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专利名称：双内花键同轴度检具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量位置公差的检具，具体地讲，本发明涉及一种两只内花键同轴度一并测量的检具。
背景技术：
双花键套是汽车差速锁的关键零部件，其结构特征是两端内孔中都设有内花键， 尽管两只内花键尺寸不等，但同轴精度要求较高，现有技术采用塞规可分别检验其形状，但不能检验两只内花键的同轴度。三维电子测量装置是现有技术中最先进的检测仪器，可通过立体定位精确测量两只内花键的同轴度，因三维电子测量装置对检测条件和环境有较高要求，所以只适合在检验室内作型式检验，不适合生产现场检验。由于生产现场缺少必要的检具，生产过程中不能及时发现两只内花之间同轴度偏差，易发生批量产品超差而造成损失。

发明内容
本发明主要针对现有技术的不足，提出一种适合生产现场使用的双内花键同轴度检具，该检具结构简单、制造容易、使用方便、测量准确。本发明通过下述技术方案实现技术目标。双内花键盘同轴度检具，它由定塞规、动塞规和螺母组成。所述定塞规为轴径上细下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上相邻轴段设有与螺母相配合的外螺纹。所述动塞规为有孔法兰状，中间通孔与定塞规中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键。其改进之处在于所述动塞规与定塞规同轴套合并由螺母轴向限位，同时构成不限制动塞规相对定塞规旋转结构。上述结构中，定塞规上的外花键尺寸比动塞规上的外花键尺寸小。本发明与现有技术相比，具有以下积极效果
1、两只不同尺寸的外花键塞规同轴连接结构简单，制作容易、安装方便；
2、定塞规与动塞规同轴套合，定位基准可靠，配合精度高，同轴度偏差小，检验质量有保证；
3、将定塞规轴向塞入相对应的一端内花键中，以此为基准用动塞规检验另一只内花键的同轴度偏差，检验操作方便、检测效率高，客观地快速定性判定被检产品同轴度偏差。


图1是本发明结构主视示意图。
具体实施例方式下面根据图1并结合实施例，对本发明作进一步说明。图1所示的双内花键同轴度检具，它由定塞规1、动塞规2和螺母3组成。所述定塞规1为轴径上细下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上相邻轴段设有与螺母3相配合的外螺纹。所述动塞规2为有孔法兰状，中间通孔与定塞规1中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键。动塞规2与定塞规1同轴套合并由螺母3轴向限位，同时构成不限制动塞规2相对定塞规1旋转的结构。本实施例用于检验汽车差速锁中的双花键套检具，其两端花键尺寸分别为分度圆直径52. 5mm和分度圆直径73mm。定塞规1底段外壁上的外花键分度圆直径为52. 5mm，动塞规2外壁上的外花键分度圆直径为73mm，检验时先将定塞规1上的外花键插入被检双花键套相应内花键中，以此为基准用动塞规2检验另一只内花键的同轴度，若两只内花键齿位有偏差，可转动动塞规2 直至对准被检验内花键的齿位，此结构在同轴度检验时不受齿位偏差影响。当两只塞规顺利通过双花键套，则表明同轴度合格。若动塞规2不能顺利插入双花键套内，则表明同轴度偏差超范围。本发明检验操作方便、效率高，能够客观地定性判定被检双花键套的同轴度偏差情况。
权利要求
1.一种双内花键盘同轴度检具，它由定塞规(1)、动塞规(2)和螺母(3)组成；所述定塞规(1)为轴径上细下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上相邻轴段设有与螺母(3)相配合的外螺纹；所述动塞规(2)为有孔法兰状，中间通孔与定塞规(1)中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键；其特征在于所述动塞规 (2)与定塞规(1)同轴套合并由螺母(3)轴向限位，同时构成不限制动塞规(2)相对定塞规 (1)旋转结构。
2.根据权利要求1所述的双内花键盘同轴度检具，其特征在于所述定塞规(1)上的外花键尺寸比动塞规(2)上的外花键尺寸小。
全文摘要
本发明公开了一种双内花键同轴度检具，它由定塞规、动塞规和螺母组成。所述定塞规为竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上设有与螺母相配合的外螺纹。所述动塞规为有孔法兰状，中间通孔与定塞规中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键。动塞规与定塞规同轴套合并由螺母轴向限位，同时构成不限制动塞规相对定塞规旋转结构。本发明以定塞规为基准用动塞规检验双花键套的同轴度，若两只内花键有齿位误差，可通过旋转动塞规调整位置，此结构在同轴度检验时不受齿位误差影响。本发明检验操作方便、效率高，能够客观地定性判定被检双花键套的同轴度偏差情况，特别适合生产现场使用。
文档编号G01B5/252GK102486367SQ201010572759
公开日2012年6月6日 申请日期2010年12月4日 优先权日2010年12月4日
发明者葛珍晓 申请人:江苏飞船股份有限公司