专利名称：一种检测纺织品缺陷的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测纺织品缺陷的装置。
背景技术：
纺织品在制造过程中，其结构和染色材料中可能会存在缺陷。在现有技术中，是由人工利用放大镜对缺陷进行检测鉴别，鉴别结果不准确。
发明内容鉴于目前还没有一种用于鉴别纺织品染色和结构缺陷的装置，本实用新型提供一种用于鉴别纺织品染色和结构缺陷的装置设备。本实用新型解决其技术问题的技术方案是一种检测纺织品缺陷的装置，包括机架，该机架具有一平台，所述机架的平台上由前自后依次设有半导体红外激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件，所述的半导体红外激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件均位于同一条光路上；所述物镜和所述的聚光透镜之间设有一用于夹持纺织品样本的织物支架，所述的电子感光器件与一显示器电连接。进一步，所述的半导体激光器内内置808nm波长红外激光光源或980nm波长红外激光光源。进一步，所述机架的平台上设有两条上凸滑轨；还包括聚光透镜支架、物镜支架、 摄像物镜支架，所述的聚光透镜安装在所述的聚光透镜支架上，所述的物镜安装在所述的物镜支架上，所述的摄像物镜安装在所述的摄像物镜支架上；聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架的下端均设有滑槽，所述上凸滑轨位于所述的滑槽内，所述的滑槽的侧边上穿设有锁紧螺杆。进一步，所述的电子感光元件为CCD元件或CMOS器件。本实用新型的工作原理是通过半导体红外激光器发射红外激光，经过聚光透镜的会聚后向夹持在织物支架上的纺织品样本投射并透过该纺织样品，然后再经过物镜和摄像物镜的会聚，由电子感光器件采集红外激光穿过纺织样品后的图像信号。聚光透镜、物镜和摄像物镜起到放大纺织样品图像的作用。利用电子感光器件对好外激光图像进行光电转换，在显示器上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像，可以准确地进行鉴别。红外激光的高度单色性和定向性应用于透射纺织品图像技术，可获得清晰度十分理想的图像。纺织纤维在高度单色性红外激光的透射下，织物的纤维获得接近单一波长红外激光相对透明度的纤维图像；在染色纺织品上，颜料的显现颜色是在400nm 760nm的光谱范围内，应用光波波段的红外激光(尤其是波长为808nm和波长为980nm的红外激光)透射纺织品结构以及纺织品的染色缺陷部位，入射光的光波波长在燃料显现颜色光谱范伟之外，能够去除燃料对红外激光入射光的影响，获得染色纺织品和染色缺陷部位相当于去掉燃料光学作用以后的结构成像图，揭示纺织品结构上存在的结构缺陷与染色缺陷之间的关系。本实用新型的有益效果在于利用红外激光透射纺织品样品，并采用光学透镜放大透射处样品的图像，采集红外激光透射图像后进行光电换转，在显示器上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像，可以准确地进行鉴别。
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细说明。参照图1，一种检测纺织品缺陷的装置，包括机架，该机架具有一平台，所述机架的平台上由前自后依次设有半导体红外激光器1、聚光透镜2、物镜3、摄像物镜4和电子感光器件5，所述的半导体红外激光器1、聚光透镜2、物镜3、摄像物镜4和电子感光器件5均位于同一条光路上；所述物镜2和所述的聚光透镜4之间设有一用于夹持纺织品样本6的织物支架， 所述的电子感光器件5与一显示器7电连接。电子感光元件5可采用CXD元件或CMOS器件。推荐在半导体激光器1内内置808nm波长红外激光光源或980nm波长红外激光光源。本实施例中，所述机架的平台上设有两条上凸滑轨；还包括聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架，所述的聚光透镜2安装在所述的聚光透镜支架上，所述的物镜3安装在所述的物镜支架上，所述的摄像物镜4安装在所述的摄像物镜支架上；聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架的下端均设有滑槽，所述上凸滑轨位于所述的滑槽内，所述的滑槽的侧边上穿设有锁紧螺杆。光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架可在上凸滑轨上滑动，从而可进行位置的调节，调整好位置后拧紧所述的锁紧螺杆使之一上凸滑轨锁紧后即实现固定。通过半导体红外激光器1发射红外激光，经过聚光透镜2的会聚后向夹持在织物支架上的纺织品样本6投射并透过该纺织样本6，然后再经过物镜3和摄像物镜4的会聚， 由电子感光器件5采集红外激光穿过纺织样本后的图像信号。聚光透镜2、物镜3和摄像物镜4起到放大纺织样品图像的作用。利用电子感光器件5对好外激光图像进行光电转换， 在显示器7上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像，可以准确地进行鉴别。
权利要求1.一种检测纺织品缺陷的装置，包括机架，该机架具有一平台，其特征在于所述机架的平台上由前自后依次设有半导体红外激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件，所述的半导体红外激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件均位于同一条光路上；所述物镜和所述的聚光透镜之间设有一用于夹持纺织品样本的织物支架，所述的电子感光器件与一显示器电连接。
2.如权利要求1所述的检测纺织品缺陷的装置，其特征在于所述的半导体激光器内内置808nm波长红外激光光源或980nm波长红外激光光源。
3.如权利要求1或2所述的检测纺织品缺陷的装置，其特征在于所述机架的平台上设有两条上凸滑轨；还包括聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架，所述的聚光透镜安装在所述的聚光透镜支架上，所述的物镜安装在所述的物镜支架上，所述的摄像物镜安装在所述的摄像物镜支架上；聚光透镜支架、物镜支架、摄像物镜支架的下端均设有滑槽，所述上凸滑轨位于所述的滑槽内，所述的滑槽的侧边上穿设有锁紧螺杆。
4.如权利要求1或2所述的检测纺织品缺陷的装置，其特征在于所述的电子感光元件为CCD元件或CMOS器件。
5.如权利要求3所述的测纺织品缺陷的装置，其特征在于所述的电子感光元件为CCD 元件或CMOS器件。
专利摘要一种检测纺织品缺陷的装置，包括机架，该机架上由前自后依次设有半导体红外激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件，半导体红外激光器、聚光透镜、物镜、摄像物镜和电子感光器件均位于同一条光路上；物镜和聚光透镜之间设有一织物支架，电子感光器件与一显示器电连接。通过半导体红外激光器发射红外激光，经过聚光透镜的会聚后向纺织品样本投射并透过该纺织样品，然后再经过物镜和摄像物镜的会聚，由电子感光器件采集图像信号。聚光透镜、物镜和摄像物镜起到放大纺织样品图像的作用。利用电子感光器件对好外激光图像进行光电转换，在显示器上显示具有灰度和对比色度的纺织样品红外激光透射图像，可以准确地进行鉴别。
文档编号G01N21/88GK202066792SQ201120036328
公开日2011年12月7日 申请日期2011年1月30日 优先权日2011年1月30日
发明者郭晨露 申请人:郭晨露
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