专利名称：开路检测方法与具有开路检测功能的测试载台的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种开路检测方法与具有开路检测功能的测试载台，并且特别涉及一种在进行高压测试以前，以低能量电压对待测物两端进行开路检查的开路检测方法与具有开路检测功能的测试载台。
背景技术：
在一般电气零件或成品或者零件的品质检验必须使用耐压机进行高压量测以确认该待测物是否符合安全规格的耐电压条件。然而，在实际进行高压测试时，如果与测试点与待测物接触不佳时会发生弧光，进而长期影响接触点的寿命，又因为不良的接触可能高电压并没有确实传送到待测物，更有机会发生耐电压不良品误判定为良品的情况。因此，对高压产生设备而言，上述弧光的产生会对设备本身或其他附属的测试设备造成干扰，相对影响设备的可靠度以及稳定性，进而影响的测试结果的可靠性。传统的高压测量设备多已具备开路检测技术。举例来说，以直流方式进行高压量测时，多是利用待测物瞬间充电电流特性，对低容量待测物无法确认高压是否连接正常，也就是说，当待测物仅具有微小电容量时，传统的高压测量设备无法有效检测待测物是否连接。此外，以交流方式进行待测试是否连接也有低容量无法检测的问题。因此，针对上述问题需要一种新的开路检测方法，在进行高压测试以前，以低能量电压对待测物两端进行开路检查，确认正常以后再执行高压测试，确保高压测试的有效性， 进而达到提高测试可靠度的要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种在进行高压测试以前，以低能量电压对待测物两端进行开路检查的具有开路检测功能的测试载台，以减少进行待测物的高压测试时的弧光发生，提高测试设备的使用寿命以及可靠度。本发明提出一种具有开路检测功能的测试载台，电性连接具有一测试程序的一测试设备，测试载台用以卡持至少一待测物，且测试载台包含一第一电路、一第二电路以及一控制单元。第一电路具有一第一测试端与一第二测试端，当第一测试端与第二测试端同时电性连接于待测物时，第一电路与待测物形成一第一电流回路并产生一第一控制信号。第二电路具有一第三测试端与一第四测试端，当第三测试端与第四测试端同时电性连接于待测物时，第二电路与待测物形成一第二电流回路并产生一第二控制信号。控制单元电性连接第一电路、第二电路与测试设备，用以接收第一控制信号与第二控制信号并据以控制测试设备执行测试程序。于一示范实施例中，本发明的第一测试端电性连接测试设备的一高压端并与高压端等电位，第三测试端电性连接测试设备的一低压端并与低压端等电位。此外，第一电路具有一第一电源与一第一耦合单元，当第一电流回路形成后，第一电源驱动第一耦合单元以产生第一控制信号。
此外，本发明还揭露一种开路检测方法，可在进行高压测试以前，以低能量电压对待测物两端进行开路检查。由此，本发明可减少进行待测物的高压测试时的弧光发生，提高测试设备的使用寿命以及可靠度本发明提出一种开路检测方法，包含下列步骤首先，将一待测物卡持于一测试载台，测试载台具有一第一电路以及一第二电路。接着，判断第一电路是否与待测物形成一第一电流回路，以及判断第二电路是否与待测物形成一第二电流回路。接着，当第一电流回路与第二电流回路皆导通时，执行一测试程序。因此，本发明的开路检测方法与具有开路检测功能的测试载台可在进行高压测试以前，以低能量电压对待测物两端进行开路检查，确认正常以后再执行高压测试，确保高压测试的有效性，进而减少弧光发生，提高测试设备本身以及其他设备的可靠度。此外，本发明的测试载台的结构简单，不需复杂的电路即可使用简单的接触测试电路确保执行高压测试的有效性，以减少误判造成的测试失误。关于本发明的优点与精神可以由以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。
图IA绘示根据本发明的一示范实施例的具有开路检测功能的测试载台的功能方块图。图IB绘示根据图IA的测试载台的功能方块图。图2绘示根据本发明的一示范实施例的开路检测方法的流程图。 图3A绘示根据本发明的一示范实施例的具有开路检测功能的测试载台的电路示意图。图;3B绘示根据本发明的另一示范实施例的具有开路检测功能的测试载台的电路示意图。其中，附图标记说明如下1 测试载台2:测试设备3 待测物10:第一电路12:第二电路14 控制单元102a、102b、122a、122b 测试端104:第一电源106 第一限流电路108 第一耦合单元124:第二电源126 第二限流电路128 第二耦合单元22a:高压端22b 低压端
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S40 S52 流程步骤
具体实施例方式请一并参阅图IA以及图1B，图IA绘示根据本发明的一示范实施例的具有开路检测功能的测试载台的功能方块图。图IB绘示根据图IA的测试载台的功能方块图。如图所示，本发明的测试载台1适于搭配测试设备2以卡持待测物3。其中，测试载台1进一步包含第一电路10、第二电路12以及控制单元14。以下分别描述本发明的元件。第一电路10具有测试端10 与测试端102b，当测试端10 与测试端102b同时电性连接于待测物3时，第一电路10与待测物3形成第一电流回路并产生第一控制信号。 于实务中，第一电路10具有第一电源与第一耦合单元，第一电源可用以驱动第一耦合单元以输出第一控制信号。在此，第一耦合单元用以将测试设备2的高压端22a的测试结果传递到低压侧的零件，第一耦合单元可以是光耦合器或其它形式具隔离作用的零件。换句话说，第一电路10透过测试端10 与测试端102b进行待测物3的接触测试， 第一电流回路形成表示第一电路10与待测物3已确实接触，而第一电流回路导通后，由第一电源驱动第一耦合单元以产生第一控制信号做为接触测试的测试结果。此外，第一电路10还可包含一第一限流电路，其功能在于限制第一电流回路中的电流，举例来说，第一限流电路可以是电阻或任意型式的限流电路。更详细来说，测试端 102a电性连接测试设备2的高压端2 并与高压端2 等电位端等电位，且测试端10 可耦接于第一电源。其中，第一电源提供第一电流回路中所需的电源，如果测试端10 具有高电压，此第一电源必须具备高隔离功能。第二电路12具有测试端12 与测试端122b，当测试端12 与测试端122b同时电性连接于待测物3时，第二电路12与待测物3形成第二电流回路并产生第二控制信号。 于实务中，第二电路12具有第二电源与第二耦合单元，第二电源可用以驱动第二耦合单元以输出第二控制信号。在此，第二耦合单元用以将测试设备2的低压端22b的测试结果传递到低压侧的零件，它可以是光耦合器或其它形式具隔离作用的零件，当然，实际上也可以不需要隔离。换句话说，第二电路12透过测试端12 与测试端122b进行待测物3的接触测试， 第二电流回路形成表示第二电路12与待测物3已确实接触，而第二电流回路导通后，由第二电源驱动第二耦合单元以产生第二控制信号做为接触测试的测试结果。此外，第二电路12还可包含一第二限流电路，其功能在于限制第二电流回路中的电流，举例来说，第二限流电路可以是电阻或任意型式的限流电路。更详细来说，测试端 122a电性连接测试设备2的低压端22b并与低压端22b等电位端等电位，且测试端12 可耦接于第二电源。控制单元14电性连接第一电路10、第二电路12与测试设备2，接收第一控制信号与第二控制信号并据以控制测试设备2执行测试程序。于实务中，控制单元14可包含一乘法器或其他适于信号合并的电路，用以将第一电路10与第二电路12的测试结果合并，当测试载台1确实卡持待测物3时，进而控制测试设备2执行测试程序。值得一提的是，测试设备2可具有一测试程序。于实务上，测试设备2可对应不同的测试程序产生测试所需的测试信号。举例来说，测试设备2可随待测物3不同而产生高压信号或其他信号，也就是说，测试设备2可以是高压测试设备或其它零件测试设备。此外， 待测物3可为一光耦合器或者一电容器。以下搭配本发明的开路检测方法加以说明。请参阅图IB与图2，图2绘示根据本发明的一示范实施例的开路检测方法的流程图。如图所示，于步骤S40中，待测物3可由机械或人工方式卡持于测试载台1中。接着， 于步骤S42中，若测试载台1与待测物3电性连接，则第一电路10与第二电路12将分别形成第一电流回路与第二电流回路，进而分别送出第一控制信号与第二控制信号至控制单元 14以指示待测物3已妥善连接于测试载台1。另一方面，若测试载台1与待测物3未确实电性连接，则第一电流回路与第二电流回路至少其中一个无法导通，进而第一控制信号与第二控制信号至少其中一个无法传递至控制单元14，控制单元14可从而判断待测物3未妥善连接于测试载台1。上述步骤S42中，当控制单元14判断待测物3已妥善连接于测试载台1时，可进一步由步骤S44中所示，控制单元14可控制测试设备2执行测试程序。此外，当控制单元 14判断待测物3未妥善连接于测试载台1时，可进一步由步骤S46中所示，控制单元14可再指示相关机械或人员将待测物3由机械或人工方式从测试载台1中移除。紧接着由步骤 S48中，控制单元14可指示所述相关机械或人员将待测物3再次由机械或人工方式重新卡持于测试载台1中。于实务中，若干不理想的因素可由重新连接的过程中排除，本发明在此并不限定重新连接待测物3于测试载台1中的次数，本发明所属技术领域的普通技术人员可以自行设定。当重新连接待测物3于测试载台1的步骤完成后，可继续步骤S50，其中步骤S50 与步骤S42相同，在此不予赘述。若重新连接之后控制单元14判断待测物3已妥善连接于测试载台1，则表示造成接触不良的不理想因素已被排除，可进一步执行步骤S44，由控制单元14控制测试设备2执行测试程序。另一方面，若重新连接之后，待测物3仍未妥善连接于测试载台1，则可由步骤S52中，控制单元14将待测物3归类为不良品，并可进行下一个待测物3的接触测试。于实际应用上，请参阅图3A以及图;3B，图3A绘示根据本发明的一示范实施例的具有开路检测功能的测试载台的电路示意图。图3B绘示根据本发明的另一示范实施例的具有开路检测功能的测试载台的电路示意图。其中，图3A与图;3B不同的地方在于，待测物3 于图3A中可为一光耦合器，待测物3于图;3B中可为一电容器。如图所示，第一电路10具有第一电源104、第一限流电路106与第一耦合单元108。第一电源104提供第一电流回路中的电源，并驱动第一耦合单元108以输出第一控制信号。第一限流电路106可用以限制第一电流回路中的电流。同样的，第二电路12具有第二电源124、第二限流电路1 与第二耦合单元128。第二电源IM提供第二电流回路中的电源，并驱动第二耦合单元128以输出第二控制信号。第二限流电路126可用以限制第二电流回路中的电流。在此，第一电路10的测试端10 与测试端102b同时电性连接于待测物3时，于第一电路10内部可形成第一电流回路。于此第一电流回路中，第一电源104可用以驱动第一耦合单元108以输出第一控制信号至控制单元14。同样的，第二电路12的测试端12 与测试端122b同时电性连接于待测物3时，于第二电路12内部可形成第二电流回路。于此第二电流回路中，第二电源1 可用以驱动第二耦合单元128以输出第二控制信号至控制单元14。当控制单元14接收第一控制信号与第二控制信号之后，可进一步控制测试设备2执行测试程序。综上所述，本发明的开路检测方法与具有开路检测功能的测试载台可提供完整高压测试的解决方案，保证高低压测试端连接正常后开始高压测试，提高产品测试可靠度。也就是说，本发明可在进行高压测试以前，以低能量电压对待测物两端进行开路检查，确认正常以后再执行高压测试，确保高压测试的有效性，进而减少弧光发生，提高测试设备本身以及其他设备的可靠度。此外，本发明的测试载台的结构简单，不需复杂的电路即可使用简单的接触测试电路确保执行高压测试的有效性，以减少误判造成的测试失误经由以上优选具体实施例的详述，希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的专利范围的范畴内。
权利要求
1.一种具有开路检测功能的测试载台，电性连接具有一测试程序的一测试设备，该测试载台用以卡持至少一待测物，且该测试载台包含一第一电路，具有一第一测试端与一第二测试端，当该第一测试端与该第二测试端同时电性连接于该待测物时，该第一电路与该待测物形成一第一电流回路并产生一第一控制信号；一第二电路，具有一第三测试端与一第四测试端，当该第三测试端与该第四测试端同时电性连接于该待测物时，该第二电路与该待测物形成一第二电流回路并产生一第二控制信号；以及一控制单元，电性连接该第一电路、该第二电路与该测试设备，用以接收该第一控制信号与该第二控制信号并据以控制该测试设备执行该测试程序。
2.根据权利要求1所述的测试载台，其特征在于，该第一测试端电性连接该测试设备的一高压端并与该高压端等电位，该第三测试端电性连接该测试设备的一低压端并与该低压端等电位。
3.根据权利要求1所述的测试载台，其特征在于，该第一电路具有一第一电源与一第一耦合单元，当该第一电流回路形成后，该第一电源驱动该第一耦合单元以产生该第一控制信号。
4.根据权利要求1所述的测试载台，其特征在于，该待测物为一光耦合器。
5.根据权利要求1所述的测试载台，其特征在于，该待测物为一电容器。
6.一种开路检测方法，该方法包含下列步骤将一待测物卡持于一测试载台，该测试载台具有一第一电路以及一第二电路；判断该第一电路是否与该待测物形成一第一电流回路；判断该第二电路是否与该待测物形成一第二电流回路；以及当该第一电流回路与该第二电流回路皆导通时，执行一测试程序。
7.根据权利要求6所述的开路检测方法，其特征在于，当该第一电流回路与该第二电流回路未皆导通时，还包含下列步骤将该待测物自该测试载台上移除；以及重新将该待测物卡持于该测试载台。
8.根据权利要求6所述的开路检测方法，其特征在于，该待测物为一光耦合器。
9.根据权利要求6所述的开路检测方法，其特征在于，该待测物为一电容器。
全文摘要
本发明揭露一种开路检测方法及具有开路检测功能的测试载台，该测试载台电性连接具有一测试程序的一测试设备，测试载台用以卡持至少一待测物，且测试载台包含一第一电路、一第二电路以及一控制单元。当第一电路的第一测试端与第二测试端同时电性连接于待测物时，第一电路与待测物形成一第一电流回路并产生一第一控制信号。当第二电路的第三测试端与第四测试端同时电性连接于待测物时，第二电路与待测物形成一第二电流回路并产生一第二控制信号。控制单元接收第一控制信号与第二控制信号并据以控制测试设备执行测试程序。本发明的测试载台可减少进行待测物的高压测试时的弧光发生，提高测试设备的使用寿命以及可靠度。
文档编号G01R31/12GK102478619SQ20101057047
公开日2012年5月30日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者王耀南, 范富强, 赵箐云, 陈鹤升 申请人:致茂电子股份有限公司
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