专利名称：一种用于集成运放测试的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于集成电路测试技术领域，用于TR-6800集成电路测试系统，涉及一种用于集成运放测试的装置。
背景技术：
目前，TR-6800集成电路测试系统日趋成熟，市场上的装机量已经非�？晒郏� 其到现在为止还没有一套完整的、标准的集成运放测试解决方案。它之前曾有过测试集成 运放的经验，但只能做为个案，不能实现通用，对于集成运放相当一部分功能参数都测试不 了，有的参数虽然可以测试，也没有采用标准的测试方法，结果导致测试数据不精确，工作 不稳定，测度效果不理想；并且，在其可编程源富余的情况下，会有一部分可编程源得不到 充分利用，而在可编程源相对较少的情况下，则根本无法进行测试。
发明内容本实用新型的目的是提供一种用于集成运放测试的装置，解决了现有TR-6800集 成电路测试系统在集成运放测试方面，可编程源得不到充分利用，测试参数不齐全、测试数 据不精确、工作不稳定的问题。本实用新型所采用的技术方案是，一种用于集成运放测试的装置，包括测试装置， 测试装置与TR-6800主机和探针台分别连接，TR-6800主机与工业PC和探针台分别连接； 所述的测试装置，由待测器件的DUT底板和多个运放测试小板组成，DUT底板上设置有多个 30型针插槽，每个30型针插槽用于与一块运放测试小板连接，DUT底板上设置有一个双运 放测试座、一个四运放测试座和一个信号传输接口。本实用新型的用于集成运放测试的装置，其特征还在于，所述工业PC通过软件控 制TR-6800主机提供输入端信号源，输入端信号源与输入信号控制电路连接，输入信号控 制电路与待测集成运放的待测集成运放输入连接，待测集成运放的待测集成运放输出分别 与输入信号控制端、三路负载选择电路、输出测量单元和双运放反馈环的双运放反馈环输 入连接，双运放反馈环输入还与新反馈控制单元连接，双运放反馈环的双运放反馈环输出 分别与反馈环输出信号跟随单元和输入信号控制单元连接，反馈环输出信号跟随单元与反 馈环输出测量单元连接。本实用新型的装置，使用户可以跟据可编程源的多少来选择串行或并行测试，并 可实现在TR-6800集成电路测试系统上，对集成运放进行高效、全面、精确、稳定的测试。
图1是是现有集成运放测试装置的硬件连接关系图；图2现有集成运放测试装置信号控制框图；图3是本实用新型的硬件连接关系图；图4是本实用新型装置的信号控制框图；[0011]图5是本实用新型装置中的DUT底板结构框图；图6是本实用新型装置的软件工作流程图。图中，1.工业PC，2.TR_6800主机，3.现有测试装置，4.探针台，5.测试装置，6. DUT底板，7.运放测试小板，8.输入端信号源，9.输入信号控制电路，10.待测集成运放输 入，11.待测集成运放输出，12.两路负载选择电路，13.输出测量单元，14.反馈控制单元， 15.单运放反馈环输入，16.单运放反馈环输出，17.反馈环输出测量单元，18.三路负载选 择电路，19.新反馈控制单元，20.双运放反馈环输入，21.双运放反馈环输出，22.反馈环输 出信号跟随单元，23. 30型针插槽，25.双运放测试座，27.四运放测试座，28.信号传输接
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型进行详细说明。图1是现有的集成运放测试装置硬件连接关系图，由工业PCI、TR-6800主机2、 现有测试装置3和探针台4(或分选机)组成。现有测试装置3通过相关的接口和转接线 与TR-6800主机2和探针台4连接，工业PCl通过专用通信线缆与TR-6800主机2连接， TR-6800主机2通过TTL通信线与探针台4连接；现有测试装置3被测试的集成运放提供外 围的工作器件和测量回路，TR-6800主机2为现有测试装置3和被测试的集成运放提供各 种可灵活编程的源和继电器控制信号。当开始测试时，工业PCl中的测试程序控制TR-6800 主机2向现有测试装置3施加相应的信号并通过控制继电器的切换，使被测试的集成运放 达到某种工作状态后，再控制TR-6800主机2来获取此时集成运放反馈出来的信号，并比较 所获得的信号参数是否与预期相符，进而以判定集成运放相应的功能是否合格。当一颗集 成运放的所有功能都测试完毕并全部合格后，这一颗集成运放产品才算是良品，否则为不 良品，良品与不良品的信号通过工业PCl传送至TR-6800主机2再传送至探针台4以进行 分类操作。图2是现有集成运放测试装置信号控制框图，由输入信号源8、输入信号控制电路 9、待测集成运放输入10、待测集成运放输出11、两路负载选择电路12、输出测量单元13、反 馈控制单元14、单运放反馈环输入15、单运放反馈环输出16和反馈环输出测量单元17组 成。输入端信号源8与输入信号控制电路9连接，输入信号控制电路9与待测集成运放的待 测集成运输入端10连接，待测集成运放的待测集成运放输出11分别与输入信号控制电路 9、两路负载选择电路12、输出测量单元13和单运放反馈环的单运放反馈环输入15连接，单 运放反馈环输入15还与反馈控制单元14连接，单运放反馈环的单运放反馈环输出16分别 与反馈输出测量单元17和输入信号控制单元9连接。输入端信号源8是由工业PCl通过 软件控制TR-6800主机2提供的，输入信号控制电路9由继电器和一些电阻构成，输入端信 号源8的信号在经过输入信号控制电路9以后被有选择的处理，然后再传送到待测集成运 放输入10，待测集成运放输出11输出的信号或用来驱运两路负载选择电路12中的负载或 传送至输入信号控制电路9作为反馈，也可同时作用于输入信号控制电路9和两路负载选 择电路12两个电路，待测集成运放输出11输出的信号可以被输出测量单元13测量到并传 送给TR-6800主机2进而被工业PCl获取用于数据比对，待测集成运放输出11输出的信号 还可以传送至单运放反馈环输入15用于采样并进行放大处理，单运放反馈环输出16输出的信号一部分传送到输入信号控制电路9用于反馈，另一部分被传送到反馈环输出测量单 元17，反馈环输出测量单元17同样将测量到的数据传送给TR-6800主机2进而被工业PCl 获取到用于数据比对，反馈控制单元14的用于控制单运放反馈环(15、16)的参数。 图3是本实用新型装置的硬件连接示意图，测试装置5由待测器件的DUT底板6 和多个运放测试小板7组成，DUT底板6分别与TR-6800主机2和探针台4连接，工业PCl、 TR-6800主机2、探针台4连接关系与图1的结构相同。本实用新型的特点是采用了待测器 件的DUT底板6加运放测试小板7的分离式结构，这样就可以根据TR-6800主机2中可编 程源的数量选择使用一块运放测试小板7进行串行测试或使用多块运放测试小板7进行并 行测试，两种测试方法在软件方面只需在工业PCl中调用相应的程序即可实现，采用这种 分离式结构以后，连接关系变成运放测试小板7通过DUT底板6与TR-6800主机及探针台 4连接。图4是本实用新型的信号控制框图，本实用新型由输入信号源8、输入信号控制电 路9、待测集成运放输入10、待测集成运放输出11、三路负载选择电路18、输出测量单元13、 新反馈控制单元19、双运放反馈环输入20、双运放反馈环输出21、反馈环输出信号跟随单 元22和反馈环输出测量单元17组成。其中输入端信号源8与输入信号控制电路9连接， 输入信号控制电路9与待测集成运放的待测集成运放输入10连接，待测集成运放的待测集 成运放输出11分别与输入信号控制端9、三路负载选择电路18、输出测量单元13和双运放 反馈环的双运放反馈环输入20连接，双运放反馈环输入20还与新反馈控制单元19连接， 双运放反馈环的双运放反馈环输出21分别与反馈环输出信号跟随单元22和输入信号控 制单元9连接，反馈环输出信号跟随单元22与反馈环输出测量单元17连接。输入端信号 源8是由工业PCl通过软件控制TR-6800主机2提供的，输入信号控制电路9由继电器和 多个电阻连接构成，输入端信号源8的信号在经过输入信号控制电路9以后被有选择的处 理，然后再传送到待测集成运放输入10，待测集成运放输出11输出的信号或用来驱运三路 负载选择电路18中的负载或传送至输入信号控制电路9作为反�。部赡芡弊饔糜�9和 18两部分电路，11输出的信号可以被输出测量单元13测量到并传送给TR-6800主机2进 而被工业PCl获取到用于数据比对，11输出的信号会传送至双运放反馈环输入20用于采 样并进行放大处理，双运放反馈环输出21输出的信号一部分传送到输入信号控制电路9用 于反�。硪徊糠直淮偷椒蠢』肥涑鲂藕鸥娴ピ�22进行跟随处理，反馈环输出信号跟 随单元22再将处理过的信号传送给反馈环输出测量单元17进行数据采集，反馈环输出测 量单元17同样将测量到的数据传送给TR-6800主机2进而被工业PCl获取到用于数据比 对，新反馈控制单元19的作用在于控制双运放反馈环(20、21)的参数及通过双运放反馈环 (20,21)变相地控制待测集成运放(10、11)的输出电压。比较图2和图4可以明显看到，本实用新型的特点在于1)、将现有测试装置3的 两路负载选择电路12替换为三路负载选择电路18，增加了一路可选负载，这一路负载不 仅可以用于测试集成运放，还可以用于测试比较器；2)、将现有测试装置3的单运放反馈环 (15,16)替换为双运放反馈环(20、21)，这样做增加了测试的稳定性和测试数据的精确度， 配合新反馈控制单元19，可以通过双运放反馈环(20、21)对待测集成运放(10、11)施加更 多的测试条件；3)、在双运放反馈环(20、21)后面再增加一级反馈环输出信号跟随单元22， 进一步保证了测试的稳定性。[0020]图5是本实用新型的待测器件的DUT底板6结构框图，可以看到DUT底板6 —侧 并列分布着两组共四个30型针插槽23，每个30型针插槽23都可以插入一块运放测试小板 7，每个运放测试小板7可以独立工作，互不干扰，也可以2块或四块运放测试小板7同时工 作，进行并行测试，DUT底板6另一侧设置有一个双运放测试座25和一个四运放测试座27， 这两个测试座通过转接线与探针台4连接，DUT底板6下方还设置有一个信号传输接口 28， 用于与TR-6800主机2进行通信。 首先，由于现有的集成运放测试装置没有采用待测器件的DUT底板6加运放测试 小板的分离式结构，所以无法根据TR-6800主机2可编程源的多少来选择并行或串行测试； 其次，由于其电路设计不标准，所以有些测试条件无法给出，导致测试的局限性；再次，根据 TR-6800主机2的特性，要增加一级反馈环输出信号跟随单元22才能使测量得到的数据更 加精确，稳定。而本实用新型装置的构成及测试过程可以克服这些不足。图6是本实用新型装置的软件工作流程图，整套系统的工作过程如下程序存储 在工业PCl中，用户可以根据实际硬件配置情况调用相应的程序(串行程序或并行程序)， 程序开始执行，首先由分选机(本实施例的描述以分选机为例)送出开始测试命令，分选 机第一次送出该命令时TR-6800主机2会执行初始化子程序对其系统自带可编程源进行 初始化，然后进入第一项功能测试，如果测试通过，则进行下一项功能测试，测试不通过， TR-6800主机2执行EOT (结束测试)子程序，并向分选机发送不良品信号，分选机执行分 BIN(料管)动作，将该产品送入不良品料管，然后向TR-6800主机2发送开始测试命令，系 统进入下一颗产品的测试流程，以此类推，程序一直向下执行，一直到最后一项功能测试通 过，TR-6800主机2执行EOT (结束测试)子程序，并向分选机发送良品信号，分选机执行分 BIN(料管)动作，将该产品送入良品料管，然后再次向TR-6800主机2发送开始测试命令， 系统进入下一颗产品的测试流程，如此循环下去，直至将所有产品中的良品和不良品分选 出来。本实用新型针对TR-6800集成电路测试系统，提供一种全新的、用于集成运放测 试的装置，可以让用户根据TR-6800集成电路测试系统里可编程源的多少来选择多通道并 行测试或单通道串行测试，并能实现高效、全面、精确、稳定的测试要求，弥补了其现有测试 装置在集成运放测试方面的不足。
权利要求一种用于集成运放测试的装置，其特征在于，包括测试装置(5)，测试装置(5)与TR-6800主机(2)和探针台(4)分别连接，TR-6800主机(2)与工业PC(1)和探针台(4)分别连接；所述的测试装置(5)，由待测器件的DUT底板(6)和多个运放测试小板(7)组成，DUT底板(6)上设置有多个30型针插槽(23)，每个30型针插槽(23)用于与一块运放测试小板(7)连接，DUT底板(6)上设置有一个双运放测试座(25)、一个四运放测试座(27)和一个信号传输接口(28)。
2.根据权利要求1所述的用于集成运放测试的装置，其特征在于，所述工业PC(I)通过 软件控制TR-6800主机(2)提供输入端信号源(8)，输入端信号源(8)与输入信号控制电路 (9)连接，输入信号控制电路(9)与待测集成运放的待测集成运放输入(10)连接，待测集成 运放的待测集成运放输出(U)分别与输入信号控制端(9)、三路负载选择电路(18)、输出 测量单元(13)和双运放反馈环的双运放反馈环输入(20)连接，双运放反馈环输入(20)还 与新反馈控制单元(19)连接，双运放反馈环的双运放反馈环输出(21)分别与反馈环输出 信号跟随单元(22)和输入信号控制单元(9)连接，反馈环输出信号跟随单元(22)与反馈 环输出测量单元(17)连接。
专利摘要本实用新型公开了一种用于集成运放测试的装置，包括测试装置，测试装置与TR-6800主机和探针台分别连接，TR-6800主机与工业PC和探针台分别连接；所述的测试装置，由待测器件的DUT底板和多个运放测试小板组成，DUT底板上设置有多个30型针插槽，每个30型针插槽用于与一块运放测试小板连接，DUT底板上设置有一个双运放测试座、一个四运放测试座和一个信号传输接口。本实用新型的装置，可以在TR-6800集成电路测试系统上跟据可编程源的多少来选择串行或并行测试，具有测试项目全面，测试数据精确，工作稳定的特点。
文档编号G01R31/28GK201555931SQ200920245790
公开日2010年8月18日 申请日期2009年12月16日 优先权日2009年12月16日
发明者李仰鹤 申请人:西安明泰半导体测试有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
