制台连接，所述控制台控制所述OLED检测模板中所述OLED背光的发光单元的开关和灰度。
2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制台包括信号发生器和主控电脑， 所述主控电脑与所述信号发生器连接，所述信号发生器通过所述数据传输线与所述驱动总线连接，所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号，所述信号发生器将所述图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板，所述OLED检测模板中所述OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。
3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述信号发生器包括存储�？椋龃娲⒛？楸４嬗性は壬柚玫亩员韧枷褚约安龆员韧枷竦耐枷裥藕牛鲂藕欧⑸髟诮邮盏剿鲋骺氐缒苑⑺偷募觳庵噶钍保菟黾觳庵噶畹饔盟霾龆员韧枷竦耐枷裥藕牛凰鲋骺氐缒园ù砥鳎龃砥饔胨鲂藕欧⑸飨嗔龃砥魈崛∷龆员韧枷褚约巴ü霾龆员韧枷竦耐枷裥藕诺玫降募觳馔枷瘢龆员韧计退黾觳馔枷窠卸员却�。
4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述控制台还包括信号存储传输单元，所述信号存储传输单元通过线路与所述主控电脑连接，保存所述主控电脑对比处理的结果。
5.根据权利要求2-4任一项所述的设备，其特征在于，所述控制台还包括信号控制面板，所述信号控制面板分别与所述信号发生器、所述主控电脑连接。
6.根据权利要求1-4任一项所述的设备，其特征在于，所述驱动总线包括横向驱动总线和纵向驱动总线，所述OLED背光的发光单元通过横向电极连入所述横向驱动总线，所述 OLED背光的发光单元通过纵向电极连入所述纵向驱动总线。
7.—种检测彩色滤光片的方法，其特征在于，用于检测彩色滤光片的设备，所述检测彩色滤光片的设备包括有机发光二极管OLED检测模板和控制台，所述OLED背光的发光单元与待检测彩色滤光片的子像素一对一匹配，所述方法，包括控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，所述图像信号包括所述OLED检测模板中 OLED背光的发光单元的开关和灰度；所述OLED检测模板中OLED背光的发光单元根据所述图像信号发光。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述控制台包括信号发生器和主控电脑， 所述控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，包括所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令生成图像信号；所述信号发生器将所述图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述 OLED检测模板。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述控制台包括信号发生器和主控电脑， 所述控制台发送图像信号给所述OLED检测模板，包括所述信号发生器在接收到所述主控电脑发送的检测指令时，根据所述检测指令调用所述产生所述对比图像的图像信号；所述信号发生器将所述产生所述对比图像的图像信号通过所述数据传输线和所述驱动总线传输给所述OLED检测模板； 所述方法，还包括待检测彩色滤光片通过OLED检测模板的光照得到检测图像； 所述主控电脑提取所述对比图像以及通过所述产生所述对比图像的图像信号得到的检测图像，将所述对比图像和所述检测图像进行对比处理。
10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述控制台还包括信号存储传输单元，所述方法，还包括所述主控电脑将所述对比处理的结果传输给信号存储传输单元。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述控制台还包括信号控制面板，所述方法，还包括所述主控电脑根据所述控制面板发送的控制指令调用所述主控电脑中的处理程序； 所述信号发生器根据所述控制面板发送的控制指令生成图像信号。
全文摘要
本发明实施例公开一种检测彩色滤光片的设备及方法，涉及液晶显示领域，解决了由于背光与待检测的彩色滤光片之间存在5mm以上的缝隙使得对彩色滤光片不良位置的确认粗略无法进行精确地址确认和输出的问题。本发明实施例提供的检测彩色滤光片的设备，包括有机发光二极管OLED检测模板和控制台，所述OLED检测模板由至少一个OLED背光组成，所述OLED背光的发光单元与待检测彩色滤光片的子像素紧密贴合并且一对一匹配，所述OLED检测模板通过驱动总线和数据传输线与所述控制台连接，所述控制台控制所述OLED检测模板中所述OLED背光的发光单元的开关和灰度。
文档编号G01M11/04GK102445324SQ201010502050
公开日2012年5月9日 申请日期2010年9月30日 优先权日2010年9月30日
发明者徐涛 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
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